ZEISS EVO Produktfamilie Modulare SEM-Plattform mit intuitiver Bedienung für Routine- und Forschungsanwendungen
Die Systeme der EVO-Produktfamilie kombinieren leistungsstarke Rasterelektronenmikroskopie mit einem intuitiven Bedienkonzept, das für erfahrene und neue Anwender gleichermaßen gut geeignet ist. EVO kann dank seiner umfangreichen Optionen präzise auf Ihre Anforderungen abgestimmt werden. Unabhängig davon, ob Sie im Bereich Biowissenschaften, Materialwissenschaften oder in der routinemäßigen industriellen Qualitätskontrolle und Schadensanalyse tätig sind.
Überlegene Benutzerfreundlichkeit
Mit SmartSEM Touch kontrollieren Sie Workflows interaktiv am Touchscreen. Die Bedienung ist einfach zu erlernen, was den Schulungs- und Kostenaufwand deutlich reduziert. Selbst unerfahrene Nutzer können in Minutenschnelle fantastische Bilder erfassen. Diese Benutzeroberfläche unterstützt außerdem industrielle Anwender, die automatisierte Workflows für wiederkehrende Inspektionsaufgaben benötigen.
Ausgezeichnete Bildqualität
EVO erbringt Spitzenleistungen, wenn es um die Erfassung hochwertiger Daten aus unbeschichteten und unveränderten Proben geht. Die Lösung stellt außerdem die Datenqualität hydrierter und stark verschmutzter Proben sicher, da diese Proben in ihrem nativen Zustand belassen werden können. Zusätzlich optimiert der LaB6-Emitter die Auflösung, den Kontrast und das Signal-Rausch-Verhältnis, was bei anspruchsvollen Imaging- und Mikroanalyseaufgaben extrem wichtig ist.
Bildbeschreibung: Flintstein, Auermetallpartikel aus einem Feueranzünder, abgebildet mit ZEISS EVO, HDBSD-Detektor.
EVO – stark im Zusammenspiel
EVO kann als Teil eines halbautomatisierten, multimodalen Workflows konfiguriert werden. Dies wird ermöglicht durch das halbautomatisierte Wiederauffinden von relevanten Bereichen und das Sicherstellen der Integrität von Daten, die mithilfe mehrerer Modalitäten erfasst wurden. Kombinieren Sie Daten aus der Licht- und Elektronenmikroskopie für die Materialcharakterisierung oder Teileprüfung. Oder kombinieren Sie EVO mit ZEISS Lichtmikroskopen für die korrelative Partikelanalyse.
Für Mehrbenutzerumgebungen
Je nach Laborumgebung kann die Bedienung von SEMs allein erfahrenen Elektronenmikroskopikern vorbehalten sein. Je nachdem besteht jedoch die Notwendigkeit, dass auch unerfahrene Benutzer wie Studenten, Auszubildende oder Qualitätsingenieure Daten von einem SEM benötigen. EVO berücksichtigt beide Gruppen mit zwei unterschiedlichen Benutzeroberflächen, die auf die Anforderungen von erfahrenen Mikroskopikern und Neulingen gleichermaßen eingehen.
EVO – stark im Zusammenspiel
Profitieren Sie von Workflow-Automatisierung und korrelativer Mikroskopie
Erweitern Sie Ihre Möglichkeiten mit ZEISS ZEN core
Die Software-Suite für vernetzte Mikroskopie und Bildanalyse
Da ZEISS sowohl Mikroskopie- als auch Metrologiesysteme anbietet, können Sie erwarten, dass EVO ausgezeichnet mit anderen ZEISS Lösungen zusammenarbeitet. So können Sie einen hochproduktiven, multimodalen Workflow zwischen (digitalen) Lichtmikroskopen und EVO erstellen. Kombinieren Sie die spezifischen optischen Kontrastmethoden Ihres Lichtmikroskops mit den ebenfalls spezifischen Imaging- und Analysemethoden des SEM. So erhalten Sie komplementäre Daten und aussagekräftigere Informationen zur Materialqualität oder zur Fehlerquelle Ihrer Probe.
Sie können ZEN core als Hub für vernetzte Mikroskopie nutzen. Darüber hinaus haben Sie die Möglichkeit, die Funktionen an Ihre speziellen Anwendungen anzupassen und Workflows zu definieren, die die Erfahrungsstufen der Mikroskopiker in Ihrer Mehrbenutzerumgebung berücksichtigen.
Mehr als Highlights:
- Korrelative Mikroskopie: Austausch von Proben und Daten zwischen Licht-, Digital- und Elektronenmikroskopen
- Kontextbezogene Datenpräsentation: Datenvisualisierung und -verwaltung über verschiedene Maßstäbe und Bildgebungsmodalitäten hinweg
- Materialographische Applikationen einschließlich Berichterstellung in Microsoft Word: Integrierte Berichterstellung von korrelierten Bildern und Datensätzen
- Automatisierte Bildanalyse über Deep Learning: Bildsegmentierung über Machine-Learning-Algorithmen.
EDX-Lösungen für Mikroanalyse-Anwendungen
Wenn das Imaging mit dem Rasterelektronenmikroskop (SEM) allein nicht mehr ausreicht, um Bauteile oder Proben vollständig zu charakterisieren, greifen SEM-Anwender zur energiedispersiven Röntgenspektroskopie (EDX). So können sie die chemische Elementzusammensetzung räumlich darstellen.
