ZEISS LSM 900 für Materialien
Produkt

ZEISS LSM 900 für Materialien

Vielseitiges Konfokalmikroskop für erweiterte Bildgebung und Oberflächentopografie

Das konfokale Laser-Scanning-Mikroskop ZEISS LSM 900 ist das ideale System für Ihre Materialanalysen. Charakterisieren Sie damit die Oberflächentopografie von dreidimensionalen Mikrostrukturen, in Ihrem Labor oder in einer Einrichtung mit mehreren Benutzern. Kombinieren Sie die hochpräzisen Topografien mit allen für Materialien wichtigen lichtmikroskopischen Kontrastverfahren. Sie sparen Zeit bei der Einrichtung, da Sie das Mikroskop nicht zu wechseln brauchen. Und Sie können die Oberflächenrauheit mit berührungsloser konfokaler Bildgebung bewerten. LSM 900 ist das ideale Werkzeug für eine Mehrbenutzerumgebung. Erweitern Sie Ihr aufrechtes Lichtmikroskop ZEISS Axio Imager.Z2m oder Ihr inverses Lichtmikroskop ZEISS Axio Observer 7 mit einem konfokalen Scanning-Modul.

  • Kombinieren Sie Lichtmikroskopie und konfokale Bildgebung
  • Effiziente Untersuchung Ihrer Probe
  • Für erweiterte Bildgebung
Schadenanalyse eines Mobiltelefons, Texturbild, Overlay, farbkodiertes Höhenbild (von links nach rechts)

Kombinieren Sie Lichtmikroskopie und konfokale Bildgebung

LSM 900, die High-End-Plattform für konfokale Bildgebung, wurde für anspruchsvolle Materialanwendungen in 2D und 3D konzipiert. Ihre Möglichkeiten:

  • Charakterisieren Sie topografische Strukturen und bewerten Sie die Oberflächenrauheit mittels berührungsloser konfokaler Bildgebung​
  • Bestimmen Sie zerstörungsfrei die Dicke von Beschichtungen und Dünnfilmen​
  • Verwenden Sie vielzählige Bildgebungstechniken, einschließlich Polarisation und Fluoreszenz im optischen Kontrast oder im Konfokalmodus​
  • Charakterisieren Sie materialographische Proben im Auflicht sowie Dünnschliffe aus Gestein oder Polymer im Durchlicht
Imaging leicht gemacht mit geführten Workflows

Effiziente Untersuchung Ihrer Probe

Da Sie Zeit beim Einrichten sparen, kommen Sie so schneller zu einem Ergebnis. Denn sowohl für die Bildgebung als auch für Topografieanalyse benötigen Sie nur ein einziges Mikroskop.

  • Optimieren Sie Ihre Prozesse durch automatisierte Datenerfassung an mehreren Stellen Ihrer Probe​
  • Legen Sie einfach einen Interessenbereich (ROI) auf Ihrem Übersichtsbild fest und erfassen Sie nur den für Sie relevanten Ausschnitt​
  • Ihr Vorteil: Sie haben die volle Flexibilität bezüglich Größe und Ausrichtung der ROI mit einem Scanfeld von 6144 × 6144 Pixel​
  • Behalten Sie die volle Kontrolle über Ihre Daten und deren Nachbearbeitung
Einrichtung des Konfokalmikroskops LSM 900 Mat.

Für erweiterte Bildgebung​

Ein Konfokal-System erweitert die Möglichkeiten Ihres Weitfeld-Lichtmikroskops:

  • Sie können Axio Imager.Z2m oder Axio Observer 7 mit LSM 900 erweitern und die Vielseitigkeit der Hardware nutzen, wie z. B. Objektive, Probentische und Beleuchtung sowie Software und Schnittstellen​
  • Nehmen Sie ZEISS ZEN Intellesis hinzu, die Machine-Learning-Lösung für die Segmentierung von Bildern und die Identifizierung von Phasen​
  • Mit der Erweiterung ZEISS ZEN Connect können bei multimodalen Experimenten Bilder aus beliebigen Quellen ganz einfach überlagert und organisiert werden​
  • Oder verwalten Sie Ihre Daten auf die smarte Weise mit ZEISS ZEN Data Storage
      Ultrafeine optische Schnitte im Mikrometerbereich
      Ultrafeine optische Schnitte im Mikrometerbereich

      Konfokales Prinzip

      Untersuchen Sie Ihre gesamte Probe in 3D

      So funktioniert Ihr Laser-Scanning-Konfokalmikroskop LSM 900: Es verwendet Laserlicht in einem konfokalen Strahlengang, um definierte optische Schnitte Ihrer Probe zu erzeugen. Die Schnitte werden in einem dreidimensionalen Bildstapel dargestellt. Seine Apertur (normalerweise als Lochblende bezeichnet) ist so angeordnet, dass Informationen außerhalb des Fokusbereichs blockiert werden und nur die innerhalb der Fokus-Ebene liegenden Informationen verarbeitet werden.

