Familia ZEISS GeminiSEM
Producto

ZEISS GeminiSEM

FE-SEM para las demandas más exigentes en captura de imágenes subnanométricas, análisis y flexibilidad de muestras

ZEISS GeminiSEM permite captar imágenes de forma sencilla con resolución subnanométrica. Estos FE-SEM (microscopios electrónicos de barrido de emisión de campo) combinan una excelente captura de imágenes y capacidad de análisis. Las innovaciones en la óptica de electrones y un nuevo diseño de la cámara le permiten beneficiarse de una mejor calidad de imagen, facilidad de uso y flexibilidad. Tome imágenes subnanométricas por debajo de 1 kV sin lentes de inmersión. Descubra tres diseños únicos de la óptica de electrones ZEISS Gemini.

  • Ideal para instalaciones centrales: ZEISS GeminiSEM 360.
  • Permite el análisis eficiente: ZEISS GeminiSEM 460.
  • Nuevo estándar para la captura de imágenes de superficies: ZEISS GeminiSEM 560.
Partícula de ferrocerio, imagen de Inlens EsB.

GeminiSEM 360

Benefíciese de una captura de imágenes sensible a superficies y obtenga información con baja tensión o con una alta corriente de sonda. Descubra las ventajas de la detección Inlens, NanoVP, visualización contextual de imágenes o segmentación por IA.​

Leyenda: Partícula de ferrocerio, imagen de Inlens EsB.

ZEISS GeminiSEM 360
Su herramienta para la flexibilidad de las muestras
Su herramienta para la flexibilidad de las muestras

Aproveche la exhaustiva caracterización de la muestra con dos detectores Inlens únicos configurados en paralelo.

Su herramienta para la flexibilidad de las muestras

✔ GeminiSEM 360 es el instrumento ideal para una instalación central, ya que ofrece la máxima versatilidad para las ciencias de los materiales y biológicas, así como para la industria.

✔ El diseño epónimo de óptica de electrones Gemini 1 le ofrece el beneficio de imágenes sensibles a superficies y con alta resolución que permiten disfrutar de una excelente resolución a baja tensión y una magnífica velocidad con alta corriente de sonda.

✔ Obtenga información composicional, de superficies y de alta resolución, incluso en muestras sensibles, usando un detector Inlens para combinar de forma simultánea la captura de imágenes de electrones secundarios y retrodispersados.

✔ Al intentar captar imágenes de muestras no conductoras con poco vacío, la llamada presión variable, no es necesario renunciar al contraste de Inlens: NanoVP garantiza la máxima versatilidad y permite la captura de imágenes Inlens sin carga.

Experiencia de usuario incomparable
Experiencia de usuario sin rival

Configure su instrumento de forma adaptada a sus necesidades gracias a la cámara versátil.

Experiencia de usuario sin rival

✔ GeminiSEM 360 ofrece una experiencia de usuario excepcional: Con su ancho campo de visión y la nueva cámara muy configurable, es fácil obtener información incluso de muestras muy grandes.

✔ Disfrute de una navegación fluida con visualización de imágenes contextual y microscopía correlativa mediante ZEISS ZEN Connect.

✔ Obtenga imágenes claras y nítidas fácilmente usando funciones automáticas, p. ej. el enfoque automático y detectores inteligentes.

✔ Realice flujos de trabajo analíticos y de captura de imágenes de forma eficiente con puertos EDS diametralmente opuestos y una geometría de EDS/EBSD coplanar.

✔ Maximice el tiempo de funcionamiento de su sistema con ZEISS Predictive Service y benefíciese del mantenimiento programado que se realiza cuando le conviene.

Partículas del material del cátodo de una batería de iones de litio, superposición de SEM y Raman
Partículas del material del cátodo de una batería de iones de litio, superposición de SEM y Raman

Realice experimentos multimodales con ZEN Connect y entienda sus muestras completamente. (Partículas del material del cátodo de una batería de iones de litio, superposición de SEM y Raman.)

Capacidad de ampliación excepcional

✔ La capacidad de realizar mejoras es esencial para proteger su inversión. Por eso GeminiSEM 360 se conecta al ecosistema de software de ZEISS ZEN core.

✔ Haga uso de ZEN Connect para combinar datos multimodales y multiescala, ZEN Intellesis para la segmentación avanzada asistida por IA y los módulos analíticos de ZEN para notificar y analizar datos segmentados. ZEN data storage le permite gestionar proyectos de forma central mediante la conexión de datos procedentes de diferentes instrumentos de su laboratorio.

✔ Acceda a flujos de trabajo y guiones creados por otros usuarios que pueden ayudarle a resolver desafíos al ser miembro de la comunidad APEER.

✔ Mejore sus sistemas a medida que se lanzan nuevas funciones gracias a una ruta clara de capacidades de mejora.

