Mises à niveau pour FIB-SEM

Ajoutez une capacité d'imagerie électronique en transmission à votre système FE-SEM ou Crossbeam. Obtenez des informations supplémentaires sur vos échantillons biologiques ou solides ultrafins sans avoir à utiliser de microscope électronique à transmission dédié et bénéficiez d'une souplesse et d'une polyvalence maximales.

Avantages :

• Meilleure résolution d'image
• Sa facilité d'utilisation
• Productivité et polyvalence accrues

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Le détecteur d'électrons et d'ions secondaires (SESI) est un nouveau type de détecteur disponible pour les postes de travail Crossbeam. Ce type de détecteur permet l'acquisition d'images d'ions ou d'électrons secondaires par FIB.

Avantages :

• 2-en-1 : obtenez des informations grâce aux électrons et aux ions
• Informations plus détaillées sur les matériaux
• Large éventail de combinaisons possibles

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L'imagerie rapide à la résolution souhaitée nécessite des doses d'électrons et des tensions d'accélération élevées, qui peuvent provoquer des effets de charge et endommager l'échantillon, nuisant ainsi à la qualité de l'image. ZEISS Sense BSD combine l'imagerie ultrastructurelle haute résolution avec une efficacité et une qualité d'image inédites, vous permettant d'obtenir sur votre MEB des résultats comparables à un MET.

Avantages :

• Parfaitement adapté aux échantillons biologiques non conducteurs et sujets à des charges
• Protection optimale des échantillons et prévention de la dégradation de l'image
• Obtention plus rapide d'images de haute qualité

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Combinez les performances d'imagerie et d'analyse de votre colonne Gemini avec les capacités d'un faisceau d'ions focalisé (FIB) de nouvelle génération. Bénéficiez d'une capacité de pulvérisation complète et de fonctionnalités d'outils de micro et nano-usinage d'une mise à niveau FIB.

Avantages :

• Obtenez un maximum d'informations
• Gardez la maîtrise de l'ensemble du processus
• Profitez d'une souplesse maximale

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ZEISS UniGIS (GIS = Gas Injection System) est un nouveau système d'injection de gaz simple utilisé pour le dépôt induit par faisceau d'ions ou d'électrons (IBID/EBID) de précurseurs tels que le platine, le tungstène ou le carbone avec les systèmes FIB-SEM de ZEISS.

Avantages :

• Stabilité du processus
• Manipulation pratique
• Dépôt fiable

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Réduisez les efforts de nettoyage des composants de la trajectoire du faisceau ainsi que la contamination de la fenêtre de protection. Retirez facilement la buse à jets croisés afin de procéder au nettoyage et, dans le même temps, charger des supports EBSD élevés dans la chambre de préparation du laser.

Avantages :

• Réduction de la contamination
• Réduction des efforts de nettoyage
• Amélioration de l'ablation

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Le microscope à force atomique ajoute des mesures calibrées, de niveau atomique, en 3D et à haute résolution aux fonctionnalités existantes du MEB.

Avantages :

• Obtention de plus d'informations sur les propriétés mécaniques, électriques, chimiques et magnétiques de la surface de votre échantillon
• Une productivité et une polyvalence accrues alliées à une manipulation simple

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La mise à niveau du poste de travail ZEISS SEM améliore le flux de tâches quotidien en utilisant la version la plus récente du logiciel SmartSEM, des spécifications matérielles haute performance et le dernier système d'exploitation.

Avantages :

• Version la plus récente de SmartSEM
• Navigation intuitive
• Windows 10

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Votre guide interactif pour l'actualité sur les logiciels, les mises à jour et les fonctionnalités supplémentaires. Renseignez-vous sur les logiciels ZEISS, les postes de travail et leur compatibilité, les nouvelles fonctionnalités et les dernières versions logicielles.

• Outil interactif pour en savoir plus sur ZEN
• Guide de mise à jour logicielle simple
• Informations sur la compatibilité avec les postes de travail
• Informations sur les fonctionnalités logicielles supplémentaires disponibles
• Informations supplémentaires sur ZEN core

Le sas permet un chargement efficace des échantillons sans rupture du vide existant et réduit ainsi le risque de contamination de la chambre à échantillon. Cette méthode permet également de réduire considérablement le temps de remplacement des échantillons.

Avantages :

• Amélioration significative du rendement
• Chargement de grands échantillons
• Manipulation ergonomique et pratique

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Le canon à électrons est un dispositif amélioré pour la neutralisation des charges sur des échantillons d'isolants ou de semi-conducteurs chargés positivement. Il fournit un débit régulier d'électrons basse énergie pour décharger une zone de l'échantillon où le faisceau d'ions focalisé a laissé une charge positive nette.

Avantages :

• Neutralisation de charge
• Amélioration de l'imagerie
• Prévention des dommages

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En utilisant le mode silencieux ZEISS ECO et un réservoir à vide, la pré-pompe s'arrête automatiquement après avoir atteint un niveau de vide prédéfini en usine. Le réservoir à vide permet de faire fonctionner le système pendant des heures sans avoir recours à la pré-pompe. Cette disposition permet de réduire à la fois les niveaux de bruit et la consommation d'énergie.

Avantages :

• Fonctionnement plus confortable
• Imagerie haute définition
• Économies d'énergie

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Un système d'alimentation sans interruption (ASI) est utilisé si une alimentation électrique régulière ne peut être garantie. Il est conçu pour pallier aux courtes pannes de courant et pour arrêter le microscope de manière contrôlée lors de pannes de courant prolongées.

Avantages :

• Pallie aux brèves pannes de courant
• Sécurité pour votre microscope

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