Producto

ZEISS MultiSEM 706

El microscopio electrónico de barrido más rápido del mundo

Disfrute de una velocidad de adquisición de hasta 91 haces de electrones paralelos para captar imágenes de muestras a escala centimétrica con una resolución nanométrica. Este exclusivo microscopio electrónico de barrido ha sido diseñado para funcionar de manera fiable y continua las 24 horas del día. Solo tiene que diseñar su flujo de trabajo de obtención de datos de alto rendimiento y MultiSEM adquirirá automáticamente imágenes de alto contraste.

Velocidad de captura de imágenes sin precedentes.
Adquisición automatizada de imágenes de gran superficie.
Detalles a nanoescala en el contexto macroscópico.
Imágenes de alto contraste con bajos niveles de ruido.

Velocidad de adquisición hasta 4 veces mayor

Consiga un sistema de deflexión ultrarrápido a 80 MHz con un intervalo de tiempo de píxeles de tan solo 12,5 ns.
Homogeneidad mejorada de la detección

Disfrute del aspecto de mosaico más homogéneo con el nuevo escintilador monocristalino.
Colocación de píxeles más precisa

Experimente una colocación de píxeles 10 veces mejor con un sistema de deflexión avanzado.
Mejor estabilidad del sistema

La electrónica de escaneo refrigerada por agua mejora la estabilidad del sistema para las adquisiciones a largo plazo.
Gama de aplicaciones más amplia

Un rendimiento de captura de imágenes cualificado a una energía muy baja allana el camino para nuevos casos de uso.

Sección de cerebro de ratón, velocidad de adquisición máxima de 1,22 gigapíxeles/segundo. Cortesía de J. Lichtman, Universidad de Harvard, Cambridge, MA, EE. UU.

A toda velocidad. Con una resolución nanométrica.

Experimente las velocidades de adquisición más rápidas jamás logradas a resolución nanométrica. El exclusivo sistema MultiSEM utiliza 91 haces de electrones en paralelo, lo que aumenta significativamente la velocidad total de la captura de imágenes. Por ejemplo, capturar un área de 1 mm² con un tamaño de píxel de 4 nm lleva menos de dos minutos. Con una increíble tasa de adquisición de más de 3 TB por hora, puede obtener imágenes de grandes volúmenes (>1 mm³) y mantiene a la vez una resolución nanométrica precisa.

_{Leyenda: Sección de cerebro de ratón, velocidad de adquisición máxima de 1,22 gigapíxeles/segundo. Cortesía de J. Lichtman, Universidad de Harvard, Cambridge, MA, EE. UU.}

Obtención de imágenes de muestras enormes con resolución nanométrica

Capture imágenes de muestras grandes con resolución nanométrica

ZEISS MultiSEM hace realidad la captura de imágenes de muestras muy grandes. Cuenta con un portamuestras que cubre un área impresionante de 10 cm × 10 cm de la muestra. Ahora ya no tiene que elegir entre el tamaño de la muestra y una resolución nanométrica. Capture imágenes de toda su muestra y descubra todos los detalles necesarios para responder a sus cuestiones científicas. Con protocolos de adquisición automatizados desarrollados específicamente para capturar imágenes de grandes muestras, obtendrá una imagen completa y detallada sin perder el contexto macroscópico crucial.

Microscopía electrónica con ZEN Imaging Software

Microscopía electrónica sin esfuerzo con el ZEN Imaging Software

Experimente la microscopía electrónica como nunca antes: Hemos llevado ZEN, el software estándar intuitivo para los microscopios ópticos ZEISS, al mundo de la microscopía electrónica, haciendo que el control MultiSEM sea sencillo y sin esfuerzo. Configure de forma rápida incluso los procedimientos de adquisición automatizados más complejos, perfectamente adaptados a sus necesidades específicas de la muestra. ZEN para MultiSEM está diseñado para manejar las altas velocidades necesarias para la adquisición continua y paralela de imágenes. Hay una API disponible para el desarrollo de aplicaciones personalizadas.

La tecnología detrás de ZEISS MultiSEM

Animación de vídeo que muestra el principio de funcionamiento de MultiSEM

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Múltiples haces de electrones y detectores en paralelo

MultiSEM alcanza una alta velocidad de captura de imágenes empleando múltiples haces de electrones y detectores en paralelo. La clave de este enfoque es una ruta de detección (roja) perfectamente definida que recoge un gran volumen de electrones secundarios usados para la captura de imágenes con una serie de varios detectores. Cada haz realiza una rutina de escaneado sincronizada en una posición de muestreo, lo que permite obtener una única subimagen. Los haces de electrones están dispuestos en un patrón hexagonal muy bien definido. Al fusionar todas las subimágenes, se forma la imagen final y completa. Se utiliza una configuración de ordenadores en paralelo para la obtención rápida de datos, lo que asegura una elevada velocidad total de captura de imágenes. El control del experimento y la adquisición de imágenes están completamente separados en el sistema MultiSEM para garantizar el máximo rendimiento.

ZEISS MultiSEM en funcionamiento

Sección del cerebro de un ratón (50 nm de grosor), siete campos multihaz hexagonales adquiridos en menos de 20 segundos con un MultiSEM 706 que cubre un área de más de 400 μm de diámetro. Muestra cortesía de B. Kasthuri, Universidad de Chicago, IL, EE. UU.
Circuito integrado deprocesado y pulido, imagen adquirida en 1,5 s con un MultiSEM 706 que cubre un campo de visión hexagonal de 132 μm × 114 μm. Muestra cortesía de C. Pawlowicz, TechInsights, Ontario, Canadá.
Corteza temporal humana capturada con ZEISS MultiSEM y reconstruida con detalle ultraestructural. La imagen muestra un subconjunto de neuronas piramidales reconstruidas a partir de una sección ultrafina de aproximadamente 2 mm × 3 mm de tamaño.
Lámina separadora de una batería ciclada con precipitados desde el lado del ánodo. Imagen captada con baja energía de contacto de 1 keV y tamaño de píxel de 4 nm, cubriendo un campo de visión de 108 μm × 94 μm.
Muestra del cuello femoral, grabada de forma selectiva para esculpir osteocitos, antes escondidos de la matriz ósea antes. Muestra cortesía de M. Knothe Tate, Universidad de Nueva Gales del Sur, Australia, y U. Knothe, Cleveland, OH, EE. UU.
Muestra de pizarra muy madura con amplia superficie fresada con haz de iones. Muestra: cortesía de L. Hathon, Universidad de Houston, TX, EE. UU.