ZEISS Atlas 5 – Meistern Sie multidimensionale Herausforderungen
software

ZEISS Atlas 5

Meistern Sie multidimensionale Herausforderungen

In einer probenzentrierten, korrelativen Umgebung erstellen Sie umfangreiche multidimensionale und multimodale Bilder. Atlas 5 ist die leistungsstarke und gleichzeitig intuitive Lösung, die die Leistung von ZEISS SEMs (Rasterelektronenmikroskopen) und FIB-SEMs (SEMs mit fokussiertem Ionenstrahl) mehr als nur voll ausschöpft. Mit den effizienten Funktionen navigieren und korrelieren Sie Bilder aus jeder beliebigen Quelle, z. B. von Licht- und Röntgenmikroskopen. Mit der modularen Struktur können Sie Atlas 5 auf Ihre täglichen Anforderungen im Bereich Materialforschung oder Biowissenschaften abstimmen, z. B. speziell für Nanopatterning oder Array-Tomografie.

  • Imaging großer Bereiche mit ZEISS SEM-, FE-SEM- und FIB-SEM-Systemen
  • Aufnahme elektronenmikroskopischer Bilder im Nanobereich einfacher und schneller als je zuvor
  • Korrelation von Bildern aus mehreren Quellen in mehreren Dimensionen
  • z-Präzision bei 3D-Tomografien mit „Thin & Fast Tomography“ und „True-Z“
  • Korrelativer Arbeitsbereich und grafische Benutzeroberfläche, bei der die Probe im Zentrum des Workflows steht
Anwenderfreundliche, arbeitsprozessorientierte grafische Benutzeroberfläche für die automatisierte Bildgebung.

Elektronenmikroskopische Bilder aufnehmen

Einfacher und schneller als je zuvor

  • Erfassen Sie über Stunden oder gar Tage große Mengen an 2D- oder 3D-Bildern im Nanometerbereich mit dem Elektronenmikroskop (EM) – ganz ohne Beaufsichtigung.
  • Nehmen Sie Einzelbilder von Tausenden von Proben auf oder erfassen Sie große Probenbereiche mithilfe von Kachelbildern, die aus tausenden Bildern benachbarter Bereiche zusammengesetzt sind.
  • Optimieren Sie mit Atlas 5 die automatische Bilderfassung mit modernen vordefinierten und anpassbaren Protokollen, die für schlüssige, reproduzierbare Ergebnisse sorgen.

 

Anwenderfreundliche, arbeitsprozessorientierte grafische Benutzeroberfläche für die automatisierte Bildgebung.

Lichtmikroskop- und SEM-Bilder eines integrierten Schaltkreises werden in der korrelativen Arbeitsumgebung von Atlas 5 zusammengeführt.

Bilder korrelieren

Ein Bild aus mehreren Quellen

  • Führen Sie Bilder aus mehreren Quellen zusammen – mit dem korrelativen Arbeitsbereich von Atlas 5 ist geht das ganz einfach. Zoomen Sie aus der makroskopischen Übersicht über Ihre Probe hinein in die Details im Nanometerbereich.
  • Korrelieren und analysieren Sie effizient Bilder aus mehreren Quellen. Atlas 5 ist Ihre Datenzentrale für SEM-, FIB-SEM-, Röntgen- und Lichtmikroskopbilder sowie optische Bilder, beispielsweise von Ihrer Digitalkamera.
  • Erstellen Sie mit dem probenzentrierten Arbeitsbereich von Atlas 5 nahtlose multimodale und multidimensionale Bilder Ihrer Proben.

 

Lichtmikroskop- und SEM-Bilder eines integrierten Schaltkreises werden in der korrelativen Arbeitsumgebung von Atlas 5 zusammengeführt.

Festoxid-Elektrolyseurzelle, Veränderungen nach Entladen, 3D-Tomogramm, Bilder und EDX-Daten in 3D, ZEISS FIB-SEM, Atlas Analytics. Probe mit freundlicher Genehmigung von: M. Cantoni, EPFL, Schweiz.

