Software

ZEISS Solutions Lab

Schnelle Applikationsentwicklung

ZEISS Solutions Lab

Stellen Sie sich vor, Sie haben gerade ein neues Mikroskopiesystem von ZEISS erworben oder Ihren Zugang auf mehrere Systeme erweitert, um korrelierte Daten über mehrere Längenskalen zu ermitteln. Die Möglichkeiten sind grenzenlos und Sie wollen am liebsten sofort anfangen. Wo also beginnen Sie? Wir unterstützen Sie gern. Sie brauchen uns lediglich ein paar einfache Fragen zu beantworten.

Wo setze ich am besten an, wenn ich eine spezifische Lösung für meine Herausforderung benötige?
Wenden Sie sich an Ihren ZEISS Ansprechpartner oder informieren Sie sich auf dieser Seite über bereits verfügbare Lösungen. Sie können uns aber auch wissen lassen, wonach Sie suchen. Wir unterstützen Sie dann bei der Entwicklung.

Wie suche ich am besten? Besuchen Sie zunächst unsere Solutions Lab Seite.
Die nachfolgenden Kacheln zeigen Ihnen, welche Lösungen bereits existieren. Alternativ können Sie direkt unter Ihrem Fachgebiet nach spezifischen Applikationen suchen. Sollte dort nichts Passendes dabei sein, wurde vielleicht bereits eine ähnliche Applikation für ein anderes Anwendungsfeld entwickelt. Mit einigen Veränderungen könnten wir diese dann an Ihre Anforderungen anpassen. Falls Sie gar keine geeignete Lösung finden, nehmen Sie Kontakt mit uns auf. Möglicherweise entwickeln wir gerade eine entsprechende Lösung oder können Sie mit unserem kreativen Lösungsteam dabei unterstützen, Ihre Herausforderung spielend zu meistern.

Industrie / F&E

  •  ZEISS Phasenkontrastverstärker für die Röntgenmikroskopie

    ZEISS Phasenkontrastverstärker für die Röntgenmikroskopie

    Aus dem Solutions Lab für die Metallteilefertigung

    Phasenartefakte werden durch die explizite Modellierung des Artefakts mit anschließender Dekonvolution in 3D über das Gesamtvolumen entfernt.

  •  ZEISS Pulveranalyse für die additive Fertigung

    ZEISS Pulveranalyse für die additive Fertigung

    Aus dem Solutions Lab für die Metallteilefertigung

    Rohdaten von 3D-Gesamtvolumina lassen sich mit nur einem Klick vollumfänglich analysieren.

  •   ZEISS DeepRecon für die Röntgenrekonstruktion

    ZEISS DeepRecon für die Röntgenrekonstruktion

    Aus dem Solutions Lab – für eine 10× Durchsatzsteigerung

    Für repetitive Workflows mit ZEISS Xradia Röntgenmikroskopen.

  • ZEISS Kalottenschliff-Workflow

    ZEISS Kalottenschliff-Workflow

    Aus dem Solutions Lab für Beschichtungen, Filme und Oberflächen

    Für die Bestimmung der Verschleißbeständigkeit von Beschichtungen und Oberflächen.

  •  Totalinterferenzkontrast (TIC) von ZEISS für Dünnschichtmessungen

    Totalinterferenzkontrast (TIC) von ZEISS für Dünnschichtmessungen

    Aus dem Solutions Lab für Beschichtungen, Dünnfilme und Rauheit

    Berührungslose Höhenmessungen mit dem Lichtmikroskop vornehmen.

Materialwissenschaften

  • ZEISS Phasenkontrastverstärker für die Röntgenmikroskopie

    ZEISS Phasenkontrastverstärker für die Röntgenmikroskopie

    Aus dem Solutions Lab für die Metallteilefertigung

    Phasenartefakte werden durch die explizite Modellierung des Artefakts mit anschließender Dekonvolution in 3D über das Gesamtvolumen entfernt.

  • ZEISS Pulveranalyse für die additive Fertigung

    ZEISS Pulveranalyse für die additive Fertigung

    Aus dem Solutions Lab für die Metallteilefertigung

    Rohdaten von 3D-Gesamtvolumina lassen sich mit nur einem Klick vollumfänglich analysieren.

     

  • ZEISS Kalottenschliff-Workflow

    ZEISS Kalottenschliff-Workflow

    Aus dem Solutions Lab für Beschichtungen, Filme und Oberflächen

     

    Für die Bestimmung der Verschleißbeständigkeit von Beschichtungen und Oberflächen.

  • Totalinterferenzkontrast (TIC) von ZEISS für Dünnschichtmessungen

    Aus dem Solutions Lab für Beschichtungen, Dünnfilme und Rauheit

     

    Berührungslose Höhenmessungen mit dem Lichtmikroskop vornehmen.

