ZEISS 3DSM

Los casos de uso típicos son mediciones de altura de perfiles. Normalmente se realizan mediante un perfilómetro o un AFM en un laboratorio de calidad o investigación industrial, p. ej., para la evaluación rápida de superficies mecanizadas o procesos de impresión. Ambas técnicas carecen de la localización práctica de las regiones de interés que proporciona un SEM. Previa petición, se puede ajustar la precisión de la medición específicamente para su instrumento mediante un estándar de calibración con alturas de los escalones definidas.

• Realice una reconstrucción de una superficie en 3D de muestras adecuadas examinadas con microscopios electrónicos equipados con un detector aBSD (retrodispersión anular), un AsB (retrodispersión angular selectiva, solo familia GeminiSEM) o un BSD1 (EVO).
• Combine 3DSM con SmartSEM, el software que maneja el SEM, para la captura de imágenes en 3D en tiempo real o secuencial o trabaje en modo autónomo para visualizar ficheros de proyectos archivados.
• Benefíciese del funcionamiento en tiempo real y de tiempos de reconstrucción <2 s con GeminiSEM. Sigma y EVO proporcionan las imágenes de forma secuencial.
• El algoritmo subyacente «shape-from-shading» (forma a partir del sombreado) maneja la reconstrucción.
• Realice mediciones básicas, como dimensiones de perfil y evaluaciones de rugosidad en 2D y 3D directamente en el modelo en 3D resultante con solo unos pocos clics.
• 3DSM cuenta ahora con una nueva interfaz gráfica de usuario, orientada según los pasos del flujo de trabajo: posición, adquisición y corrección.
• Benefíciese de nuevos valores de rugosidad estándar (Ra, Sa) y nuevos filtros para la corrección de ondulaciones y ruidos.