ZEISS Axio Observer für die Materialforschung
Produkt

ZEISS Axio Observer für die Materialforschung

Inverses Mikroskopiesystem für die Metallografie

Untersuchen, entwickeln und analysieren Sie Materialien, insbesondere metallografische Proben, in kürzester Zeit – mit ZEISS Axio Observer. Das System bietet Ihnen alle Vorteile der inversen Bauweise. Axio Observer vereint die Qualität der ZEISS Optik mit automatisierten Komponenten. Sie profitieren dabei von größtmöglicher Zuverlässigkeit und Reproduzierbarkeit. Zum Beispiel bei der Analyse von nichtmetallischen Einschlüssen (NMI) und Korngrößen, unterstützt von anwendungsspezifischen Softwaremodulen. Axio Observer ist eine offene Imaging-Plattform: Sie investieren nur in Funktionen, die Sie heute benötigen.

  • Sparen Sie Zeit bei metallografischen Untersuchungen​
  • Vertrauen Sie auf zuverlässige Ergebnisse und ausgezeichnete Bildqualität​
  • Investieren Sie nur in Funktionen, die Sie heute benötigen​
Sparen Sie Zeit bei metallografischen Untersuchungen

Sparen Sie Zeit bei metallografischen Untersuchungen

Nutzen Sie die inverse optische Bauweise​

  • Mit Axio Observer sparen Sie zweimal Zeit: bei der Präparation von Proben und bei der Untersuchung.​
  • Die inverse optische Bauweise erleichtert die parallele Ausrichtung zur Objektivlinse. Denn Sie betrachten mehr Proben in kürzerer Zeit: Einfach die Probe auf den Objekttisch legen und einmal fokussieren – die Einstellung bleibt für alle folgenden Vergrößerungen und Proben erhalten.​
  • Auch bei einer Änderung der Vergrößerung oder nach dem Wechsel der metallurgischen Probe ist keine Neufokussierung nötig.
Vertrauen Sie auf zuverlässige Ergebnisse​

Vertrauen Sie auf zuverlässige Ergebnisse​

In ausgezeichneter Bildqualität​

  • Sie werden es sofort merken: Axio Observer bietet ungewohnt stabile Imaging-Bedingungen, insbesondere bei starken Vergrößerungen. Eine homogene Ausleuchtung über das gesamte Sehfeld produziert Bilder in ausgezeichneter Qualität.
  • Die Kombination aus ZEISS Optik und automatisierten Komponenten sorgt jederzeit für zuverlässige, reproduzierbare Resultate.
  • Profitieren Sie von schnell verfügbaren Bildern für Ihre metallografische Strukturanalyse mit anwendungsspezifischen Softwaremodulen, z. B. NMI, Korngrößenbestimmung oder Phasenanalyse.
Erweitern Sie Ihr Mikroskopiesystem​

Erweitern Sie Ihr Mikroskopiesystem​

Sie profitieren von der offenen Plattform und investieren nur in Funktionen, die Sie benötigen

  • Behalten Sie die Kontrolle über Ihr Budget. Mit Axio Observer investieren Sie nur in Funktionen, die Sie heute benötigen.​
  • Falls sich die Anforderungen ändern, können Sie Ihr System jederzeit erweitern.​
  • Sie haben die Wahl zwischen kodierten und motorisierten Komponenten und können aus einem umfangreichen Zubehörsortiment auswählen. Ihnen steht immer das erforderliche Kontrastverfahren für Ihre Anwendung zur Verfügung.

Stative

Sie haben die Wahl zwischen drei Automatisierungs- und Motorisierungsgraden

Motorischer Z-Fokus; Automatic Component Recognition (ACR), mit der Einstellungen für von Ihnen ausgewählte Objektive und Filtersätze immer erkannt werden; Touchscreen und (auf Wunsch) Fernsteuerung.
Axio Observer 7 für Materialforschung​
Axio Observer 7 für Materialforschung​
Fast alle Komponenten lassen sich auslesen oder sogar motorisieren.​
Axio Observer 5 für Materialforschung​
Axio Observer 5 für Materialforschung​
Kodierter Objektivrevolver, Lichtmanager, CAN- und USB-Schnittstelle zum Auslesen der Vergrößerung.​
Axio Observer 3 für Materialforschung​
Axio Observer 3 für Materialforschung​
Nach Barker geätztes Aluminium, Auflicht, zirkularer Polarisationskontrast, Objektiv: EC Epiplan – NEOFLUAR 5s / 0,13 HD DIC.