      Bildbeschreibung: Ultrafeine optische Schnitte im Mikrometerbereich

      Konfokales Prinzip
      Schema des konfokalen Prinzips. Im Fokus befindliche Informationen (gelb). Außerhalb des Fokus befindliche Informationen (rot und blau gestrichelte Linien).
      Schema des konfokalen Prinzips. Im Fokus befindliche Informationen (gelb). Außerhalb des Fokus befindliche Informationen (rot und blau gestrichelte Linien).

      Schema des konfokalen Prinzips. Im Fokus befindliche Informationen (gelb). Außerhalb des Fokus befindliche Informationen (rot und blau gestrichelte Linien).

      Untersuchen Sie Ihre gesamte Probe in 3D

      Das LSM 900 ist ein konfokales Laser-Scanning-Mikroskop. Es verwendet Laserlicht in einem konfokalen Strahlengang, um definierte optische Schnitte Ihrer Probe zu erzeugen und diese in einem dreidimensionalen Bildstapel darzustellen. Seine Apertur (normalerweise als Lochblende bezeichnet) ist so angeordnet, dass Informationen außerhalb des Fokusbereichs blockiert werden und nur die innerhalb der Fokus-Ebene liegenden Informationen verarbeitet werden.

      • Ein Bild wird durch Scannen in X- und Y-Richtung erzeugt. Fokussierte Stellen erscheinen hell, nicht fokussierte Stellen werden dunkel dargestellt.
      • Die Probe wird durch Veränderung der Entfernung zwischen Probe und Objektiv in optische Schnitte zerlegt und es wird ein Bildstapel erzeugt.
      • Die Höhe des Objekts wird durch die Analyse der Intensitätsverteilung eines einzelnen Pixels über den gesamten Bildstapel hinweg berechnet. Die Höheninformationen des gesamten Sehfelds werden in einem Höhenbild zusammengesetzt.

      Software

      Bildschirmfotos, Software, ConfoMap-Benutzerinterface, Fokus auf 3D-Ansicht
       Bildschirmfotos, Software, ConfoMap-Benutzerinterface, Fokus auf 3D-Ansicht

      Untersuchen Sie Oberflächen in 3D mit ConfoMap​

      ConfoMap ist ideal, um die Oberflächentopografie in 3D zu visualisieren und zu prüfen. Sie können die Qualität und Funktionsfähigkeit von Oberflächen nach den neuesten messtechnischen Normen, z. B. der ISO 25178 bewerten. Binden Sie umfassende Geometrie-, Funktions- und Rauheitsstudien ein. Erstellen Sie detaillierte Berichte zur Oberflächenanalyse. Und Sie können Ihr System noch weiter ergänzen: mit optionalen Modulen für die erweiterte Oberflächenstrukturanalyse, Konturanalyse, Korn- und Partikelanalyse, 3D-Fourieranalyse, sowie für die Analyse der Oberflächenentwicklung und für Statistiken.

      Vertrauen Sie auf die Objektiv-Reihe C Epiplan-Apochromat

      Die apochromatisch und bildfeldwölbungskorrigierte Objektivserie C Epiplan-Apochromat für Auflichtanwendungen.

      • Sie profitieren von erhöhtem Kontrast und der hohen Transmission im sichtbaren Spektralbereich.
      • Sie erzielen optimale Ergebnisse in der konventionellen Weitfeldmikroskopie, im Differentialinterferenzkontrast (DIC) und in der Fluoreszenz.
      • C Epiplan-Apochromat-Objektive sind speziell für die Konfokalmikroskopie konzipiert und erreichen minimale Aberrationen bei 405 nm über das gesamte Sehfeld. Sie erhalten mehr Details von Ihrer Probenoberfläche, da präzise Topografie-Daten mit weniger Rauschen und weniger Artefakten erzeugt werden.

