サービス・サポート

最新型集束イオンビームSEM

機能を拡張して耐用年数をさらに長く

検出器と解析

幅広い種類の検出器で試料を分析しましょう。異なる検出器を使うことで、表面や組成などの様々な情報を得ることができ、プロセスの改善や簡略化に役立てることができます。

お客様のニーズに最適な検出器を見つけてください。

  • アプリケーションに合った検出器をご提案
  • 簡単なアプリケーションガイド
  • 検出器固有の情報
  • 使用可能な機能について詳しく見る
  • ZEISS検出器の詳細がわかるインタラクティブなツール

aSTEM検出器

最適化された環状デザインで最大限の情報を入手

電界放出型SEMやCrossbeamに透過画像イメージング機能を追加しましょう。専用の透過型電子顕微鏡を使用することなく極薄生体/固形標本から付加的情報を入手し、その柔軟さと多用途性をお楽しみください。

メリット:

  • 向上した分解能
  • 使いやすさ
  • 高い生産性と多用途性

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EsB検出器

表面下の情報の入手やナノスケールの組成の視覚化が可能に

エネルギー選択性反射電子(EsB)検出器は明瞭な組成コントラストに適しています。これは、レンズ内検出器の上に位置する環状のカラム内検出器です。BSE検出機能によって、表面下の情報の入手やナノスケールの組成の視覚化が可能になります。

メリット

  • 材料のより詳細な情報を入手可能
  • トポグラフィーの影響を軽減
  • 電子を選択可能な材料コントラスト

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SESI検出器

二次電子/イオンを検出して詳細かつ豊富な情報を取得

二次電子/二次イオン(SESI)検出器は、Crossbeam用ワークステーションで使用可能な新型検出器です。この検出器によって、集束イオンビーム二次イオン画像または電子画像を取得することができます。

メリット:

  • 2-in-1:電子およびイオンで情報を取得
  • 材料のより詳細な情報を入手可能
  • 広範な併用オプション

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BSD検出器

リアルタイム3Dイメージングと表面計測が可能

BSD4検出器を用いて、きわめて低い角度で反射する電子を検出できます。COMPOモードは、信頼性の高い材料コントラストの生成に適しています。つまり、重い材料のほうが軽量の材料より明るく表示されます。

メリット:

  • 低電圧での性能を向上
  • イメージングコントラストを強化
  • 一定の温度レベル

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Sense BSD検出器

これまでにない速度と品質で微細構造をイメージング

希望どおりの分解能で迅速にイメージングするには、高電子線量と加速電圧が必要ですが、それらは画質を損なう荷電効果や試料の破損の原因となることがあります。ZEISS Sense BSDを、これまでにない高効率かつ高画質の高分解能超微細構造イメージングと組み合わせることで、お持ちのSEMでTEMレベルのイメージングが可能となります。

メリット:

  • 非導電性で帯電しやすい生体試料に最適
  • 最良の試料保護機能を有しているため、画像の劣化を回避可能
  • 高品質の画像をより短時間で

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BSD検出器用ES増幅器

次世代イメージングで画質が大幅に向上

BSD検出器は、非常に低い角度で反射する後方散乱電子を検出するのに使用されます。新しい増幅器によって検出器の効率が向上するため、様々なコントラスト情報、はるかに高いゲイン、低ノイズレベルが実現します。

 

メリット:

  • 信号収集機能の強化
  • 静かに作業可能
  • 多様なイメージング

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集束イオンビーム(FIB)/ガスインジェクション装置(GIS)

集束イオンビーム(FIB)に関する詳細情報を入手し、完全なスパッタリング機能や微細/ナノ加工ツールの機能をご体験ください。ガスインジェクション装置(GIS)によって、標本に様々な物質を堆積させることができます。集束イオンビームSIMSを用いて、固形表面や薄膜の組成を解析し、マイクロマニピュレータによるin situラメラ表示で細部の情報を入手可能です。

FIBカラム

Crossbeamワークステーションにアップグレード:FIBカラムで微細/ナノ構造が可能に

イメージングと分析性能を兼ね備えたGeminiカラムに、次世代集束イオンビーム(FIB)の処理能力を統合しましょう。最新集束イオンビーム(FIB)の完全なスパッタリング機能や微細/ナノ加工ツールの機能をご体験ください。

 

メリット:

