ZEISS Mikroskopie
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Service und Support

Erweiterungen für Xradia Context

Für eine längere Lebensdauer
und erweiterte Funktionalität
Zubehör

Rüsten Sie Ihr Mikroskop mit Zubehörkomponenten auf

Analyse und Software

Bedienkomfort und Intensität des Analyse-Workflows verbessern

In-situ-Erweiterungen

Zusatzlösungen für integrierte Zuglastversuche kennenlernen

Module und Komponenten

Systemfunktionen mit Zusatzkomponenten und Modulen erweitern

Systemerweiterungen

Leistung und Funktionen Ihres Geräts erweitern

Zubehör

Erweitern Sie den Funktionsumfang Ihres Xradia Versa Mikroskops mit Zubehörkomponenten wie Probenträgern, CT Scaling Phantom und zusätzlichen Röntgenstrahlenfiltern

Probenträger

Sicherer Halt für verschiedenste Probengrößen und -arten

ZEISS Probenträger werden ausgehend von kinematischen Grundsätzen konzipiert, um so die präzise, wiederholbare Platzierung auf dem Probentisch zu ermöglichen. Jede Konstruktion hat ihre eigenen Greifmethoden, um die Probe optimal für den Imaging-Prozess zu positionieren. Darüber hinaus ermöglicht die Konstruktionen Stabilität bei der Röntgenbildgebung. Geben Sie an, ob Ihr Probenträger für den Standardgebrauch ausgelegt oder mit dem Autoloader kompatibel sein soll.

Vorteile:

  • Unterstützung stabiler mechanischer und thermischer Halteverfahren
  • Einfacher Wechsel
  • Automatische Präsenzerkennung (Autoloader-kompatibel)

Produktbroschüre

 

CT Scaling Phantom und Filteroptionen

Anpassung des Röntgenspektrums an die Erfordernisse Ihrer Imaging-Anwendung und Korrelierung Ihrer Graustufendaten mit entsprechenden Hounsfield-Einheiten

Mit ZEISS CT Scaling Phantom stellen Sie sicher, dass Ihre Daten ordnungsgemäß auf Hounsfield-Einheiten kalibriert sind, bei denen Luft und Wasser Werte von 0 und 100 einnehmen. Mit den zusätzlichen Filteroptionen von ZEISS für höhere Energiefilteranforderungen und Anwendungen wie in der Metallurgie erweitern Sie Ihre Auswahl an Niedrig- und Hochenergiefiltern.

Vorteile:

  • Korrekte Kalibrierung Ihrer Graustufendaten
  • Weniger Strahlhärtungsartefakte
  • Verbesserte Transmission bei dichten oder größeren Materialien
  • Stärkere Vergrößerung

Produktbroschüre

Analyse und Software

Mit moderner Hardware und Rechensoftware von ZEISS den Bedienkomfort und die Intensität des Analyse-Workflows verbessern

Analyse-Workstation

Konfiguriert und bewährt für Visualisierung und Rechenleistung

Damit Geräte stets für die Bildgebung verfügbar sind, optimieren viele Anwender ihren Workflow mit einer zweiten Workstation für die Analyse. Eine solche zweite Workstation unterstützt zusätzliche Studien mit optimierter Rekonstruktion, Navigation und Visualisierung von Datensätzen sowie der Möglichkeit der Ergebnisnachbearbeitung.

Vorteile:

  • Maximierte Verfügbarkeit für das Imaging
  • Verbesserter Ergebnisdurchsatz
  • Unterstützung erweiterter Visualisierungs- und Analyse-Softwarepakete
  • Zuverlässige Erweiterung des Datenspeicherplatzes

Produktbroschüre

ORS Dragonfly Pro

Die bedienfreundliche Lösung für die erweiterte Analyse und Visualisierung

ORS Dragonfly Pro ist exklusiv über ZEISS erhältlich und stellt ein intuitives, vollständiges und individuell anpassbares Toolkit zur Visualisierung und Analyse großer 3D-Graustufendaten bereit. Darüber hinaus ermöglicht Dragonfly Pro Ihnen die Navigation und Annotation Ihrer 3D-Daten und die Erstellung von Mediendateien einschließlich Videos. Quantifizieren Sie Ihre Ergebnisse mittels Bildverarbeitung, Segmentierung und Objektanalyse.

