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Sistema ZEISS VersaXRM 5 Insight mostrado con estelas de luz azules y moradas sobre un fondo oscuro.
Solución híbrida XRM + microCT de gran valor

ZEISS VersaXRM 5 Insight®

Pase de la visión general eficiente de la muestra a la información específica de alta resolución con una solución híbrida XRM + microCT diseñada para ofrecer un alto rendimiento.

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Los equipos de investigación y análisis necesitan tanto un contexto de la muestra como información detallada de su estructura interna, pero los métodos de captura de imágenes tradicionales suelen obligar a establecer un equilibrio entre velocidad, resolución, campo de visión y flexibilidad. ZEISS VersaXRM 5 Insight™ es una solución híbrida XRM + microCT de gran valor para flujos de trabajo eficientes y orientados a la obtención de información relevante. Combina la captura de imágenes de visión general al estilo de la microCT, la captura de imágenes de alta resolución de VersaXRM, flujos de trabajo guiados basados en principios de diseño centrados en las personas y reconstrucción asistida por IA en una única plataforma. El resultado es un proceso eficiente que va de la visión general al detalle, preservando la integridad de la muestra y proporcionando información 3D relevante.

  • Pase de forma eficiente de la visión general al detalle

Las capacidades híbridas de XRM + TC permiten comenzar con una visión general de la muestra completa, identificar las regiones de interés y pasar a una captura de imágenes de alta resolución específica, conservando el contexto de la muestra.

  • Obtenga resultados uniformes de forma más eficiente

Los flujos de trabajo guiados ayudan a usuarios con distintos niveles de experiencia a reducir los pasos manuales, trabajar con mayor confianza y acelerar la obtención de información.

  • Acceda a la verdadera XRM en una solución de gran valor

Lleve el rendimiento probado de VersaXRM a aplicaciones rutinarias y avanzadas con una plataforma optimizada para ofrecer un alto valor y diseñada para ofrecer un alto rendimiento.

  • Contenido de terceros bloqueado

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Illustration of X-ray beams passing through an objective lens onto a detector, representing high-resolution XRM imaging.

ZEISS VersaXRM 5 Insight Diseñado para ofrecer un alto rendimiento. Optimizado para ofrecer un gran valor.

ZEISS VersaXRM 5 Insight ofrece un acceso sencillo a la verdadera XRM en una solución de alto rendimiento y optimizada para ofrecer un gran valor, diseñada para un alto rendimiento. Su arquitectura de detector Insight, la captura de imágenes de visión general mediante panel plano, la captura de imágenes de alta resolución basada en objetivos mediante Resolution at a Distance (RaaD™), los flujos de trabajo guiados de ZEN navx y la reconstrucción mediante aprendizaje profundo trabajan conjuntamente para facilitar una captura de imágenes eficiente, desde la visión general hasta el detalle. Las capacidades híbridas de XRM + TC combinan un amplio contexto de la muestra con un análisis específico de alta resolución en un único flujo de trabajo.

Illustration of a semiconductor sample mounted in a detector, with blue and purple light effects illustrating hybrid XRM and CT imaging.

Capacidades híbridas de XRM + TC. Un único flujo de trabajo sencillo.

VersaXRM 5 Insight combina capacidades híbridas de XRM + TC para capturar imágenes de forma eficiente, desde la visión general hasta el detalle, en una amplia variedad de tipos y tamaños de muestras. Comience con una visión general de la muestra completa, identifique las regiones de interés y pase a una captura de imágenes XRM de alta resolución específica, preservando el contexto de la muestra. La tecnología RaaD permite investigar estructuras internas en muestras de mayor tamaño o complejas sin recurrir a una preparación destructiva innecesaria.

ZEISS imaging software displayed on a monitor, showing a guided scan workflow with scan progress, reconstruction status, and an X-ray image of a sample.

Flujos de trabajo guiados para obtener resultados uniformes con independencia del nivel de experiencia.

