Microscopía de rayos X 3D multiescala ZEISS VersaXRM

La microscopía de rayos X es útil para visualizar en 3D las estructuras internas de una muestra, preservando al mismo tiempo la integridad de la muestra y su contexto circundante. Los sistemas de microscopía de rayos X (XRM) de ZEISS resultan especialmente valiosos para estudiar defectos ocultos, interfaces, poros, grietas o regiones de interés internas que podrían pasar desapercibidas o verse alteradas con una preparación destructiva, al mismo tiempo que permiten realizar capturas de imágenes no destructivas de alta resolución en una amplia variedad de tipos de muestras.

Resolution at a Distance™, o RaaD™, permite realizar capturas de imágenes de alta resolución manteniendo la distancia de trabajo entre la fuente y la muestra. Esto permite capturar detalles pequeños con alta resolución incluso en muestras de mayor tamaño o más complejas, investigar regiones de interés en el interior de muestras intactas sin necesidad de recortarlas ni volver a fijarlas, y trabajar con configuraciones in situ.

Sí. Los sistemas VersaXRM permiten comenzar con una exploración general de la muestra y avanzar hacia el análisis específico de regiones de interés seleccionadas. De este modo, los usuarios pueden identificar dónde se encuentran las características relevantes y, a continuación, estudiarlas de forma eficiente a mayor resolución, conservando al mismo tiempo el contexto circundante de la muestra.

El sistema VersaXRM adecuado depende de la aplicación, los tipos de muestras, las necesidades de capacidad de procesamiento y los requisitos de rendimiento. Elija VersaXRM 730 para obtener el máximo rendimiento con las muestras más exigentes y los flujos de trabajo avanzados. VersaXRM 615 es una herramienta de alto rendimiento para la captura de imágenes 3D no destructiva, tanto rutinaria como avanzada. VersaXRM 5 Insight es una solución híbrida VersaXRM + microCT de gran valor para flujos de trabajo eficientes y orientados a la obtención de información relevante.

Los sistemas VersaXRM permiten trabajar con una amplia variedad de muestras en ámbitos como la investigación de materiales e industrial, los semiconductores y los dispositivos electrónicos, las baterías y los materiales energéticos, las ciencias de la vida, la geología y la minería. Entre las muestras se incluyen, por ejemplo, metales, materiales compuestos, baterías, encapsulados electrónicos, componentes industriales, tejidos biológicos, muestras geológicas y otros materiales o dispositivos complejos.

VersaXRM permite capturar imágenes de muestras intactas de forma no destructiva antes de realizar una preparación posterior o un análisis de mayor resolución. Esto ayuda a localizar regiones de interés, preservar el contexto espacial y tomar decisiones mejor fundamentadas antes de recurrir a técnicas como la microscopía óptica, la microscopía electrónica, la FIB-SEM u otros flujos de trabajo destructivos.

Las tecnologías de reconstrucción avanzada pueden mejorar el rendimiento, la calidad de imagen, el contraste, la reducción de artefactos y la visualización de muestras complejas. Herramientas como DeepRecon Pro, DeepScout, MARS, PhaseEvolve y OptiRecon ayudan a los usuarios a aprovechar mejor los conjuntos de datos obtenidos con VersaXRM y adaptar los flujos de trabajo de reconstrucción a las necesidades de cada muestra y aplicación.

Sí. Los flujos de trabajo de VersaXRM permiten realizar estudios de captura de imágenes in situ y 4D en los que los usuarios capturan imágenes repetidamente de una misma muestra a lo largo del tiempo o en condiciones cambiantes. Esto resulta útil para estudiar la evolución de los materiales, la deformación, el calentamiento, el enfriamiento, la corrosión, la humectación, la compresión, el flujo de fluidos y otros procesos dinámicos, preservando al mismo tiempo el contexto de la muestra.