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| Carl Zeiss stellt Plattform für korrelative Mikroskopie in der Materialanalyse vor | RTF-Dokumente
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| JENA, OBERKOCHEN, 31.08.2009. Anlässlich der Microscopy Conference 2009 in Graz (Österreich) präsentiert Carl Zeiss eine integrierte Lösung für korrelative Mikroskopie in der Materialanalyse. Kernelemente der Verbin- dung zwischen Lichtmikroskop und Rasterelek- tronenmikroskop sind der gemeinsame Proben- halter und Adapter sowie ein neuentwickeltes Softwarepaket zum schnellen, automatisierten Wiederauffinden und Untersuchen ein und der- selben Probenstelle sowohl unterm Licht- als auch im Elektronenmikroskop. Die „Shuttle & Find“ genannte Lösung für die Materialanalyse kann in der Forschung und für viele Routinean- wendungen im industriellen Umfeld eingesetzt werden. Nach Abschluss erster, gemeinsam mit Pilotkunden durchgeführter Applikationsentwick- lungen, wird Shuttle & Find in Kürze allgemein verfügbar sein. Die jetzt präsentierte Lösung ist zunächst nicht für biologische Anwendungen einsetzbar. Während lichtmikroskopische Aufnahmen auf Reflexion, Transmission oder Fluoreszenz basieren, bietet das Rasterelektronenmikroskop – neben der um mehr als zwei Größenordnungen höheren Ortsauflösung – eine Vielzahl weiter- führender Analysemöglichkeiten. Dies sind insbesondere die morphologische Charakteri- sierung der Probe sowie die Elementanalyse mittels Röntgenspektroskopie (EDX). In der Regel werden Proben zunächst im Lichtmikroskop unter Einsatz verschiedener Kontrastverfahren wie Hellfeld, Dunkelfeld, Polarisation und Interferenz untersucht. Anschließend erfolgt die Detailunter- suchung der Probenareale im Rasterelektronen- mikroskop, die als interessant identifiziert wurden. „Shuttle & Find“ von Carl Zeiss für die korrelative Mikroskopie in der Materialanalyse ist eine einfach zu bedienende Schnittstelle zwischen Licht- und Elektronenmikroskop. Sie verbindet aufrechte und inverse Lichtmikroskope vom Typ SteREO Discovery, Axio Imager, Axio Observer mit motorisiertem Tisch sowohl mit sämtlichen ZEISS Rasterelektronenmikroskopen wie EVO, SIGMA, SUPRA, ULTRA, MERLIN als auch mit den ZEISS CrossBeam workstations AURIGA, NVision und NEON (Kombination Rasterelektronenmikroskop und fokussierter Ionenstrahl zur Materialbe- arbeitung). Innerhalb weniger Minuten ist der Probentransfer von einem System zum nächsten möglich, ebenso kann die betrachtete Material- probe auch in örtlich getrennten Labors per Proben- und Datentransfer bearbeitet werden. Im Rasterelektronenmikroskop werden die licht- mikroskopisch selektierten Probenstellen in Sekundenschnelle automatisch wiedergefunden und können einer Detailuntersuchung unterzogen werden. Ergänzend zu zahlreichen Einzelanalysen der licht- und elektronenmikroskopischen Bilder können diese per dezidierter Software auch ortsgenau zur weiteren Informationsgewinnung überlagert werden. Dr. Thomas Albrecht, Leiter des Produkt- managements im Geschäftsbereichs Nano Technology Systems von Carl Zeiss SMT betont: „Als weltweit einziger Anbieter, der sowohl Licht- als auch Elektronenmikroskope entwickelt, produ- ziert und vertreibt, ist Carl Zeiss prädestiniert, Lösungen für die korrelative Mikroskopie zu ent- wickeln. Mit dem heute vorgestellten Interface gehen wir einen weiteren Schritt in die Richtung, die zwei bislang weitgehend unabhängigen Welten der Licht- und Elektronenmikroskopie zum Nutzen unserer globalen Kundengemeinschaft zusammenwachsen zu lassen. Ganz im Sinne unseres Mottos ´Bridging the Micro and Nano World´.“  Der Probentransfer vom Licht- zum Elektronen- mikroskop ist dank der Shuttle&Find Schnittstelle von Carl Zeiss mit wenigen Handgriffen erledigt. Markus Wiederspahn Public Relations Carl Zeiss SMT AG Tel.: +49 7364 20-2194 Fax: +49 7364 20-9206 E-Mail: 
wiederspahn@smt.zeiss.comGudrun Vogel Kommunikation Carl Zeiss MicroImaging GmbH 07745 Jena Telefon: +49 3641 64-2770 E-Mail:
g.vogel@zeiss.dePI Nr.: 0141-2009-GER SE Wortzahl: 462 Zeichenzahl: 4017 |
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