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| In neuen Dimensionen beobachten |
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Neue Möglichkeiten der Darstellung erlauben eine bessere Visualisierung Ihrer Proben. Die Entwicklungen von Carl Zeiss führen zu neuen Erkenntnissen in der Forschung und zu verlässlicheren Resultaten bei der Prüfung, bei Standardverfahren, aber vor allem bei anspruchsvollen Kontrastverfahren wie dem innovativen C-DIC Verfahren. Axio Imager 2 ermöglicht eine deutliche und sichtbare Verbesserung Ihrer Ergebnisse.
Teststrukturen, Periode 1,6 µm
EC Epiplan-APOCHROMAT 50x/0,95, ∞/0, Kamera-Adapter 0,63x
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| Vorher: Wird den Regeln nach Köhler nicht voll und ganz entsprochen, ergeben auch beste Objektive lediglich einen schwachen Kontrast. | Nachher: ADF – Advanced Darkfield von Carl Zeiss. Das Ergebnis spricht für sich. |
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Die Kontrastierung - Kompetenz in allen Kontrastverfahren
Ein Mehr an Informationen verhilft Ihnen zu einem entscheidenden Vorsprung. Sie können aus einer Vielzahl von Kontrastverfahren wählen, um die optimale optische Qualität für Ihre Anwendungen zu erzielen: Im Auflicht können Sie Ihre Proben in Hellfeld, Dunkelfeld, differenziellem Interferenzkontrast (DIC), zirkularem differenziellem Interferenzkontrast (C-DIC), Polarisations- oder Fluoreszenzkontrast betrachten. Im Durchlicht untersuchen Sie Ihre Proben in Hellfeld, Dunkelfeld, differenziellem Interferenzkontrast (DIC), Polarisation oder zirkularer Polarisation.
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Hellfeld und Dunkelfeld
Größtmögliche Homogenität und Streulicht freier Hintergrund
Im Hellfeld liefert Axio Imager 2 eine gleichmäßigere Ausleuchtung und einen außergewöhnlichen Kontrast, im Dunkelfeld einen so schwarzen Hintergrund, dass das Verfahren einen anderen Namen verdient: ADF – advanced Darkfield. Durch die Minimierung von störendem Streulicht und die extreme Reduzierung des Farblängsfehlers der Beleuchtungsoptik ist dieses Dunkelfeld auch für anspruchsvollste Proben geeignet und überzeugt selbst bei feinsten Strukturen. Der Wechsel zwischen den Verfahren: nur noch ein kleiner Dreh. Besonders schnell und komfortabel arbeiten Sie dabei mit den motorisierten Stativvarianten.
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Das C-DIC - Perfekt für gerichtete Strukturen
Zirkularer differentieller Interferenzkontrast (C-DIC) ist ein polarisationsoptisches Verfahren, das im Gegensatz zu dem geläufigen differentiellen Interferenzkontrast (DIC) mit zirkular polarisiertem Licht arbeitet. Die Vorteile dieses Verfahrens sind für die Kontrastierung unterschiedlich gerichteter Objektstrukturen entscheidend. Das Präparat muss nicht mehr im Azimut gedreht werden – beim C-DIC genügt ein einfaches Drehen am Rändelring des DIC-Schiebers, um nacheinander alle Objektinformationen erfassen zu können. Lückenlos und im Objektzusammenhang. Dabei lässt sich für jede gerichtete Struktur jede gewünschte Aufspaltung einstellen. Das heißt, mit einem DIC-Prisma kann sowohl High Contrast als auch High Resolution bedient werden. Übrigens: Für die gesamte Vergrößerungsreihe der neuen Allround- EC EPIPLAN-Objektive brauchen Sie nur noch ein einziges C-DIC-Prisma für den Interferenzkontrast im zirkular polarisierten Licht (C-DIC).
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Sphärolith-Ausbildung im Gusseisen mit Kugelgraphit, poliert. Aufnahmen: stets gleiche Stelle und gleiche Vergrößerung, aber unterschiedliche Kontrastverfahren. Probenpräparation und Bildinterpretation: Dr. H.-L. Steyer, Kesselsdorf, Deutschland
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Das klassische Hellfeld erlaubt lediglich das Erkennen der Sphärolith-Ausbildung. Matrix: weiß (hell), Graphit: schwarz (dunkel). |
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 | | Dunkelfeld:
Die Unebenheiten in der Schlifffläche (z. B. Furche der Phasengrenze: Graphit/Matrix oder Ausbrüche) markieren deutlich die Sphärolithe in Form und Güte ihrer Politur Strukturmerkmale im Inneren der geschnittenen Sphärolithe werden erkennbar. Vom Kristallisationskeim ausgehend, werden die Schnittflächen der Graphitsegmente in ihrer radialstrahligen Ausrichtung sichtbar (bevorzugte Kristallisationsrichtung). Nicht vollständig auspolierte Sphärolithe besitzen punkt- und flächenhafte, hell aufleuchtende Gebiete. |
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 | | Zirkularer differentieller Interferenzkontrast (C-DIC):
Aufgrund des Polierreliefs wird die Matrix kontrastiert. Harte und weiche Gefügebestandteile werden sichtbar, ebenso die Reste der Polierriefen (ausschließlich mechanisch poliert). |
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 | | Polarisation (gekreuzte Polare):
Die optische Aktivität, insbesondere die Anisotropie, lässt die Struktur im Inneren der Sphärolithe deutlich sichtbar werden. |
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 | | Polarisation mit zusätzlicher Lambda-Platte, subparallel:
Dieses Verfahren erlaubt eine optimale Kontrastierung der Struktur im Inneren der geschnittenen Sphärolithe. Durch die Interferenzfarben heben sich noch mehr Einzelheiten als bei den lediglich gekreuzten Polaren hervor. |
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