Nach Barker geätztes Aluminium, Auflicht, zirkularer Polarisationskontrast

Nach Barker geätztes Aluminium, Auflicht, zirkularer Polarisationskontrast, Objektiv: EC Epiplan – NEOFLUAR 5s / 0,13 HD DIC.

Barker-etched aluminum, reflected light, circular polarization contrast, objective: EC Epiplan – NEOFLUAR 5s / 0.13 HD DIC.

Nach Barker geätztes Aluminium, Auflicht, zirkularer Polarisationskontrast

Objective: EC Epiplan – NEOFLUAR 5x / 0.13 HD DIC

Auswahl an Kontrastverfahren

  • Profitieren Sie von maximaler Homogenität und einem streulichtfreien Bildhintergrund in Hell- und Dunkelfeld. Störendes Streulicht wird minimiert, Farbabweichungen werden reduziert.
  • Untersuchen Sie Ihre Proben mit Polarisationskontrast und feststehenden Analysatoren, einem um 360° drehbaren Messanalysator oder einem drehbaren Analysator mit drehbarem Kompensator. Auch wenn kein Drehtisch verfügbar ist, können Bireflexion und Pleochroismus auf anisotropen Proben sichtbar gemacht werden.
  • Nutzen Sie die Vorteile des zirkularen Differentialinterferenzkontrastes (C-DIC, eine polarisationsoptische Technik, die mit zirkularem polarisiertem Licht arbeitet).

Bildbeschreibung: Nach Barker geätztes Aluminium, Auflicht, zirkularer Polarisationskontrast, Objektiv: EC Epiplan – NEOFLUAR 5s / 0,13 HD DIC.

  • Kugelgraphit in Sphärogusseisen, Auflicht-Hellfeld
  • Aluminium-Silizium-Guss, Auflicht-Dunkelfeld
  • Nach Barker geätztes Aluminium, Auflicht, C-DIC​
  • Zink, Auflicht, Polarisationskontrast mit Lambdaplatte​
  • Nickelin, Auflicht, Polarisationskontrast mit Lambdaplatte​
  • Kugelgraphit in Sphärogusseisen, Auflicht-Hellfeld

    Gusseisen​

    Kugelgraphit in Sphärogusseisen, Auflicht-Hellfeld

    Kugelgraphit in Sphärogusseisen, Auflicht-Hellfeld

    Kugelgraphit in Sphärogusseisen, Auflicht-Hellfeld

  • Aluminium-Silizium-Guss, Auflicht-Dunkelfeld

    Gussaluminium​

    Aluminium-Silizium-Guss, Auflicht-Dunkelfeld

    Aluminium-Silizium-Guss, Auflicht-Dunkelfeld

    Aluminium-Silizium-Guss, Auflicht-Dunkelfeld

  • Nach Barker geätztes Aluminium, Auflicht, C-DIC​

    Geätztes Aluminium​

    Nach Barker geätztes Aluminium, Auflicht, C-DIC​

    Nach Barker geätztes Aluminium, Auflicht, C-DIC​

    Nach Barker geätztes Aluminium, Auflicht, C-DIC​

  • Zink, Auflicht, Polarisationskontrast mit Lambdaplatte​

    Zink

    Zink, Auflicht, Polarisationskontrast mit Lambdaplatte​

    Zink, Auflicht, Polarisationskontrast mit Lambdaplatte​

    Zink, Auflicht, Polarisationskontrast mit Lambdaplatte​

  • Nickelin, Auflicht, Polarisationskontrast mit Lambdaplatte​

    Nickelin

    Nickelin, Auflicht, Polarisationskontrast mit Lambdaplatte​

    Nickelin, Auflicht, Polarisationskontrast mit Lambdaplatte​

    Nickelin, Auflicht, Polarisationskontrast mit Lambdaplatte​

Anwendungen

Beispiele für metallografische Anwendungen, aufgenommen mit Axio Observer für die Materialforschung.

Downloads

    • ZEISS Axio Observer

      Ihr inverses Mikroskopsystem für die Metallographie

      Dateigröße: 7 MB
    • Mikroskop- und Messsysteme für Qualitätssicherung und -kontrolle

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      Dateigröße: 5 MB
    • ZEISS Microscopy Solutions for Steel and Other Metals

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    • Mikroskopische Methoden in der Metallographie

      mit ZEISS Axio Observer

      Dateigröße: 5 MB

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