Мультисенсорные измерительные машины O-INSPECT от ZEISS позволяют подобрать оптимальный метод измерения каждой характеристики – оптический или контактный. Важная характеристика: O-INSPECT обеспечивает достоверную точность в трех измерениях, соответствующую стандартам ISO, в температурном диапазоне от 18°C до 30°C. Дополнительный плюс: программное обеспечение CALYPSO не только позволяет легко получать результаты, но и упрощает обнаружение и идентификацию причин ошибок.
O-INSPECT 322
Диапазон измерений [дм] 3/2/2
Характеристики
Телецентрические вариообъективы Discovery
Адаптивная система освещения
Сканирующий датчик VAST XXT
Магазин щупов
Калибровочная сфера
O-INSPECT 543
Диапазон измерений [дм] 5/4/3
Опции
Датчик расстояния с белым светом
Поворотный стол
Система загрузки со стеклянной подставкой и перфорированной подставкой
Большая зона обзора, высокое разрешение изображения – вариообъектив с переменным фокусным расстоянием ZEISS Discovery
ZEISS Discovery.V12 - это результат работы подразделения ZEISS Microscopy. По сравнению со стандартными объективами он обеспечивает в 4 раза большую зону обзора, а также очень хорошее разрешение изображения в периферийных зонах. Результат: сокращение времени измерения и превосходная точность.
Больше точек измерения, больше информации – сканирующий датчик ZEISS VAST XXT
Система O-INSPECT оснащена гибким, быстрым и высокоточным контактным датчиком ZEISS VAST XXT. Этот сканирующий датчик захватывает большое число точек за один проход, чтобы можно было сделать содержательные выводы о форме и положении. Именно эта особенность отличает данную систему в этом классе машин. ZEISS O-INSPECT позволяет сканировать с усилием касания в миллиньютоновом диапазоне в тех участках, где другие мультисенсорные измерительные машины способны выполнять лишь одноточечные измерения со сравнительно большим усилием касания. За счет этого достигаются достоверные результаты 3D-измерений тонкостенных деталей.
Быстро и точно. Видеть и понимать с ZEISS CALYPSO
В сочетании с ZEISS CALYPSO система ZEISS O-INSPECT открывает совершенно новые возможности визуализации. Вы одновременно видите фактическое состояние, условное изображение и отклонения, что позволяет очень легко выделить и интерпретировать результаты измерений.