Verstehen Sie Ihre Probe besser

Einzigartige Workflows für individuelle Versuche

  • Untersuchen Sie Ihre Proben umfassend in 2D und 3D – mit Atlas 5 mit grafischer Benutzeroberfläche.
  • Entwickeln Sie einen Workflow, der präzise auf die Komplexität Ihres Experiments abgestimmt ist – ganz gleich, ob es sich dabei um eine einfache Aufgabe oder um einen komplexen Versuch handelt.
  • In der ausgereiften Workflow-Umgebung werden Sie von der Einrichtung der automatisierten Bilderfassung über die Nachbearbeitung und benutzerdefinierte Datenexporte bis zur Analyse geführt.

 

Festoxid-Elektrolyseurzelle, Veränderungen nach Entladen, 3D-Tomogramm, Bilder und EDX-Daten in 3D, ZEISS FIB-SEM, Atlas Analytics. Probe mit freundlicher Genehmigung von: M. Cantoni, EPFL, Schweiz.

Technologie

Die Produktivität maximieren

Die Produktivität maximieren

  • Durch Atlas kombinieren Sie einen 16-Bit-Abtastgenerator und Signalerfassungshardware für duales Supersampling mit einer Bildverarbeitungs- und Steuerungssoftware.
  • Nehmen Sie SEM-Bilder mit bis zu 32.000 × 32.000 Pixeln und FIB-SEM-Bilder mit bis zu 40.000 × 50.000 Pixeln auf. 
  • Nutzen Sie für die Bildaufnahme eine Verweildauer zwischen 100 ns und 100 s, die sich in 100-ns-Schritten einstellen lassen.
  • Speichern Sie Ihre Bilder mit einer Intensität von 8 oder 16 Bit.
Große Kachelbilder erstellen

Große Kachelbilder erstellen

  • Reduzieren Sie die Aufnahmedauer und die Komplexität der Berechnung, indem Sie Interessensbereiche ausgehend von der tatsächlichen Form festlegen und eine Kachelaufnahme mit weniger Bildausschnitten erstellen.
  • Verringern Sie Bewegungsverzögerungen des Tischs und damit den Umfang „verlorener“ Bildanteile aufgrund von Überlappungen.
  • Minimieren Sie Strahlenschädigungen und Qualitätsverschlechterungen der Probe durch eine optimierte Anzahl von „Überlappungsrändern“.
Bilder schneller denn je aufnehmen

Bilder schneller denn je aufnehmen

  • Definieren Sie mit großer Genauigkeit Interessensbereiche und scannen Sie nur diese festgelegten Bereiche mithilfe vordefinierter Imagingprotokolle.
  • Erzielen Sie reproduzierbare Ergebnisse durch Ausarbeitung von Protokollen mit idealen Bildgebungsbedingungen.
  • Sorgen Sie mit modernen Autofokus- und automatischen Astigmatismuskorrektur-Werkzeugen auch bei langen Aufnahmezeiten für scharfe Bilder.
  • Bilden Sie Ihre Proben ab, wann und wo immer das nötig ist: Atlas 5 unterstützt mehrere Sitzungen an mehreren Geräten.
  • Im probenzentrierten korrelativen Arbeitsbereich von Atlas 5 bringen Sie Ihre Bilder in einen Zusammenhang: Führen Sie 2D-Bilder und 3D-Volumendaten von mehreren Systemen zusammen.
  • Importieren Sie Daten aus Licht-, Röntgen- und Elektronenmikroskopen sowie FIB-SEMs und richten Sie diese aus, um ein umfassendes, einheitliches Abbild Ihrer Probe zu erstellen.
Mit Röntgenmikroskopie korrelieren, um im FIB-SEM Positionen unterhalb der Oberfläche anzusteuern

Mit Röntgenmikroskopie korrelieren, um im FIB-SEM Positionen unterhalb der Oberfläche anzusteuern

  • Korrelieren Sie Volumenscans von Ihrem ZEISS Röntgenmikroskop mit den Oberflächeneigenschaften, die in Ihrem FIB-SEM zu sehen sind.
  • Verwenden Sie die röntgenmikroskopischen Daten, um in der FIB-Probe Merkmale, die unterhalb der Oberfläche liegen, virtuell in 3D zu lokalisieren – selbst, wenn sie in situ nicht sichtbar sind.
  • Navigieren Sie anschließend mit Ihrem ZEISS FIB-SEM zielsicher zu diesen Bereichen.