  • 可能な限り多くの情報を取得
  • 徹底した工程管理を維持
  • 最大限の柔軟性を実現

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単一/複数GIS

金属や絶縁性金属を簡単に堆積

単一/複数のGISによって、標本表面にプロセスガスを注入し、電子ビームやイオンビームで金属および絶縁体の堆積を惹起します。

 

メリット:

  • 様々な物質を堆積
  • 多彩な前駆体
  • 便利な取り扱い

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UniGIS

大幅に向上した性能で物質を堆積

ZEISS UniGIS(GIS:ガスインジェクション装置)は、ZEISS集束イオンビームSEMを用いて、プラチナ、タングステンまたは炭素などの前駆体の堆積をイオンや電子ビームで惹起(IBID/EBID)するために使用する新たな単一ガスインジェクション装置です。

メリット:

  • 安定した工程
  • 便利な取り扱い
  • 信頼性の高い堆積機能

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FIB:二次イオン質量分析

固形表面や薄膜の組成を解析。

集束イオンビームSIMSは、特に感度が高いナノスケール材料分析にきわめて有力な表面分析法です。元素の検出限界は、100万分の1から10億分の1の間です。質量分析法で分子の表面、画像および深度プロファイル情報を入手できます。

メリット:

  • 有力な表面分析
  • 向上した分解能
  • 深度プロファイリング

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Crossbeamレーザーの粒子抽出用クロスジェットシステム

保護ウィンドウの不純物を低減

ビームパスコンポーネントを洗浄する手間や保護ウィンドウの不純物を低減しましょう。クロスジェットノズル部品を簡単に取り外して洗浄できるため、これによってレーザー生成チャンバーで高EBSDホルダをローディングすることも可能です。

メリット:

  • 低不純物
  • 洗浄の手間が低減
  • 向上したアブレーション機能

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ナノストラクチャリングとパターン形成

原子間力顕微鏡などの様々なシステムで、表面材料を除去または塗布することにより、ナノメートル範囲の構造を作成できます。または、ZEISS Atlas 5の幅広いオプションにより、マルチモーダル画像や包括的なマルチスケールのメリットを活用可能です。

原子間力顕微鏡

原子レベルの3D分解能にアップグレード

原子間力顕微鏡は、既存のSEMの機能に、キャリブレーション済みの原子レベルの3D分解能と高分解能測定を追加します。

 

メリット:

  • 試料表面の機械的/電気的/化学的/磁気的特性を把握
  • 生産性と汎用性がアップするほか、取り扱いの便利さも向上

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Atlas 5

マルチスケールにおける課題を克服

ZEISS Atlas 5では、試料重視の相関環境で広範なマルチスケール、マルチモーダル画像を作成し、実験を容易化することができます。

メリット:

  • 複数のソースで取得した多次元画像の相関付け
  • 高速かつ容易な画像取得

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ソフトウェアとワークステーション

最新のソフトウェアバージョンとライセンスオプションによる拡張機能、そしてシステムパフォーマンスを最適化するために推奨される最新の高性能PCハードウェアをご紹介します。

SEMワークステーション

効率的なワークフロー、直感的なナビゲーションおよび素早いファイル検索

ZEISSワークステーションのアップグレードは、最新のSmartSEMソフトウェア、高性能なハードウェア仕様、最新のオペレーティングシステムにより、日々のプロセスを改善します。

 

メリット:

  • 最新バージョンのSmartSEM
  • 直感的なナビゲーション
  • Windows 10

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SmartSEM

走査型電子顕微鏡のより効率的な操作が可能に

SmartSEMは、困難な課題を解決するために設計された、高度な顕微鏡設定へのアクセスを提供する電子顕微鏡用オペレーティングシステムです。

 

メリット:

  • 強化されたイメージング条件
  • 追加のソフトウェアモジュール
  • 画像からより多くの情報を取得
  • 直感的なナビゲーション

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ソフトウェア検索

ZENアップグレードガイド

ソフトウェア新着情報、アップグレードおよびその他の機能に関するインタラクティブガイド。ZEISSのソフトウェア、ワークステーションと互換性、ソフトウェアの新機能、最近のソフトウェアリリースについて詳しくご紹介します。

 

  • ZENについての詳細がわかるインタラクティブなツール
  • 簡単なソフトウェアアップグレードガイド
  • ワークステーションの互換性に関する情報
  • 使用可能なその他のソフトウェア機能の詳細情報
  • ZEN coreの詳細情報

 

ソフトウェアモジュールカタログ

顕微鏡の機能と性能を拡張

新しい機能を追加したり、既存の機能を改善したりするための幅広いライセンスをご用意しています。これらはプロセスを改善し、システムの使いやすさを向上させるのに役立つほか、より多くの情報を取得するためのツールが使用できます。

