ZEN Correlative Array Tomography
Dreidimensionale Licht- und Elektronenmikroskopie für Serienschnitte
Mit Array Tomography rekonstruieren Sie Probenvolumina anhand von Serienschnitten. Sie erstellen aus in Harz gegossenen Gewebeproben mit einem Ultramikrotom eine Abfolge von Schnitten, die Sie anschließend abbilden. Nach der automatisierten Aufnahme mit einem Lichtmikroskop überführen Sie die Probe in das Elektronenmikroskop, das über dieselben Software-Tools verfügt. Sie erstellen automatisch Hunderte von Schnitten über mehrere Längenskalierungen, die Sie anschließend zu einem korrelativen Volumendatensatz zusammenführen.
Großflächige korrelative 3D-Mikroskopie
Das korrelative Imaging einer großen Zahl von Serienschnitten ist nun einfacher denn je: Sie umranden einen der Schnitte einfach im Schnittband. ZEN Correlative Array Tomography erkennt und markiert daraufhin automatisch alle weiteren Schnitte. Anschließend zeichnen Sie in einem beliebigen Schnitt den Interessensbereich ein. Die Software empfiehlt die optimale Einrichtung für die Kachelaufnahme und übernimmt den Interessensbereich auch automatisch für alle anderen Schnitte.
Assistentengeführte Workflows
Mit ZEN Correlative Array Tomography steht Ihnen für die Arbeit am Licht- und am Elektronenmikroskop mit Ausnahme einiger gerätespezifischer Parameter dieselbe Softwareumgebung zur Verfügung. Software-Assistenten begleiten Sie Schritt für Schritt bei der Erfassung hunderter Serienschnitte am Lichtmikroskop. Anschließend überführen Sie die Probe in das Elektronenmikroskop. ZEN Correlative Array Tomography liefert alle nötigen Informationen für die nahtlose Bildgebung derselben Bereiche in Nanometerauflösung.
Rekonstruktion korrelativer 3D-Datensätze
Mit ZEN Correlative Array Tomography fügen Sie Bilder aus Licht- und Elektronenmikroskop einschließlich Ausrichtung und Rekonstruktion zu 3D-Stapeln zusammen. Anschließend kombinieren Sie die entsprechenden licht- und elektronenmikroskopischen Datensätze zu einem korrelativen 3D-Volumen. Sie erhalten eine optimierte z-Auflösung, die auf der Schnittdicke und nicht auf optischen Einschränkungen beruht. So können Sie kleinste Details in den Daten aus Licht- und Elektronenmikroskopie untersuchen – alles mit derselben Software.