Acero, mapa EBSD

GeminiSEM 460

Cambie fácilmente entre el trabajo con baja corriente y kV bajo al trabajo con alta corriente y kV elevado. Amplíe sus posibilidades con un laboratorio de calentamiento y tracción in situ. Benefíciese de una configuración EDS/EBSD coplanar, de mapeos sin sombras de datos EDS y de la recolección rápida de mapas EBSD con 4000 patrones/s.

Leyenda: Acero, mapa EBSD

ZEISS GeminiSEM 460
Mapa EBSD de una muestra metálica
Mapa EBSD de una muestra metálica

Realice análisis rápidos y logre una corriente elevada y una alta resolución de forma simultánea. (Mapa EBSD de una muestra metálica.)

Utilice alta resolución y alta corriente

✔ GeminiSEM 460 ha sido diseñado para sus tareas analíticas más exigentes y permite el análisis eficiente y los flujos de trabajo sin supervisión.

✔ Realice la captura de imágenes a alta resolución y los análisis con rapidez: cambie fácilmente del trabajo a baja corriente y kV bajo al trabajo con alta corriente y kV elevado, y viceversa, utilizando la columna Gemini 2.

✔ Caracterice cualquier muestra de forma exhaustiva mediante el uso de múltiples detectores en paralelo.

✔ Para el análisis eficiente, aproveche la cámara versátil y elija detectores analíticos apropiados.

✔ Use el nuevo modo VP y aumente la corriente para obtener mapas EBSD con tasas de indexación de 4000 patrones/s.

✔ Investigue la composición química y la orientación de los cristales con dos puertos EDS diametralmente opuestos y una configuración EDS/EBSD coplanar. Cuente con mapeos sin sombras de alta velocidad.

Flujos de trabajo personalizados y automatizados
Flujos de trabajo personalizados y automatizados

Configure su instrumento de forma adaptada a sus necesidades gracias a la cámara versátil.

Flujos de trabajo personalizados y automatizados

✔ Al disponer de un análisis tan potente, la automatización del flujo de trabajo se convierte en la clave. Cree y configure experimentos automatizados propios con la API de programación Python de ZEISS.

✔ Modifique los experimentos y personalice el resultado según sus requisitos.

✔ Saque el máximo partido a la tomografía STEM: combine la inclinación y rotación automatizadas con la función de seguimiento. Genere tomogramas en 3D con una resolución a escala nanométrica después de que todas las imágenes alineadas se envíen a un software de reconstrucción en 3D patentado.

✔ Cuando necesite poner a prueba materiales hasta sus límites de ingeniería, ZEISS pone a su disposición un laboratorio experimental y automatizado in situ para tensión y calentamiento: le permite observar materiales bajo calor y tensión automáticamente mientras traza curvas de estrés-tensión al vuelo.

Su camino hacia nuevas posibilidades
Su camino hacia nuevas posibilidades

Convierta su GeminiSEM 460 en un laboratorio in situ.

Su camino hacia nuevas posibilidades

✔ Amplíe sus capacidades analíticas para materiales y ciencias de la vida con una densidad de corriente adaptable e increíblemente elevada, incluso con kV bajo, basada en el diseño Gemini 2.

✔ Benefíciese de poder adaptar el sistema con una amplia variedad de accesorios. La cámara versátil se puede configurar no solo con el equipo analítico, sino también con dispositivos para experimentos in situ, captura de crioimágenes y nanosondeo. El almacenamiento le permite gestionar los proyectos de forma central mediante la conexión de datos procedentes de diferentes instrumentos en su laboratorio.

✔ Esto le permite beneficiarse de la capacidad de acomodar muchas configuraciones y mejoras en cualquier punto durante la vida útil de su instrumento.

✔ Todos los GeminiSEM se conectan al ecosistema ZEISS ZEN core, lo cual le da acceso a ZEN Connect, ZEN Intellesis y los módulos analíticos de ZEN que ofrecen flujos de trabajo de elaboración de informes y buenas prácticas.

Nanopartículas FeMn magnéticas, longitud del borde de un cubo aprox. 25 nm. GeminiSEM 560, 1 kV, Inlens SE, campo de visión de 565 nm.​

GeminiSEM 560

Explore el nuevo estándar para la captura de imágenes de superficies: captura sin campo magnético con una resolución inferior a 1 nm por debajo de 1 kV sin polarización de la muestra ni monocromatismo, Gemini 3 con su nuevo motor de óptica de electrones Smart Autopilot, para encontrar el punto ideal en sus condiciones de trabajo, y mucho más.

Leyenda: Nanopartículas FeMn magnéticas, longitud del borde de un cubo aprox. 25 nm. GeminiSEM 560, 1 kV, Inlens SE, campo de visión de 565 nm.​

ZEISS GeminiSEM 560
Detalles de la superficie de una partícula mineral no conductora con valores bajos de kV: GeminiSEM 560 a 800 V, Inlens SE.​
Detalles de la superficie de una partícula mineral no conductora a kV bajo: GeminiSEM 560 a 800 V, Inlens SE.​

Detalles de la superficie de una partícula mineral no conductora a kV bajo: GeminiSEM 560 a 800 V, Inlens SE.​

Imagen por debajo de 1 kV

✔ Gemini 3 permite la captura de imágenes sin campo magnético con resolución inferior a 1 nm y por debajo de 1 kV, sin necesidad de polarización de la muestra ni monocromatismo. Incluye las lentes dobles de escala nanométrica y el nuevo motor óptico electrónico Smart Autopilot.