Module

Viele Module für viele Möglichkeiten – Mit ZEISS Atlas 5

Viele Module für viele Möglichkeiten

Mit Atlas 5

Lernen Sie die Module von Atlas 5, ihre Funktionen und Konfigurationsmöglichkeiten kennen. Atlas 5 bietet Ihnen die optionale Möglichkeit, die Funktionen Ihres ZEISS SEM und FIB-SEM zu erweitern. Profitieren Sie von den fortschrittlichen Funktionen der zusätzlichen Module und erfahren Sie auch, wie nützlich diese in kombinierter Nutzung sein können. Voraussetzung für die Nutzung aller Atlas 5 Module ist eine installierte Version von Atlas 5. Für die Nutzung des optionalen Analytics Moduls wird das ZEISS spezifische Hardware- und Softwarepaket von Oxford Instruments benötigt. Das Analytics Modul für FIB-SEM erfordert Atlas 5 3D Tomography.

Array Tomography – Verschiedene Werkzeuge für die Einrichtung der Array-Tomografie

Array Tomography

Verschiedene Werkzeuge für die Einrichtung der Array-Tomografie

  • Definieren Sie mit dem Clone Tool unkompliziert Bildgebungsbereiche für alle Schnitte.
  • Lassen Sie das Snap Section Tool die Form des Schnitts automatisch erkennen.
  • Verwalten Sie Aufnahmebereiche effizient und legen Sie schnittübergreifend Sub-Bereiche fest.
  • Führen Sie mit dem Image Stack Export Tool alle Bilder zu einem 3D-Volumen zusammen und untersuchen Sie sie mit dem Image Stack Viewer.
  • Profitieren Sie von 3D-Stapelausrichtung und Bildkorrekturen.
Polierter petrografischer Dünnschliff, peralkaliner Granit aus Nord-du-Québec.
Polierter petrografischer Dünnschliff, peralkaliner Granit aus Nord-du-Québec.

Polierter petrografischer Dünnschliff, peralkaliner Granit aus Nord-du-Québec.

Polierter petrografischer Dünnschliff, peralkaliner Granit aus Nord-du-Québec.

Erweitertes browserbasiertes Viewer Export Modul

Analysieren, präsentieren und teilen Sie Ihre Ergebnisse und schulen Sie Kollegen und Studenten:
  • Exportieren Sie einzelne oder mehrere Datensätze in ein Format, das sich mit einem gängigen Webbrowser anzeigen lässt.
  • Nehmen Sie außerdem Messungen und Annotationen vor.
  • Erstellen Sie ausgehend von Ihren Daten überzeugende Präsentationen und fügen Sie weitere Informationen wie PDF-Dateien, Bilder, Spektren, Videos oder Audiodateien hinzu.
  • Geben Sie Mitarbeitenden, Studierenden und Fachkollegen die Möglichkeit, die Datensätze bei optimaler Auflösung zu untersuchen, und teilen Sie die Daten unkompliziert durch Speicherung auf einem Flash-Laufwerk oder Server.
  • Die Benutzer können sich die Daten als Präsentation anzeigen lassen und diese jederzeit anhalten, um die Daten auch eigenständig durchzugehen.
Automatisierte FIB-SEM-Nanotomografie: Erfassen Sie mit xROI und Keyframes simultan Datensätze in mehreren Auflösungen. Mit freundlicher Genehmigung von: K. Narayan und S. Subramaniam, National Cancer Institute, National Institutes of Health, Bethesda, MD, USA.
Automatisierte FIB-SEM-Nanotomografie

Automatisierte FIB-SEM-Nanotomografie: Erfassen Sie mit xROI und Keyframes simultan Datensätze in mehreren Auflösungen. Mit freundlicher Genehmigung von: K. Narayan und S. Subramaniam, National Cancer Institute, National Institutes of Health, Bethesda, MD, USA.

Automatisierte FIB-SEM-Nanotomografie: Erfassen Sie mit xROI und Keyframes simultan Datensätze in mehreren Auflösungen. Mit freundlicher Genehmigung von: K. Narayan und S. Subramaniam, National Cancer Institute, National Institutes of Health, Bethesda, MD, USA.

