走査型電子顕微鏡(SEM)

走査型電子顕微鏡(SEM)

アカデミア、産業界への応用に

走査型電子顕微鏡(SEM)は、焦点電子ビームで試料を走査し、試料のトポグラフィーや組成に関する情報を伴う画像を取得します。

ZEISSのCSEM(熱電子源を用いる従来のSEM)とFE-SEM(電解放出電子源を用いる電界放出型SEM)は、高分解能イメージングと優れた物質コントラストを実現。

    ● 高分解能表面感受性情報と物質コントラスト。
    ● ナノテクノロジー、材料研究、生命科学、半導体、原材料および産業で広く使用されています。

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