      Sehen Sie den Effekt von Objektiven für die Konfokalmikroskopie:

      Das Bild zeigt keine Artefakte an Kanten und kein Rauschen auf der ebenen Fläche.
      Probe aufgenommen mit C Epiplan-Apochromat-Objektiv, 3D-Ansicht mit extrahierter Profillinie
      Artefakte an Kanten und Rauschen auf der ebenen Fläche sind in diesem Bild deutlich sichtbar.
      Probe, die mit einem Objektiv ohne Korrektur für 405 nm aufgenommen wurde
      Identifizieren Sie Farbpigmente mit unterschiedlichen Anregungswellenlängen.
      Identifizieren Sie Farbpigmente mit unterschiedlichen Anregungswellenlängen.

      Identifizieren Sie Farbpigmente mit unterschiedlichen Anregungswellenlängen. Bildbreite 1,47 mm.

      Identifizieren Sie Farbpigmente mit unterschiedlichen Anregungswellenlängen. Bildbreite 1,47 mm.

      Laser-Konfiguration

      Wählen Sie einen Laser – abgestimmt auf Ihre individuellen Anforderungen​

      Sie haben die Wahl zwischen zwei Optionen, um den Anwendungsbereich Ihres Konfokalmikroskops zu erweitern:

      • Für die Bildgebung mit hoher lateraler Auflösung bis zu 120 nm wählen Sie das Einkanalsystem mit dem Ultraviolettlasermodul (405 nm Wellenlänge). Das entspricht einem Produkt der Laserklasse 2
      • Bei Anwendungen wie dem Beobachten von Zellwachstum auf Biomaterialien konfigurieren Sie das LSM 900 mit dem Lasermodul URGB (mit den vier Laserwellenlängen 405, 488, 561 und 640 nm). Die Multi-Anregungswellenlänge ermöglicht es, die Verteilung von fluoreszierenden Komponenten zu erfassen

      Anwendungen

      • Laserpolierte Oberfläche einer additiv gefertigten Legierung.​
      • Unterschiedliche Größen von Austenit- und Ferritkörnern in dem Bereich einer Schweißnaht eines Duplex-Edelstahls.
      • Mehrschichtiges System, zwei Schichten eines zusammengesetzten Polymerverbunds.​
      • Keramikoberfläche. Farbkodiertes Höhenbild.​
      • Volumenmessung einer Vertiefung. 3D-Ansicht eines farbkodierten Höhenbilds.
      • Untersuchung der Porosität von Sandstein. 3D-Darstellung von Fluoreszenzfarbstoffen, berührungslose Oberflächenmessung, 4×4-Kachelbild.
      • Farbkodierte 3D-Ansicht eines diffraktiven, optischen Elements in einem Dokument, gängige Verwendung als Sicherheitsmerkmal.
      • Schadenanalyse eines Mobiltelefons, Texturbild, Überlagerung, farbkodiertes Höhenbild (von links nach rechts).​
      • Laserpolierte Oberfläche einer additiv gefertigten Legierung.​

        Metalle und Legierungen

        Laserpolierte Oberfläche einer additiv gefertigten Legierung.​

        Metalle und Legierungen. Laserpolierte Oberfläche einer additiv gefertigten Legierung.​

        Metalle und Legierungen. Laserpolierte Oberfläche einer additiv gefertigten Legierung.​

      • Unterschiedliche Größen von Austenit- und Ferritkörnern in dem Bereich einer Schweißnaht eines Duplex-Edelstahls.

        Stahl

        Unterschiedliche Größen von Austenit- und Ferritkörnern in dem Bereich einer Schweißnaht eines Duplex-Edelstahls.

        Stahl. Unterschiedliche Größen von Austenit- und Ferritkörnern in dem Bereich einer Schweißnaht eines Duplex-Edelstahls. Bildbreite 445 µm.

        Stahl. Unterschiedliche Größen von Austenit- und Ferritkörnern in dem Bereich einer Schweißnaht eines Duplex-Edelstahls. Bildbreite 445 µm.

