ZEISS Mikroskopie
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Service und Support

Erweiterungen für Xradia Versa

Für eine längere Lebensdauer
und erweiterte Funktionalität
Zubehör

Rüsten Sie Ihr Mikroskop mit Zubehörkomponenten auf

Analyse und Software

Bedienkomfort und Intensität des Analyse-Workflows verbessern

In-situ-Erweiterungen

Zusatzlösungen für integrierte Zuglastversuche kennenlernen

Module und Komponenten

Kornstrukturen erkennen, kleinste Dimensionen sichtbar machen und die Effizienz steigern

Systemerweiterungen

Leistung und Funktionen Ihres Geräts erweitern

Zubehör

Erweitern Sie den Funktionsumfang Ihres Mikroskops mit Zubehörkomponenten

Probenträger

Sicherer Halt für verschiedenste Probengrößen und -arten

ZEISS Probenträger werden ausgehend von kinematischen Grundsätzen konzipiert, um so die präzise, wiederholbare Platzierung auf dem Probentisch zu ermöglichen. Jede Konstruktion hat ihre eigenen Greifmethoden, um die Probe optimal für den Imaging-Prozess zu positionieren. Darüber hinaus ermöglicht die Konstruktionen Stabilität bei der Röntgenbildgebung. Geben Sie an, ob Ihr Probenträger für den Standardgebrauch ausgelegt oder mit dem Autoloader kompatibel sein soll.

Vorteile:

  • Unterstützung stabiler mechanischer und thermischer Halteverfahren
  • Einfacher Wechsel
  • Automatische Präsenzerkennung (Autoloader-kompatibel)

Produktbroschüre

 

CT Scaling Phantom und Filteroptionen

Anpassung des Röntgenspektrums an die Erfordernisse Ihrer Imaging-Anwendung und Korrelierung Ihrer Graustufendaten mit entsprechenden Hounsfield-Einheiten

Mit ZEISS CT Scaling Phantom stellen Sie sicher, dass Ihre Daten ordnungsgemäß auf Hounsfield-Einheiten kalibriert sind, bei denen Luft und Wasser Werte von 0 und 100 einnehmen. Mit den zusätzlichen Filteroptionen von ZEISS für höhere Energiefilteranforderungen und Anwendungen wie in der Metallurgie erweitern Sie Ihre Auswahl an Niedrig- und Hochenergiefiltern.

Vorteile:

  • Korrekte Kalibrierung Ihrer Graustufendaten
  • Weniger Strahlhärtungsartefakte
  • Verbesserte Transmission bei dichten oder größeren Materialien
  • Stärkere Vergrößerung

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Analyse und Software

Mit moderner Hardware und Rechensoftware von ZEISS den Bedienkomfort und die Intensität des Analyse-Workflows verbessern

ZEISS Advanced Reconstruction Toolbox

Verbesserte Abbildungsqualität, höherer Probendurchsatz

Die Advanced Reconstruction Toolbox (ART) erweitert Ihr ZEISS Xradia 3D-Röntgenmikroskop (XRM) oder microCT um zukunftsweisende, durch künstliche Intelligenz (KI) gesteuerte Rekonstruktionstechnologien. Ein tiefgreifendes Verständnis sowohl der Röntgenphysik als auch deren Anwendungen ermöglichen es Ihnen, einige der größten Herausforderungen bei der Probenabbildung auf neue und innovative Weise zu bewältigen.

Sehen Sie selbst, wie sich mithilfe der einzigartigen ART-Module OptiRecon, PhaseEvolve und DeepRecon (in seinen zwei unterschiedlichen Versionen) die Datenerfassungszeit und die Rekonstruktion beschleunigen lassen und Sie die Bildqualität ohne Einbußen bei der Auflösung optimieren können.

Ihre Vorteile auf einen Blick

Advanced Reconstruction-Toolbox bietet:
  • Verbesserte Datenaufnahme und -analyse als Grundlage für eine schnellere Entscheidungsfindung
  • Deutlich verbesserte Abbildungsqualität
  • Überragende Tomografie von im Inneren der Probe liegenden Teilbereichen bzw. hohen Probendurchsatz für die verschiedensten Probenklassen
  • Darstellung feinster Unterschiede durch ein verbessertes Kontrast-Rausch-Verhältnis
  • Erheblich höhere Geschwindigkeiten bei Probenklassen mit repetitivem Arbeitsablauf

Die optional erhältlichen Module laufen für einfaches, bedienfreundliches Arbeiten direkt auf Workstations:

  • DeepRecon Pro/Custom für die Deep-Learning-gestützte Rekonstruktion
  • PhaseEvolve zur Kontrastverstärkung
  • OptiRecon zur iterativen Rekonstruktion