Metallurgie und Metalltechnik

  • ZEISS Workflow zur Bestimmung des Dendritenarmabstands

    ZEISS Workflow zur Bestimmung des Dendritenarmabstands

    Aus dem Solutions Lab für die Messung von Dendritenarmen per Lichtmikroskopie

    Kombinierte Automatisierung durch Bildverarbeitung und Möglichkeit zur manuellen Feinjustierung.

  • ZEISS Workflow für die Punktzählung

    ZEISS Workflow für die Punktzählung

    Aus dem Solutions Lab für die Lichtmikroskopie

    Bestimmung des Volumenanteils eines bestimmten Bestandteils oder einer Phase von Interesse in einer Probe.

  • ZEISS Workflow zur Bestimmung der Mikrohärte

    ZEISS Workflow zur Bestimmung der Mikrohärte

    Aus dem Solutions Lab für Metallurgie und Metalltechnik

    Mit dem Workflow zur Bestimmung der Mikrohärte kann durch metallurgische Tests die Härte eines Metalls ermittelt werden.

  • ZEISS Kalottenschliff-Workflow

    ZEISS Kalottenschliff-Workflow

    Aus dem Solutions Lab für Beschichtungen, Filme und Oberflächen

    Für die Bestimmung der Verschleißbeständigkeit von Beschichtungen und Oberflächen.

  • ZEISS Workflow für Pseudo-3D-Gefügebilder

    ZEISS Workflow für Pseudo-3D-Gefügebilder

    Aus dem Solutions Lab für die Erzeugung von 3D-Strukturen aus 2D-Bildern

    Aus dem Solutions Lab für die Erzeugung von 3D-Strukturen aus 2D-Bildern

Untersuchung von Rohstoffen

  • ZEISS Herauslösungs- und Oberflächenexpositionsanalyse

    Aus dem Solutions Lab für 3D-Oberflächenexpositionsanalyse für den Bergbau

    Automatisierte und partikelweise Analyse von Herauslösung und Oberflächenbereichen in 3D für die Bergbauindustrie.

  • ZEISS Workflow für die Punktzählung

    Aus dem Solutions Lab für die Lichtmikroskopie

    Bestimmung des Volumenanteils eines bestimmten Bestandteils oder einer Phase von Interesse in einer Probe.

  • ZEISS Workflow für Korngrößen-Farbmappings

    Aus dem Solutions Lab für die Visualisierung der Korngrößenverteilung

    Aus dem Solutions Lab für die Visualisierung der Korngrößenverteilung

  • ZEISS Workflow für Pseudo-3D-Gefügebilder

    Aus dem Solutions Lab für die Erzeugung von 3D-Strukturen aus 2D-Bildern

    Aus dem Solutions Lab für die Erzeugung von 3D-Strukturen aus 2D-Bildern

  • ZEISS DeepRecon für die Röntgenrekonstruktion

    Aus dem Solutions Lab – für eine 10× Durchsatzsteigerung

    Für repetitive Workflows mit ZEISS Xradia Röntgenmikroskopen.

  • ZEISS Projektor für maximale Doppelbrechung

    Aus dem Solutions Lab für die lichtmikroskopische Mineralogie

    Workflow für die Klassifizierung von Mineralen per automatisierter petrografischer Lichtmikroskopie.

Sie möchten mehr erfahren?

Dann nehmen Sie über das folgende Formular Kontakt mit uns auf

Probleme, ​für die wir gemeinsam an Lösungen arbeiten können:

  • Automatisierung Ihres Imaging-Verfahrens bzw. -Workflows
  • Erweiterte Bildanalysen und -korrekturen
  • Automatisierte Suche nach Interessensbereichen
  • Einrichtung flexibler, anpassbarer Workflows für Ihre Konfiguration
  • Kleine, aber praktische Tools, die Ihnen die Arbeit erleichtern

Ob groß oder klein – wir unterstützen Sie bei jedem Problem. Lassen Sie uns über das nachfolgende Formular wissen, worum es geht.

Sie können diese Seite auch in Ihren Lesezeichen speichern und regelmäßig prüfen – wir bringend laufend neue Lösungen heraus.

Formular wird geladen ...

Weitere Informationen über die Datenverarbeitung bei ZEISS entnehmen Sie bitte unseren Datenschutz- und Rechtshinweisen.

ZEISS Microscopy kontaktieren

Kontakt

Formular wird geladen ...

/ 4
Nächster Schritt:
  • Schritt 1
  • Schritt 2
  • Schritt 3
Kontaktieren Sie uns
Erforderliche Angaben
Optionale Angaben

Weitere Informationen über die Datenverarbeitung bei ZEISS entnehmen Sie bitte unserem Datenschutzhinweis.