3D Tomography

Mit „Thin & Fast Tomography“ und „True-Z“

Führen Sie Tomografien in drei Dimensionen durch:

  • Erstellen Sie präzise 3D-Visualisierungen mit dem Modul für die 3D-FIB-SEM-Aufnahme mit automatisierter Probenpräparation.
  • Messen und steuern Sie die Schnittdicke während der Tomografie präzise und erfassen Sie „True-Z“-Informationen für die genaue Verarbeitung Ihrer Daten.
  • Sorgen Sie mit „Thin & Fast Tomography“ für ein genaues, durchgehendes, homogenes Tomogramm von Proben, die anfällig für Aufladung, Schrumpfung und Strahlenschäden sind.
  • Erzielen Sie mit xROIs (Exact Regions of Interest), erweiterter Probennachverfolgung, vorausberechnender Driftkorrektur und automatischem Driftausgleich schneller hochwertige Daten.
  • Nutzen Sie den Image Stack Viewer mit Stapelausrichtung für FIB-SEM-Bilder in 3D und Image Stack Export inklusive Bildrandschnittfunktion.
3D-Tomografie des mehrschichtigen Metallsystems einer kanadischen Münze. Untersuchtes Volumen: 40 × 40 × 30 μm³, Voxelgröße (20 nm)³, EBSD-Analyse.
3D-Tomografie des mehrschichtigen Metallsystems einer kanadischen Münze. Untersuchtes Volumen: 40 × 40 × 30 μm³, Voxelgröße (20 nm)³, EBSD-Analyse.

3D-Tomografie des mehrschichtigen Metallsystems einer kanadischen Münze. Untersuchtes Volumen: 40 × 40 × 30 μm³, Voxelgröße (20 nm)³, EBSD-Analyse.

3D-Tomografie des mehrschichtigen Metallsystems einer kanadischen Münze. Untersuchtes Volumen: 40 × 40 × 30 μm³, Voxelgröße (20 nm)³, EBSD-Analyse.

Analytics

Führen Sie mit einem integrierten Modul Analysen in 3D durch:

  • Ergänzen Sie Ihre hochauflösende FIB-SEM-Tomografien mit 3D-EDX-/3D-EBSD-Analysen.
  • Definieren Sie Imaging- und Mapping-Bedingungen unabhängig voneinander, einschließlich Landeenergie, Verweildauer und räumlicher Auflösung in 3D.
  • Nutzen Sie das erweiterte Aufnahmemodul, um während der Erfassung automatisch zwischen den Analyse- und Bildgebungsbedingungen umzuschalten.
  • Erfassen Sie 3D-Tomografiedatensätze in einer statischen Konfiguration ohne Tischbewegungen für noch stabilere 3D-EBSD-Durchläufe.
  • Die flexible Visualisierung ermöglicht es Ihnen, zeitgleich SEM-Bilder zu betrachten und Elementverteilungsbilder zu bearbeiten.
  • Binden Sie 2D-EDX-Mappings in Ihren Arbeitsablauf am FE-SEM ein und erfassen Sie automatisch mehrere Interessensbereiche.
Ein FIB-Graustufen-Rendering des Lincoln Memorial wurde mit dem FIB-Strahl in Silizium gearbeitet.
Ein FIB-Graustufen-Rendering des Lincoln Memorial wurde mit dem FIB-Strahl in Silizium gearbeitet.

Ein FIB-Graustufen-Rendering des Lincoln Memorial wurde mit dem FIB-Strahl in Silizium gearbeitet. Als Datenquelle wurde ein unbearbeitetes Foto verwendet. Patterning-Dauer: 10 min

Ein FIB-Graustufen-Rendering des Lincoln Memorial wurde mit dem FIB-Strahl in Silizium gearbeitet. Als Datenquelle wurde ein unbearbeitetes Foto verwendet. Patterning-Dauer: 10 min

NPVE Advanced

Advanced Nanopatterning & Visualization Engine

Steuern Sie Patterning-Geometrie und -Parameter mit NPVE im Detail:

  • Profitieren Sie von der simultanen Strahlkontrolle mit voller Unterstützung der Patterning- und Imaging-Abläufe für Ionen- und Elektronenstrahlen.
  • Legen Sie Protokolle zur intelligenten Steuerung der Strahl- und GIS-Parameter fest, um die einheitliche Bearbeitung und Deposition zu erzielen.
  • Optimieren Sie Ihren Versuchsaufbau mit Tools zur Erstellung von 3D-Profilen und Arrays.
  • Sparen Sie bis zu 40 % Bearbeitungszeit mit dem Fastmill Modus, einer speziellen Scanning-Strategie zur schnelleren und effizienteren Erstellung von FIB-Querschnitten.