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Optimiert für alle Routineanwendungen der Mikroanalyse
SEM und EDX müssen mit Bedacht kombiniert werden. Die Kombination von SmartEDX mit einem EVO-System ist hervorragend für Routineanwendungen bei der Mikroanalyse geeignet. Dies gilt insbesondere für Kunden mit hohen Anforderungen an die Reproduzierbarkeit von Daten. So erhalten Sie den höchsten Durchsatz mit einer Energieauflösung von 129 eV und einem Sondenstrom von 1-5 nA, den typischen EVO-Betriebsbedingungen. Dank der erstklassigen Transmissivität des Siliziumnitridfensters ermöglicht SmartEDX die optimale Erkennung niederenergetischer Röntgenstrahlen von Leichtelementen.
Die Benutzeroberfläche folgt dem Workflow – nicht umgekehrt
SmartEDX verbessert auch in Laboren mit mehreren Benutzern die Anwenderfreundlichkeit und Arbeitsabläufe werden leichter reproduzierbar. Wie bereits andere Workflow-orientierte Lösungen von ZEISS, z. B. SmartSEM Touch oder ZEN core für EVO, ist auch die SmartEDX-Software einfach zu erlernen und intuitiv in der Bedienung. In Umgebungen mit mehreren Systemnutzern ermöglicht sie die reproduzierbare Ausführung analytischer Arbeitsschritte am SEM. SmartEDX ist wahlweise als EDX-Detektor mit dem besten Preis-Leistungs-Verhältnis in einer festen Konfiguration oder als flexible und doch komfortable Schieberausführung erhältlich.
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Einfachere Bedienung und effizientere EDX-Datenerfassung
Steuern Sie die EDX und das SEM parallel über einen einzigen PC. Diese Integration verbessert die Nutzbarkeit. Gleichzeitig erhalten Sie spezielle Benutzeroberflächen für Ihr Mikroskop und das EDX-System. Die optimierte Detektorintegration verstärkt die EDX-Signaleingänge um mindestens 17 % und verkürzt damit die EDX-Aufnahmezeit.
Verschiedene EDX-Detektorkonfigurationen zur Wahl
Die Lösung mit einem einzigen PC bietet verschiedene EDX-Konfigurationen: Die Detektoren Xplore 15 und 30 sowie Ultim Max 40 von Oxford Instruments können bestellt werden.
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Umfassender ZEISS Service und Systemsupport
ZEISS bietet umfassenden Support für SmartEDX. Diese EDX-Lösung ist damit für Unternehmen, denen die kontinuierliche Optimierung der Anzahl an unterschiedlichen Analysegerätezulieferern ein wichtiges Anliegen ist. Von der Installation über vorbeugende Wartung, Garantie, Diagnose, Reparatur und Ersatzteillieferung, bis hin zu Rundum-Service-Verträgen – für einen unkomplizierten Support Ihrer SEM-Analyselösung bietet ZEISS sämtliche Serviceleistungen aus einer Hand.
Die EVO Produktfamilie
ZEISS EVO 10
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ZEISS EVO 15
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ZEISS EVO 25
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Wählen Sie EVO 10 mit seinem optionalen Rückstreudetektor und dem Element EDX-System für Ihren Einstieg in die Rasterelektronenmikroskopie – zu einem außergewöhnlich erschwinglichen Einstiegspreis. Mit dieser Investition sind Sie schon jetzt für zukünftige Anwendungen gerüstet, die mehr Platz und mehr Anschlüsse erfordern. |
EVO 15 erbringt bei Analyseanwendungen Spitzenleistungen. Entscheiden Sie sich für die größere Vakuumkammer und Sie erhalten eine vielseitige, flexible Lösung für zentrale Mikroskopie-Einrichtungen oder Labore für die industrielle Qualitätskontrolle. |
EVO 25 ist die Lösung der Wahl für große Proben. Erweitern Sie das System optional mit einem Tisch mit 80 mm Z-Verfahrweg, der selbst im gekippten Zustand ein Gewicht von bis zu 2 kg tragen kann. Die große Kammer bietet zudem Platz für mehrere Analysedetektoren zur Unterstützung anspruchsvollster Mikroanalyseanwendungen. |
Maximale Probenhöhe |
100 mm |
145 mm |
210 mm |
Maximaler Probendurchmesser |
230 mm |
250 mm |
300 mm |
Motorisierter Tisch mit XYZ-Fahrweg |
80 × 100 × 35 mm |
125 × 125 × 50 mm |
130 × 130 × 50 (oder 80) mm |
Zubehör
Beam-Deceleration-Imaging
Mit dem Beam-Deceleration-Imaging lassen sich besonders empfindliche Proben untersuchen. Sie erzielen eine verbesserte Abbildungsqualität mit minimaler Probenschädigung. Ausserdem können Sie nichtleitende Proben mit höherer Auflösung, höherer Oberflächenempfindlichkeit und höherem Kontrast abbilden. An die Probe wird eine Vorspannung angelegt. Damit wird die effektive Landeenergie an der Probe reduziert, während die Primärenergie weiterhin hoch bleibt.