✔ Logre imágenes de materia no conductora con un nuevo modo de presión variable y sistema de detección: asegure resultados rápidos y preserve las características poniendo muestras sensibles al vacío en la cámara mediante el nuevo Gentle Airlock en el modo VP.

✔ Analice muestras delicadas con facilidad aprovechando la nueva cámara grande con dos puertos EDS. Genere un mapeo rápido y sin sombras garantizado por un ángulo sólido del detector.

Tomografía STEM en 3D en una nanopartícula de CeO2. GeminiSEM 560, aSTEM, campo claro, 30 kV.
Tomografía STEM en 3D en una nanopartícula de CeO2. GeminiSEM 560, aSTEM, campo claro, 30 kV.

Tomografía STEM en 3D en una nanopartícula de CeO2. GeminiSEM 560, aSTEM, campo claro, 30 kV.

Conocimiento experto integrado

✔ Navegue fácilmente la muestra aprovechando el campo de visión mucho mayor del sistema.

✔ La captura de imágenes de muestras desafiantes ahora se ha acelerado mediante el nuevo motor óptico electrónico Smart Autopilot. Le permite ahorrar tiempo a la vez que deja obsoletos los alineamientos prolongados: el motor impulsa la óptica electrónica para ofrecer aumentos desde menos de 1x hasta 500 000x, ocupándose del alineamiento, la calibración y el enfoque mientras tanto. Se incluye un nuevo autoenfoque de paralelaje patentado y una nueva oscilación automática le proporciona imágenes claras y nítidas en cuestión de segundos.

✔ La programación de Python puede usar estas características en flujos de trabajo automatizados, como la tomografía STEM en 3D.

El punto ideal: Contraste magnético sobre imán de NdFeB
El punto ideal: Contraste magnético sobre imán de NdFeB

El punto ideal: Contraste magnético sobre imán de NdFeB

Experimente un contraste único

✔ Encontrar el punto ideal en sus condiciones de trabajo significa que ha seleccionado exactamente la combinación adecuada de parámetros para lograr la imagen perfecta: el truco está en encontrarlo. La tecnología Gemini con su captura de imágenes sin campo magnético y la nueva columna Gemini 3 le permiten encontrar estos puntos ideales y descubrir nueva información.

✔ La captura de imágenes con contraste magnético es fácil con un campo magnético sobre la muestra de menos de 2 mT. Realice la captura de imágenes espectroscópicas de energía con el detector de retrodispersión Inlens de energía selectiva y la captura de imágenes espectroscópicas angulares electrónicas con el detector anular de retrodispersión.

✔ Reúna todos sus datos con ZEN Connect para segmentar y notificar sus hallazgos.

Entrevista con el Dr. Mario Hentschel

Dr. Mario Hentschel​

Dr. Mario Hentschel​

Investigación de sensores ópticos en la Universidad de Stuttgart, 4.º Instituto de Física y Centro de Tecnología Cuántica Aplicada, Alemania.

Dr. Mario Hentschel​
Testimonio

Dr. Mario Hentschel

Director del centro de sala limpia y nanoestructuras, primer usuario de GeminiSEM 560.

"Trabajamos con microestructuras y nanoestructuras para la detección óptica. En consecuencia, es importante caracterizar dispositivos a escala nanométrica. Estas aplicaciones requieren un microscopio electrónico muy flexible. ZEISS GeminiSEM 560 nos ofrece un increíble grado de libertad y flexibilidad. Obtenemos imágenes de la máxima calidad, incluso de muestras muy complejas, como polímeros muy aislantes, que muestran efectos mínimos debido a la carga. Por tanto, GeminiSEM 560 sin duda será una tecnología muy útil para nuestra investigación y creemos que este instrumento puede proporcionarla de forma muy flexible".

La tecnología detrás de la óptica de electrones Gemini

  • Lo que siempre quiso saber sobre los fundamentos

    Los SEM de emisión de campo se han diseñado para obtener imágenes de alta resolución. La clave para el rendimiento de un SEM de emisión de campo es su columna de óptica de electrones. Gemini está adaptado para una excelente resolución en cualquier muestra, sobre todo con bajas tensiones de aceleración para una detección completa y eficiente y una gran facilidad de uso.

    La columna óptica Gemini 1 consta de un acelerador de haz, detectores Inlens y un objetivo Gemini.
    La columna óptica Gemini 1 consta de un acelerador de haz, detectores Inlens y un objetivo Gemini.

    La columna óptica Gemini 1 consta de un acelerador de haz, detectores Inlens y un objetivo Gemini.

