サービス・サポート

Xradia Contextのアップグレード

機能を拡張して
耐用年数をさらに長く

アクセサリ

試料ホルダー、CT Scaling Phantom、X線フィルターなどのアクセサリを追加して、Xradia Versaの機能を向上させることができます

試料ホルダー

様々なサイズや種類の試料をしっかりとマウンティング

ZEISSの試料ホルダーは、試料をステージ上に正確かつ繰り返し配置できるよう、運動学的原理に基づいて設計されています。各設計には独自のグリッピングテクニックが使用されており、試料を適切に調整してイメージングすることができます。また、X線イメージングの安定性も実証されています。マウントを標準的なものにするか、Autoloaderと互換性のあるものにするかを指定してください。

メリット:

  • 安定した機械的・熱的マウンティングテクニックをサポート
  • 交換が簡単
  • 自動存在検知(Autoloaderとの互換性あり)

製品パンフレット

 

ZEISS CT Scaling Phantomとフィルターオプション

イメージングアプリケーションのニーズに合わせてX線スペクトルをカスタマイズし、グレースケールデータを適切なハンスフィールド単位に相関可能

ZEISS CT Scaling Phantomを使用して、空気と水の値が0と100であるハウンスフィールド単位にデータが適切にキャリブレーションされるようにしましょう。ZEISSが提供する、より高エネルギーのフィルタリング要件や冶金などのアプリケーションに対応する追加のフィルタオプションを検討することで、低エネルギーおよび高エネルギーフィルターの範囲を拡大することができます。

メリット:

  • グレースケールデータを正確にキャリブレーション
  • ビームハードニングアーチファクトの低減によるメリットを活用
  • 高密度または大型の材料の透過率が向上
  • より高い倍率を実現

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ハードウェアとソフトウェア

ZEISSが提供する高度なハードウェアと計算ソフトウェアが、ユーザーエクスペリエンスと解析ワークフローの深化を実現

解析ワークステーション

構成・実証済みのビジュアライゼーションと計算性能

イメージング装置の動作可能時間を維持するため、多くの研究者がセカンダリー分析ワークステーションでワークフローを簡易化したいと考えています。セカンダリーワークステーションは、再構成の最適化、データセットのナビゲーションと可視化、結果の後処理などの追加研究をサポートします。

メリット:

  • イメージングの稼働時間を最大化
  • 結果のスループットが向上
  • 高度なビジュアライゼーションおよび解析ソフトウェアパッケージに対応
  • データストレージを確実に拡張

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ORS Dragonfly Pro

使いやすい高度な解析・ビジュアライゼーション用ソフトウェアソリューション

ORS Dragonfly Proは、大型3Dグレースケールデータの可視化・解析に対応する、直感的で完全かつカスタム可能なツールキットで、ZEISSが独占的に提供しています。Dragonfly Proでは、3Dデータのナビゲーション、注釈機能、ビデオ制作などのメディアファイル作成が可能です。画像処理、セグメンテーション、オブジェクト解析により、結果を定量化することができます。

メリット:

  • 高精細なグラフィックレンダリング
  • 優れた3Dビデオを作成可能
  • オブジェクト解析
  • 機械学習セグメンテーション
  • 反復的ワークフローのためのマクロ記録
  • Pythonカスタマイズ用ソフトウェアパッケージ

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トライアル版ソフトウェア

SmartShield

試料を保護し、実験の設定を最適化

SmartShieldは、Scout-and-ScanTMコントロールシステム内で動作し、試料と顕微鏡を保護するシンプルなソリューションです。ボタンをクリックするだけで、試料をデジタルな「膜」で包み込むことができます。この自動化されたソリューションにより、自信を持って試料をソースと検出器にさらに近づけることができます。SmartShieldを使用することで、初心者ユーザーも経験豊富なユーザーも、シームレスな試料設定ワークフローとVersaシステムの効率的なナビゲーションを体験することができます。

メリット:

  • 完全に統合された膜を5分以内に素早く作成
  • 試料や機器の安全性を高める3D認識
  • 設定時の操作効率が向上

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In situ機能のアップグレード

In situでX線を応用する引張試験のアドオン統合ソリューションについて知る

In situ Debenステージ

In situイメージングのための複数のカスタムテストステージ

モジュール式の引張・圧縮試験システムをContextシステム内に取り入れることで、様々な荷重条件下で材料や複合材料の特性がどのように変化するかを視覚的にわかりやすく解釈することができます。

メリット:

  • Debenステージのin situレシピコントロールの統合
  • In Situインターフェースキットオプション

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In Situインターフェースキット

設定と操作を最適化

Xradia Versa向けIn Situインターフェースキットは、設定と操作を最適化し、より迅速に、より使いやすい操作で求める結果を得ることができます。

Xradia Versaは、様々な環境条件下での分解能を考慮した光学設計により、最高レベルの安定性、柔軟性、各種タイプのIn Situデバイスの制御された統合を提供します。加熱、冷却、濡れ、引張、引張圧縮、離水、その他のシミュレーション環境試験の影響を理解するために、in situおよび4D(経時変化)の観察を実施できます。

メリット:

  • Resolution at a Distance(RaaD)により優れたin situイメージングが実現
  • 特注のカスタムin situフローインターフェースキット

製品パンフレット

モジュールとコンポーネント

アドオンとモジュールでお持ちのシステムの機能を拡張

Autoloader

ZEISS Autoloaderで試料の取り扱いおよび反復測定の効率が向上

Autoloaderを構成に加えることで、シフトや週末をまたいでイメージングジョブのキューを設定することができます。ジョブが終了したら自動的に通知が送信されます。研究・産業ラボ、工業用プロセス開発、サービスラボ、または大学の中央イメージングラボにおいて、ユーザーによる操作を最小限に減らすことが可能になります。

メリット:

  • 正確かつ再現可能な試料測定を実現
  • 複数の試料タイプでも柔軟な試料の取り扱いが可能
  • 測定設定の自動化

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システムアップグレード

Fpx搭載Xradia Versaに変換し、機器の性能と能力を向上させる

Xradia ContextマイクロCTからFpx搭載Xradia 510 Versaへのフィールドコンバージョン

最大級の汎用性にアップグレード

ZEISS Xradia Contextは、お客様のビジネスと共に成長します。これは、長い作動距離(RaaD技術)でラボにおける高分解能X線イメージングの新しい基準を確立したZEISS Xradia Versa X線顕微鏡(FPX搭載)に現場で唯一アップグレードできるマイクロCTです。

メリット:

  • 豊富な機能を備えた多目的のResolution-at-a-Distance(RaaD)機能を追加
  • 大型試料のイメージンから高分解能・非破壊の内部トモグラフィーイメージングまで、最大範囲のマルチスケールワークフローが可能
  • 高度な位相差機能で画質を向上

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