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Servicio y asistencia

Actualizaciones de FIB-SEM

Para una mayor vida útil y una funcionalidad ampliada
Detectores y análisis

Analice su muestra mediante una amplia gama de distintos detectores

FIB/GIS

Software y estación de trabajo

Nanoestructura y diseño de patrones

Vacío y facilidad de uso

Accesorios

Detectores y análisis

Analice su muestra mediante una amplia gama de distintos detectores. Los diferentes detectores le permiten recibir distintos tipos de información sobre la superficie, la composición y otros detalles que le ayudarán a mejorar y facilitar sus procesos. 

Encuentre los detectores más adecuados para sus necesidades:

  • Consiga una recomendación del mejor detector para su aplicación
  • Guía de aplicación fácil
  • Información específica del detector
  • Más información sobre funciones disponibles
  • Herramienta interactiva para obtener más información sobre los detectores de ZEISS
Ir al buscador de detectores

Detector aSTEM

Consiga la máxima información gracias al diseño anular optimizado

Añada la función de captura de imágenes electrónicas transmitidas a su FE-SEM o sistema Crossbeam. Consiga información adicional de sus muestras en estado sólido o biológicas ultrafinas sin necesidad de usar un microscopio electrónico de transmisión específico y disfrute de flexibilidad y versatilidad.

Ventajas:

  • Mejor resolución de la imagen
  • Facilidad de uso
  • Mayor productividad y versatilidad

Folleto del producto

Detector EsB

Haga visible la información de la subsuperficie y la composición a nanoescala

El detector retrodispersado selectivo de energía (EsB) es apto para un contraste de composición claro. Se trata de un detector en columna de forma anular que está situado encima del detector In-lens. La capacidad de detectar BSE hace visible la información de la subsuperficie y la composición a nanoescala.

Ventajas

  • Información más detallada del material
  • Menos efectos de topografía
  • Contraste de material selectivo de energía

Folleto del producto

Detector SESI

Obtenga información rica y detallada mediante la detección de iones y electrones secundarios

El detector de iones secundarios y electrones secundarios (SESI) es un nuevo tipo de detector disponible para las estaciones de trabajo de Crossbeam. Este detector permite la adquisición de imágenes electrónicas o iónicas secundarias de FIB.

Ventajas:

  • 2 en 1: consiga información mediante los electrones y los iones
  • Información más detallada del material
  • Amplia gama de opciones de combinación

Folleto del producto

Detector BSD

Permite la metrología de superficies y la captura de imágenes en 3D en tiempo real

El detector BSD4 se usa para detectar electrones retrodispersados que han sido dispersados en ángulos muy bajos. El modo COMPO es apto para generar un contraste de material de alta calidad, lo que significa que los materiales pesados se muestran con más claridad que los materiales ligeros.

Ventajas:

  • Mejor rendimiento a bajo kV
  • Mejor contraste de imagen
  • Nivel de temperatura constante

Folleto del producto

Detector Sense BSD

Captura de la ultraestructura con un nuevo grado de velocidad y calidad

La captura de imágenes rápida con la resolución deseada requiere dosis de electrones y tensiones de aceleración elevadas que pueden provocar efectos de carga y daños en la muestra que afecten a la calidad de la imagen. ZEISS Sense BSD combina una captura de imágenes ultraestructurales de alta resolución con un nuevo grado de eficiencia y calidad de imagen, lo que hace posible, gracias a su SEM, una captura de imágenes tipo TEM.

Ventajas:

  • Apto para muestras biológicas no conductoras con tendencia a la carga
  • Mejor protección de la muestra y evita la degradación de la imagen
  • Genera imágenes de alta calidad en menos tiempo

Folleto del producto

Amplificador ES para detectores BSD

Disfrute de una captura de imágenes superior y de una calidad de imagen mucho mejor

El detector BSD se usa para detectar electrones retrodispersados que han sido dispersados en ángulos muy bajos. El nuevo amplificador permite una mayor eficiencia de los detectores y ofrece una variedad de información de contraste, con una ganancia mucho mayor y un nivel de ruido más bajo.

 

Ventajas:

  • Recogida de señales mejorada
  • Aplicación silenciosa
  • Captura de imágenes variable

Folleto del producto

Haz de iones focalizado (FIB)/Sistema de inyección de gas (GIS)

Obtenga más información sobre el haz de iones focalizado (FIB) y benefíciese de la capacidad de pulverización total y la función de herramienta de micromecanizado y nanomecanizado. El sistema de inyección de gas (GIS) le permite depositar varios materiales en la muestra. Use el FIB-SIM para analizar la composición de superficies sólidas y películas finas y obtenga información detallada mediante la visualización de la laminilla in situ con el micromanipulador.

Columna FIB

Actualización a una estación de trabajo Crossbeam: permite la microestructuración y la nanoestructuración con una columna FIB

Combine la captura de imágenes y el rendimiento analítico de su columna Gemini con la capacidad de un haz de iones focalizado (FIB) de nueva generación. Benefíciese de la capacidad de pulverización total y de la función de herramienta de micromecanizado y nanomecanizado de una actualización de FIB.

