Comment ZEISS VersaXRM 5 Insight prend-il en charge l'imagerie multi-échelles ?

ZEISS VersaXRM 5 Insight allie les capacités hybrides de la XRM et de la CT pour une imagerie performante, de la vue globale aux détails. Les utilisateurs peuvent commencer par une vue globale de l'échantillon de type microCT, puis identifier les régions d'intérêt internes et passer à une analyse XRM ciblée en haute résolution tout en conservant le contexte de l'échantillon.

Quelles caractéristiques distinguent ZEISS VersaXRM 5 Insight de la microCT traditionnelle ?

VersaXRM 5 Insight est une solution hybride XRM + microCT à forte valeur ajoutée qui combine une imagerie d'ensemble rapide et l'analyse XRM ciblée en haute résolution au cours d'un même flux de tâches. L'imagerie Flat Panel, l'imagerie basée sur l'objectif RaaD, les flux de tâches guidés et la reconstruction guidée par IA aident les utilisateurs à passer efficacement du contexte global de l'échantillon aux détails internes que la microCT conventionnelle seule ne peut pas fournir.

Quels types d'échantillons ZEISS VersaXRM 5 Insight permet-il d'analyser ?

ZEISS VersaXRM 5 Insight prend en charge une large gamme de types d'échantillons, notamment les matériaux, les composants industriels, les batteries, les composants électroniques, les boîtiers de semi-conducteurs, les échantillons biologiques, les échantillons géologiques et d'autres structures complexes pour lesquelles des informations 3D internes sont nécessaires sans préparation destructive.

Comment fonctionne l'imagerie par région d'intérêt ?

Dans un premier temps, les utilisateurs peuvent scanner l'échantillon dans sa totalité afin de comprendre sa structure interne et localiser ses régions d'intérêt. Grâce à ZEN navx et Volume Scout, les utilisateurs peuvent ensuite naviguer au sein des données 3D, sélectionner une cible interne et passer à une imagerie de résolution supérieure sans pour autant perdre le contexte plus large de l'échantillon.

Comment la fonction RaaD prend-elle en charge l'imagerie haute résolution ?

La fonction Resolution at a Distance, ou RaaD, conserve les performances de l'imagerie haute résolution sans modifier la distance de travail. Cette fonction aide les utilisateurs à réaliser l'imagerie des structures internes des échantillons plus volumineux ou plus complexes sans troncage, refixation ou préparation destructive inutiles.

Comment la fonction de reconstruction assistée par l'apprentissage profond améliore-t-elle l'efficacité des flux de tâches ?

Les outils de reconstruction assistée par l'apprentissage profond, tels que DeepRecon Pro, contribuent à améliorer la qualité d'image tout en réduisant le temps de scan. Ils permettent ainsi d'accéder plus rapidement à l'information, d'obtenir un rendement plus élevé et une utilisation plus efficace du système dans les laboratoires multi-utilisateurs ou les environnements d'imagerie à forte demande.

Pourquoi choisir ZEISS VersaXRM 5 Insight ?

Vous recherchez une solution hybride XRM + microCT à forte valeur ajoutée pour des flux de tâches efficaces et axés sur les données ? Alors optez pour ZEISS VersaXRM 5 Insight. Cette solution est conçue pour les laboratoires qui ont besoin d'un accès simplifié à la véritable microscopie XRM, d'une imagerie efficace allant de la vue globale aux détails, de flux de tâches guidés pour des utilisateurs de différents niveaux d'expérience et des performances VersaXRM éprouvées sur une plateforme fiable et évolutive.

Comment ZEISS VersaXRM 5 Insight permet-il de conserver le contexte de l'échantillon ?

Le système prend en charge l'imagerie non destructive d'échantillons intacts, permettant aux utilisateurs de visualiser les structures internes avant toute préparation destructive ou analyse ultérieure. Ce procédé permet de maintenir les relations spatiales, de réduire les modifications liées à la préparation de l'échantillon et de cibler plus précisément les régions d'intérêt.

