Systeme für Materialanalyse
Axio CSM 700 - Echtfarben-Konfokalmikroskop
Schnell. Präzise. Berührungslos.
3D-Topografien mit hoher Auflösung
Verwenden Sie in der materialwissenschaftlichen Forschung, der Qualitätsprüfung und auch im Routinesegment das
Echtfarben-Konfokalmikroskop von Carl Zeiss.

Projectile with striations from gun barrel,
3D topography in true color, EC Epiplan - NEOFLUAR 50x/0.80
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Oberflächen werden sowohl dreidimensional hochaufgelöst als auch in Echtfarbe wiedergegeben. Bei der topografischen Vermessung mit über 100 Aufnahmen pro Sekunde bleibt Ihre Probe unangetastet.

Die einfach zu bedienende Software bietet zahlreiche Analysemöglichkeiten, wie zum Beispiel Rauheitsmessung, Schichtdickenbestimmung und Partikelanalyse. Speichern Sie die gewonnenen Aufnahmen und Messergebnisse in einem Protokoll.
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Systeme für Materialanalyse


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