Vorteile:

  • Rendering von High-Definition-Grafiken
  • Erstellung umfassender 3D-Videos
  • Objektanalyse
  • Machine-Learning-Segmentierung
  • Makro-Aufzeichnung für repetitive Arbeitsabläufe
  • Python-Anpassungssoftwarepakete

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Testversion der Software

SmartShield

Schutz für Ihre Probe zur Optimierung des experimentellen Aufbaus

Die einfache SmartShield Lösung im Scout-and-Scan™-Kontrollsystem schützt gleichzeitig Ihre Probe und Ihr Mikroskop. SmartShield „hüllt“ Ihre Probe auf einfachen Knopfdruck digital ein. Mit dieser automatisierten Lösung können Sie Ihre Probe noch stärker an Quelle und Detektor annähern. Einsteiger und erfahrene Nutzer gleichermaßen profitieren mit SmartShield von dem eleganten Workflow zur Probeneinrichtung und der effizienten Navigation des Versa Systems.

Vorteile:

  • Vollständig integrierte, zügige Hüllenerstellung in 5 Minuten
  • 3D-Erkennung zum Schutz von Probe und Gerät
  • Effizientere Bedienung bei der Einrichtung

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In-situ-Erweiterungen

Zusatzlösungen für integrierte Zuglastversuche bei In-situ-Röntgenanwendungen kennenlernen

In-situ-Deben-Tische

Verschiedene individuelle Testtische für das In-situ-Imaging

Sie können im Context System ein modulares Zuglast- und Kompressionsversuchsystem installieren und erzielen damit eine klare visuelle Interpretation der Veränderungen von Material- und Verbundstoffeigenschaften unter verschiedenen Ladungsbedingungen.

Vorteile:

  • Integrierte In-situ-Rezeptsteuerung für Deben-Tische
  • Optionales In-situ-Interface-Kit

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In-situ-Interface-Kit

Optimierung von Einrichtung und Abläufen

Das In-situ-Interface-Kit für Xradia Versa optimiert Einrichtung und Abläufe, damit Sie schneller und komfortabler die gewünschten Ergebnisse erzielen.

Sie profitieren bei Ihrem Xradia Versa System von allerhöchster Stabilität, Flexibilität und gesteuerter Integration verschiedener Arten von In-situ-Geräten. Ermöglicht wird dies durch eine optische Architektur, die die Auflösung bei unterschiedlichen Umgebungsbedingungen berücksichtigt. Führen Sie In-situ- und 4D-Studien (zeitabhängige Studien) durch, um die Auswirkungen von Erwärmung, Abkühlung, Befeuchtung, Zug, Druck, Entwässerung und anderen simulierten Umwelteinflüssen nachzuvollziehen.

Vorteile:

  • Resolution at a Distance (RaaD) für optimales In-situ-Imaging
  • Individuelles In-situ-Flow-Interface-Kit auf Sonderwunsch

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Module und Komponenten

Systemfunktionen mit Zusatzkomponenten und Modulen erweitern

Autoloader

Effizientere Probenhandhabung und repetitive Messungen mit ZEISS Autoloader

Erweitern Sie Ihre Konfiguration mit dem Autoloader. So können Sie Warteschlangen für Imaging-Aufträge für verschiedene Arbeitsschichten oder über das Wochenende einrichten. Wenn der Auftrag abgeschlossen ist, erhalten Sie eine automatische Benachrichtigung. Reduzieren Sie Benutzereingriffe in Ihrem Forschungs- oder Industrielabor, bei der industriellen Prozessentwicklung, im Servicelabor oder Imaging-Labor an Universitäten auf ein Minimum.

Vorteile:

  • Präzise, wiederholbare Messungen von Proben
  • Flexible Handhabung von verschiedensten Probentypen
  • Automatisierte Einrichtung von Messungen

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Systemerweiterungen

Mit dem Wechsel zu Xradia Versa mit FPX Leistung und Funktionen Ihres Geräts verbessern

Umrüstung von Xradia Context microCT auf Xradia 510 Versa mit FPX direkt vor Ort

Upgrade auf absolute Flexibilität

ZEISS Xradia Context wächst mit Ihnen und Ihren Aufgaben. Es ist das einzige microCT-System, das vor Ort auf ein ZEISS Xradia Versa Röntgenmikroskop (mit FPX) umgerüstet werden kann. Dieses System setzt mit seiner hohen Auflösung bei großem Arbeitsabstand (RaaD) einen neuen Standard in der im Labor durchgeführten Röntgenbildgebung.

Vorteile:

  • Ergänzung der funktionsreichen Resolution-at-a-Distance-Option (RaaD), die mehrere Objektive unterstützt
  • Multiskalarer Workflow mit maximalem Bereich, vom Imaging großer Proben bis zur zerstörungsfreien tomografischen Abbildung innenliegender Bereiche mit höchster Auflösung
  • Fortschrittliche Phasenkontrastfunktion zur Bildoptimierung

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