ZEISS VersaXRM 5 Insight | Microscopes à rayons X 3D

Alors que les équipes de recherches et d'analyses ont besoin à la fois du contexte de l'échantillon et des détails internes, les techniques d'imagerie traditionnelles imposent souvent des compromis entre vitesse, résolution, champ d'observation et flexibilité. ZEISS VersaXRM 5 Insight™ est une solution hybride XRM + microCT à forte valeur ajoutée pour des flux de tâches efficaces et axés sur les données. Cette solution réunit, dans une même plateforme, une imagerie de vue globale de type microCT, l'imagerie haute résolution VersaXRM, des flux de tâches guidés basés sur les principes de conception centrée utilisateur et une reconstruction guidée par IA. Le résultat ? Un processus efficace allant de la vue globale aux détails, préservant l'échantillon tout en fournissant une vision 3D pertinente.

Passez efficacement de la vue globale aux détails

Les fonctionnalités hybrides combinant la XRM et la CT aident les utilisateurs à commencer par l'échantillon entier, puis à identifier les régions d'intérêt avant de passer à l'imagerie ciblée haute résolution tout en préservant le contexte de l'échantillon.

Obtenez des résultants probants plus efficacement

Les flux de tâches guidés aident les utilisateurs de tout niveau d'expérience à limiter les étapes manuelles, à travailler avec davantage de confiance et à réduire la durée d'obtention des informations.

Accédez à la véritable XRM dans un pack à forte valeur ajoutée

Bénéficiez des performances éprouvées de VersaXRM pour vos applications courantes et avancées grâce à une plateforme optimisée en termes de valeur et conçue pour la performance.

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Illustration of X-ray beams passing through an objective lens onto a detector, representing high-resolution XRM imaging.

ZEISS VersaXRM 5 Insight Conçu pour performer. Amélioré pour une plus forte valeur ajoutée.

ZEISS VersaXRM 5 Insight donne accès à la véritable XRM dans un pack haute performance et à plus forte valeur ajoutée, conçu pour la performance. Son architecture de détecteurs Insight, son imagerie globale flat panel, son imagerie haute résolution par objectif RaaD™ (Resolution at a Distance), ses flux de tâches guidés ZEN navx et sa reconstruction par apprentissage profond agissent de concert pour une imagerie efficace, de la vue globale aux détails. Les capacités hybrides XRM + CT allient les avantages d'un large contexte d'échantillon à une analyse ciblée en haute résolution en un seul et même flux de tâches.

Illustration of a semiconductor sample mounted in a detector, with blue and purple light effects illustrating hybrid XRM and CT imaging.

Capacités hybrides XRM + CT. Un seul flux de tâches transparent.

VersaXRM 5 Insight allie les capacités hybrides XRM + CT pour une imagerie performante, depuis la vue globale jusqu'aux détails, d'une vaste gamme de types et de tailles d'échantillons. Commencez par une vue globale de l'échantillon complet, identifiez les régions d'intérêt et passez à une imagerie XRM ciblée à haute résolution tout en conservant le contexte de l'échantillon. La technologie RaaD aide les utilisateurs à analyser les structures internes des échantillons plus volumineux ou plus complexes sans préparation destructive inutile.

ZEISS imaging software displayed on a monitor, showing a guided scan workflow with scan progress, reconstruction status, and an X-ray image of a sample.

Flux de tâches guidés pour des résultats cohérents à tous les niveaux d'expérience.

VersaXRM 5 Insight utilise les flux de tâches guidés pour permettre aux utilisateurs de tout niveau d'expérience d'obtenir des résultats cohérents. ZEN navx^® offre un guidage paramétrique, des tutoriels, une navigation 3D et un ciblage Volume Scout, tandis que le mode FAST permet d'effectuer une imagerie globale rapide. La reconstruction par apprentissage profond améliore la qualité et le débit d'image, permettant aux utilisateurs de passer efficacement et avec plus de confiance des scans d'ensemble à l'analyse ciblée haute résolution.

ZEISS imaging software interface showing an X-ray image of an electronic component alongside recommended scan parameters on a scalable imaging platform.

Les performances éprouvées de VersaXRM sur une plateforme fiable et évolutive.

