3D-Rekonstruktion von Serienschnitten aus Wurzelknöllchen mit Plasmodesmenverteilung

Software für spezifische Workflows und Anwendungen

Die passende Lösung für Ihre Aufgabe

TEM-Lamellenpräparation und volumetrische Bildgebung bei Tieftemperatur

Correlative Cryo Workflow

Volumetrische Bildgebung bei Tieftemperatur

Der ZEISS Correlative Cryo Workflow integriert die Weitfeldmikroskopie, Laser-Scanning-Mikroskopie und FIB-Rasterelektronenmikroskopie nahtlos in einen gemeinsamen, bedienfreundlichen Arbeitsablauf. Mit ihrer speziell entwickelten Hardware und Software erfüllt diese Lösung dabei die besonderen Anforderungen von Experimenten bei extrem tiefen Temperaturen. Sie unterstützt die Lokalisierung fluoreszierender Makromoleküle, macht die kontrastreiche Abbildung von Volumendaten möglich und erlaubt für die Kryo-Elektronentomografie die Lamellenpräparation direkt auf dem Grid.

Dreidimensionale Licht- und Elektronenmikroskopie für Serienschnitte

Correlative Array Tomography

Großflächige korrelative 3D-Mikroskopie

Sie erstellen automatisch Hunderte Schnitte Ihrer biologischen Proben über mehrere Längenskalierungen, die Sie anschließend mit Correlative Array Tomography zu einem korrelativen Volumendatensatz zusammenführen. Nutzen Sie Licht- und Elektronenmikroskope für großflächige und korrelierte mikroskopische Darstellungen in 3D und profitieren Sie von passender Software für die präzise Rekonstruktion von Probenvolumina.

Multidimensionale Herausforderungen meistern

Atlas 5

Multidimensionale Herausforderungen meistern

Mit der Erstellung detailreicher multidimensionaler sowie multimodaler Bilder in einer probenorientierten, korrelativen Umgebung erweitern Sie die Möglichkeiten von ZEISS SEM, XRM und FIB-SEM. Da der modulare Aufbau die Anpassung an spezifische Anforderungen in der material- und biowissenschaftlichen Forschung wie Nanopatterning und Array-Tomografie erlaubt, ist mit Atlas 5 die Navigation und Korrelation von Bildern aus verschiedenen Quellen möglich. Sie profitieren von einer großflächigen Bildgebung, dem Correlative Workspace und einer grafischen Benutzeroberfläche, bei der die Probe im Zentrum des Workflows steht.

Speziell auf Ihre Anforderungen abgestimmte Lösungen für die Partikelanalyse

Korrelative Analyse im Nanobereich

Passgenaue Lösungen für die Partikelanalyse

ZEISS Systeme analysieren Partikel auf Filtern und geben Einblick in die chemische Zusammensetzung des Materials. Mit einem Elektronenmikroskop und SmartPI automatisieren Sie die Analyse für bis zu 200.000 Partikel. ZEISS bietet zudem das korrelative Partikelanalysesystem CAPA an – die optimale Lösung für die Verbindung von licht- und elektronenmikroskopischen Analysen, die Ergebnisse bis zu 10-mal schneller liefert.

Smart Particle Investigator

SmartPI

Smart Particle Investigator

Mit SmartPI steht Ihnen ein automatisiertes Tool für die Partikelanalyse zur Verfügung, das Partikel im Nanometerbereich selbst am Rand des Sehfelds präzise zählt und per EDS deren chemische Zusammensetzung analysiert. Sie legen die gewünschten Analyseebenen fest und erstellen während des EDS- und SEM-Betriebs aussagekräftige, gut dokumentierte Berichte.

Und das alles über eine einzige zentrale Bedienoberfläche. Die Software stellt eine Reihe von Auswertungsverfahren und Offline-Analysen bereit und ermöglicht es, Partikel aus Messungen oder Statistiken auszuschließen.

Phasenidentifizierung und Texturanalysen in 2D und 3D

Mineralogic

Automatisierte quantitative Mineralogie

ZEISS Mineralogic automatisiert mit hochmoderner SEM- und 3D-Röntgenmikroskopie und KI-gestützten Deep-Learning-Algorithmen die quantitative Mineralanalyse. So erweitern Sie Ihre Möglichkeiten bei der Analyse und steigern Ihre Produktivität – und schaffen damit ideale Voraussetzungen für anspruchsvolle geologische Probenuntersuchungen. ZEISS Mineralogic erfüllt verschiedenste Erfordernisse: von umfassenden petrologischen Untersuchungen über durchsatzstarke Workflows bei der Mineralherauslösung bis zur quantitativen Geochemie.

Sie besitzen bereits ein ZEISS Mikroskop?

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