 

メリット:

  • 新しい機能でプロセスを改善
  • より快適な使い心地

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Shuttle & Find

マクロレベルの世界からナノレベルの世界への橋渡し

Shuttle & Findを用いて、ZEISSの電子顕微鏡と光学顕微鏡を接続しましょう。ハードウェアとソフトウェアソリューションの組み合わせによって、標本を1つの顕微鏡システムから別のシステムに数分で移動できます。

メリット:

  • より多くの情報を取得可能
  • 迅速なキャリブレーション
  • 柔軟に選べるコンポーネント

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真空度と使いやすさ

Airlockによる試料ロード時間の短縮やスループットの向上、ZEISS ECO Quietモードによるノイズレベルの大幅な低減など、利便性を向上させ、作業効率を高めることができます。プラズマクリーナーで試料やチャンバーを除染したり、フラッドガンやチャージコンペンセーションで帯電効果を補正し、画質を向上させることが可能です。

Airlock ローディング時間の短縮 – 試料スループットの向上

Airlockでは、既存の真空状態を損なうことなく試料を効率的にロードすることができるため、試料チャンバーの汚染リスクを低減できます。この方法を用いることで、試料交換時間も大幅に短縮されます。

 

メリット:

  • スループットが顕著に向上
  • 大型試料のローディング
  • 人間工学に基づいた便利な取り扱い

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チャージコンペンセーション

低い荷電効果とin situでのクリーニングオプション

チャージコンペンセーションシステムは、窒素のイオン化により、非導電性の試料を局所的に放電させます。高分解能と分析能力の向上は、チャージコンペンセーションシステムの統合により、導電性試料だけでなく、あらゆる非導電性試料にも適用できます。

メリット:

  • 非導電性試料を取得
  • 画質向上
  • 生産性と汎用性のアップ

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Flood Gun

非伝導性試料の放電

Flood Gunは、正電荷絶縁体や半導体試料の荷電中和のために改良されたデバイスです。これによって、集束イオンビームによる実効正電荷が維持された状態の試料のある領域に一定に流れている低エネルギー電子を放出させることができます。

 

メリット:

  • 荷電中和
  • イメージング機能向上
  • ダメージ防止

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プラズマクリーナー

迅速かつ効率的にチャンバーをクリーニング

ZEISSは、試料やチャンバーの除染を目的とした迅速かつコスト効率の高いソリューションを提供します。プラズマクリーナーは、プラズマ中で反応性の高い気相ラジカルを発生させるために使用します。ラジカルは機器のチャンバー内に移動し、不要な炭化水素と化学反応します。

メリット

  • 画質向上
  • 試料の素早い除染
  • 安全な除染

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ZEISS ECO Quietモード

ノイズレベルとエネルギー消費量の削減

ZEISS ECO Quietモードと真空リザーバーを用いると、工場出荷時に設定された真空度に達した際、プレポンプは自動的に停止します。真空リザーバーにより、プレポンプを必要とせず、何時間でもシステムを稼働させることができます。その結果、ノイズレベルの低減とエネルギー消費量の削減を両立させることが可能になります。

 

メリット:

  • より快適な使用感
  • 高精細イメージング
  • 省エネ

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その他のアクセサリ

試料ホルダー、最新版のデュアルジョイスティックコントローラーとコントロールパネル、停電時にシステムの安全を確保する無停電電源装置(UPS)などのアクセサリを追加して、顕微鏡をアップグレードしましょう。

無停電電源装置

停電時に顕微鏡の安全を確保してデータ消失を防止

安定した電力供給が不可能な場合は、無停電電源装置(UPS)を使用します。これは、短時間の停電に対応し、長時間の停電時には顕微鏡を制御して停止できるように設計されています。

 

メリット:

  • 短時間停電時の橋渡し的供給
  • 顕微鏡の安全性を確保

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SEM用デュアルジョイスティックとコントロールパネル

より簡単にSEMを制御可能

デュアルジョイスティックコントローラーとコントロールパネルを使用することで、より快適な操作が可能になります。デュアルジョイスティックコントローラーは、ステージ制御や試料のナビゲーションに使用でき、コントロールパネルによって、SEMの最も頻繁に使用する機能に簡単にアクセスすることができます。

メリット:

  • 多くのコンペンセーション機能
  • 多様な構成オプション
  • 便利な取り扱い

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