Ajoutez des accessoires à votre microscope pour améliorer ses capacités
Porte-échantillon
Montage sécurisé d'un large éventail de tailles et de types d'échantillons
Les porte-échantillons ZEISS ont été conçus en tenant compte des principes cinématiques afin de garantir un placement précis et reproductible sur la platine d'échantillon. Chaque modèle offre des techniques de préhension uniques afin de placer correctement votre échantillon pour l'imagerie. Ces conceptions sont également reconnues pour leur stabilité lors de l'imagerie par rayons X. Précisez si votre montage est destiné à une utilisation standard ou s'il doit être compatible avec Autoloader.
Avantages :
Prise en charge de techniques de montage mécaniques et thermiques stables
Simplicité de remplacement
Détection automatique de présence (compatible avec l'Autoloader)
Fantômes de mise à l'échelle TDM et options de filtre
Personnalisez votre spectre de rayons X pour répondre aux besoins de vos applications d'imagerie et corrélez vos données en niveaux de gris en fonction des unités Hounsfield appropriées
Assurez-vous que vos données sont correctement étalonnées en unités Hounsfield, dans lesquelles l'air et l'eau ont des valeurs de 0 et 100, en utilisant le fantôme de mise à l'échelle TDM de ZEISS. Élargissez votre gamme de filtres à basse et haute énergie grâce aux options de filtres supplémentaires proposées par ZEISS pour des contraintes de filtrage à plus haute énergie et les applications telles que la métallurgie.
Avantages :
Étalonnage précis de vos données en niveaux de gris
Réduction des artefacts de durcissement du faisceau
Transmission améliorée sur les matériaux denses ou volumineux
Améliorez l'expérience utilisateur et les profondeurs de votre processus d'analyse grâce à un équipement matériel et un logiciel de calcul avancés disponibles chez ZEISS
ZEISS Advanced Reconstruction Toolbox
Meilleure qualité d'image, rendement supérieur
Advanced Reconstruction Toolbox (ART) intègre des technologies de reconstruction, basées sur l'intelligence artificielle (IA) à votre microscope à rayons X 3D (XRM) ZEISS Xradia ou microCT. Une compréhension approfondie des principes physiques des rayons X et de leurs applications vous permettra de relever certains des défis les plus ardus de l'imagerie de manière inédite et innovante.
Découvrez comment la vitesse d'acquisition et de reconstruction des données ainsi que la qualité des images sont améliorées sans pour autant compromettre la résolution en utilisant OptiRecon, deux variantes de DeepRecon et PhaseEvolve, les modules uniques d'ART.
Aperçu de vos avantages
Advanced Reconstruction Toolbox permet :
d'améliorer la collecte et l'analyse des données pour une prise de décision plus rapide
d'améliorer considérablement la qualité d'image
d'obtenir une tomographie intérieure ou un rendement supérieur sur une grande variété d'échantillons
de révéler des différences subtiles grâce à un meilleur rapport contraste sur bruit
d'augmenter considérablement la vitesse pour les catégories d'échantillons nécessitant un processus répétitif
Les modules en option sont basés sur des postes de travail pour garantir un accès et une utilisation simplifiés :
DeepRecon Pro & Custom pour la reconstruction basée sur l'apprentissage profond
PhaseEvolve pour l'amélioration du contraste
OptiRecon pour la reconstruction itérative
ZEISS Advanced Reconstruction Toolbox
Ensemble de données radiographiques 3D d'un objectif de caméra capturé avec ZEISS Xradia 620 Versa et DeepRecon Pro
Contenu tiers bloqué
Le lecteur vidéo est bloqué en raison de vos préférences en matière de suivi. Pour modifier les paramètres et lire la vidéo, cliquez sur le bouton ci-dessous afin d’accepter l’utilisation des technologies de suivi.
ZEISS DeepRecon Pro permet une application directe, simple et puissante de l'IA et de la technologie des réseaux neuronaux profonds pour améliorer les résultats de la tomographie à rayons X sans connaissance préalable de la technologie d'apprentissage profond. [...] Il nous aide à réduire le temps de balayage nécessaire pour les expériences d'interaction fluide-roche in situ lorsque nous devons travailler avec des temps d'exposition prolongés.
Poste de travail d'analyse
Configuré et éprouvé pour la visualisation et les performances de calcul
Afin de maintenir le temps de disponibilité des instruments pour l'imagerie, beaucoup préfèrent optimiser leur processus grâce à un poste de travail d'analyse secondaire. Le poste de travail secondaire permet de réaliser des études supplémentaires : optimisation de la reconstruction, navigation et visualisation des ensembles de données, et post-traitement des résultats.
Avantages :
Optimisation du temps de fonctionnement de l'imagerie
Amélioration du rendement des résultats
Prise en charge de progiciels de visualisation et d'analyse avancés
Solution logicielle simple d'analyse et de visualisation avancée
Disponible exclusivement chez ZEISS, ORS Dragonfly Pro offre une boîte à outils intuitive, complète et personnalisable pour la visualisation et l'analyse de larges volumes de données 3D en niveaux de gris. Dragonfly Pro permet de naviguer, d'annoter, de créer des fichiers médias et de produire des vidéos à partir de vos données 3D. Effectuez un traitement d'image, une segmentation et une analyse d'objets pour quantifier vos résultats.