    La óptica de Gemini se caracteriza por tres componentes principales:

    • ● El diseño de la lente de los objetivos Gemini combina campos electrostáticos y magnéticos para maximizar el rendimiento óptico, al tiempo que reduce al mínimo las influencias de campo sobre la muestra. Esto posibilita la obtención de unas imágenes excelentes, incluso en muestras complejas, como las de materiales magnéticos. 
    • ● La tecnología de acelerador de haz de Gemini, una desaceleración integrada del haz, garantiza tamaños de sonda pequeños y una elevada relación señal-ruido. 
    • ● El concepto de detección Gemini Inlens garantiza una detección eficiente de la señal mediante la detección de electrones secundarios (SE) y retrodispersados (BSE) en paralelo, minimizando el tiempo hasta la captura de la imagen.
    Partícula de pedernal, izquierda: Inlens EsB, imagen Inlens SE derecha.
    Partícula de pedernal, izquierda: Inlens EsB, imagen Inlens SE derecha.

    Beneficios para sus aplicaciones:

    • ✔ Logre estabilidad a largo plazo para la alineación del SEM y facilidad para ajustar todos los parámetros del sistema, como la corriente de la sonda y la tensión de aceleración. 
    • ✔ Consiga una captura de imágenes sin distorsión y de alta resolución con ayuda de la óptica prácticamente sin campo magnético. 
    • ✔ Obtenga información únicamente de la capa más superior de sus muestras con el detector Inlens SE que genera imágenes de los electrones SE 1 realmente sensibles a superficies.
    • ✔ Consiga un auténtico contraste de los materiales con tensiones muy bajas con el concepto de detección del detector Inlens EsB.
  • Saque el máximo partido a los análisis rápidos

    Una caracterización exhaustiva de cualquier muestra requiere un buen rendimiento de captura de imágenes y análisis. Además, los usuarios de hoy en día esperan que la configuración y el manejo del instrumento sean fáciles. La óptica Gemini 2 responde a estas demandas.

    Tecnología Gemini. Esquema de la sección transversal de la columna óptica Gemini 2 con doble condensador, acelerador de haz, detector Inlens y objetivo Gemini.
    Tecnología Gemini. Esquema de la sección transversal de la columna óptica Gemini 2 con doble condensador, acelerador de haz, detector Inlens y objetivo Gemini.

    Cambie fácilmente entre la captura de imágenes y el análisis de alta resolución​

    • ● GeminiSEM 460 cuenta con la óptica Gemini 2 de doble condensador.​
    • ● Ajuste la corriente del haz de forma continua, mientras que el tamaño del punto se mantiene optimizado.​ 
    • ● Cambie fácilmente entre la captura de imágenes de alta resolución con bajas corrientes de haz y los modos analíticos con elevadas corrientes de haz.​ 
    • ● Ahorre tiempo y esfuerzo, ya que no es necesario realinear el haz después de cambiar los parámetros de captura de imágenes.
    ​​Mapa de EBSD de acero.
    ​​Mapa de EBSD de acero.

    ​​Mapa de EBSD de acero.

    Manténgase flexible y trabaje de forma eficiente​

    • ✔ Conserve la flexibilidad: use la máxima densidad de corriente de haz para la captura de imágenes y el análisis de alta resolución tanto con baja corriente del haz como con alta, independientemente de la energía del haz que seleccione.
    • ✔ Su muestra no se expondrá a un campo magnético: logre patrones de EBSD sin distorsión y una captura de imágenes de alta resolución en un gran campo de visión​. 
    • ✔ Incline la muestra sin influir en el rendimiento de la óptica de electrones. Capture imágenes incluso de muestras magnéticas con facilidad.​ 
    • ✔ Elija el modo de reducción de la carga que mejor se adapte a su muestra: compensación de carga local, presión variable en la cámara o NanoVP.
  • Captura de imágenes por debajo de 1 kV - Conocimiento experto integrado​

    La óptica Gemini 3 está optimizada para resoluciones con tensiones bajas y muy bajas y para un mejor contraste. Aseguran la máxima resolución en todas las condiciones de trabajo, desde 1 kV hasta 30 kV, y constan de dos componentes que funcionan de forma sinérgica: las lentes dobles de escala nanométrica y Smart Autopilot, un nuevo motor de óptica de electrones. Las características tecnológicas adicionales son un modo de alta resolución de cañón y el Tandem decel opcional.

    Modos de resolución: le permiten ver más detalles

    Más detalles y más señal de detección para sus imágenes SEM, posibilitado mediante dos modos. En modo de pistola de alta resolución, la energía dispersada reducida del haz primario minimiza el efecto de aberración cromática para permitir tamaños de muestra aún más pequeños. Con el modo de desaceleración Tandem decel se aplica un voltaje de desaceleración a las muestras. Este sistema mejora la resolución por debajo de 1kV y aumenta la eficiencia de detección de los detectores de diodos retrodispersados.

    Nuevo diseño óptico de la columna Gemini 3. Sección transversal esquemática de GeminiSEM 560. Lentes dobles de escala nanométrica (rojo), Smart Autopilot (azul).
    Nuevo diseño óptico de la columna Gemini 3. Sección transversal esquemática de GeminiSEM 560. Lentes dobles de escala nanométrica (rojo), Smart Autopilot (azul).

