服务和支持

Xradia Ultra升级

延长使用寿命
和扩展功能

配件

为不同类型的样品提供额外的样品载具以升级您的显微镜

样品载具

可安全地安装多种样品尺寸和类型

蔡司样品载具采用运动学原理设计,以确保可在样品载物台上精准可重复地放置样品。每项设计都提供特有的夹持技术,可正确调整您的样品以进行成像。此外,这些设计在X射线成像稳定性方面也得到了验证。

优势:

  • 支持多种样品材料和形状
  • 稳定的机械和热固定技术
  • 便于样品更换

产品传单

 

分析和软件

通过使用蔡司提供的先进硬件和计算软件,提升用户体验和分析工作流的深度

分析工作站

经过配置和验证的可视化和计算性能

为保持成像设备的正常运行时间,多数人更倾向于通过辅助分析工作站简化其工作流。辅助工作站支持额外的用于优化重构、导航、可视化数据集以及后处理结果的研究。

优势:

  • 尽可能延长成像运行时间
  • 提高获取结果的效率
  • 支持高级可视化和分析软件套装
  • 可靠地扩展数据存储

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ORS Dragonfly Pro

易于使用的高级分析和可视化软件解决方案

ORS Dragonfly Pro仅由蔡司提供,为可视化和分析大型3D灰度数据提供了一个直观、完整、可量身定制的工具包。您可用Dragonfly Pro对三维数据进行导航、注释以及创建包括视频在内的媒体文件,还可进行图像处理、图像分割和对象分析来量化结果。

优势:

  • 高清晰图形渲染
  • 创建丰富的3D视频
  • 对象分析
  • 机器学习分割
  • 重复工作流的宏记录
  • Python定制软件套装

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软件试用

原位升级

用三维X射线成像的无损特性研究外部条件的变化对微米和纳米结构的影响

Xradia Ultra Load Stage

用于三维X射线成像的原位纳米力学测试台

Xradia Ultra Load Stage利用无损三维成像技术,以特殊的方式实现了压缩、拉伸、压痕等原位纳米力学测试。研究内部结构的三维演变,在载荷状态下,图像分辨率可达50 nm。了解形变事件和失效与局部纳米级特征的关系。补充现有的力学测试方法,以深入了解跨多个长度尺度的性能。

优势:

  • 为显微镜添加原位纳米力学测试功能
  • 在负载下获取样品的三维断层扫描图像(分辨率低至50 nm)
  • 进行各种纳米力学测试
  • 研究广泛的材料
  • 通过电子显微镜、microCT和单机测试装置补充您的力学测试结果

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模块和组件

通过附加组件和模块扩展系统功能

Zernike相位衬度

低密度材料成像并突出显示裂纹和接口

相位衬度成像利用的是X射线的折射,而不是吸收。它对密度相近或低吸收的材料之间的交界面非常敏感(边缘增强)。Xradia Ultra系列使您能够采用Zernike方法实现相位衬度,即样品首先由环形光束照射,然后会在物镜后的光路中插入一个相位环。相位环将背景光的相位相对于样品散射光进行相移。两束光在探测器平面上的干涉将相位移动变为强度变化。

优势:

  • 由低密度材料组成的成像样品不会明显吸收X射线
  • 突出显示样品中的细小裂纹和接口
  • 吸收和相位衬度的结合能够对各种类型的材料进行成像,从聚合物和生物材料,到陶瓷、复合材料和岩石,再到金属

系统升级

通过型号的升级换代提高设备性能和功能

Xradia 800 Ultra到Xradia 810 Ultra

将成像效率提高了多达10倍

在XRM中,衬度取决于需要成像的材料和所使用的X射线能量。Xradia Ultra系列包括Xradia 800 Ultra和Xradia 810 Ultra,前者在光子能量为8 keV下运行,后者在5.4 keV下运行。通常,低能量的X射线会得到更强的吸收,因此会为您提供更高的衬度。所以,只要透射率满足要求,您就能体验到通过使用Xradia 810 Ultra显著改善的图像质量和/或效率。对于密度较高的材料或厚样品,您可能需要更高的Xradia 800 Ultra的X射线能量才能实现充分透射。 

优势:

  • 为低到中等密度的材料提高了衬度和效率
  • 对于岩石和牙质等材料,相同图像质量下的处理效率已证实提高了十倍

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联系蔡司显微镜事业部

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