Microscopie à rayons X 3D multi-échelles ZEISS VersaXRM

La microscopie à rayons X est utile lorsque les structures internes d'un échantillon doivent être visualisées en 3D tout en préservant l'intégrité de l'échantillon et de son environnant. Les systèmes de microscopie à rayons X (XRM) ZEISS sont particulièrement utiles pour mettre en évidence les défauts cachés, les interfaces, les pores, les fissures ou les régions d'intérêt dissimulées qui pourraient être ignorés ou altérés par une préparation destructive, tout en offrant une imagerie non destructive à haute résolution sur une large gamme de types d'échantillons.

La technologie Resolution at a Distance, ou RaaD™, permet de réaliser une imagerie en haute résolution tout en conservant la distance de travail entre la source et l'échantillon, Elle permet aux utilisateurs d'examiner des détails fins à haute résolution même dans des échantillons plus volumineux ou plus complexes, d'étudier des régions d'intérêt à l'intérieur d'échantillons intacts sans troncage ni repositionnement, et de prendre en charge les configurations in situ.

Oui. Les systèmes VersaXRM prennent en charge les flux de tâches qui commencent par une exploration large des échantillons et se poursuivent par une investigation ciblée de régions d'intérêt sélectionnées. Cette démarche permet aux utilisateurs d'identifier l'emplacement des principales caractéristiques, puis d'étudier ces caractéristiques à une résolution plus élevée tout en conservant le contexte environnant de l'échantillon.

Le choix d'un système VersaXRM dépend de l'application, des types d'échantillons, des besoins en termes de rendement et des exigences de performance. Optez pour VersaXRM 730 afin de bénéficier de performances optimales, même avec les échantillons les plus exigeants et les flux de tâches les plus avancés. VersaXRM 615 est un système haute performance destiné à l'imagerie 3D non destructive courante et avancée. VersaXRM 5 Insight est une solution hybride à forte valeur ajoutée combinant VersaXRM et la microCT pour des flux de tâches efficaces et axés sur l'analyse.

Les systèmes VersaXRM permettent d'analyser une vaste sélection d'échantillons dans les domaines suivants : recherche sur les matériaux et recherche industrielle, semi-conducteurs et électronique, matériaux pour batteries et énergie, sciences de la vie, géologie et exploitation minière. Les exemples d'échantillons peuvent inclure les métaux, les matériaux composites, les batteries, les boîtiers électroniques, les composants industriels, les tissus biologiques, les spécimens géologiques et d'autres matériaux ou dispositifs complexes.

VersaXRM peut être utilisé pour capturer des images d'échantillons intacts de manière non destructive avant une préparation ultérieure ou une analyse à plus haute résolution. Les utilisateurs peuvent ainsi localiser les régions d'intérêt, préserver le contexte spatial et prendre des décisions plus éclairées avant de recourir à des techniques telles que la microscopie optique, la microscopie électronique, le FIB-SEM ou d'autres flux de tâches destructifs.

Les technologies de reconstruction avancées peuvent améliorer le rendement, la qualité des images, le contraste, la réduction des artefacts et la visualisation d'échantillons complexes. Des outils tels que DeepRecon Pro, DeepScout, MARS, PhaseEvolve et OptiRecon aident les utilisateurs à exploiter toutes les informations contenues dans des ensembles de données VersaXRM et à adapter les flux de tâches de reconstruction aux différents besoins des échantillons et des applications.

Oui. Les flux de tâches VersaXRM permettent de réaliser des examens d'imagerie in situ et en 4D dans lesquels les utilisateurs effectuent des acquisitions répétées d'un même échantillon au fil du temps ou dans des conditions variables. Cette pratique permet notamment d'étudier l'évolution des matériaux, la déformation, la montée en température, le refroidissement, la corrosion, le mouillage, la compression, l'écoulement des fluides et d'autres processus dynamiques tout en préservant le contexte de l'échantillon.