VersaXRM 5 Insight utiliza flujos de trabajo guiados para obtener resultados uniformes con usuarios con distintos niveles de experiencia. ZEN navx® ofrece orientación sobre los parámetros, tutoriales, navegación en 3D y selección de regiones de interés mediante Volume Scout, mientras que el modo FAST permite realizar rápidamente una captura de imágenes de visión general. La reconstrucción mediante aprendizaje profundo mejora la calidad de imagen y el rendimiento, y ayuda así a los usuarios a pasar de forma eficiente de los escaneados de visión general al análisis específico de alta resolución con mayor confianza.

ZEISS imaging software interface showing an X-ray image of an electronic component alongside recommended scan parameters on a scalable imaging platform.

Rendimiento de VersaXRM de eficacia demostrada en una plataforma fiable y escalable.

VersaXRM 5 Insight incorpora el rendimiento de VersaXRM de eficacia demostrada en una plataforma fiable y escalable, diseñada para ofrecer un alto rendimiento y un valor a largo plazo. Amplía el acceso a la verdadera XRM, permite realizar aplicaciones rutinarias y avanzadas en un único sistema, mejora el aprovechamiento del equipo en laboratorios compartidos y ofrece una vía de ampliación a medida que evolucionan las necesidades de captura de imágenes.

Pasar de la visión general a la información de alta resolución

VersaXRM 5 Insight combina capacidades híbridas de XRM + TC con un funcionamiento guiado para facilitar flujos de trabajo eficientes y orientados a la obtención de información relevante, desde la visión general de la muestra completa hasta el análisis específico de alta resolución.

  • Empiece por la muestra completa

    Esquematización en 3D de una cápsula farmacéutica con una región de interés resaltada, junto a imágenes de rayos X de las partículas individuales del interior de la muestra con aumentos progresivamente mayores.

    Imagen: Correlacione el contexto de la muestra completa con sus estructuras internas detalladas pasando de forma fluida de la captura de imágenes de visión general al análisis localizado de alta resolución.

    Escanee rápidamente la muestra completa para establecer el contexto, comprender su arquitectura interna e identificar las estructuras de interés antes de pasar a la captura de imágenes de alta resolución para realizar un análisis detallado.

    Utilícelo para lo siguiente:
    • Orientarse rápidamente en la muestra
    • Comprender la estructura interna de grandes volúmenes
    • Identificar posibles defectos, interfaces, inclusiones, poros, grietas o regiones de interés
    • Establecer el contexto de la captura de imágenes antes de realizar una investigación específica de alta resolución

  • Seleccione con precisión las regiones de interés

    Interfaz del software ZEN navx con un conjunto de datos de rayos X 3D que muestra varias vistas ortogonales, regiones de interés resaltadas y herramientas de navegación de Volume Scout.

    Imagen: Navegue por el conjunto de datos 3D y seleccione regiones de interés internas con ZEN navx y Volume Scout antes de capturar imágenes de mayor resolución.

    Navegue por conjuntos de datos 3D y seleccione de forma más eficiente estructuras internas de interés con ZEN navx y Volume Scout.

    Utilícelo para lo siguiente:
    • Seleccionar regiones de interés directamente en los datos 3D
    • Localizar estructuras internas sin necesidad de realizar seccionamientos destructivos
    • Reducir el tiempo dedicado a buscar estructuras manualmente
    • Aumentar la confianza antes de capturar imágenes de mayor resolución

  • Aumente el nivel de detalle donde más importa

    Componente de aluminio junto a un escaneado de visión general por rayos X con regiones de interés progresivamente más pequeñas, que ilustran la captura de imágenes multiescala mediante la tecnología RaaD.

    Imagen: La tecnología RaaD permite visualizar estructuras internas de pequeño tamaño conservando el contexto de la muestra circundante, lo que permite realizar una captura de imágenes de alta resolución específica sin necesidad de realizar seccionamientos destructivos.