VersaXRM 5 Insight rassemble les performances avancées de VersaXRM dans une plateforme fiable et évolutive conçue pour la performance et pour apporter une valeur ajoutée à long terme. Cette plateforme élargit l'accès à la véritable XRM, prend en charge les applications courantes et avancées sur un seul système, optimise l'utilisation dans les laboratoires partagés et offre une solution extensible à mesure que les besoins en imagerie évoluent.

Passez de la vue globale aux informations en haute résolution

ZEISS VersaXRM 5 Insight allie les capacités hybrides XRM + CT avec un fonctionnement guidé pour prendre en charge des flux de tâches efficaces et axés sur les informations, allant d'une vue globale complète de l'échantillon à une analyse ciblée à haute résolution.

Commencez par l'examen de l'échantillon complet

^{Image : Corrélez le contexte de l'échantillon complet avec les structures internes détaillées en passant avec fluidité de l'imagerie globale à l'analyse localisée en haute résolution.}

Scannez rapidement l'échantillon complet pour établir le contexte, comprendre l'architecture interne et identifier les structures d'intérêt avant de passer à l'imagerie haute résolution pour son analyse détaillée.

Utilisez cette fonction pour :
Vous orienter rapidement dans l'échantillon

Comprendre la structure interne des grands volumes

Identifier les éventuels défauts, interfaces, inclusions, pores, fissures ou régions d'intérêt

Établir le contexte d'imagerie avant toute analyse ciblée en haute résolution
Ciblez les régions d'intérêt avec précision

^{Image : Naviguez dans l'ensemble de données 3D et ciblez les régions d'intérêt internes à l'aide de ZEN navx et Volume Scout avant de capturer des images à résolution plus élevée.}

Naviguez dans les ensembles de données 3D et ciblez les caractéristiques internes plus efficacement à l'aide de ZEN navx et Volume Scout.

Utilisez cette fonction pour :
Sélectionner les régions d'intérêt directement dans les données 3D

Localiser les structures floues sans sectionnement destructif

Réduire le temps passé à rechercher manuellement les caractéristiques

Gagner en confiance avant de passer à l'imagerie à résolution plus élevée
Grossissez les détails importants

^{Image : La technologie RaaD révèle les détails internes infimes tout en préservant le contexte de l'échantillon environnant, ce qui permet de réaliser une imagerie ciblée à haute résolution sans sectionnement destructif.}

La technologie RaaD facilite la transition entre la compréhension globale de l'échantillon et son imagerie ciblée en haute résolution, tout en préservant le contexte de l'échantillon.

Utilisez cette fonction pour :
Visualiser les structures internes de manière non destructive

Conserver une distance de travail adaptée aux échantillons plus volumineux ou plus complexes

Réduire le besoin de troncage, de refixation ou de coupe transversale

Analyser les défauts et les changements structuraux dans leur contexte
Obtenez efficacement toutes les informations utiles

^{Image : La reconstruction assistée par l'apprentissage profond raccourcit le temps d'acquisition tout en préservant la qualité de l'image, ce qui aide les chercheurs à obtenir des données beaucoup plus exploitables.}

Optimisez l'acquisition et la reconstruction grâce à des flux de tâches guidés et des outils de reconstruction assistés par l'apprentissage profond, conçus pour améliorer la qualité de l'image et réduire les étapes manuelles.

Utilisez cette fonction pour :
Améliorer l'exploitation des images

Réduire les goulots d'étranglement liés à l'acquisition et à la reconstruction

Favoriser un débit plus élevé dans les laboratoires partagés

Passer plus efficacement de la configuration du scan à l'interprétation

Applications associées

ZEISS VersaXRM 5 Insight prend en charge divers flux de tâches de caractérisation, d'inspection et de recherche dans lesquels l'imagerie 3D non destructive aide les utilisateurs à comprendre les structures internes sans perdre le contexte de l'échantillon.

Rendu 3D d'une pile bouton avec une région d'intérêt mise en évidence et des coupes virtuelles séquentielles montrant la structure interne des électrodes. — 3D rendering of a coin cell battery with a highlighted region of interest and sequential virtual slices showing the internal electrode structure.

