Scanning Electron Microscopes (SEM)

Rasterelektronenmikroskope (SEM)

Für Anwendungen in Academia und Industrie

Rasterelektronenmikroskope (SEM) ermöglichen Probenscans mit einem fokussierten Elektronenstrahl und erfassen Bilder mit Informationen zur Topografie und Zusammensetzung der Probe.

CSEMs (konventionelle SEMs mit thermischer Elektronenquelle) und FE-SEMs (Feldemissions-SEMs mit Feldemissions-Elektronenquelle) von ZEISS bieten hochauflösendes Imaging und überragenden Materialkontrast.

    ● Hochaufgelöste, oberflächenempfindliche Informationen und Materialkontrast.
    ● Weit verbreitet in Nanotechnologie, Materialforschung, Biowissenschaften, Halbleiter, Rohstoffe und Industrie.

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