    La tecnología RaaD facilita el paso de una comprensión general de la muestra a una captura de imágenes de alta resolución específica, preservando el contexto de la muestra.

    Utilícelo para lo siguiente:
    • Visualizar estructuras internas de forma no destructiva
    • Mantener la distancia de trabajo para adaptarse a muestras de mayor tamaño o complejas
    • Reducir la necesidad de recortar las muestras, volver a fijarlas o realizar seccionamientos transversales físicos
    • Investigar defectos y variaciones estructurales manteniendo el contexto

  • Obtenga información útil de forma eficiente

    Comparación en paralelo de un escaneado virtual de un embrión de ratón adquirido con el modo FAST y mediante una adquisición convencional, que muestra una calidad de imagen comparable con un tiempo de escaneado reducido.

    Imagen: La reconstrucción asistida por aprendizaje profundo reduce el tiempo de adquisición y mantiene la calidad de imagen, lo que ayudan a los investigadores a obtener datos útiles de forma más eficiente.

    Agilice la adquisición y la reconstrucción mediante flujos de trabajo guiados y herramientas de reconstrucción asistida por aprendizaje profundo diseñadas para mejorar la calidad de imagen y reducir los pasos manuales.

    Utilícelo para lo siguiente:
    • Mejorar la utilidad de las imágenes
    • Reducir los cuellos de botella en la adquisición y la reconstrucción
    • Aumentar el rendimiento en laboratorios compartidos
    • Pasar de la configuración del escaneado a la interpretación de forma más eficiente

Aplicaciones relacionadas

ZEISS VersaXRM 5 Insight permite realizar una amplia variedad de flujos de trabajo de caracterización, inspección e investigación en los que la captura de imágenes 3D no destructiva ayuda a comprender las estructuras internas sin perder el contexto de la muestra.
Seleccionar una categoría Investigación de materiales
Investigación de materiales
Investigación industrial
Semiconductores y dispositivos electrónicos
Investigación en ciencias de la vida
Investigación geológica y recursos naturales
Esquematización en 3D de una pila tipo botón con una región de interés resaltada y cortes virtuales secuenciales que muestran la estructura interna del electrodo.

Investigación de materiales, materiales energéticos y baterías

Esquematización en 3D de una pila tipo botón con una región de interés resaltada y cortes virtuales secuenciales que muestran la estructura interna del electrodo.

3D rendering of a coin cell battery with a highlighted region of interest and sequential virtual slices showing the internal electrode structure.

Investigación de materiales, materiales energéticos y baterías

Comprender cómo evolucionan, fallan y se comportan los materiales requiere conocer sus estructuras internas a distintas escalas. ZEISS VersaXRM 5 Insight permite realizar una captura de imágenes 3D no destructiva que ayuda a los investigadores a visualizar microestructuras, caracterizar defectos y relacionar la arquitectura interna con el comportamiento del material. Desde el desarrollo de materiales avanzados hasta la investigación de baterías y materiales energéticos, los usuarios pueden estudiar electrodos, la morfología de las partículas, grietas, poros, vías de degradación y la evolución de los materiales, preservando al mismo tiempo el contexto de la muestra.

Esquematización en 3D y visión general por rayos X de una bomba de insulina, que muestran una captura de imágenes multiescala desde el dispositivo completo hasta regiones de interés internas específicas.

Investigación industrial

Esquematización en 3D y visión general por rayos X de una bomba de insulina, que muestran una captura de imágenes multiescala desde el dispositivo completo hasta regiones de interés internas específicas.

3D rendering and X-ray overview of an insulin pump demonstrating multiscale imaging from the complete device to targeted internal regions of interest.

