ZEISS Atlas 5

• Combina un generador de barrido de 16 bits y un hardware de adquisición de señal con un sistema de procesamiento de imagen y un software de control.
• Adquiera imágenes de hasta 32 000 x 32 000 píxeles en SEM y de hasta 40 000 x 50 000 en FIB-SEM. 
• Aplique intervalos de tiempo desde 100 ns hasta >100 s, ajustables en incrementos de 100 ns para la adquisición de imágenes.
• Guarde sus imágenes con 8 o 16 bits de intensidad.

• Reduzca el tiempo de adquisición y la complejidad computacional mediante la definición de sus regiones de interés según su forma real y mediante la adquisición de un mosaico con un número reducido de cuadros.
• Reduzca el retraso en el movimiento de la platina y la fracción superficial que se «pierde» en la superposición de cada imagen.
• Minimice el daño por el haz y la degradación de la muestra mediante la optimización del número de «costuras» de solapamiento.

• Defina su región de interés exacta y escanee solo las áreas señaladas con protocolos predefinidos de captura de imágenes.
• Benefíciese de resultados reproducibles mediante el desarrollo de protocolos con condiciones ideales de captura de imágenes.
• Conserve la nitidez de las imágenes durante tiempos de adquisición prolongados con la ayuda de herramientas avanzadas de enfoque automático y autoestigmación.
• Capte imágenes de su muestra cuando y donde las necesite: Atlas 5 es compatible con múltiples sesiones en varios instrumentos.
• Correlacione imágenes en el espacio de trabajo correlativo centrado en la muestra de Atlas 5 y reúna imágenes en 2D y datos de volumen en 3D procedentes de múltiples instrumentos.
• Importe y alinee datos procedentes de microscopios ópticos, de rayos X, electrónicos y FIB-SEM para generar una sola imagen consistente de su muestra.

• Correlacione escaneos de volumen de microscopía de rayos X de su microscopio de rayos X de ZEISS con características superficiales visibles en FIB-SEM.
• Use los datos de rayos X para localizar virtualmente características por debajo de la superficie en 3D en áreas localizadas por FIB de forma precisa, incluso no siendo visibles in situ.
• Navegue de forma segura por dichas regiones usando el FIB-SEM de ZEISS.

Descubra Atlas 5, sus módulos, sus funciones y su capacidad de configuración. Amplíe la capacidad de SEM y FIB-SEM de ZEISS con Atlas 5. Benefíciese de capacidades avanzadas de módulos adicionales y descubra cómo se combinan. Los módulos de Atlas 5 requieren Atlas 5. El módulo Analytics opcional requiere el paquete de hardware y software de Oxford Instruments para ZEISS. El módulo Analytics en el FIB-SEM requiere Atlas 5 3D Tomography.

• Defina fácilmente los lugares de captura de imágenes para todas las secciones con la herramienta de clonación.
• Detecte automáticamente la forma de la sección con la herramienta de captura de sección.
• Gestione de forma eficiente los lugares de adquisición y defina incluso subsitios en las secciones.
• Reúna todas las imágenes en un volumen en 3D con la herramienta de exportación de pilas de imágenes y explórelas con el visualizador de pilas de imágenes.
• Benefíciese de la alineación de pilas en 3D y las correcciones de imágenes.
  

• Exporte conjuntos de datos individuales o múltiples a un formato que se pueda visualizar en un navegador web habitual.
• También podrá realizar mediciones y anotaciones.
• Cree presentaciones seleccionadas basadas en los datos para fines de presentación e integre información adicional, como archivos pdf, imágenes, espectros, películas o archivos de audio.
• Deje que sus compañeros o estudiantes exploren libremente el conjunto de datos con su mejor resolución y comparta los datos fácilmente intercambiando controladores flash o albergándolos en un servidor.
• El usuario puede seguir la presentación o pausarla en cualquier momento para explorar los datos de forma independiente.

Tomografía en tres dimensiones:

• Use el motor de adquisición FIB-SEM en 3D con la preparación automatizada de las muestras para lograr visualizaciones precisas en 3D.
• Mida y controle de forma precisa el grosor del corte durante la tomografía y obtenga información «True-Z» para procesar sus datos de manera precisa.
• Asegure un tomograma preciso, continuo y homogéneo de las muestras sensibles a la carga, al encogimiento o al daño por el haz con el uso de «Thin & Fast Tomography».
• Consiga datos de alta calidad con mayor rapidez usando xROIs (regiones de interés exactas), seguimiento avanzado de la muestra, corrección de desviación predictiva y ajuste automático.
• Utilice el visualizador de pilas de imágenes con alineación en 3D de pilas de FIB-SEM y exportación de pilas de imágenes, incluyendo el recorte.