  • ZEISS Advanced Reconstruction Toolbox

    3D-Röntgen-Datensatz eines Kameraobjektivs, aufgenommen mit ZEISS Xradia 620 Versa und DeepRecon Pro

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ZEISS DeepRecon Pro mit seiner bedienerfreundlichen, unkomplizierten, leistungsstarken Umsetzung der KI und des Deep Neural Network legt die Grundlage für optimierte röntgentomografische Ergebnisse auch ohne Vorkenntnisse auf dem Gebiet des Deep Learning. [...] Damit können wir die Scandauer bei In-situ-Experimenten zu Fluid-Gestein-Interaktionen, in denen lange Belichtungszeiten erforderlich sind, verkürzen.

Dr. Markus Ohl

Röntgenmikroskopie | EPOS-NL MINT | Universität Utrecht, NL

Analyse-Workstation

Konfiguriert und bewährt für Visualisierung und Rechenleistung

Damit Geräte stets für die Bildgebung verfügbar sind, optimieren viele Anwender ihren Workflow mit einer zweiten Workstation für die Analyse. Eine solche zweite Workstation unterstützt zusätzliche Studien mit optimierter Rekonstruktion, Navigation und Visualisierung von Datensätzen sowie der Möglichkeit der Ergebnisnachbearbeitung.

Vorteile:

  • Maximierte Verfügbarkeit für das Imaging
  • Verbesserter Ergebnisdurchsatz
  • Unterstützung erweiterter Visualisierungs- und Analyse-Softwarepakete
  • Zuverlässige Erweiterung des Datenspeicherplatzes

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ORS Dragonfly Pro

Die bedienfreundliche Lösung für die erweiterte Analyse und Visualisierung

ORS Dragonfly Pro ist exklusiv über ZEISS erhältlich und stellt ein intuitives, vollständiges und individuell anpassbares Toolkit zur Visualisierung und Analyse großer 3D-Graustufendaten bereit. Darüber hinaus ermöglicht Dragonfly Pro Ihnen die Navigation und Annotation Ihrer 3D-Daten und die Erstellung von Mediendateien einschließlich Videos. Quantifizieren Sie Ihre Ergebnisse mittels Bildverarbeitung, Segmentierung und Objektanalyse.

Vorteile:

  • Rendering von High-Definition-Grafiken
  • Erstellung umfassender 3D-Videos
  • Objektanalyse
  • Machine-Learning-Segmentierung
  • Makro-Aufzeichnung für repetitive Arbeitsabläufe
  • Python-Anpassungssoftwarepakete

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Testversion der Software

SmartShield

Schutz für Ihre Probe zur Optimierung des experimentellen Aufbaus

Die einfache SmartShield Lösung im Scout-and-Scan™-Kontrollsystem schützt gleichzeitig Ihre Probe und Ihr Mikroskop. SmartShield „hüllt“ Ihre Probe auf einfachen Knopfdruck digital ein. Mit dieser automatisierten Lösung können Sie Ihre Probe noch stärker an Quelle und Detektor annähern. Einsteiger und erfahrene Nutzer gleichermaßen profitieren mit SmartShield von dem eleganten Workflow zur Probeneinrichtung und der effizienten Navigation des Versa Systems.

Vorteile:

  • Vollständig integrierte, zügige Hüllenerstellung in 5 Minuten
  • 3D-Erkennung zum Schutz von Probe und Gerät
  • Effizientere Bedienung bei der Einrichtung

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In-situ-Erweiterungen

Zusatzlösungen für integrierte Zuglastversuche bei In-situ-Röntgenanwendungen kennenlernen

In-situ-Deben-Tische

Verschiedene individuelle Testtische für das In-situ-Imaging

Sie können im Versa System ein modulares Zuglast- und Kompressionsversuchsystem installieren und erzielen damit eine klare visuelle Interpretation der Veränderungen von Material- und Verbundstoffeigenschaften unter verschiedenen Ladungsbedingungen.

Vorteile:

  • Integrierte In-situ-Rezeptsteuerung für Deben-Tische
  • Optionales In-situ-Interface-Kit

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In-situ-Interface-Kit

Optimierung von Einrichtung und Abläufen

Das In-situ-Interface-Kit für Xradia Versa optimiert Einrichtung und Abläufe, damit Sie schneller und komfortabler die gewünschten Ergebnisse erzielen.

Sie profitieren bei Ihrem Xradia Versa System von allerhöchster Stabilität, Flexibilität und gesteuerter Integration verschiedener Arten von In-situ-Geräten. Ermöglicht wird dies durch eine optische Architektur, die die Auflösung bei unterschiedlichen Umgebungsbedingungen berücksichtigt. Führen Sie In-situ- und 4D-Studien (zeitabhängige Studien) durch, um die Auswirkungen von Erwärmung, Abkühlung, Befeuchtung, Zug, Druck, Entwässerung und anderen simulierten Umwelteinflüssen nachzuvollziehen.

