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ZEISS Axio Imager 2 für die Materialanalyse
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ZEISS Axio Imager 2 für die Materialanalyse

Offenes Mikroskopsystem für automatisierte Materialforschung​

Erleichtern Sie Ihren Workflow für lichtmikroskopische Untersuchungen in der erweiterten Materialforschung. Und profitieren Sie von präzisen und reproduzierbaren Ergebnissen mit ZEISS Axio Imager 2. Dieses System wurde mit Blick auf die Anwendungen in der Materialforschung entwickelt: So können Sie Ihr System mit dedizierten Lösungen erweitern, z. B. für die Partikelanalyse, die Konfokalmikroskopie oder die korrelative Mikroskopie.

  • Reproduzierbare Ergebnisse
  • Modulares Design​
  • Hohe optische Leistung
Reproduzierbare Ergebnisse – Profitieren Sie von einer schwingungsfreien Arbeitsumgebung​

Reproduzierbare Ergebnisse​

Profitieren Sie von einer schwingungsfreien Arbeitsumgebung​

Stabilität ist für gute Ergebnisse unverzichtbar. Gerade bei starker Vergrößerung und der Durchführung zeitabhängiger Studien machen stabile Imaging-Bedingungen den entscheidenden Unterschied. Axio Imager 2 gibt Ihnen diese Sicherheit. Durch die Motorisierung arbeiten Sie immer unter konstanten Bedingungen und bekommen auf diese Weise schnelle, reproduzierbare Ergebnisse.

Modulares Design – Für noch mehr Flexibilität​

Modulares Design​

Für noch mehr Flexibilität​

Ob in der wissenschaftlichen oder der industriellen Forschung: Die Materialmikroskopie muss viele verschiedene Herausforderungen meistern. Mit Axio Imager 2 gelingt das. Durch das Anbringen anwendungsspezifischer Komponenten können Sie beispielsweise Partikelanalysen durchführen. Oder Sie untersuchen nichtmetallische Einschlüsse (NMI), Flüssigkristalle und halbleiterbasierte MEMs. Auch in der Konfokal- und korrelativen Mikroskopie bietet ZEISS dedizierte Erweiterungen und Lösungen für die anspruchsvollsten Aufgaben.

Hohe optische Leistung – Überragender Kontrast, exzellente Auflösung

Hohe optische Leistung

Überragender Kontrast, exzellente Auflösung
  • Untersuchen Sie die unterschiedlichsten Materialien, z. B. Metalle, Verbundstoffe oder Flüssigkristalle mit verschiedenen Kontrastverfahren. ​
  • Nutzen Sie Auflicht und betrachten Sie Ihre Proben in Hellfeld, Dunkelfeld, Differentialinterferenzkontrast (DIC), zirkularem differenziellem Interferenzkontrast (C-DIC), Polarisation oder Fluoreszenz. ​
  • Mit Durchlicht untersuchen Sie Ihre Proben in Hellfeld, Dunkelfeld, Differentialinterferenzkontrast (DIC), Polarisation oder zirkularer Polarisation. Der Kontrastmanager sorgt für reproduzierbare Beleuchtungseinstellungen.
  • Diese polierte Probe zeigt Gusseisen mit Kugelgraphit. Sie sehen eine Aufnahme desselben Bereichs mit verschiedenen Kontrastverfahren (Sehfeld: 265 µm). Hellfeld
  • Diese polierte Probe zeigt Gusseisen mit Kugelgraphit. Sie sehen eine Aufnahme desselben Bereichs mit verschiedenen Kontrastverfahren (Sehfeld: 265 µm). Dunkelfeld​
  • Diese polierte Probe zeigt Gusseisen mit Kugelgraphit. Sie sehen eine Aufnahme desselben Bereichs mit verschiedenen Kontrastverfahren (Sehfeld: 265 µm). Polarisation (gekreuzte Polare)​
  • Diese polierte Probe zeigt Gusseisen mit Kugelgraphit. Sie sehen eine Aufnahme desselben Bereichs mit verschiedenen Kontrastverfahren (Sehfeld: 265 µm). Polarisation mit zusätzlichem Lambda-Kompensator
  • Diese polierte Probe zeigt Gusseisen mit Kugelgraphit. Sie sehen eine Aufnahme desselben Bereichs mit verschiedenen Kontrastverfahren (Sehfeld: 265 µm). Zirkularer Differentialinterferenzkontrast (C-DIC)​
  • Diese polierte Probe zeigt Gusseisen mit Kugelgraphit. Sie sehen eine Aufnahme desselben Bereichs mit verschiedenen Kontrastverfahren (Sehfeld: 265 µm). Hellfeld

    Hellfeld​

    Diese polierte Probe zeigt Gusseisen mit Kugelgraphit. Sie sehen eine Aufnahme desselben Bereichs mit verschiedenen Kontrastverfahren (Sehfeld: 265 µm). Hellfeld

