Servicio y asistencia

Mejoras de Xradia Versa

Para una mayor vida útil
y una funcionalidad ampliada

Accesorios

Modernice su microscopio con accesorios adicionales para mejorar su capacidad

Portamuestras

Monte de forma segura una amplia gama de tamaños y tipos de muestras

Los portamuestras de ZEISS se han diseñado teniendo en mente principios cinemáticos para una colocación precisa y repetible de la platina de la muestra. Cada diseño ofrece técnicas de sujeción únicas para acomodar su muestra de forma apropiada para la captura de imágenes. Además, los diseños son aptos para la estabilidad de la captura de imágenes con rayos X. Especifique si su soporte es para uso estándar o compatible con el Autoloader.

Ventajas:

  • Compatible con técnicas de montaje mecánico y térmico estable
  • Cambio fácil de encendido/apagado
  • Sensor de presencia automático (compatible con el Autoloader)

Folleto del producto

 

Opciones de filtro y maniquíes de cambio de escala de CT

Personalice su espectro de rayos X para satisfacer las necesidades de su aplicación de captura de imágenes y correlacione sus datos en escala de grises frente a unidades Hounsfield apropiadas

Asegúrese de que los datos se hayan calibrado de forma adecuada según unidades Hounsfield, en las que el aire y el agua tienen valores de 0 y 100, mediante el uso del maniquí de cambio de escala de ZEISS CT. Amplíe su rango de filtros de alta y baja energía mediante la exploración de las opciones de filtro adicionales que ofrece ZEISS para los requisitos de mayor filtrado de energía y aplicaciones como la metalurgia.

Ventajas:

  • Calibre sus datos en escala de grises de forma precisa
  • Benefíciese de una reducción de artefactos de endurecimiento del haz
  • Mejor transmisión en materiales densos o más grandes
  • Experimente un mayor aumento

Folleto del producto

Análisis y software

Mejore la experiencia del usuario y las profundidades de su flujo de trabajo de análisis usando el hardware avanzado y el software computacional disponibles a través de ZEISS

ZEISS Advanced Reconstruction Toolbox

Mejor calidad de imagen, mayor rendimiento

La Advanced Reconstruction Toolbox (ART) introduce tecnologías de reconstrucción mediante inteligencia artificial (IA) en su microscopio de rayos X en 3D ZEISS Xradia (XRM) o microCT. Una comprensión exhaustiva de la física y las aplicaciones de rayos X le permite resolver algunos de los desafíos más difíciles en la captura de imágenes de maneras novedosas e innovadoras.

Descubra cómo mejoran la velocidad de la obtención de datos y la reconstrucción, además de la calidad de imagen, sin sacrificar resolución gracias al uso de OptiRecon, dos variantes de DeepRecon y PhaseEvolve, los módulos únicos de ART.

Sus ventajas de un vistazo

Con la Advanced Reconstruction Toolbox, podrá:
  • Mejorar la recogida de datos y el análisis para una toma de decisiones más rápida
  • Mejorar enormemente la calidad de imagen
  • Lograr un rendimiento o tomografía interior superior en una amplia clase de muestras
  • Revelar sutiles diferencias mediante una mejor relación contraste-ruido
  • Aumentar la velocidad con un grado de magnitud para las clases de muestras que requieren un flujo de trabajo repetitivo

Los módulos opcionales son soluciones basadas en estaciones de trabajo para el acceso y el manejo fáciles:

  • DeepRecon Pro y Custom para la reconstrucción basada en el aprendizaje profundo
  • PhaseEvolve para mejorar el contraste
  • OptiRecon para la reconstrucción repetitiva
  • ZEISS Advanced Reconstruction Toolbox

    Conjunto de datos de rayos X en 3D de una lente de cámara captada usando ZEISS Xradia 620 Versa y DeepRecon Pro

ZEISS DeepRecon Pro proporciona una aplicación directa, sencilla y potente de IA y tecnología de redes neurales profundas para mejorar los resultados de la tomografía de rayos X sin conocimientos previos de la tecnología de aprendizaje profundo. [...] Nos ayuda a reducir el tiempo de escaneo necesario para los experimentos in situ de interacciones fluido-roca cuando necesitamos trabajar con tiempos de exposición prolongados.