    La lente doble de escala nanométrica ofrece:

    • ● Resolución subnanométrica a tensión baja y muy baja con excelente eficiencia de detección de la señal.​ 
    • ● Tres veces menos aberraciones de la lente a kV bajo, en comparación con la lente de objetivo Gemini estándar, lo cual da lugar a un campo magnético tres veces menor en la muestra, de una magnitud de 1 mT. 
    • ● Geometría optimizada y distribuciones del campo magnético y electrostático. 
    • ● Una mejor señal del detector Inlens en condiciones de captura de imágenes con baja tensión​. 
    • ● Estas características permiten captar imágenes subnanométricas por debajo de 1 kV sin sumergir la muestra en un campo electromagnético.
    La precisión del enfoque automático fino tras 1 s de enfoque
    La precisión del enfoque automático fino tras 1 s de enfoque

    La precisión del enfoque automático fino tras 1 s de enfoque.

    Cómo funciona:

    • ● Smart Autopilot optimiza las trayectorias de los electrones a través de la columna, asegurando así la máxima resolución posible con cada tensión de aceleración.
    • ● Las funciones automáticas permiten una transición fluida sin alineación en todo el rango de aumentos, desde 1x hasta 2000 000× y un aumento de 10x en el campo de visión, que permite captar un objeto de 13 cm en un único fotograma. 
    • ● El almacenamiento de imágenes de 32k × 24k en combinación con el nuevo modo de resumen asegura una densidad de píxeles sin uniones en un campo de visión sin igual

Vídeos de instrucciones sobre la tecnología Gemini

  • Gemini 1

    Ofrece una elevada flexibilidad de las muestras

  • Gemini 2

    Para análisis rápidos

  • Gemini 3

    Sentando nuevas bases para la captura de imágenes sensibles a superficies

Placas doradas estructuradas, investigación sobre efectos plasmónicos, GeminiSEM 560, BSD.

Aplicaciones en ciencias de los materiales

Tareas y aplicaciones habituales

  • Capte imágenes y analice cualquier muestra real sin esfuerzo, en grandes áreas o con resolución subnanométrica.
  • Explore ejemplos de nanociencias, ingeniería y materiales energéticos o materiales inspirados en la biología, polímeros y catalizadores.
  • Observe cómo GeminiSEM le ayuda a caracterizar sus muestras de forma exhaustiva.

Leyenda: Placas doradas estructuradas, investigación sobre efectos plasmónicos, GeminiSEM 560, BSD. Imagen: cortesía de la Universidad de Stuttgart, Alemania.

Aplicaciones en ciencias de los materiales

Nanociencias y nanomateriales

Longitud del borde de un cubo aprox. 25 nm. GeminiSEM 560, 1 kV, Inlens SE, campo de visión de 565 nm.
Nanopartículas magnéticas de FeMn. Longitud del borde de un cubo aprox. 25 nm. GeminiSEM 560, 1 kV, Inlens SE, campo de visión de 565 nm.
Como parte de la investigación fundamental sobre los efectos plasmónicos. GeminiSEM 560. Sci Adv 3, e1700721, 2017.
Placas doradas estructuradas. Como parte de la investigación fundamental sobre los efectos plasmónicos. GeminiSEM 560. Sci Adv 3, e1700721, 2017.
Modo de vista general, campo de visión extremadamente grande, tres monedas de euro. GeminiSEM 560.
Modo de vista general, campo de visión extremadamente grande, tres monedas de euro. GeminiSEM 560.
Una superficie fracturada de una muestra de NdFeB desmagnetizada, mapa EDS. La distribución fina de boro (verde) se resuelve fácilmente contra neodimio (rosa). GeminiSEM 460, detector de retrodispersión anular a 3 kV sin polarización.
Una superficie fracturada de una muestra de NdFeB desmagnetizada, mapa EDS. La distribución fina de boro (verde) se resuelve fácilmente contra neodimio (rosa). GeminiSEM 460, detector de retrodispersión anular a 3 kV sin polarización.

Materiales energéticos

Después de 500 ciclos de carga, 1 kV, detector Inlens SE.
Partículas del cátodo de NCM622. Después de 500 ciclos de carga, 1 kV, detector Inlens SE.
Superficie de una pila de combustible de electrolitos y polímero sin revestimiento, capa microporosa con nanopartículas de carbono aglomeradas con aglutinante y nanopartículas de platino con un diámetro de <10 nm.
Superficie de una pila de combustible de electrolitos y polímero sin revestimiento, capa microporosa con nanopartículas de carbono aglomeradas con aglutinante y nanopartículas de platino con un diámetro de &lt;10 nm.
Sobre un sustrato de alúmina, captada a 1,8 kV usando el detector Inlens SE para resaltar la topografía de la superficie.
Célula solar CIGS. Sobre un sustrato de alúmina, captada a 1,8 kV usando el detector Inlens SE para resaltar la topografía de la superficie.

