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Software para microscopía electrónica

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ZEISS SmartSEM: solución de software para SEM, FE-SEM y FIB-SEM

ZEISS SmartSEM

Solución de software para SEM, SEM FE-SEM y FIB-SEM

ZEISS SmartSEM es su sistema operativo para los microscopios electrónicos de ZEISS. Le permite resolver incluso las tareas más desafiantes a la vez que le permite acceder a los ajustes más avanzados del microscopio.

ZEN core para microscopios electrónicos en la pantalla del monitor con panel rígido en la parte frontal

ZEISS ZEN core para microscopios electrónicos

El nuevo software de control de SEM y la introducción a una microscopía conectada

Benefíciese de este software que es más que un simple control del sistema: ZEN core es la interfaz de usuario única y estandarizada para el control básico de los microscopios electrónicos de barrido (SEM) y los microscopios FIB-SEM de ZEISS. Esta interfaz optimiza y hace que la captura y el análisis de imágenes sean intuitivos, además de permitirle llevar a cabo flujos de trabajo correlativos y multimodales.

ZEISS Atlas 5: domine el desafío de trabajar a diferentes escalas

ZEISS Atlas 5

Domine el desafío de trabajar a diferentes escalas

Cree exhaustivas imágenes multimodales y multiescala con un entorno correlativo centrado en la muestra. Atlas 5 es una solución potente e intuitiva que amplía las capacidades de sus microscopios electrónicos de barrido (SEM) y sus SEM de haz de iones focalizado (FIB-SEM) de ZEISS.

ZEISS Phase Identifier: identifique las fases y analice la textura en 2D y 3D

ZEISS Phase Identifier

Identifique las fases y analice la textura en 2D y 3D

ZEISS Phase Identifier utiliza microscopía electrónica de barrido y microscopía de rayos X 3D de última generación, así como algoritmos de aprendizaje profundo basados en IA, para la clasificación automatizada de minerales y la caracterización de rocas. Esto mejora la capacidad analítica y aumenta la productividad, convirtiendo a esta herramienta en la opción ideal para análisis químicos cuantitativos, clasificación basada en datos, investigaciones geoquímicas y descripciones texturales.

ZEISS Smart PI: Smart Particle Investigator

ZEISS Smart PI

Smart Particle Investigator

Smart Particle Investigator (SmartPI), su solución avanzada de análisis y clasificación de partículas, convierte los microscopios electrónicos de barrido en soluciones preconfiguradas para aplicaciones de limpieza industrial o metal y acero. SmartPI incorpora todos los aspectos del control SEM, el procesamiento de imágenes y el análisis elemental (EDS) en una sola aplicación.

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