Dr. Markus Ohl

Microscopía de rayos X | EPOS-NL MINT | Universidad de Utrecht, NL

Estación de trabajo de análisis

Configurada y probada para la visualización y el rendimiento computacional

Con el fin de mantener el tiempo de actividad de los instrumentos para la captura de imágenes, muchos prefieren optimizar su flujo de trabajo mediante una estación de trabajo de análisis secundaria. La estación de trabajo secundaria permite realizar estudios adicionales, de forma que se optimiza la reconstrucción, la navegación y la visualización de conjuntos de datos y el posprocesamiento de los resultados.

Ventajas:

  • Maximice el tiempo de actividad de captura de imágenes
  • Mejore la producción de resultados
  • Es compatible con paquetes de software de visualización y análisis avanzados
  • Amplía el almacenamiento de datos de forma fiable

Folleto del producto

ORS Dragonfly Pro

Solución avanzada y fácil de usar de software de análisis y visualización

ORS Dragonfly Pro está disponible exclusivamente a través de ZEISS y ofrece un kit de herramientas intuitivo, completo y personalizable para la visualización y el análisis de datos grandes en escala de grises y en 3D. Dragonfly Pro permite la navegación, la anotación, la creación de archivos de medios, incluida la producción de vídeo, de sus datos en 3D. Lleve a cabo el procesamiento de las imágenes, la segmentación y el análisis de los objetos para cuantificar sus resultados.

Ventajas:

  • Renderizado de gráficos de alta definición
  • Cree vídeos ricos en 3D
  • Análisis de objetos
  • Segmentación de aprendizaje automático
  • Macrograbación para flujos de trabajo repetitivos
  • Paquetes de software de personalización de Python

Folleto del producto

Prueba del software

SmartShield

Proteja su muestra para optimizar la configuración de su experimento

SmartShield es una solución sencilla que protege su muestra y su microscopio, y funciona dentro del sistema de control Scout-and-ScanTM. SmartShield crea un «envoltorio» digital alrededor de su muestra con solo pulsar un botón. Esta solución automatizada le permite acercar su muestra aún más a la fuente y el detector con confianza. Con SmartShield, los usuarios nuevos y avanzados pueden experimentar un elegante flujo de trabajo de configuración de la muestra y una navegación eficiente del sistema Versa.

Ventajas:

  • Rápida creación de envoltura completamente integrada en menos de 5 minutos
  • Concienciación de la seguridad de la muestra y el instrumento en 3D
  • Mayor eficacia del operador durante la configuración

Folleto del producto

Mejoras in situ

Descubra soluciones añadidas integradas de análisis de tracción para aplicaciones de rayos X in situ

Platinas Deben in situ

Múltiples platinas de análisis personalizadas para la captura de imágenes in situ

Se puede instalar un sistema modular de análisis de tracción y compresión en el sistema Versa para lograr una interpretación visual clara de cómo cambian las propiedades de los materiales y los composites bajo diferentes condiciones de carga.

Ventajas:

  • Control de recetas in situ integrado para platinas Deben
  • Opción de kit de interfaces in situ

Folleto del producto

Kit de interfaces in situ

Optimice su configuración y funcionamiento

El kit de interfaces in situ para Xradia Versa optimizará su configuración y funcionamiento, proporcionándole los resultados que está buscando para un funcionamiento más rápido y más fácil.

Disfrute del máximo nivel de estabilidad, flexibilidad e integración controlada de varios tipos de dispositivos in situ en Xradia Versa, que se benefician de una arquitectura óptica que tiene en cuenta la resolución en condiciones ambientales variables. Realice estudios in situ y en 4D (en función del tiempo) para comprender el impacto del calor, la refrigeración, la humedad, la tensión, la compresión, el drenaje y otros estudios en entornos simulados.

