Ultramicrotomo ZEISS 3View​
Producto

3View® Ultramicrotome​ Captura de imágenes seriadas de la superficie de bloques con su SEM de emisión de campo​

Combine su Sigma y GeminiSEM con 3View® de Gatan, Inc. para captar datos en 3D de alta resolución a partir de muestras de células y tejidos embutidos en resina. 3View® es un ultramicrotomo dentro de la cámara del SEM. La muestra se corta de forma continua y se van capturando imágenes, obteniendo miles de imágenes seriadas y perfectamente alineadas en un solo día. Los SEM de emisión de campo Sigma y GeminiSEM de ZEISS son ideales para apoyar esta aplicación, puesto que proporcionan una calidad de imagen similar a TEM de campos de visión amplios.​

  • Captura de imágenes nanométricas en 3D con excelente calidad.​
  • Amplios campos de visión y elevada velocidad de captura de imágenes.​
  • La compensación de la carga focal elimina los artefactos de carga.​
 SEM de emisión de campo Sigma y GeminiSEM con 3View® integrado

Su solución completa de ZEISS​

Sus SEM de emisión de campo Sigma y GeminiSEM con 3View® integrado le permiten captar imágenes de superficies de bloques incluso de muestras grandes con una excelente calidad de imagen. Use Sigma 3View® con presión variable para neutralizar la carga y reducir los artefactos de la imagen. Benefíciese de GeminiSEM 3View® para el mejor rendimiento de baja tensión. Mejore GeminiSEM con la compensación de la carga focal para eliminar los efectos de la carga. Todos los sistemas funcionan con una excelente estabilidad a largo plazo sin ninguna intervención por parte del usuario.​

Captura de imágenes 32k x 24k en un escaneo. Ahorre tiempo uniendo quince imágenes de 8k x 8k. Evite dobles exposiciones de zonas de unión solapadas.

El mayor campo de visión​

La tecnología Gemini de ZEISS proporciona hasta 32 000 x 24 000 píxeles en un barrido a resolución nanométrica. Gracias al campo magnético minimizado en la superficie de la muestra, puede captar imágenes incluso de amplios campos de visión sin que los bordes se vean borrosos. Requiere 15 veces menos uniones que en el caso de las imágenes 8k × 8k. Ahorra tiempo y evita la doble exposición. Para la mayoría de aplicaciones, no tendrá que unir imágenes en absoluto.​

Máxima velocidad de captura de imágenes​

Con 3View® obtiene resultados en 3D en el menor tiempo posible. Acelere su aplicación con el exclusivo modo de alta corriente de Sigma. Aún más rápido: el detector OnPoint BSE y su GeminiSEM proporcionan las máximas velocidades de escaneo sin que se vea afectada la resolución. En función de su aplicación, obtiene resultados hasta 10 veces más rápido. ¡De la noche a la mañana en vez de a lo largo de la semana!​

Leyenda: Captura de imágenes 32k x 24k en un escaneo. Ahorre tiempo uniendo quince imágenes de 8k x 8k. Evite dobles exposiciones de zonas de unión solapadas.

La tecnología detrás de 3View®

Captura de imágenes de superficies de bloques​

Con el ultramicrotomo dentro de su cámara SEM, puede cortar y captar miles de superficies de bloques y reconstruir los datos en un volumen 3D completo.​

Pulmón de ratón. Los artefactos de carga se eliminan con la compensación de carga focal. Captado con 2,5 keV y un intervalo de tiempo de píxel de 1 μs. Cortesía de NCMIR.

Imágenes sin artefactos con compensación de la carga focal​

Al captar imágenes de muestras embutidas en resina, a menudo surgen problemas para cargar la muestra, lo cual da lugar a artefactos, a una calidad de imagen degradada y a distorsión. El uso de SEM de presión variable puede prevenir esto, pero a costa de la relación señal-ruido y la resolución. La compensación de la carga focal se desarrolló para eliminar la carga de muestras sin degradar la calidad. Una diminuta aguja capilar guía el gas de nitrógeno directamente a la superficie de la muestra, mientras que la cámara mantiene un vacío elevado. La aguja se retrae automáticamente durante el ciclo de corte y no interfiere en la captura de las imágenes. Esto le permite capturar imágenes seriales de la superficie de bloques con elevadas tasas de captura.​

Descargas

    • With ZEISS Focal Charge Compensation to high-quality 3D data sets

      Quick Guide

      Páginas: 7
      Tamaño de archivo: 1 MB
    • ZEISS GeminiSEM

      Your Field Emission SEMs for the Highest Demands in Imaging and Analytics from Any Sample

      Páginas: 47
      Tamaño de archivo: 10 MB
    • ZEISS Sigma and GeminiSEM with 3View® from Gatan, Inc.

      Fast and Convenient 3D Imaging for Biological Samples in the FE-SEM

      Páginas: 19
      Tamaño de archivo: 3 MB
    • ZEISS Sigma Family

      Your Field Emission SEMs for High Quality Imaging and Advanced Analytical Microscopy

      Páginas: 37
      Tamaño de archivo: 10 MB
    • Large Volume Imaging of Eye Muscle by SIGMA VP and 3View

      Serial Block Face Imaging

      Páginas: 8
      Tamaño de archivo: 1 MB
    • ZEISS GeminiSEM Ailesi (Turkish Version)

      Nanometre Altı Görüntüleme, Analiz ve Numune Esnekliğine Yönelik İleri Düzey Talepleri Karşılayan Alan Emisyonlu Taramalı Elektron Mikroskoplarınız (SEM)

      Páginas: 47
      Tamaño de archivo: 5 MB
    • Серия ZEISS GeminiSEM (Russian Version)

      Автоэмиссионные сканирующие электронные микроскопы для высокопроизводительной визуализации в субнанометровом разрешении, аналитики и гибкой работы с образцами

      Páginas: 47
      Tamaño de archivo: 5 MB

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