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新たなサンプルや 研究課題によっては、現在の顕微鏡性能の限界を超える必要があります。そのような場合、顕微鏡を最新のシステムに買い替えずにアップグレードするソリューションをご用意しております。機能拡張、パフォーマンス改善、ライフタイムの延長など、常に変化し続ける世界で求められる結果をスピーディに得るために、顕微鏡をアップグレードすることが可能です。
お使いの顕微鏡のカテゴリーを選択し、アップグレードによる性能と寿命の向上についてご確認ください。また、どのカテゴリーを選べばよいかわからない、またはお持ちのマイクロスコープについて質問がある場合は、
染色された組織片、脳のスライス、ゼブラフィッシュの胚のようなサンプルを分析するには、正立顕微鏡が最適なツールです。一方、倒立顕微鏡はルーチン検査や培養組織の迅速な評価に最適です。
アップグレード対応
実体顕微鏡と同様に、ズーム顕微鏡も横方向の正確な3次元画像を生成します。ワーキングディスタンスを広げ、広い観察視野を実現します。
レーザースキャン顕微鏡または共焦点顕微鏡は、サンプルを一度に、ポイントごと、ラインごと、または複数のポイントごとにスキャンすることによって、画像を生成します。ライフサイエンス分野での感度が要求されるアプリケーションや、材料表面のトポグラフィー作業に最適です。
ZEISS FIB-SEMは、3D ナノワークステーションのメリットをもたらします。電界放出型走査電子顕微鏡(FE-SEM)のイメージングと分析性能に、集束イオンビーム(FIB)の加工能力を組み合わせたものです。
Geminiテクノロジーにより、難しい試料でも高解像度で高品質な画像を簡単に素早く得ることができます。Gemini光学系は、電界放出型走査電子顕微鏡(FE-SEM)で20年以上の実績があります。
ZEISS C-SEMは、高解像度の表面情報と優れた材料コントラストを提供します。 集束された電子ビームでサンプルをスキャンし、トポグラフィーおよび組成に関する情報を持つ画像を得ることができます
Xradia Versaは、非破壊でサブミクロンのX線画像を得ることができ、研究開発の可能性を広げます。Xradia Versaシリーズの最新機種は、業界最高の解像度とコントラストを誇り、非破壊イメージングの限界をさらに広げます。
ZEISS Xradia Ultraは、ラボ用X線イメージングシステムの中で最高レベルの50 nmの空間分解能を実現します。シンクロトロン技術を応用したユニークなX線光学系により、ポリマー、セラミック、岩石、金属などの幅広い材料を3Dでイメージングします。
ZEISS Xradia Contextは、広範囲で非破壊 3D X線マイクロコンピュータ断層撮影を実現します。堅牢なステージとソフトウェア制御による柔軟な光源/検出器の位置決めにより、大きなサンプル、重いサンプル、高さのあるサンプルも、サブミクロンの分解能と詳細さで、3Dイメージングすることが可能です。
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