Basiskurs FE-SEM (Feldemissions-Rasterelektronenmikroskop)

Dieser Praxiskurs vermittelt grundlegende Details zur erfolgreichen Arbeit mit einem Rasterelektronenmikroskop (REM). Im Einzelnen wird der Anwender nach dem Kurs in der Lage sein, verschiedene Proben für die Untersuchung im REM vorzubereiten. Im Mittelpunkt stehen außerdem das Positionieren, Abbilden und Analysieren von Proben, um verschiedene Zielsetzungen erfüllen zu können. Des Weiteren wird der Anwender die Abbildungen interpretieren und bewerten bzw. notwendige Optimierungsschritte ableiten können.

Kursinhalt

 

  • Allgemeine Handhabung des Gerätes
  • Probenvorbereitung von nichtleitenden und leitenden Proben
  • Optimierung der Elektronenoptik
  • Optimale Parameterwahl für verschiedene Proben und Detektoren im Hoch- und Niedervakuum
  • Abbildungsoptimierung (z.B. Rauschunterdrückungsmethoden)
  • Bildaufnahme mit verschiedenen Zielsetzungen (z.B. Oberflächenstruktur, Materialkontrast, Tiefenschärfe)
  • Softwarefunktionen (z.B. Bildnavigation)
  • Energiedispersive Röntgenspektroskopie

 

Datum

April 20 - 22, 2021

 

Dauer

3 Tag(e)

 

Sprache

Deutsch

 

Teilnehmer

Max. 3

 

Voraussetzungen

Selbststudium des Kursmaterials und weiterführender Literatur
Bei weiteren Fragen, wenden Sie sich an courses .microscopy @zeiss .com

 

Ort

Oberkochen, Deutschland

 

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