 

Ventajas:

  • Obtenga la máxima información
  • Mantenga todo el control del proceso
  • Experimente la máxima flexibilidad

Folleto del producto

GIS individual/múltiple

Deposite metal y materiales de aislamiento fácilmente

El GIS individual/múltiple le permite inyectar un gas de proceso en la superficie de la muestra para la deposición de metales y aislantes inducida por haz de iones o haz de electrones.

 

Ventajas:

  • Deposición de varios materiales
  • Amplio surtido de precursores
  • Manejo práctico

Folleto del producto

UniGIS

Deposite materiales con un rendimiento muy mejorado

ZEISS UniGIS (GIS = Sistema de inyección de gases) es un nuevo sistema de inyección de gas individual usado para la deposición inducida por haz de electrones o de iones (IBID/EBID) de precursores como el platino, el tungsteno o el carbono con sistemas FIB-SEM de ZEISS.

Ventajas:

  • Estabilidad del proceso
  • Manejo práctico
  • Deposición fiable

Folleto del producto

Espectrometría de masas de iones secundarios FIB

Analice la composición de superficies sólidas y películas finas

FIB-SIMS es una técnica de análisis superficial muy potente diseñada especialmente para el análisis de materiales a nanoescala con alta sensibilidad. Los límites de la detección elemental varían desde partes por millón a partes por mil millones. Genere información de la superficie elemental, la imagen y el perfil de profundidad mediante espectrometría de masas.

Ventajas:

  • Potente análisis superficial
  • Resolución mejorada
  • Elaboración de perfiles de profundidad

Folleto del producto

Sistema de chorro cruzado para la extracción de partículas para el láser Crossbeam

Reduzca la contaminación de la ventana protectora

Reduzca el esfuerzo de limpieza para los componentes de la trayectoria del haz, además de la contaminación de la ventana protectora. Benefíciese de una eliminación fácil del conjunto de la boquilla de chorro cruzado para la limpieza, que también permitirá la carga de soportes EBSD elevados mediante la cámara de preparación del láser.

Ventajas:

  • Menos contaminación
  • Minimice el esfuerzo de limpieza
  • Ablación mejorada

Folleto del producto

Nanoestructura y diseño de patrones

Cree estructuras en el rango nanométrico eliminando o aplicando material superficial y usando diferentes sistemas (p. ej., microscopio de fuerza atómica) o benefíciese de imágenes multimodales y múltiples escalas exhaustivas con las distintas opciones de ZEISS Atlas 5.

Microscopio de fuerza atómica

Aumente a resolución en 3D a nivel atómico

El microscopio de fuerza atómica añade una resolución calibrada a nivel atómico en 3D y mediciones de alta resolución a las funciones SEM existentes.

 

Ventajas:

  • Descubra más sobre las propiedades mecánicas, eléctricas, químicas y magnéticas de la superficie de su muestra
  • Mayor productividad y versatilidad, además de un manejo cómodo

Folleto del producto

Atlas 5

Domine el desafío de trabajar a diferentes escalas

ZEISS Atlas 5 hace su vida más fácil. Crea imágenes multiescala con posibilidad de trabajar en diferentes modos dentro de un entorno correlativo centrado en la muestra.

Ventajas:

  • Correlacione imágenes en múltiples dimensiones procedentes de múltiples fuentes
  • Adquisición de imágenes rápida y fácil

Folleto del producto

 

Software y estación de trabajo

Explore nuestras últimas versiones de software y funcionalidades ampliadas mediante nuestras opciones de licencia, además del hardware informático de alto rendimiento recomendado actualmente para optimizar el rendimiento de su sistema.

SEM Workstation

Flujos de trabajo eficientes, navegación intuitiva y búsqueda de archivos más rápida

ZEISS SEM Workstation Upgrade mejora el proceso cotidiano usando el último software SmartSEM, una especificación de hardware de alto rendimiento y el último sistema operativo.

 

Ventajas:

  • Última versión de SmartSEM
  • Navegación intuitiva
  • Windows 10

Folleto del producto

SmartSEM

Maneje su microscopio electrónico de barrido de forma más eficiente

SmartSEM es un sistema operativo para microscopios electrónicos que proporciona acceso a ajustes avanzados del microscopio, diseñados para resolver incluso las tareas más complejas.

 

Ventajas:

  • Condiciones mejoradas de captura de imágenes
  • Módulos adicionales de software
  • Más información de sus imágenes
  • Navegación intuitiva

Folleto del producto

Buscador de software

Su guía para las actualizaciones de ZEN

Su guía interactiva de noticias de software, actualizaciones y funciones adicionales. Más información sobre el software, las estaciones de trabajo y la compatibilidad, las nuevas funcionalidades de software y los lanzamientos de software recientes de ZEISS.

 

  • Herramienta interactiva para obtener más información sobre ZEN
  • Guía fácil para las actualizaciones del software
  • Información de compatibilidad con la estación de trabajo
  • Más información sobre las funcionalidades de software adicionales disponibles
  • Información adicional sobre ZEN core

 

Catálogo de módulos de software

Amplíe la funcionalidad y el rendimiento de su microscopio

Añada nuevas funciones y mejore las existentes con nuestra amplia gama de licencias, que le ayudarán a mejorar sus procesos, facilitarán el uso de su sistema y con las que dispondrá de herramientas para obtener más información.