Recherche en matériaux, matériaux énergétiques et batteries

Comprendre l'évolution, les défaillances et les performances des matériaux nécessite une connaissance approfondie de leurs structures internes, à différentes échelles. ZEISS VersaXRM 5 Insight prend en charge l'imagerie 3D non destructive, aidant ainsi les chercheurs à visualiser les microstructures, à caractériser les défauts et à relier l'architecture interne au comportement des matériaux. Du développement de matériaux sophistiqués à la recherche sur les matériaux énergétiques et les batteries, les utilisateurs peuvent examiner les électrodes, la morphologie des particules, les fissures, les pores, les voies de dégradation et l'évolution des matériaux tout en préservant le contexte de l'échantillon.

Rendu 3D et vue d'ensemble par rayons X d'une pompe à insuline présentant l'imagerie multi-échelles de l'appareil complet jusqu'aux régions d'intérêt internes ciblées. — 3D rendering and X-ray overview of an insulin pump demonstrating multiscale imaging from the complete device to targeted internal regions of interest.

Recherche industrielle

Accélérez le développement des matériaux et l'analyse des défaillances grâce à l'imagerie multi-échelles non destructive. Les équipes de recherche industrielle ont souvent besoin d'informations internes à une résolution supérieure à celle disponible avec la tomographie CT conventionnelle, tout en conservant un débit, une facilité d'utilisation et un retour sur investissement intéressants. VersaXRM 5 Insight permet d'obtenir une analyse optimale en 3D des matériaux avancés, revêtements, catalyseurs, produits pharmaceutiques, polymères, métaux et autres systèmes d'ingénierie.

Rendu 3D côte à côte et coupe transversale virtuelle montrant les bosses C4 et les structures de micro-bosses dans un boîtier de modem 5G pour smartphone. — Side-by-side 3D rendering and virtual cross-section showing C4 bumps and microbump structures in a smartphone 5G modem package.

Semi-conducteurs et composants électroniques

Localisez rapidement les interconnecteurs de boîtiers enterrés, les défauts et les risques de fiabilité dans les assemblages électroniques complexes. L'analyse des défaillances des systèmes électroniques avancés et des boîtiers de semi-conducteurs nécessite souvent une imagerie rapide, à haute résolution et non destructive des structures internes avant de passer à une coupe transversale destructive ou d'effectuer une analyse en aval. VersaXRM 5 Insight aide les équipes à inspecter les interconnecteurs de circuits, à identifier les vices cachés et les risques pour la fiabilité, et à progresser avec confiance vers l'analyse et la détermination des causes profondes.

Reconstruction 3D d'un embryon de souris générée à partir de données de microscopie à rayons X, démontrant une imagerie volumétrique de haute qualité avec acquisition en mode FAST. Échantillon avec l'aimable autorisation du Dr Chih-Wei Logan Hsu, Baylor College of Medicine, Houston, Texas, États-Unis. — Échantillon avec l'aimable autorisation du Dr Chih-Wei Logan Hsu, Baylor College of Medicine, Houston, Texas, États-Unis.
Reconstruction 3D d'un embryon de souris générée à partir de données de microscopie à rayons X, démontrant une imagerie volumétrique de haute qualité avec acquisition en mode FAST.

Recherche en sciences de la vie

Préservez le contexte biologique tout en explorant les structures à différentes échelles. VersaXRM 5 Insight permet de réaliser une imagerie 3D non destructive d'échantillons biologiques, préservant le contexte spatial et révélant des caractéristiques d'intérêt pour des investigations ultérieures en microscopie corrélative et microscopie électronique volumétrique (vEM). Associé à un logiciel dédié à l'acquisition, à la reconstruction et à la visualisation, VersaXRM 5 Insight offre un flux de tâches évolutif pour les plateformes d'imagerie et les laboratoires de recherche étudiant divers échantillons biologiques.

Rendu 3D d'un échantillon cylindrique de grès montrant la distribution interne des phases minérales et la structure des pores.

