Produkt

ZEISS MultiSEM 706

Das schnellste Rasterelektronenmikroskop der Welt

Entfesseln Sie eine Aufnahmegeschwindigkeit von 91 parallelen Elektronenstrahlen – und bilden Sie Proben im Zentimetermaßstab mit Nanometerauflösung ab. Dieses einmalige Rasterelektronenmikroskop ist für den verlässlichen Dauerbetrieb rund um die Uhr ausgelegt. Richten Sie einfach Ihren durchsatzstarken Datenerfassungs-Workflow ein und MultiSEM nimmt automatisch kontrastreiche Bilder auf.

Einzigartige Imaging-Geschwindigkeit
Automatisierte Bildaufnahme großer Bereiche
Details im Nanometerbereich und im makroskopischen Kontext
Kontraststarke Bilder mit niedrigem Rauschen

Bis zu viermal höhere Aufnahmegeschwindigkeit

Ein ultraschnelles 80-MHz-Scan-System mit einer Pixel-Verweilzeit (Dwell Time) von nur 12,5 ns.
Verbesserte Detektionshomogenität

Eine besonders homogene Mosaikdarstellung mit dem neuen monokristallinen Szintillator.
Präzisere Pixelplatzierung

Eine 10-fach bessere Pixelplatzierung mit einem fortschrittlichen Scan-System.
Bessere Systemstabilität

Wassergekühlte Scan-Elektronik verbessert die Systemstabilität während längerer Aufnahmezeiten.
Breiteres Anwendungsspektrum

Eine qualifizierte Bildgebungsleistung bei sehr niedrigen Landeenergien ebnet den Weg für neue Anwendungsfälle.

Schnitt durch ein Mäusehirn, maximale Aufnahmegeschwindigkeit 1,22 Gigapixel/Sekunde. Mit freundlicher Genehmigung von J. Lichtman, Harvard University, Cambridge, Massachusetts, USA.

Blitzschnell. Auf den Nanometer genau.

Erleben Sie die schnellsten jemals erreichten Aufnahmegeschwindigkeiten bei Nanometerauflösung. Das einzigartige MultiSEM-System verwendet 91 Elektronenstrahlen parallel, was Ihre Imaging-Geschwindigkeit deutlich steigert. Zum Beispiel dauert die Aufnahme eines 1 mm² großen Bereichs bei 4 nm Pixelgröße weniger als zwei Minuten. Mit einer unglaublichen Aufnahmerate von über 3 TB pro Stunde können Sie große Volumina (> 1 mm³) abbilden und dabei eine präzise Nanometer-Auflösung erhalten.

_{Bildbeschreibung: Schnitt durch ein Mäusehirn, maximale Aufnahmegeschwindigkeit 1,22 Gigapixel/Sekunde. Mit freundlicher Genehmigung von J. Lichtman, Harvard University, Cambridge, Massachusetts, USA.}

Abbildung sehr großer Proben in Nanometerauflösung

Imaging großer Proben mit Nanometerauflösung

ZEISS MultiSEM macht die Bildgebung sehr großer Proben zur Realität. Es verfügt über einen Probenhalter mit einer beeindruckenden Fläche von 10 cm × 10 cm, so dass Sie nicht mehr zwischen Probengröße und Nanometer-Auflösung wählen müssen. Bilden Sie die gesamte Probe ab und machen Sie jedes Detail sichtbar, das Sie benötigen, um Ihre wissenschaftlichen Fragen zu beantworten. Automatisierte Aufnahmeprotokolle, die speziell für die großflächige Bildgebung entwickelt wurden, sorgen für ein detailliertes, vollständiges Bild und den entscheidenden makroskopischen Kontext.

Elektronenmikroskopie mit der ZEN Imaging Software

Mühelose Elektronenmikroskopie mit ZEN Imaging Software

Erleben Sie die Elektronenmikroskopie wie nie zuvor: Wir haben ZEN, die intuitive Standardsoftware für ZEISS Lichtmikroskope, in die Welt der Elektronenmikroskopie gebracht und so die MultiSEM-Steuerung einfach und mühelos gemacht. Richten Sie schnell komplexe automatisierte Aufnahmeverfahren ein, die perfekt auf Ihre spezifischen Probenerfordernisse zugeschnitten sind. ZEN für MultiSEM ist darauf ausgelegt, die hohen Geschwindigkeiten kontinuierlicher, paralleler Bildaufnahme zu bewältigen. Eine API (Application Programming Interface) steht für die Entwicklung individueller Anwendungen zur Verfügung.

Die Technologie hinter ZEISS MultiSEM

Videoanimation zum Funktionsprinzip von MultiSEM

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Mehrere parallele Elektronenstrahlen und Detektoren

MultiSEM erreicht eine hohe Imaging-Geschwindigkeit, indem mehrere Elektronenstrahlen und Detektoren parallel eingesetzt werden. Der Schlüssel zu diesem Ansatz ist ein fein abgestimmter Detektionspfad (rot), der große Mengen von Sekundärelektronen sammelt, die für die Bildgebung mit einem Mehrfachdetektor-Array verwendet werden. Jeder Strahl führt eine synchronisierte Scanning-Routine an einer Probenposition aus, wodurch sich ein einzelnes Unterbild ergibt. Die Elektronenstrahlen sind in einem gut charakterisierten hexagonalen Muster angeordnet. Durch das Zusammenführen aller Unterbilder entsteht das endgültige, vollständige Bild. Für eine schnelle Datenerfassung wird eine parallele Computerkonfiguration verwendet, was für eine hohe Imaging-Gesamtgeschwindigkeit sorgt. Versuchskontrolle und Bildaufnahme sind bei MultiSEM vollständig getrennt, um die volle Leistung zu gewährleisten.

ZEISS MultiSEM in der Anwendung

Maus-Gehirnschnitt (50 nm dick): Sieben sechseckige Multistrahl-Sehfelder wurden in weniger als 20 Sekunden mit einem MultiSEM 706 aufgenommen und decken eine Fläche von mehr als 400 μm Durchmesser ab. Probe mit freundlicher Genehmigung von B. Kasthuri, University of Chicago, IL, USA.
Deprozessierter und polierter integrierter Schaltkreis, Bild in 1,5 Sekunden mit einem MultiSEM 706 aufgenommen, hexagonales Sehfeld von 132 μm × 114 μm. Beispiel mit freundlicher Genehmigung von C. Pawlowicz, TechInsights, Ontario, Kanada.
Humaner Temporalkortex mit ZEISS MultiSEM abgebildet und in ultrastrukturellen Details rekonstruiert. Das Bild zeigt eine Teilmenge rekonstruierter Pyramidenzellen aus einem ultradünnen Schnitt von etwa 2 mm × 3 mm Größe.
Separatorfolie eines entladenen Akkus mit Ausfällungen, Anodenseite. Bild aufgenommen bei geringer Landeenergie (1 keV) und einer Pixelgröße von 4 nm über ein Sehfeld von 108 μm × 94 μm.
Probe eines Femurhalses, selektiv geätzt für die Darstellung zuvor in der Knochenmatrix versteckter Osteozyten. Probe mit freundlicher Genehmigung von M. Knothe Tate, University of New South Wales, Australien, und Ulf Knothe, Cleveland, Ohio, USA.
Probe von Schiefergestein mit hoher thermischer Reife, Oberfläche mit breitem Ionenstrahl gefräst. Probe mit freundlicher Genehmigung von L. Hathon, University of Houston, Texas, USA.