幅広い種類の検出器で試料を分析しましょう。異なる検出器を使うことで、表面や組成などの様々な情報を得ることができ、プロセスの改善や簡略化に役立てることができます。
お客様のニーズに最適な検出器を見つけてください。
電界放出型SEMやCrossbeamに透過画像イメージング機能を追加しましょう。専用の透過型電子顕微鏡を使用することなく極薄生体/固形標本から付加的情報を入手し、その柔軟さと多用途性をお楽しみください。
メリット:
製品パンフレット
エネルギー選択性反射電子(EsB)検出器は明瞭な組成コントラストに適しています。これは、レンズ内検出器の上に位置する環状のカラム内検出器です。BSE検出機能によって、表面下の情報の入手やナノスケールの組成の視覚化が可能になります。
メリット
二次電子/二次イオン(SESI)検出器は、Crossbeam用ワークステーションで使用可能な新型検出器です。この検出器によって、集束イオンビーム二次イオン画像または電子画像を取得することができます。
BSD4検出器を用いて、きわめて低い角度で反射する電子を検出できます。COMPOモードは、信頼性の高い材料コントラストの生成に適しています。つまり、重い材料のほうが軽量の材料より明るく表示されます。
希望どおりの分解能で迅速にイメージングするには、高電子線量と加速電圧が必要ですが、それらは画質を損なう荷電効果や試料の破損の原因となることがあります。ZEISS Sense BSDを、これまでにない高効率かつ高画質の高分解能超微細構造イメージングと組み合わせることで、お持ちのSEMでTEMレベルのイメージングが可能となります。
BSD検出器は、非常に低い角度で反射する後方散乱電子を検出するのに使用されます。新しい増幅器によって検出器の効率が向上するため、様々なコントラスト情報、はるかに高いゲイン、低ノイズレベルが実現します。
集束イオンビーム(FIB)に関する詳細情報を入手し、完全なスパッタリング機能や微細/ナノ加工ツールの機能をご体験ください。ガスインジェクション装置(GIS)によって、標本に様々な物質を堆積させることができます。集束イオンビームSIMSを用いて、固形表面や薄膜の組成を解析し、マイクロマニピュレータによるin situラメラ表示で細部の情報を入手可能です。
イメージングと分析性能を兼ね備えたGeminiカラムに、次世代集束イオンビーム(FIB)の処理能力を統合しましょう。最新集束イオンビーム(FIB)の完全なスパッタリング機能や微細/ナノ加工ツールの機能をご体験ください。
単一/複数のGISによって、標本表面にプロセスガスを注入し、電子ビームやイオンビームで金属および絶縁体の堆積を惹起します。
ZEISS UniGIS(GIS:ガスインジェクション装置)は、ZEISS集束イオンビームSEMを用いて、プラチナ、タングステンまたは炭素などの前駆体の堆積をイオンや電子ビームで惹起(IBID/EBID)するために使用する新たな単一ガスインジェクション装置です。
集束イオンビームSIMSは、特に感度が高いナノスケール材料分析にきわめて有力な表面分析法です。元素の検出限界は、100万分の1から10億分の1の間です。質量分析法で分子の表面、画像および深度プロファイル情報を入手できます。
ビームパスコンポーネントを洗浄する手間や保護ウィンドウの不純物を低減しましょう。クロスジェットノズル部品を簡単に取り外して洗浄できるため、これによってレーザー生成チャンバーで高EBSDホルダをローディングすることも可能です。
原子間力顕微鏡などの様々なシステムで、表面材料を除去または塗布することにより、ナノメートル範囲の構造を作成できます。または、ZEISS Atlas 5の幅広いオプションにより、マルチモーダル画像や包括的なマルチスケールのメリットを活用可能です。
原子間力顕微鏡は、既存のSEMの機能に、キャリブレーション済みの原子レベルの3D分解能と高分解能測定を追加します。
ZEISS Atlas 5では、試料重視の相関環境で広範なマルチスケール、マルチモーダル画像を作成し、実験を容易化することができます。
最新のソフトウェアバージョンとライセンスオプションによる拡張機能、そしてシステムパフォーマンスを最適化するために推奨される最新の高性能PCハードウェアをご紹介します。
ZEISSワークステーションのアップグレードは、最新のSmartSEMソフトウェア、高性能なハードウェア仕様、最新のオペレーティングシステムにより、日々のプロセスを改善します。
SmartSEMは、困難な課題を解決するために設計された、高度な顕微鏡設定へのアクセスを提供する電子顕微鏡用オペレーティングシステムです。
ソフトウェア新着情報、アップグレードおよびその他の機能に関するインタラクティブガイド。ZEISSのソフトウェア、ワークステーションと互換性、ソフトウェアの新機能、最近のソフトウェアリリースについて詳しくご紹介します。
新しい機能を追加したり、既存の機能を改善したりするための幅広いライセンスをご用意しています。これらはプロセスを改善し、システムの使いやすさを向上させるのに役立つほか、より多くの情報を取得するためのツールが使用できます。
Shuttle & Findを用いて、ZEISSの電子顕微鏡と光学顕微鏡を接続しましょう。ハードウェアとソフトウェアソリューションの組み合わせによって、標本を1つの顕微鏡システムから別のシステムに数分で移動できます。
Airlockによる試料ロード時間の短縮やスループットの向上、ZEISS ECO Quietモードによるノイズレベルの大幅な低減など、利便性を向上させ、作業効率を高めることができます。プラズマクリーナーで試料やチャンバーを除染したり、フラッドガンやチャージコンペンセーションで帯電効果を補正し、画質を向上させることが可能です。
Airlockでは、既存の真空状態を損なうことなく試料を効率的にロードすることができるため、試料チャンバーの汚染リスクを低減できます。この方法を用いることで、試料交換時間も大幅に短縮されます。
チャージコンペンセーションシステムは、窒素のイオン化により、非導電性の試料を局所的に放電させます。高分解能と分析能力の向上は、チャージコンペンセーションシステムの統合により、導電性試料だけでなく、あらゆる非導電性試料にも適用できます。
Flood Gunは、正電荷絶縁体や半導体試料の荷電中和のために改良されたデバイスです。これによって、集束イオンビームによる実効正電荷が維持された状態の試料のある領域に一定に流れている低エネルギー電子を放出させることができます。
ZEISSは、試料やチャンバーの除染を目的とした迅速かつコスト効率の高いソリューションを提供します。プラズマクリーナーは、プラズマ中で反応性の高い気相ラジカルを発生させるために使用します。ラジカルは機器のチャンバー内に移動し、不要な炭化水素と化学反応します。
ZEISS ECO Quietモードと真空リザーバーを用いると、工場出荷時に設定された真空度に達した際、プレポンプは自動的に停止します。真空リザーバーにより、プレポンプを必要とせず、何時間でもシステムを稼働させることができます。その結果、ノイズレベルの低減とエネルギー消費量の削減を両立させることが可能になります。
試料ホルダー、最新版のデュアルジョイスティックコントローラーとコントロールパネル、停電時にシステムの安全を確保する無停電電源装置(UPS)などのアクセサリを追加して、顕微鏡をアップグレードしましょう。
安定した電力供給が不可能な場合は、無停電電源装置(UPS)を使用します。これは、短時間の停電に対応し、長時間の停電時には顕微鏡を制御して停止できるように設計されています。
デュアルジョイスティックコントローラーとコントロールパネルを使用することで、より快適な操作が可能になります。デュアルジョイスティックコントローラーは、ステージ制御や試料のナビゲーションに使用でき、コントロールパネルによって、SEMの最も頻繁に使用する機能に簡単にアクセスすることができます。
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