Avantages :
Rendu graphique haute définition
Création de vidéos 3D riches
Analyse d'objets
Segmentation par apprentissage automatique
Enregistrement de macros pour les processus répétitifs
Protégez votre échantillon pour optimiser vos expériences
SmartShield est une solution simple qui protège votre échantillon et votre microscope et fonctionne avec le système de contrôle Scout-and-ScanTM. D'un simple clic, SmartShield entoure votre échantillon d'une « enveloppe » numérique . Cette solution automatisée vous permet d'approcher en toute confiance votre échantillon encore plus près de la source et du détecteur. Grâce à SmartShield, les utilisateurs, qu'ils soient débutants ou confirmés, bénéficient d'un processus fiable pour préparer les échantillons et naviguer efficacement dans le système Versa.
Avantages :
Création rapide d'enveloppes entièrement intégrées en moins de 5 minutes
Sensibilisation à la 3D pour la sécurité des échantillons et des instruments
Amélioration de l'efficacité de l'opérateur pendant l'installation
Découvrez les solutions complémentaires d'essais de traction intégrées pour les applications de radiographie in situ
Platines Deben in situ
Plusieurs platines de test personnalisées pour l'imagerie in situ
Un système modulaire d'essai de traction et de compression peut être installé dans le système Versa pour obtenir une interprétation visuelle claire de la façon dont les propriétés des matériaux et des composites varient dans différentes conditions de charge.
Avantages :
Contrôle intégré de recette in situ pour les platines Deben
Optimisation de la configuration et du fonctionnement
Le kit d'interface in situ pour Xradia Versa optimisera la configuration et le fonctionnement de votre système, vous permettant d'obtenir les résultats attendus plus rapidement et plus facilement.
Profitez d'un niveau maximal de stabilité, de flexibilité et d'intégration contrôlée de plusieurs types de dispositifs in situ sur le Xradia Versa, qui bénéficient d'une architecture optique tenant compte de la résolution dans des conditions d'environnement variables. Réalisezdes études in situ et 4D (temporelles) pour comprendre l'impact du chauffage, du refroidissement, du mouillage, de la tension, de la compression par traction, du drainage et d'autres études en environnement simulé.
Avantages :
La résolution à distance (RaaD) permet une imagerie in situ optimale
Kit d'interface de fluxin situ personnalisé sur commande spéciale
Obtenez des informations sur la cristallographie et sur la structure des grains depuis votre laboratoire
Obtenez une visualisation directe de l'orientation et de la morphologie des grains cristallographiques en 3D dans un environnement de tomographie non destructif grâce au module d'imagerie avancée LabDCT équipé du logiciel GrainMapper3D de Xnovo Technology. Comprenez plus en profondeur la science fondamentale des matériaux qui sous-tend ces processus grâce à des caractéristiques d'imagerie microscopique en trois dimensions.
Avantages :
Acquisition et reconstruction d'informations cristallographiques
Visualisation directe en 3D de l'orientation et de la morphologie des grains
Informations non destructives sur la structure des grains
Révéler les plus petites dimensions, les mesurer avec précision
En proposant les microscopes à rayons X Xradia Versa, ZEISS rend possible l'exploration non destructive de détails submicroniques. Bénéficiez d'une imagerie à rayons X haute résolution associée à une métrologie de haute précision. Obtenez des mesures précises et vérifiées de très petites dimensions dans des volumes reconstruits de moins de 125 mm3.
Manipulation améliorée des échantillons et des mesures répétitives grâce à l'Autoloader ZEISS
En ajoutant Autoloader à votre configuration, vous pouvez établir des files d'attente de tâches d'imagerie pour une équipe ou pour un week-end. Vous recevez une notification automatique lorsque le travail est terminé. Réduisez au minimum l'interaction des utilisateurs dans votre laboratoire de recherche ou industriel, votre laboratoire de développement de process industriels, votre laboratoire de services ou votre laboratoire central d'imagerie universitaire.
Avantages :
Mesures précises et reproductibles des échantillons
Manipulation flexible de nombreux types d'échantillons
Flexibilité améliorée de l'imagerie pour des échantillons encore plus grands
FPX permet de capturer des échantillons de grande taille et de créer des processus de travail optimisés pour la recherche industrielle et universitaire. Scannez rapidement de larges zones pour identifier la région d'intérêt (ROI) souhaitée. Combinez FPX avec RaaD sur les séries 500 et 600 de Xradia et profitez pleinement de l'imagerie haute résolution pour une grande variété d'échantillons.
Avantages :
Capturez de grands échantillons dans une qualité optimale
Images haute résolution pour les ROI agrandies
Champ d'observation maximal pour des échantillons de 12,7 cm de diamètre avec un débit élevé
Améliorez les performances et les capacités de votre instrument en passant au modèle supérieur
De Xradia 510/520 Versa à Xradia 610/620 Versa
Optez pour la polyvalence ultime
Le microscope à rayons X 3D ZEISS Xradia 620 Versa ouvre la voie vers de nouveaux degrés de souplesse en matière de découverte scientifique. Grâce à la meilleure résolution et au meilleur contraste du marché, Xradia 620 Versa repousse les limites de l'imagerie non destructive pour offrir la flexibilité et le discernement révolutionnaires essentiels à vos recherches.
Avantages :
Résolution inférieure au micron
Techniques avancées de contraste de phase pour une meilleure qualité d'image
Caractérisation non destructive in situ et en 4D
Rayonnement X plus élevé et balayage plus rapide sans compromettre la résolution
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