 

Ventajas:

  • Mejore su proceso con nuevas funciones
  • Mayor comodidad de uso

Folleto del producto

Shuttle & Find

El puente entre el mundo de la microtecnología y el de la nanotecnología

Con Shuttle & Find puede conectar su microscopio electrónico y su microscopio óptico de ZEISS. La solución combinada de hardware y software le permite transferir su muestra de un sistema de microscopio a otro en unos pocos minutos.

Ventajas:

  • Obtenga más información
  • Calibración rápida
  • Elección flexible de los componentes

Folleto del producto

Vacío y facilidad de uso

Disfrute de una mayor comodidad y facilite su rutina laboral, por ejemplo, mediante una reducción del tiempo de carga y un mayor rendimiento de las muestras mediante la precámara o un nivel de ruido significativamente menor gracias al ZEISS ECO Quiet Mode. Descontamine la muestra y la cámara con el limpiador de plasma o mejore la calidad de la imagen mediante la compensación del efecto de carga con el cañón de flujo o la compensación de carga.

Precámara Reduzca el tiempo de carga, aumente el rendimiento de la muestra

La precámara permite la carga eficiente de muestras sin romper el vacío existente y reduce así el riesgo de contaminación de la cámara de la muestra. Al usar este método, también se reduce significativamente el tiempo de intercambio de la muestra.

 

Ventajas:

  • Rendimiento significativamente mayor
  • Carga de muestras grandes
  • Manejo práctico y ergonómico

Folleto del producto

Compensación de carga

Benefíciese de menos efectos de carga y de una opción de limpieza in situ

El sistema de compensación de carga ofrece una descarga localizada de muestras no conductoras mediante ionización de nitrógeno. Gracias a la integración del sistema de compensación de carga, la alta resolución combinada con una expansión adicional de las capacidades analíticas no se limita solamente a muestras conductoras, sino que también se pueden ejecutar para todo tipo de muestras no conductoras.

Ventajas:

  • Captura de muestras no conductoras
  • Mejore la calidad de imagen
  • Mayor productividad y variedad

Folleto del producto

Cañón de flujo

Descarga de muestras no conductoras

El cañón de flujo es un dispositivo mejorado para la neutralización de la carga en muestras de semiconductores o aislantes con carga positiva. Proporciona un flujo continuo de electrones de baja energía para descargar un área de la muestra donde el haz de iones focalizado ha dejado una carga positiva neta.

 

Ventajas:

  • Neutralización de carga
  • Mejor captura de imágenes
  • Prevención de daños

Folleto del producto

Limpiador de plasma

Limpie su cámara de forma rápida y efectiva

ZEISS le ofrece una solución rápida y rentable para la descontaminación de muestras y cámaras. El limpiador de plasma se usa para generar radicales reactivos de fase gaseosa en un plasma. Los radicales migran a la cámara del instrumento y reaccionan químicamente con los hidrocarburos no deseados.

Ventajas

  • Mejor calidad de imagen
  • Rápida descontaminación de muestras
  • Descontaminación segura

Folleto del producto

ZEISS ECO Quiet Mode

Reduzca el ruido y ahorre energía

Mediante el uso del ZEISS ECO Quiet Mode y con la ayuda del depósito de vacío, se apaga automáticamente el prebombeo tras alcanzar un nivel de vacío preconfigurado de fábrica. El depósito de vacío permite manejar el sistema durante horas sin necesidad de prebombeo. Esto reduce los niveles de ruido y el consumo energético.

 

Ventajas:

  • Aplicación más cómoda
  • Captura de imágenes de alta definición
  • Ahorro energético

Folleto del producto

Otros accesorios

Actualice su microscopio con accesorios adicionales, como portamuestras, la última versión de nuestro controlador doble de palanca de mando y el panel de control o un sistema de alimentación ininterrumpida (SAI) que garantiza la seguridad de su sistema en caso de corte de alimentación.

Sistema de alimentación ininterrumpida

Asegure su microscopio en caso de un corte de corriente y evite la pérdida de datos

Se usará un sistema de alimentación ininterrumpida (SAI) cuando no sea posible un suministro constante de alimentación eléctrica. Se ha diseñado para sortear breves cortes de alimentación y para apagar el microscopio de forma controlada durante los cortes de alimentación más prolongados.

 

Ventajas:

  • Sortee breves cortes de alimentación
  • Seguridad para su microscopio

Folleto del producto

Palanca de mando doble y panel de control del SEM

Controle su SEM con más facilidad

Con el controlador de palanca de mando doble y el panel de control instalado, el manejo resulta mucho más cómodo. El controlador de palanca de mando doble se puede usar para el control de la platina y la navegación por las muestras, mientras que el panel de control le permite acceder fácilmente a las funciones del SEM usadas con más frecuencia.

Ventajas:

  • Múltiples posibilidades de compensación
  • Varias opciones de configuración
  • Manejo práctico

Folleto del producto

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