Materiales de ingeniería

Una muestra de acero inoxidable captada en una prueba de carga de tracción in situ. Usando el detector AsB, las imágenes tienen un contraste extremadamente elevado y captan la formación de bandas de deslizamiento durante la carga in situ, como se muestra en las imágenes de antes (izquierda) y después de la carga (derecha).
Una muestra de acero inoxidable captada en una prueba de carga de tracción in situ. Usando el detector AsB, las imágenes tienen un contraste extremadamente elevado y captan la formación de bandas de deslizamiento durante la carga in situ, como se muestra en las imágenes de antes (izquierda) y después de la carga (derecha).

Acero inoxidable: prueba de carga de tracción in situ

Una muestra de acero inoxidable captada en una prueba de carga de tracción in situ. Usando el detector AsB, las imágenes tienen un contraste extremadamente elevado y captan la formación de bandas de deslizamiento durante la carga in situ, como se muestra en las imágenes de antes (izquierda) y después de la carga (derecha).

Imagen captada con detector BSE con una energía de contacto de 1 kV sin polarización (izquierda) y energía de contacto de 1 kV con polarización de 5 kV (derecha), que proporciona un mejor contraste y nitidez del material.​
Imagen captada con detector BSE con una energía de contacto de 1 kV sin polarización (izquierda) y energía de contacto de 1 kV con polarización de 5 kV (derecha), que proporciona un mejor contraste y nitidez del material.​

Polvo de nanocompuesto

Imagen captada con detector BSE con una energía de contacto de 1 kV sin polarización (izquierda) y energía de contacto de 1 kV con polarización de 5 kV (derecha), que proporciona un mejor contraste y nitidez del material.​

Después de la preparación de la superficie usando pulido con chorro de arena. El SiO2 machacado presenta carga positiva en la imagen de la izquierda. Contraste visible solamente a una distancia de trabajo grande de 5 mm (izquierda) frente a una distancia de trabajo más cercana de 1 mm (derecha).
Después de la preparación de la superficie usando pulido con chorro de arena. El SiO2 machacado presenta carga positiva en la imagen de la izquierda. Contraste visible solamente a una distancia de trabajo grande de 5 mm (izquierda) frente a una distancia de trabajo más cercana de 1 mm (derecha).

Superficie de acero inoxidable

Después de la preparación de la superficie usando pulido con chorro de arena. El SiO2 machacado presenta carga positiva en la imagen de la izquierda. Contraste visible solamente a una distancia de trabajo grande de 5 mm (izquierda) frente a una distancia de trabajo más cercana de 1 mm (derecha).

Materiales inspirados en la biología, polímeros y catalizadores

La esterilla de gelatina se estabiliza en una atmósfera rica en formaldehído, que da lugar al entrecruzamiento químico de las fibras. Muestra: cortesía de Fraunhofer IMWS, DE
La esterilla de gelatina se estabiliza en una atmósfera rica en formaldehído, que da lugar al entrecruzamiento químico de las fibras. Muestra: cortesía de Fraunhofer IMWS, DE
Su estructura superficial influye mucho en el comportamiento de humedecimiento para las propiedades superhidrofóbicas. Muestra: cortesía de Fraunhofer IGB Stuttgart, DE.
Película de poliuretano. Su estructura superficial influye mucho en el comportamiento de humedecimiento para las propiedades superhidrofóbicas. Muestra: cortesía de Fraunhofer IGB Stuttgart, DE.
Análisis de fallos del proceso de soldadura de un polímero: una superficie fracturada captada bajo presión variable, que proporciona información sobre la adhesión de dos polímeros unidos.
Análisis de fallos del proceso de soldadura de un polímero: una superficie fracturada captada bajo presión variable, que proporciona información sobre la adhesión de dos polímeros unidos.1
Sección transversal de una batería de iones de litio.

Soluciones de microscopía para la industria

Tareas y aplicaciones habituales

  • Análisis de fallos en componentes mecánicos, ópticos o electrónicos
  • Análisis de fracturas y metalografía
  • Caracterización de superficies, microestructuras y dispositivos
  • Distribución de composición y fases
  • Determinación de impurezas e inclusiones

Leyenda: Sección transversal de una batería de iones de litio.​

Soluciones de microscopía para la industria

Acero y baterías

Superficie de fractura: fallo de fragilidad de una muestra de acero en tensión
Superficie de fractura: fallo de fragilidad de una muestra de acero en tensión

Superficie de fractura: fallo de fragilidad de una muestra de acero en tensión

Superficie de fractura: fallo de fragilidad de una muestra de acero en tensión

Inclusiones en acero, detector Inlens SE, 500 V
Inclusiones en acero, detector Inlens SE, 500 V

Inclusiones en acero, detector Inlens SE, 500 V

Inclusiones en acero, detector Inlens SE, 500 V

Cátodo de batería de iones de litio
Cátodo de batería de iones de litio

El mapa composicional EDS muestra los componentes principales de los distintos óxidos. Muestra: cortesía de la Universidad de Aalen, Alemania.

