ZEISS Xradia CrystalCT 結晶粒イメージングマイクロCTシステムを初めて市販化

✓ 高分解能吸収コントラストトモグラフィーから得られる補完的情報および非破壊3D結晶粒マッピングによる粒径、形状、配向および粒界に関する情報
✓ 光学顕微鏡や走査型電子顕微鏡などの表面イメージング法では見えない内部微細構造や、オーバーレイした結晶粒マップを非破壊的に確認
✓ データをセグメント化および分析して、構造や粒子の定量的な3Dデータを取得
✓ Ex situまたはin situ実験を通じた4Dイメージングにより、機械的負荷や腐食などによって材料がどのように変化するかを確認する

✓ 3Dでの粒径および相変化を理解して、合金性能とその熱処理や機械的処理の影響に対する見識を得る
✓ ハイスループットで測定した岩石コア（最大4 inch = 10.6 cm）の非破壊3Dイメージングデータによる特性評価やモデリングを利用して、デジタル岩石シミュレーションや材料特性（機械的、熱的など）を予測する物理シミュレーション用に実際の3D構造をエクスポート
✓ In situフロー研究または3D鉱物研究のためのハイコントラスト3Dイメージング

✓大型試料などの様々な試料サイズにフル3Dコンテキストで対応し、特定のアプリケーションでは3D結晶粒マップで補完
✓ 3Dプリントした金属部品の結晶学ベースでのプリント品質評価
✓ハイスループットスキャンによりインタクトな状態のデバイスを短時間で測定
✓ 物理的な断面を補完または置換することにより、試料を犠牲にすることなくイメージングが可能

✓ 染色または未染色の硬組織や軟組織と、生物学的微細構造のハイコントラストイメージング
✓ 試料染色の迅速かつ非破壊的な検証、および3D電子顕微鏡を使用した後続のイメージングのための特徴の位置特定

ワークフローの最初のステップである初回画像取得後、再構築を開始します。吸収トモグラフィーと回折データをGrainMapper3Dに読み込み、多結晶体の粒方位の候補を、逆投影と順投影を用いて特定します。

次のステップは、自動化された反復的な検索により、試料内の結晶粒を探すことです。結晶粒の再構成結果は、インデックス済の粒子の詳細を含み、スライスのスタックまたは容量のデータセットとして保存されます。最終的には、スタンドアロンのGrainMapper3D Viewerアプリケーションを使って、3D CrystalCTの結果を共同研究者や顧客と共有できます。

最後のステップは、必要な情報をすべて抽出し1つのファイルにまとめることです。試料内のすべての粒子の形状、配向、空間的な位置をオープンデータ形式で出力します。

カスタマイズされたソフトウェア、あるいはシミュレーションツールを使用し、さらに分析を行い実験を終了します。高度なインデキシング機能は、対称性が低く複雑な結晶系にも対応しています。

関心領域を簡単に見つけ出し、Scout-and-Scan Control System内でスキャンパラメータを指定します。ユーザーの多い共通設備では、使いやすいシステムがメリットを発揮します。

さまざまなメリット：

● 試料観察用内部カメラ
● レシピ管理（セット、保存、呼び出し）
● マルチエネルギー
● オートローダーオプションを用いた多サンプル処理
● マウスクリックするだけのマイクロポジショニング機能