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ZEISS Solutions Lab

迅速なアプリケーション開発

ZEISS Solutions Lab

複数の長さスケールにまたがって相関データを取得するために、ZEISSの新しい顕微鏡システム、あるいは複数のシステムを購入された方が抱きがちな懸念が、無限に広がる可能性を前に、どのように顕微鏡を使用すればいいかということです。では、どこから始めればいいのでしょうか？以下のポイントを通して、顕微鏡を最大限活用するためのヒントを見つけてください。

自身が抱えている課題に固有なソリューションを探している場合は、どこから始めればいいのでしょうか？
ZEISSのセールス担当者に問い合わせるか、このサイトから現在販売中の製品をご覧ください。あるいはお客様がお求めのものをお聞かせいただければ、当社がアプリケーションの開発をサポートいたします。

ご自身が求めているものを見つけるには、まず、Solutions Labのページにアクセスしてください。
最初に既存の名称のページをざっと見るか、お客様の研究分野から各種アプリケーションに目を通します。適切なソリューションが見つからない場合は、別の分野の同じような実験のために作られたと考えられる、近いものをお選びください。あとは、ZEISSがお客様のご要望にお応えします。お探しのものが見つからない場合は、ZEISSにご連絡ください。開発段階のソリューションがある場合もあれば、当社のクリエイティブソリューション・チームがお客様の課題克服をお手伝いできるかもしれません。

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産業R&D

材料科学

金属

天然資源

産業R&D

  • XRM用ZEISS位相差強調機能

    XRM用ZEISS位相差強調機能

    Solutions Labの金属部品製造向けソリューション

    アーチファクトを明示的にモデリングし、ボリューム全体にわたって3Dデコンボリューションすることで、位相アーチファクトを除去します。

  • ZEISSアディティブマニュファクチャリング粉末分析機能

    ZEISSアディティブマニュファクチャリング粉末分析機能

    Solutions Labの金属部品製造向けソリューション

    1回クリックするだけで、生データから3Dボリューム全体を取得して解析結果を完全に表示できます。

  • X線再構成用ZEISS DeepRecon

    X線再構成用ZEISS DeepRecon

    スループットを10倍向上させるためのSolutions Labのソリューション

    繰り返しのワークフローを実行するZEISS Xradia X線顕微鏡向けの機能です。

  • ZEISS帽子状構造摩耗ワークフロー

    ZEISS帽子状構造摩耗ワークフロー

    Solutions Labのコーティング、膜および表面向けソリューション

    膜や表面の耐摩耗性を判定します。

  • 薄層測定用ZEISS Total Interference Contrast（TIC）

    薄層測定用ZEISS Total Interference Contrast（TIC）

    Solutions Labのコーティング、薄膜および粗さ向けソリューション

    光学顕微鏡による非接触の高さ測定を行います。

材料科学

  • XRM用ZEISS位相差強調機能

    XRM用ZEISS位相差強調機能

    Solutions Labの金属部品製造向けソリューション

    アーチファクトを明示的にモデリングし、ボリューム全体にわたって3Dデコンボリューションすることで、位相アーチファクトを除去します。

  • ZEISSアディティブマニュファクチャリング粉末分析機能

    ZEISSアディティブマニュファクチャリング粉末分析機能

    Solutions Labの金属部品製造向けソリューション

    1回クリックするだけで、生データから3Dボリューム全体を取得して解析結果を完全に表示できます。

     

  • ZEISS帽子状構造摩耗ワークフロー

    ZEISS帽子状構造摩耗ワークフロー

    Solutions Labのコーティング、膜および表面向けソリューション

     

    膜や表面の耐摩耗性を判定します。

  • 薄層測定用ZEISS Total Interference Contrast（TIC）

    Solutions Labのコーティング、薄膜および粗さ向けソリューション

     

    光学顕微鏡による非接触の高さ測定を行います。

金属

  • ZEISS樹枝状晶枝間隔ワークフロー

    ZEISS樹枝状晶枝間隔ワークフロー

    光学顕微鏡による樹枝状晶枝測定のためのSolutions Labのソリューション

    画像処理と手動による微調整を組み合わせた自動機能です。

  • ZEISSポイントカウントワークフロー

    ZEISSポイントカウントワークフロー

    Solutions Labの光学顕微鏡向けソリューション

    試料中の特定の構成要素の推定体積分率または重要な位相を判定します。

  • ZEISS微小硬度ワークフロー

    ZEISS微小硬度ワークフロー

    Solutions Labの金属向けソリューション

    微小硬度ワークフローによって、冶金学的試験を実施して金属の硬度を判定できます。

  • ZEISS帽子状構造摩耗ワークフロー

    ZEISS帽子状構造摩耗ワークフロー

    Solutions Labのコーティング、膜および表面向けソリューション

    膜や表面の耐摩耗性を判定します。

  • ZEISS疑似3D顕微鏡写真ワークフロー

    ZEISS疑似3D顕微鏡写真ワークフロー

    2D画像から3D構造のビジュアライゼーションを作成するためのSolutions Labのソリューション

    2D画像から3D構造のビジュアライゼーションを作成するためのSolutions Labのソリューション

天然資源

  • ZEISS単体分離/表面露出分析機能

    Solutions Labの鉱業向け3D表面露出分析ソリューション

    鉱業分野向けの3D単体分離/表面積の自動化された粒子別分析を行います。

  • ZEISSポイントカウントワークフロー

    Solutions Labの光学顕微鏡向けソリューション

    試料中の特定の構成要素の推定体積分率または重要な位相を判定します。

  • ZEISS粒径カラーマップワークフロー

    Solutions Labの粒度分布可視化ソリューション

    Solutions Labの粒度分布可視化ソリューション

  • ZEISS疑似3D顕微鏡写真ワークフロー

    2D画像から3D構造のビジュアライゼーションを作成するためのSolutions Labのソリューション

    2D画像から3D構造のビジュアライゼーションを作成するためのSolutions Labのソリューション

  • X線再構成用ZEISS DeepRecon

    スループットを10倍向上させるためのSolutions Labのソリューション

    繰り返しのワークフローを実行するZEISS Xradia X線顕微鏡向けの機能です。

  • ZEISS最大複屈折プロジェクター

    光学顕微鏡を使用したSolutions Labの鉱物学ソリューション

    に基づいて自動岩石光学顕微鏡で鉱物分類を行うためのワークフローです。

詳細をご希望ですか？

以下のフォームよりお問い合わせください

ZEISSが解決をサポートできる課題

  • イメージングプロセスまたはワークフローの自動化
  • 高度な画像解析と補正
  • 関心領域検索の自動化
  • お持ちの機器構成に合わせて、柔軟で適合性のあるワークフローをカスタマイズ
  • クリック数を20回から1回に減らす小規模なアプリケーション

小さなものから大きなものまで、お客様がお抱えの問題について、このページのフォームから詳細をお聞かせください。

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