Ventajas:

  • La resolución a distancia (RaaD) permite una captura de imágenes in situ superior
  • Personalice el kit de interfaces de flujo in situ mediante un pedido especial

Folleto del producto

Módulos y componentes

LabDCT

Desbloquee la estructura granular y la información cristalográfica desde su laboratorio

Logre una visualización directa de la orientación y la morfología cristalográficas en 3D de los granos en un entorno de tomografía no destructiva con el módulo avanzado de captura de imágenes LabDCT alimentado con el software GrainMapper3D de Xnovo Technology. Logre una mejor comprensión de la ciencia de materiales fundamental detrás de estos procesos con funciones de captura de imágenes microscópicas en tres dimensiones.

Ventajas:

  • Capte y reconstruya información cristalográfica
  • Visualización directa en 3D de la orientación y la morfología de los granos
  • Información no destructiva de la estructura de grano

Folleto del producto

Extensión de metrología

Revele las dimensiones más pequeñas: mídalas con la máxima precisión

ZEISS introdujo un mundo completamente nuevo de información no destructiva en detalles submicrónicos con microscopios de rayos X Xradia Versa. Benefíciese de una captura de imágenes de rayos X de alta resolución combinada con metrología de alta precisión. Consiga una precisión de medición verificada de pequeñas dimensiones en volúmenes reconstruidos de menos de 125 mm3.

Ventajas:

  • Pequeños volúmenes a alta resolución
  • Flujo de trabajo de calibración simple
  • Precisión de metrología CT líder

Información sobre el producto

Folleto del producto

Autoloader

Aumente la eficiencia de la manipulación de la muestra y las mediciones repetitivas usando el Autoloader de ZEISS

Mediante la adición del Autoloader a su configuración, puede configurar colas de trabajos de captura de imágenes durante un turno o durante un fin de semana. Reciba una notificación automática al completarse el trabajo. Minimice la interacción de los usuarios en su laboratorio industrial o de investigación, el desarrollo de procesos industriales, el laboratorio de servicio o el laboratorio central universitario de captura de imágenes.

Ventajas:

  • Consiga mediciones de muestras precisas y reproducibles
  • Manejo flexible de las muestras para múltiples tipos de muestras
  • Automatice la configuración de la medición

Folleto del producto

FPX (extensión de panel plano)

Mejore la flexibilidad de la captura de imágenes para muestras aún más grandes

Capte imágenes de muestras grandes y cree eficiencias de flujos de trabajo con FPX para la investigación académica e industrial. Explore rápidamente grandes áreas para identificar una región de interés deseada (ROI). Combine FPX con RaaD en Xradia serie 500 y serie 600 y benefíciese de una captura de imágenes de alta resolución para una variedad de muestras.

Ventajas:

  • Capte imágenes de muestras grandes con la mejor calidad
  • Imágenes de alta resolución para regiones de interés ampliadas
  • Campo de visión completo para muestras de 5" de diámetro con alto rendimiento

Folleto del producto

Mejoras del sistema

Aumente el rendimiento y las capacidades del instrumento actualizándolo al siguiente modelo

Xradia 510/520 Versa a Xradia 610/620 Versa

Mejora para la máxima versatilidad

El microscopio de rayos X en 3D ZEISS Xradia 620 Versa aporta una mayor flexibilidad a la investigación científica. Gracias a que posee la mejor resolución y el mejor contraste del sector, Xradia 620 Versa amplía los límites de la captura de imágenes no destructiva y ofrece la flexibilidad y precisión de vanguardia que necesita para su investigación.

Ventajas:

  • Consiga resolución submicrónica
  • Avanzadas técnicas de contraste de fases para mejoras de la imagen
  • Caracterización no destructiva in situ y en 4D
  • Mayor flujo de rayos X y escaneos más rápidos sin afectar a la resolución

Folleto del producto

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