Investigación industrial

Acelere el desarrollo de materiales y el análisis de fallos mediante una captura de imágenes multiescala no destructiva. Los equipos de investigación industrial suelen necesitar información interna de mayor resolución que la que puede proporcionar una TC convencional, pero manteniendo al mismo tiempo una capacidad de rendimiento, facilidad de uso y rentabilidad adecuadas. VersaXRM 5 Insight facilita un análisis 3D eficiente de materiales avanzados, recubrimientos, catalizadores, productos farmacéuticos, polímeros, metales y otros sistemas de ingeniería.

Esquematización en 3D y seccionamiento transversal virtual en paralelo que muestran protuberancias C4 y estructuras de microprotuberancias en el encapsulado de un módem 5G para smartphones.

Semiconductores y dispositivos electrónicos

Esquematización en 3D y seccionamiento transversal virtual en paralelo que muestran protuberancias C4 y estructuras de microprotuberancias en el encapsulado de un módem 5G para smartphones.

Side-by-side 3D rendering and virtual cross-section showing C4 bumps and microbump structures in a smartphone 5G modem package.

Semiconductores y dispositivos electrónicos

Localice rápidamente interconexiones internas, defectos y posibles problemas de fiabilidad ocultos en conjuntos electrónicos complejos. El análisis de fallos de sistemas electrónicos avanzados y encapsulados de semiconductores suele requerir una captura de imágenes de estructuras internas rápida, de alta resolución y no destructiva antes de realizar seccionamientos destructivos o análisis posteriores. VersaXRM 5 Insight ayuda a los equipos a inspeccionar las interconexiones de circuitos, identificar defectos ocultos y posibles problemas de fiabilidad y avanzar con mayor confianza hacia el análisis y la determinación de la causa raíz.

Reconstrucción 3D de un embrión de ratón generada a partir de datos de microscopía de rayos X, que demuestra una captura de imágenes volumétrica de alta calidad mediante adquisición con modo FAST. Muestra cortesía de Chih-Wei Logan Hsu, Baylor College of Medicine, Houston, Texas, EE. UU.

Investigación en ciencias de la vida

Reconstrucción 3D de un embrión de ratón generada a partir de datos de microscopía de rayos X, que demuestra una captura de imágenes volumétrica de alta calidad mediante adquisición con modo FAST.
Muestra cortesía de Chih-Wei Logan Hsu, Baylor College of Medicine, Houston, Texas, EE. UU.

Reconstrucción 3D de un embrión de ratón generada a partir de datos de microscopía de rayos X, que demuestra una captura de imágenes volumétrica de alta calidad mediante adquisición con modo FAST.
Muestra cortesía de Chih-Wei Logan Hsu, Baylor College of Medicine, Houston, Texas, EE. UU.

Investigación en ciencias de la vida

Preserve el contexto biológico mientras explora estructuras a distintas escalas. VersaXRM 5 Insight permite realizar una captura de imágenes 3D no destructiva de muestras biológicas, preservando el contexto espacial y poniendo de manifiesto estructuras de interés para posteriores investigaciones mediante microscopía correlativa y microscopía electrónica de volumen (vEM). Junto con un software específico de adquisición, reconstrucción y visualización, VersaXRM 5 Insight ofrece un flujo de trabajo escalable para instalaciones centrales de captura de imágenes y laboratorios de investigación que estudian una amplia variedad de muestras biológicas.

Esquematización en 3D de una muestra cilíndrica de arenisca que muestra la distribución interna de las fases minerales y la estructura porosa.

Investigación geológica y recursos naturales

Esquematización en 3D de una muestra cilíndrica de arenisca que muestra la distribución interna de las fases minerales y la estructura porosa.

Esquematización en 3D de una muestra cilíndrica de arenisca que muestra la distribución interna de las fases minerales y la estructura porosa.

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Caracterice materiales naturales en 3D preservando al mismo tiempo muestras de gran valor. Los flujos de trabajo de geociencias, minería y petróleo y gas suelen requerir información interna sobre la estructura de las rocas, las fases minerales, las redes de poros, las inclusiones y las vías de circulación de fluidos. VersaXRM 5 Insight permite realizar un análisis 3D no destructivo que puede complementar los flujos de trabajo 2D establecidos y ayudar a los usuarios a orientar de forma más eficiente los análisis posteriores.