Anwendungen

  • 3D-EDX am Tomogramm eines bleifreien Lötmittels mit ZEISS Crossbeam.
  • EDX- und EBSD-Untersuchung eines mehrschichtigen Metallsystems
  • Medicago, Wurzelknöllchen. SEM-Bilder, aufgenommen mit Atlas 5 Array Tomography
  • Polierter petrografischer Dünnschliff, peralkaliner Granit aus Nord-du-Québec
  • Blutgefäße eines Rattenhirns, dicker Schnitt, SEM-Bilder, Kachelaufnahme
  • 3D-EDX am Tomogramm eines bleifreien Lötmittels mit ZEISS Crossbeam.

    3D-EDX am Tomogramm eines bleifreien Lötmittels mit ZEISS Crossbeam.

  • EDX- und EBSD-Untersuchung eines mehrschichtigen Metallsystems

    EDX- und EBSD-Untersuchung eines mehrschichtigen Metallsystems.

  • Medicago, Wurzelknöllchen. SEM-Bilder, aufgenommen mit Atlas 5 Array Tomography

    Medicago, Wurzelknöllchen. SEM-Bilder, aufgenommen mit Atlas 5 Array Tomography. Probe mit freundlicher Genehmigung von: J. Sherrier, J. Caplan und S. Modla, University of Delaware, USA.

  • Polierter petrografischer Dünnschliff, peralkaliner Granit aus Nord-du-Québec

    Polierter petrografischer Dünnschliff, peralkaliner Granit aus Nord-du-Québec. Probe mit freundlicher Genehmigung von: A. Gyis, Colorado School of Mines, USA.

  • Blutgefäße eines Rattenhirns, dicker Schnitt, SEM-Bilder, Kachelaufnahme

    Blutgefäße eines Rattenhirns, dicker Schnitt, SEM-Bilder, Kachelaufnahme. Atlas 5 Array Tomography.

Atlas Image Viewer
Atlas Image Viewer
Atlas Image Viewer

Atlas Image Viewer

Entdecken Sie Datensätze aus der material- und biowissenschaftlichen Forschung, Halbleiterindustrie und Archäologie und untersuchen Sie sie mit dem browserbasierten Viewer von Atlas 5.

Mit folgendem Link geht es zum Atlas Image Viewer:

Downloads

    • ZEISS Atlas 5

      Your Solution for Automated Image Acquisition, Data Correlation and Multi-modal 2D & 3D Workflows

      Dateigröße: 8 MB
    • Visualization of gold and uranium ore-formation in the Witwatersrand ore deposit from the micro- to nanoscale

      ZEISS Atlas 5

      Dateigröße: 3 MB
    • ZEISS Atlas 5

      Characterization of Solid Oxide Electrolysis Cells by Advanced FIB-SEM Tomography

      Dateigröße: 1 MB
    • ZEISS Atlas 5

      Large Area Imaging with High Throughput

      Dateigröße: 3 MB
    • Cathodoluminescence of Geological Samples: Fluorite Veins

      ZEISS Scanning Electron Microscopes with Atlas

      Dateigröße: 5 MB
    • Correlative XRM-FIB/SEM

      Study of Thermoelectric Materials

      Dateigröße: 1 MB
    • Multi-scale Characterization of Lithium Ion Battery Cathode Material by Correlative X-ray and FIB-SEM Microscopy

      Dateigröße: 1 MB
    • Multi-scale Correlative Study of Corrosion Evolution in a Magnesium Alloy

      Dateigröße: 1 MB

ZEISS Microscopy kontaktieren

Kontakt

Formular wird geladen ...

/ 4
Nächster Schritt:
  • Schritt 1
  • Schritt 2
  • Schritt 3
Kontaktieren Sie uns
Erforderliche Angaben
Optionale Angaben

Weitere Informationen über die Datenverarbeitung bei ZEISS entnehmen Sie bitte unserem Datenschutzhinweis.