      • Mehrschichtiges System, zwei Schichten eines zusammengesetzten Polymerverbunds.​

        Polymere und Verbundstoffe

        Mehrschichtiges System, zwei Schichten eines zusammengesetzten Polymerverbunds.​

        Polymere und Verbundstoffe. Mehrschichtiges System, zwei Schichten eines zusammengesetzten Polymerverbunds.​

        Polymere und Verbundstoffe. Mehrschichtiges System, zwei Schichten eines zusammengesetzten Polymerverbunds.​

      • Keramikoberfläche. Farbkodiertes Höhenbild.​

        Keramikoberfläche

        Keramikoberfläche. Farbkodiertes Höhenbild.​

        Keramikoberfläche. Farbkodiertes Höhenbild.​

        Keramikoberfläche. Farbkodiertes Höhenbild.​

      • Volumenmessung einer Vertiefung. 3D-Ansicht eines farbkodierten Höhenbilds.

        Metallprüfung auf Materialverschleiß​

        Volumenmessung einer Vertiefung. 3D-Ansicht eines farbkodierten Höhenbilds.

        Metallprüfung auf Materialverschleiß. Volumenmessung einer Vertiefung. 3D-Ansicht eines farbkodierten Höhenbilds. Parameter wie Volumen, Oberfläche, Tiefe, Umfang und Komplexität können als Bericht ausgegeben werden.

        Metallprüfung auf Materialverschleiß. Volumenmessung einer Vertiefung. 3D-Ansicht eines farbkodierten Höhenbilds. Parameter wie Volumen, Oberfläche, Tiefe, Umfang und Komplexität können als Bericht ausgegeben werden.

      • Untersuchung der Porosität von Sandstein. 3D-Darstellung von Fluoreszenzfarbstoffen, berührungslose Oberflächenmessung, 4×4-Kachelbild.

        Sandsteinporosität

        Untersuchung der Porosität von Sandstein. 3D-Darstellung von Fluoreszenzfarbstoffen, berührungslose Oberflächenmessung, 4×4-Kachelbild.

        Sandsteinporosität. Untersuchung der Porosität von Sandstein. 3D-Darstellung von Fluoreszenzfarbstoffen, berührungslose Oberflächenmessung, 4×4-Kachelbild.

        Sandsteinporosität. Untersuchung der Porosität von Sandstein. 3D-Darstellung von Fluoreszenzfarbstoffen, berührungslose Oberflächenmessung, 4×4-Kachelbild.

      • Farbkodierte 3D-Ansicht eines diffraktiven, optischen Elements in einem Dokument, gängige Verwendung als Sicherheitsmerkmal.

        Dokumente

        Farbkodierte 3D-Ansicht eines diffraktiven, optischen Elements in einem Dokument, gängige Verwendung als Sicherheitsmerkmal.

        Dokumente. Farbkodierte 3D-Ansicht eines diffraktiven, optischen Elements in einem Dokument, gängige Verwendung als Sicherheitsmerkmal.

        Dokumente. Farbkodierte 3D-Ansicht eines diffraktiven, optischen Elements in einem Dokument, gängige Verwendung als Sicherheitsmerkmal.

      • Schadenanalyse eines Mobiltelefons, Texturbild, Überlagerung, farbkodiertes Höhenbild (von links nach rechts).​

        Fehleranalysen

        Schadenanalyse eines Mobiltelefons, Texturbild, Überlagerung, farbkodiertes Höhenbild (von links nach rechts).​

        Schadenanalyse. Schadenanalyse eines Mobiltelefons, Texturbild, Überlagerung, farbkodiertes Höhenbild (von links nach rechts). Bildbreite 1,1 mm.

        Schadenanalyse. Schadenanalyse eines Mobiltelefons, Texturbild, Überlagerung, farbkodiertes Höhenbild (von links nach rechts). Bildbreite 1,1 mm.

      Downloads

        • ZEISS LSM 900 für Materialien

          Das vielseitige Konfokalmikroskop für erweiterte Bildgebung und Oberflächentopografie

          Dateigröße: 10 MB
        • ZEISS Lösungen für die Entwicklung, Fertigung und Analyse von Halbleitern

          Schnellere Digitalisierung und Innovation in der Halbleiterelektronik

          Dateigröße: 84 MB
        • ZEISS Microscopy Solutions for Steel and Other Metals

          Multi-modal characterization and advanced analysis options for industry and research

          Dateigröße: 14 MB
        • Lichtmikroskopische Analyse der intrinsischen Eigenschaften hartmagnetischer Phasen aus der Domänenstruktur

          Dateigröße: 2 MB
        • Microscopy in Metal Failure Investigations

          Determine the root cause of metal failure and learn about microscopy tool set for any metal failure investigation

          Dateigröße: 4 MB
        • Beam Path of ZEISS LSM 900

          Dateigröße: 912 KB

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