Cátodo de batería de iones de litio

El detector aBSD con EHT elevado (aquí a 30 kV) muestra estructuras enterradas en profundidad, como puertas FinFET, conectores de tungsteno y revestimientos de hojalata (recuadro) con una resolución y contraste excepcionales.

Aplicaciones en electrónica y semiconductores

Tareas y aplicaciones habituales

  • Análisis y comparación de la construcción
  • Contraste de tensión pasiva
  • Análisis del subsuelo
  • Medición de las propiedades electrónicas sin sondeo
  • Selección de la ubicación de TEM

Leyenda: El detector aBSD con EHT elevado (aquí a 30 kV) muestra estructuras enterradas en profundidad, como puertas FinFET, conectores de tungsteno y revestimientos de hojalata (recuadro) con una resolución y contraste excepcionales.

Aplicaciones en electrónica y semiconductores

Corriente absorbida del haz de electrones (EBAC)

El sondeo durante la captura de imágenes puede proporcionar información adicional sobre el funcionamiento. Aquí, la corriente absorbida del haz de electrones (EBAC) muestra la conectividad de un circuito con una punta de sonda depositada en un nodo.

Conectividad de un circuito con una punta de sonda depositada en un nodo: 2 kV
 EBAC a 2 kV.
 EBAC a 5 kV.
 EBAC a 8 kV.
Las imágenes de retrodispersión muestran estructuras enterradas en profundidad, como puertas FinFET, conectores de tungsteno y revestimientos de hojalata (recuadro) y así guían el análisis de fallos para el flujo de trabajo TEM, detector aBSD a 30 kV.
Las imágenes de retrodispersión muestran estructuras enterradas en profundidad, como puertas FinFET, conectores de tungsteno y revestimientos de hojalata (recuadro) y así guían el análisis de fallos para el flujo de trabajo TEM, detector aBSD a 30 kV.

Puertas FinFET

Las imágenes de retrodispersión muestran estructuras enterradas en profundidad, como puertas FinFET, conectores de tungsteno y revestimientos de hojalata (recuadro) y así guían el análisis de fallos para el flujo de trabajo TEM, detector aBSD a 30 kV.

Virus SARS-CoV-2, cultivo, inactivado, tinción negativa, GeminiSEM 560, aSTEM, HAADF/BF. Muestra: cortesía de M. Hannah, Salud Pública de Inglaterra, Reino Unido.

Aplicaciones en ciencias biológicas

Tareas y aplicaciones habituales

  • Caracterización de la topología
  • Captura de imágenes de muestras sensibles, no conductoras, que liberan gas o con bajo contraste
  • Visualización de la ultraestructura de células, tejidos, etc. a altas resoluciones
  • Captura de imágenes de áreas muy grandes, como secciones seriales o caras de bloques

Leyenda: Virus SARS-CoV-2, cultivo, inactivado, tinción negativa, GeminiSEM 560, aSTEM, HAADF/BF. Muestra: cortesía de M. Hannah, Salud Pública de Inglaterra, Reino Unido.

Aplicaciones en ciencias biológicas

Virus SARS-CoV-2

Virus  SARS-CoV-2, cultivo, inactivado, tinción negativa, GeminiSEM 560, aSTEM, HAADF/BF. Muestra: cortesía de M. Hannah, Salud Pública de Inglaterra, Reino Unido.

Cerebro de ratón

La aplicación de Tandem decel aumenta el contraste hasta el punto de que los orgánulos de la célula son claramente visibles con alta resolución, cerebro de ratón. Muestra: cortesía de C. Genoud, FMI, Basilea, CH.

Nódulos radiculares de alubias Fabaceae

Investigue zonas grandes con tomografía, secciones seriales y capturas de imágenes de caras de bloques. Nódulos radiculares de alubias Fabaceae, captados con ZEISS Atlas 5, 78 secciones.

Accesorios

Nanopartículas de ZnO sobre película de carbono, reconstrucción de la retroproyección que muestra la morfología en 3D de las nanopartículas.

Tomografía STEM en 3D

Ahora tiene a su disposición la tomografía STEM automatizada en un FE-SEM. Una secuencia de comandos para la adquisición automatizada de una serie de inclinación STEM utiliza la API y realiza movimientos de la platina compucéntricos, de rotación y de inclinación, además del enfoque automático y la adquisición de imágenes. El seguimiento de la función compensa los cambios en toda la serie de inclinación y mantiene la desviación entre dos imágenes a un mínimo de aprox. 50 nm. El portamuestras STEM le permite inclinar la platina hasta 60° y realizar una rotación de 180° y el detector aSTEM cubre todos los requisitos. El software de reconstrucción en 3D del equipo de desarrollo del kit de herramientas de reconstrucción avanzada (ART) toma este resultado y renderiza un modelo en 3D de su muestra.

