サービス・サポート

Xradia Ultraのアップグレード

機能を拡張して
耐用年数をさらに長く

アクセサリ

様々な試料に対応する追加のサンプルホルダーでお持ちの顕微鏡をアップグレード

サンプルホルダー

様々なサイズや種類の試料をしっかりとマウンティング

ZEISSのサンプルホルダーは、試料をステージ上に正確かつ繰り返し配置できるよう、運動学的原理に基づいて設計されています。各設計には独自のグリッピングテクニックが使用されており、試料を適切に調整してイメージングすることができます。また、X線イメージングの安定性も実証されています。

メリット:

  • 広範な素材・形状の試料に対応
  • 安定した機械的・熱的マウンティングテクニック
  • 交換が簡単

製品パンフレット

 

ハードウェアとソフトウェア

ZEISSが提供する高度なハードウェアと計算ソフトウェアが、ユーザーエクスペリエンスと解析ワークフローの深化を実現

解析ワークステーション

構成・実証済みのビジュアライゼーションと計算性能

イメージング装置の動作可能時間を維持するため、多くの研究者がセカンダリー分析ワークステーションでワークフローを簡易化したいと考えています。セカンダリーワークステーションは、再構成の最適化、データセットのナビゲーションと可視化、結果の後処理などの追加研究をサポートします。

メリット:

  • イメージングの稼働時間を最大化
  • 結果のスループットが向上
  • 高度なビジュアライゼーションおよび解析ソフトウェアパッケージに対応
  • データストレージを確実に拡張

製品パンフレット

ORS Dragonfly Pro

使いやすい高度な解析・ビジュアライゼーション用ソフトウェアソリューション

ORS Dragonfly Proは、大型3Dグレースケールデータの可視化・解析に対応する、直感的で完全かつカスタム可能なツールキットで、ZEISSが独占的に提供しています。Dragonfly Proでは、3Dデータのナビゲーション、アノテーション、ビデオ制作を含むメディアファイルを作成できます。画像処理、セグメンテーション、オブジェクト解析により、結果を定量化することができます。

メリット:

  • 高精細なグラフィックレンダリング
  • 優れた3Dビデオを作成可能
  • オブジェクト解析
  • 機械学習セグメンテーション
  • 反復的ワークフローのためのマクロ記録
  • Pythonカスタマイズ用ソフトウェアパッケージ

製品パンフレット

トライアル版ソフトウェア

In situ機能のアップグレード

3D X線イメージングの非破壊性を活用し、外部環境の変化によるマイクロ・ナノ構造の移り変わりを調査

Xradia Ultra Load Stage

3D X線イメージングに対応したin situナノメカニカルテスト用ステージ

Xradia Ultra Load Stageでは、独自の方法で、非破壊3Dイメージングによる圧縮、引張、圧痕などのin Situナノメカニカルテストを行うことができます。これにより、50 nmの分解能で負荷をかけた状態で、内部構造の変化を3Dで観察することが可能になります。変形現象や破壊がナノスケールの局所的な特徴にどのように関与するかに関する知見を手に入れましょう。既存の機械的試験法を補完することで、マルチスケールにおいて挙動に関する洞察を得ることができます。

メリット:

  • 顕微鏡にin situナノメカニカルテスト機能を追加
  • 負荷下で試料の3Dトモグラムを取得(分解能50 nm)
  • 多様なナノメカニカルテストを実施可能
  • 多岐にわたる材料を検査可能
  • 電子顕微鏡、マイクロCTおよびスタンドアローン試験セットアップで機械的試験の結果を補完

製品パンフレット

モジュールとコンポーネント

アドオンとモジュールでお持ちのシステムの機能を拡張

ゼルニケ位相差法

低密度の材料を視覚化し、クラックや界面を強調表示

位相差イメージングは、X線の吸収ではなく、屈折を利用します。これは、密度の近い材料や吸収の少ない材料の界面に非常に敏感です(エッジエンハンスメント)。Xradia Ultraファミリーは、ゼルニケ位相差法を採用しており、対物レンズ後方に位置するビームパスに環状ビームと位相リングを挿入して試料を照射します。位相リングによって、試料で散乱した光より後方に位置する光の位相がシフトします。検出器の2つのビームが干渉することで位相がシフトし、輝度が変化します。

メリット:

  • X線を顕著に吸収しない低密度材料からなる試料をイメージング
  • 試料の微細なクラックや界面を強調表示
  • 吸収と位相差を組み合わせることで、ポリマー、生体材料、セラミックス、複合材料、岩石から金属まで、幅広い材料のイメージングが可能に

システムアップグレード

次のモデルにアップグレードして機器の性能と機能を強化

Xradia 800 UltraからXradia 810 Ultraへ

イメージングスループットが10倍向上

XRMでは、イメージングする材料と使用するX線エネルギーによってコントラストが異なります。Xradia Ultraファミリーは、8 keVの光子エネルギーで動作するXradia 800 Ultraと、5.4 KeVで動作するXradia 810 Ultraで構成されています。一般に、エネルギーの低いX線ほど強く吸収されるため、より高いコントラストを得ることができます。したがって、十分な透過が維持される限り、Xradia 810 Ultraによって画質とスループットが大幅に向上します。密度が高い材料や厚みのある試料を十分に透過するには、Xradia 800 UltraのX線エネルギーを増大させる必要がある場合があります。 

メリット:

  • 密度が低度~中等度の材料でイメージングコントラストとスループットが向上
  • 岩石や象牙質などの素材に対して、同等の画質で10倍のスループット向上を実証済み

製品パンフレット

ZEISS Microscopyへ問い合わせる

お問い合わせ内容をお知らせください。

フォームを読み込み中…

/ 4
次のステップ:
  • ステップ1
  • ステップ2
  • ステップ3
お問い合わせ
必須入力項目
任意入力項目

ZEISSでのデータ処理の詳細につきましては、データプライバシーに関するお知らせをご覧ください