Recherche géologique et ressources naturelles

Caractérisez les matériaux naturels en 3D tout en préservant les échantillons précieux. Les processus géoscientifiques, miniers, pétroliers et gaziers nécessitent souvent des informations internes sur la structure de la roche, les phases minérales, les réseaux de pores, les inclusions et les voies de circulation des fluides. VersaXRM 5 Insight prend en charge l'analyse en 3D non destructive qui peuvent compléter les flux de tâches 2D établis et aider les utilisateurs à cibler plus efficacement les analyses en aval.

Logiciel conçu pour un fonctionnement fiable

Interface logicielle ZEN navx affichant Parameter Guidance avec les paramètres de scan recommandés pour une qualité d'image optimale, une acquisition équilibrée et des options de scan plus rapides. — Parameter Guidance recommande des paramètres de scan optimisés en fonction de l'échantillon et des objectifs de l'imagerie, aidant ainsi les utilisateurs à trouver le juste équilibre entre la qualité d'image, la durée de scan et le rendement.

Imagerie guidée avec ZEN navx

ZEN navx prend en charge les flux de tâches efficaces de la microscopie à rayons X en guidant les utilisateurs tout au long de la configuration du scan, de la sélection des paramètres, de la navigation dans l'échantillon et du ciblage de la région d'intérêt. Les instructions intégrées permettent aux utilisateurs de tout niveau d'expérience d'obtenir des résultats cohérents, tandis que les utilisateurs expérimentés conservent l'accès à un contrôle avancé du flux de tâches.

Consignes de réglage axées sur l'utilisateur
Tutoriels intégrés de présentation et de formation
Volume Scout pour le ciblage en 3D de la région d'intérêt
SmartShield pour la protection du système et de l'échantillon
Options de flux de tâches guidé et manuel
Cohérence des résultats pour les utilisateurs de différents niveaux d'expérience

Coupe virtuelle d'une pile bouton reconstituée à l'aide d'une reconstruction standard FDK, montrant les couches d'électrodes, les interfaces des matériaux et les structures internes avec un bruit d'image visible et un contraste réduit.

Coupe virtuelle d'une pile bouton reconstruite à l'aide de ZEISS DeepRecon Pro, montrant les couches d'électrodes, les interfaces des matériaux et les détails internes fins avec un contraste amélioré, un bruit réduit et une définition des bords plus nette.

Coupes virtuelles d'une pile bouton reconstituées à l'aide d'une reconstruction standard FDK (à gauche) et de ZEISS DeepRecon Pro (à droite). Images acquises avec un objectif 4x à une taille de voxel de 1,1 µm. DeepRecon Pro améliore le contraste, réduit le bruit et améliore la définition des bords, permettant une visualisation plus claire des couches d'électrodes, des interfaces de matériaux et des caractéristiques internes fines essentielles à la caractérisation des batteries et à l'analyse des défaillances.

Reconstruction avancée pour des résultats plus rapides et plus nets

Les outils de reconstruction assistée par l'apprentissage profond et basés sur des algorithmes contribuent à améliorer la qualité des images, à réduire le temps de scan, à augmenter le débit et à traiter des échantillons complexes sans ajouter d'étapes manuelles inutiles. DeepRecon Pro utilise la reconstruction par apprentissage profond pour générer des données plus claires plus rapidement, tandis que DeepScout améliore la résolution effective sur des scans d'ensemble plus larges pour une imagerie multi-échelles efficace. Materials Aware Reconstruction Solution (MARS) réduit les artefacts dans les échantillons complexes comportant plusieurs matériaux, PhaseEvolve améliore le contraste dans les matériaux de faible et moyenne densité, et OptiRecon contribue à équilibrer la qualité d'image et le débit. Ensemble, ces technologies aident les laboratoires à adapter la reconstruction à l'échantillon, à l'application et aux exigences d'imagerie.