Reconstrucción en 3D de las neuronas cerebrales de un ratón. Muestra cortesía de Christel Genoud, Universidad de Lausana, Suiza
Reconstrucción en 3D de las neuronas cerebrales de un ratón. Muestra cortesía de Christel Genoud, Universidad de Lausana, Suiza

Muestra cortesía de Christel Genoud, Universidad de Lausana, Suiza

Muestra cortesía de Christel Genoud, Universidad de Lausana, Suiza

Ultramicrótomo dentro de la cámara del microscopio electrónico de barrido de caras de bloque en serie

Obtenga imágenes en 3D de la ultraestructura de muestras biológicas incrustadas en resina sobre grandes áreas. ZEISS Volutome es una solución integral que abarca desde el hardware hasta el software, además del procesamiento de imágenes, la segmentación y la visualización.

Vincule el rendimiento de los materiales a su microestructura con el laboratorio {_in situ} para ZEISS FE-SEM

Vincule el rendimiento de los materiales a su microestructura con el laboratorio in situ para ZEISS FE-SEM

Benefíciese de una solución integrada​

Amplíe su SEM de emisión de campo de ZEISS con una solución in situ para experimentos de calentamiento y tracción. Investigue materiales como metales, aleaciones, polímeros, plásticos, composites y cerámicas. Combine una platina de compresión o tracción mecánica, una unidad de calentamiento y detectores dedicados de alta temperatura con análisis. Controle todos los componentes del sistema desde un único ordenador con un entorno de software unificado que permita el análisis automatizado de materiales sin supervisión.

Software de visualización y análisis: ZEISS recomienda Dragonfly Pro

Software de visualización y análisis

ZEISS recomienda Dragonfly Pro

Una solución de software avanzado de visualización y análisis para sus datos en 3D captados mediante una serie de tecnologías, incluyendo rayos X, FIB-SEM, SEM y microscopía de iones de helio. ORS Dragonfly Pro está disponible exclusivamente a través de ZEISS y ofrece un kit de herramientas intuitivo, completo y personalizable para la visualización y el análisis de datos grandes en escala de grises y en 3D. Dragonfly Pro permite la navegación, la anotación y la creación de archivos de medios, incluida la producción de vídeo, de sus datos en 3D. Lleve a cabo el procesamiento de imágenes, la segmentación y el análisis de objetos para cuantificar sus resultados.

Descargas

    • ZEISS GeminiSEM

      Your Field Emission SEMs for the Highest Demands in Imaging and Analytics from Any Sample

      Páginas: 47
      Tamaño de archivo: 7 MB
    • ZEISS Sense BSD

      Backscatter Electron Detector for Fast and Gentle Ultrastructural Imaging

      Páginas: 6
      Tamaño de archivo: 6 MB
    • In Situ Lab for ZEISS FE-SEM

      Páginas: 5
      Tamaño de archivo: 4 MB
    • Reduced Energy Consumption

      Optimized Operating Efficiency

      Páginas: 2
      Tamaño de archivo: 340 KB
    • ZEISS GeminiSEM 360 - Field Emission SEM (Flyer)

      Informative Imaging and Fast Understanding in Core Facilities.

      Páginas: 4
      Tamaño de archivo: 2 MB
    • ZEISS GeminiSEM 460 - Field Emission SEM (Flyer)

      Efficient Analysis and Unattended Workflows

      Páginas: 4
      Tamaño de archivo: 1 MB
    • ZEISS GeminiSEM 560 - Field Emission SEM (Flyer)

      Imaging Below 1 kV. Expert Knowledge Integrated.

      Páginas: 4
      Tamaño de archivo: 962 KB
    • Evolution of Gemini Electron Optics

      The Next Chapter in Sub-nanometer Imaging Below 1 kV

      Páginas: 5
      Tamaño de archivo: 2 MB
    • Originally Published at ISTFA 2022

      A Correlative Microscopic Workflow for Nanoscale Failure Analysis and Characterization of Advanced Electronics Packages

      Páginas: 6
      Tamaño de archivo: 5 MB
    • ZEISS GeminiSEM FE-SEM Family

      Perform versatile, high-resolution semiconductor imaging and characterization.

      Páginas: 2
      Tamaño de archivo: 1 MB
    • Investigating Sweet Spot Imaging of Perovskite Catalysts Bearing Exsolved Active Nanoparticles

      Páginas: 6
      Tamaño de archivo: 5 MB
    • ZEISS Microscopy Solutions for Geoscience

      Understanding the fundamental processes that shape the universe expressed at the smallest of scales

      Páginas: 9
      Tamaño de archivo: 15 MB
    • ZEISS Gemini Optics - Poster

      High Resolution Images On Real World Samples

      Páginas: 1
      Tamaño de archivo: 2 MB

Contacto ZEISS Microscopy

Contacto

Cargando el formulario...

/ 4
Siguiente paso:
  • Paso 1
  • Paso 2
  • Paso 3
Contacto
Información necesaria
Información opcional

Para obtener más información sobre el procesamiento de datos en ZEISS, consulte nuestra declaración de protección de datos.