Software diseñado para facilitar un manejo fiable

Interfaz del software ZEN navx que muestra la función Parameter Guidance con ajustes de escaneado recomendados para obtener una alta calidad de imagen, una adquisición equilibrada y opciones de escaneado más rápidas.
Interfaz del software ZEN navx que muestra la función Parameter Guidance con ajustes de escaneado recomendados para obtener una alta calidad de imagen, una adquisición equilibrada y opciones de escaneado más rápidas.

Parameter Guidance recomienda ajustes de escaneado optimizados en función de la muestra y de los objetivos de la captura de imágenes, lo que ayuda a los usuarios a encontrar el equilibrio entre calidad de imagen, tiempo de escaneado y rendimiento.

Parameter Guidance recomienda ajustes de escaneado optimizados en función de la muestra y de los objetivos de la captura de imágenes, lo que ayuda a los usuarios a encontrar el equilibrio entre calidad de imagen, tiempo de escaneado y rendimiento.

Captura de imágenes guiada con ZEN navx

ZEN navx facilita flujos de trabajo eficientes de microscopía de rayos X al guiar a los usuarios durante la configuración del escaneado, la selección de parámetros, la navegación por la muestra y la selección de regiones de interés. La orientación integrada ayuda a obtener resultados uniformes con usuarios con distintos niveles de experiencia, mientras que los usuarios experimentados conservan el acceso a un control avanzado del flujo de trabajo.

  • Orientación de parámetros centrada en el usuario
  • Tutoriales integrados para la puesta en marcha y la formación
  • Volume Scout para seleccionar regiones de interés en 3D
  • SmartShield para proteger la muestra y el sistema
  • Opciones de flujo de trabajo guiado y manual
  • Asistencia para obtener resultados uniformes con usuarios con distintos niveles de experiencia
Corte virtual de una batería de tipo botón reconstruido mediante FDK convencional, que muestra las capas de los electrodos, las interfaces entre materiales y las estructuras internas, con ruido de la imagen visible y menor contraste.
Corte virtual de una pila de tipo botón reconstruido mediante ZEISS DeepRecon Pro, que muestra las capas de los electrodos, las interfaces entre materiales y las estructuras internas de pequeño tamaño con un contraste mejorado, menos ruido y una definición de los bordes más nítida.
Cortes virtuales de una pila de tipo botón reconstruidos mediante FDK convencional (izquierda) y ZEISS DeepRecon Pro (derecha). Adquiridos con un objetivo 4x y un tamaño de vóxel de 1,1 µm, los resultados obtenidos con DeepRecon Pro mejoran el contraste, reducen el ruido y mejoran la definición de los bordes, lo que permite visualizar con mayor claridad las capas de los electrodos, las interfaces entre materiales y las estructuras internas de pequeño tamaño, aspectos fundamentales para la caracterización y el análisis de fallos de baterías.

Reconstrucción avanzada para obtener resultados más rápidos y claros

Las herramientas de reconstrucción basadas en algoritmos y asistidas por aprendizaje profundo ayudan a mejorar la calidad de imagen, reducir el tiempo de escaneado, aumentar el rendimiento y abordar muestras complejas sin añadir pasos manuales innecesarios. DeepRecon Pro utiliza la reconstrucción mediante aprendizaje profundo para generar datos más claros con mayor rapidez, mientras que DeepScout mejora la resolución efectiva en escaneados de visión general de mayor tamaño para facilitar una captura de imágenes multiescala eficiente. Materials Aware Reconstruction Solution (MARS) reduce los artefactos en muestras complejas compuestas por múltiples materiales, PhaseEvolve mejora el contraste en materiales de densidad baja y media y OptiRecon ayuda a encontrar un equilibrio entre calidad de imagen y rendimiento. En conjunto, estas tecnologías permiten a los laboratorios adaptar la reconstrucción a la muestra, la aplicación y los requisitos de la captura de imágenes.