Vorteile:

  • Resolution at a Distance (RaaD) für optimales In-situ-Imaging
  • Individuelles In-situ-Flow-Interface-Kit auf Sonderwunsch

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Module und Komponenten

LabDCT

Kornstruktur und kristallografische Daten direkt im Labor erheben

Mit dem erweiterten Imaging-Modul LabDCT für die GrainMapper3D Software von Xnovo Technology können Sie kristallografische Kornorientierung und Morphologie in 3D direkt in einer zerstörungsfreien Tomografieumgebung visualisieren. So erlangen Sie mit mikroskopischen Imaging-Funktionen in 3D ein verbessertes Verständnis der grundlegenden Materialienwissenschaft, die diesen Prozessen zugrunde liegt.

Vorteile:

  • Erfassung und Rekonstruktion kristallografischer Informationen
  • Direkte 3D-Visualisierung von Kornausrichtung und -morphologie
  • Zerstörungsfreie Informationen zu Kornstruktur

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Metrology Erweiterung

Details kleinster Raummaße visualisieren und hochpräzise messen

Mit den Xradia Versa Röntgenmikroskopen hat ZEISS völlig neue Möglichkeiten für zerstörungsfreie Einblicke in Details auf Sub-Mikrometerebene eingeführt. Sie profitieren von hochauflösender Röntgenbildgebung in Kombination mit hochpräziser Messtechnik. Darüber hinaus erhalten Sie Messungen mit geprüfter Genauigkeit für kleine Raummaße in rekonstruierten Volumina von unter 125 mm³.

Vorteile:

  • Kleine Volumina bei hoher Auflösung
  • Einfacher Workflow für die Kalibrierung
  • Führende Präzision in der CT-Messtechnik

Produktinformationen

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Autoloader

Effizientere Probenhandhabung und repetitive Messungen mit ZEISS Autoloader

Erweitern Sie Ihre Konfiguration mit dem Autoloader. So können Sie Warteschlangen für Imaging-Aufträge für verschiedene Arbeitsschichten oder über das Wochenende einrichten. Wenn der Auftrag abgeschlossen ist, erhalten Sie eine automatische Benachrichtigung. Reduzieren Sie Benutzereingriffe in Ihrem Forschungs- oder Industrielabor, bei der industriellen Prozessentwicklung, im Servicelabor oder Imaging-Labor an Universitäten auf ein Minimum.

Vorteile:

  • Präzise, wiederholbare Messungen von Proben
  • Flexible Handhabung von verschiedensten Probentypen
  • Automatisierte Einrichtung von Messungen

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FPX (Flat Panel Extension)

Flexibles Imaging auch bei großen Proben

Mit FPX bilden Sie große Proben ab und gestalten effizientere Workflows für die industrielle und wissenschaftliche Forschung. Untersuchen Sie zügig große Bereiche, um die gewünschten Interessensbereiche zu identifizieren. Kombinieren Sie FPX mit RaaD mit Ihrem Gerät der Xradia 500-Serie oder 600-Serie und profitieren Sie von hochauflösender Bildgebung für verschiedenste Probentypen.

Vorteile:

  • Abbildung großer Proben in Spitzenqualität
  • Bilder in hoher Auflösung für vergrößerte Interessensbereiche
  • Komplettes Sehfeld für Proben mit Durchmesser von bis zu 5" bei hohem Durchsatz

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Systemerweiterungen

Mit dem Upgrade auf das nächste Modell Leistung und Funktionen Ihres Geräts erweitern

Umrüstung von Xradia 510/520 Versa auf Xradia 610/620 Versa

Upgrade auf absolute Flexibilität

Das ZEISS Xradia 620 Versa 3D-Röntgenmikroskop erschließt neue Dimensionen der Flexibilität für die wissenschaftliche Forschung. Mit branchenbester Auflösung und exzellentem Kontrast erweitert Xradia 620 Versa die Grenzen der zerstörungsfreien Bildgebung und sorgt für revolutionäre Flexibilität und eine Erkennungsgenauigkeit, die auf Ihre Forschung abgestimmt ist.

Vorteile:

  • Auflösung bis in den Sub-Mikrometerbereich
  • Fortschrittliche Phasenkontrastverfahren zur Bildoptimierung
  • Zerstörungsfreie In-situ- und 4D-Charakterisierung
  • Höherer Röntgenfluss und schnellere Scans ohne Kompromisse bei der Auflösung

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