Events Microscopes and Imaging Solutions

Webinar - Principios básicos de microscopía electrónica de barrido

Date

05/25/2022  11:00 - 12:00

Location

Mexico / Mexico City

Exhibitor

Ponente: Dr. David Giraldo

Fecha y horario: Mayo 25 | 11:00 am - 12:00 pm.
Lugar: Carl Zeiss México, CDMX, México

Resumen: El microscopio electrónico de barrido (MEB o SEM, por Scanning Electron Microscope) es un tipo de microscopio electrónico capaz de producir imágenes de alta resolución de la superficie de una muestra utilizando las interacciones electrón-materia. Aplica un haz de electrones en lugar de un haz de luz para formar una imagen, en esta ocasión repasaremos los principios básicos de operación del equipo además de las diferentes aplicaciones de esta técnica.

Link de registro: https://zeiss.ly/emwebinarmx