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Servicio técnico y asistencia

El servicio y la asistencia para aplicaciones de ZEISS ayudan a los laboratorios a incorporar la microscopía de rayos X 3D avanzada con confianza. Desde la puesta en marcha y la formación sobre los flujos de trabajo hasta la asistencia técnica y los planes de servicio, ZEISS ayuda a los usuarios a aprovechar el sistema en el funcionamiento diario, en entornos de laboratorio compartidos y a medida que evolucionan sus necesidades de aplicación.

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Preguntas frecuentes

  • ZEISS VersaXRM 5 Insight combina capacidades híbridas de XRM y TC para una captura de imágenes eficiente, desde la visión general hasta el detalle. Los usuarios pueden comenzar con una visión general de la muestra al estilo de la microCT, identificar regiones de interés internas y pasar a un análisis XRM específico de alta resolución, conservando el contexto de la muestra.

  • VersaXRM 5 Insight es una solución híbrida XRM + microCT de gran valor que combina una rápida captura de imágenes de visión general con un análisis XRM específico de alta resolución, todo ello en un único flujo de trabajo. La captura de imágenes mediante panel plano y basada en objetivos RaaD, junto con los flujos de trabajo guiados y la reconstrucción asistida mediante aprendizaje profundo, ayuda a pasar de forma eficiente de una visión general de la muestra a los detalles internos que la microCT convencional por sí sola puede no revelar.

  • ZEISS VersaXRM 5 Insight permite trabajar con una amplia variedad de tipos de muestras, como materiales, componentes industriales, baterías, dispositivos electrónicos, encapsulados de semiconductores, muestras biológicas y geológicas, así como otras estructuras complejas en las que se necesita obtener información interna en 3D sin recurrir a una preparación destructiva.

  • Los usuarios pueden escanear primero la muestra completa para comprender su estructura interna y localizar las regiones de interés. Con ZEN navx y Volume Scout, pueden navegar por los datos 3D, seleccionar un objetivo interno y pasar a una captura de imágenes de mayor resolución sin perder el contexto general de la muestra.

  • La resolución a distancia, o RaaD, mantiene un alto rendimiento de captura de imágenes a alta resolución y, al mismo tiempo, conserva la distancia de trabajo. Esto permite a los usuarios capturar imágenes de estructuras internas en muestras de mayor tamaño o más complejas sin necesidad de recortarlas, volver a fijarlas ni recurrir a una preparación destructiva innecesaria.

  • Las herramientas de reconstrucción asistida mediante aprendizaje profundo, como DeepRecon Pro, ayudan a mejorar la calidad de imagen y, al mismo tiempo, reducen el tiempo de escaneado. Esto permite obtener información más rápidamente, aumentar el rendimiento y utilizar el sistema de forma más eficiente en laboratorios multiusuario o entornos con una elevada demanda de captura de imágenes.

  • Elija ZEISS VersaXRM 5 Insight cuando necesite una solución híbrida XRM + microCT de gran valor para flujos de trabajo eficientes y orientados a la obtención de información relevante. Se ha diseñado para laboratorios que necesitan un acceso sencillo a la verdadera XRM, una captura de imágenes eficiente desde la visión general hasta el detalle, flujos de trabajo guiados adaptados a usuarios con distintos niveles de experiencia y el rendimiento de VersaXRM, demostrado y respaldado por una plataforma fiable y escalable.

  • El sistema permite realizar una captura de imágenes no destructiva de muestras intactas, lo que permite visualizar las estructuras internas antes de llevar a cabo una preparación destructiva o un análisis posterior. Esto ayuda a mantener las relaciones espaciales, reducir los cambios derivados de la preparación y facilitar una selección más precisa de las regiones de interés.