Téléchargements

ZEISS VersaXRM 5 Insight

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Services et assistance

Les services et l'assistance pour les applications proposés par ZEISS aident les laboratoires à adopter en toute confiance la microscopie à rayons X 3D avancée. De la prise en main et de la formation aux flux de tâches jusqu'à l'assistance technique et aux contrats de maintenance, ZEISS aide les utilisateurs à optimiser l'utilisation de leur système au quotidien, comme dans les environnements de laboratoire partagés ou pour répondre à l'évolution de leurs besoins applicatifs.

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FAQ

ZEISS VersaXRM 5 Insight allie les capacités hybrides de la XRM et de la CT pour une imagerie performante, de la vue globale aux détails. Les utilisateurs peuvent commencer par une vue globale de l'échantillon de type microCT, puis identifier les régions d'intérêt internes et passer à une analyse XRM ciblée en haute résolution tout en conservant le contexte de l'échantillon.
VersaXRM 5 Insight est une solution hybride XRM + microCT à forte valeur ajoutée qui combine une imagerie d'ensemble rapide et l'analyse XRM ciblée en haute résolution au cours d'un même flux de tâches. L'imagerie Flat Panel, l'imagerie basée sur l'objectif RaaD, les flux de tâches guidés et la reconstruction guidée par l'apprentissage profond aident les utilisateurs à passer efficacement du contexte général de l'échantillon aux détails internes que la microCT conventionnelle seule ne peut pas fournir.
ZEISS VersaXRM 5 Insight prend en charge une large gamme de types d'échantillons, notamment les matériaux, les composants industriels, les batteries, les composants électroniques, les boîtiers de semi-conducteurs, les échantillons biologiques, les échantillons géologiques et d'autres structures complexes pour lesquelles des informations 3D internes sont nécessaires sans préparation destructive.
Dans un premier temps, les utilisateurs peuvent scanner l'échantillon dans sa totalité afin de comprendre sa structure interne et localiser ses régions d'intérêt. Grâce à ZEN navx et Volume Scout, les utilisateurs peuvent ensuite naviguer au sein des données 3D, sélectionner une cible interne et passer à une imagerie de résolution supérieure sans pour autant perdre le contexte plus large de l'échantillon.
La fonction Resolution at a Distance, ou RaaD, conserve les performances de l'imagerie haute résolution sans modifier la distance de travail. Cette fonction aide les utilisateurs à réaliser l'imagerie des structures internes des échantillons plus volumineux ou plus complexes sans troncage, refixation ou préparation destructive inutiles.
Les outils de reconstruction assistée par l'apprentissage profond, tels que DeepRecon Pro, contribuent à améliorer la qualité des images tout en réduisant le temps de scan, Ils permettent ainsi d'accéder plus rapidement à l'information, d'obtenir un rendement plus élevé et une utilisation plus efficace du système dans les laboratoires multi-utilisateurs ou les environnements d'imagerie à forte demande.
Vous recherchez une solution hybride XRM + microCT à forte valeur ajoutée pour des flux de tâches efficaces et axés sur les données ? Alors optez pour ZEISS VersaXRM 5 Insight. Cette solution est conçue pour les laboratoires qui ont besoin d'un accès simplifié à la véritable microscopie XRM, d'une imagerie efficace allant de la vue globale aux détails, de flux de tâches guidés pour des utilisateurs de différents niveaux d'expérience et des performances VersaXRM éprouvées sur une plateforme fiable et évolutive.
Le système prend en charge l'imagerie non destructive d'échantillons intacts, permettant aux utilisateurs de visualiser les structures internes avant toute préparation destructive ou analyse ultérieure. Ce procédé permet de maintenir les relations spatiales, de réduire les modifications liées à la préparation de l'échantillon et de cibler plus précisément les régions d'intérêt.

ZEISS VersaXRM 5 Insight®

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ZEISS VersaXRM 5 Insight Conçu pour performer. Amélioré pour une plus forte valeur ajoutée.

Capacités hybrides XRM + CT. Un seul flux de tâches transparent.

Flux de tâches guidés pour des résultats cohérents à tous les niveaux d'expérience.

Les performances éprouvées de VersaXRM sur une plateforme fiable et évolutive.

Passez de la vue globale aux informations en haute résolution

Commencez par l'examen de l'échantillon complet

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Applications associées