    Hellfeld

    Hellfeld
  • Diese polierte Probe zeigt Gusseisen mit Kugelgraphit. Sie sehen eine Aufnahme desselben Bereichs mit verschiedenen Kontrastverfahren (Sehfeld: 265 µm). Dunkelfeld​

    Dunkelfeld

    Diese polierte Probe zeigt Gusseisen mit Kugelgraphit. Sie sehen eine Aufnahme desselben Bereichs mit verschiedenen Kontrastverfahren (Sehfeld: 265 µm). Dunkelfeld​

    Dunkelfeld​

    Dunkelfeld
  • Diese polierte Probe zeigt Gusseisen mit Kugelgraphit. Sie sehen eine Aufnahme desselben Bereichs mit verschiedenen Kontrastverfahren (Sehfeld: 265 µm). Polarisation (gekreuzte Polare)​

    Polarisation (gekreuzte Polare)​

    Diese polierte Probe zeigt Gusseisen mit Kugelgraphit. Sie sehen eine Aufnahme desselben Bereichs mit verschiedenen Kontrastverfahren (Sehfeld: 265 µm). Polarisation (gekreuzte Polare)​

    Polarisation (gekreuzte Polare)​

    Polarisation (gekreuzte Polare)
  • Diese polierte Probe zeigt Gusseisen mit Kugelgraphit. Sie sehen eine Aufnahme desselben Bereichs mit verschiedenen Kontrastverfahren (Sehfeld: 265 µm). Polarisation mit zusätzlichem Lambda-Kompensator

    Polarisation mit zusätzlichem Lambda-Kompensator

    Diese polierte Probe zeigt Gusseisen mit Kugelgraphit. Sie sehen eine Aufnahme desselben Bereichs mit verschiedenen Kontrastverfahren (Sehfeld: 265 µm). Polarisation mit zusätzlichem Lambda-Kompensator

    Polarisation mit zusätzlichem Lambda-Kompensator

    Polarisation mit zusätzlichem Lambda-Kompensator
  • Diese polierte Probe zeigt Gusseisen mit Kugelgraphit. Sie sehen eine Aufnahme desselben Bereichs mit verschiedenen Kontrastverfahren (Sehfeld: 265 µm). Zirkularer Differentialinterferenzkontrast (C-DIC)​

    Zirkularer Differentialinterferenzkontrast (C-DIC)​

    Diese polierte Probe zeigt Gusseisen mit Kugelgraphit. Sie sehen eine Aufnahme desselben Bereichs mit verschiedenen Kontrastverfahren (Sehfeld: 265 µm). Zirkularer Differentialinterferenzkontrast (C-DIC)​

    Zirkularer Differentialinterferenzkontrast (C-DIC)​

    Zirkularer Differentialinterferenzkontrast (C-DIC)

Auswahl an Kontrastverfahren​

Diese polierte Probe zeigt Gusseisen mit Kugelgraphit. Sie sehen eine Aufnahme desselben Bereichs mit verschiedenen Kontrastverfahren (Sehfeld: 265 µm). Bilder mit freundlicher Genehmigung von Dr. H.-L. Steyer, Kesselsdorf, Deutschland.​

Ergonomie: So vielseitig wie die Oberflächen, die Sie prüfen​

Ergonomie

So vielseitig wie die Oberflächen, die Sie prüfen​

Axio Imager.Z2m und Axio Imager.M2m fassen alle wichtigen Bedienfunktionen auf einem Touchscreen zusammen. Dort können Sie alle motorischen Komponenten per Fingerdruck steuern. Weitere Bedienknöpfe sind ergonomisch um den Fokustrieb angeordnet und durch ihre haptischen Oberflächen leicht zu unterscheiden. Axio Imager.D2m hat fünf vorkonfigurierte Knöpfe, Axio Imager.Z2m zehn frei belegbare Bedienknöpfe. Axio Imager.A2m ist kodiert.

Thermomikroskopie: Flexible Dokumentation von Temperaturänderungen

Thermomikroskopie

Flexible Dokumentation von Temperaturänderungen

Sie möchten den Einfluss der Temperatur auf das Verhalten von Metallen, Kristallen, Keramik oder Kunststoffen untersuchen?​

Mit ZEN core und Heiztischen von Linkam definieren Sie präzise den Verlauf von Wärme- oder Kühlexperimenten. Dokumentieren Sie temperaturabhängige Veränderungen in einer Zeitreihe. Das Resultat ist ein Protokoll der Temperatur- und Vakuumdaten in jedem Zeitreihenbild. Beobachten Sie im Rahmen der Qualitätskontrolle die Veränderung der Probe während des Heiz- oder Kühlprozesses.

  • Materialwissenschaften – Flüssigkristall​

    Materialwissenschaften – Flüssigkristall​

    Materialwissenschaften – Flüssigkristall​ A. Getsis und A. Mudring, Ruhr-Universität, Bochum, Deutschland​
    A. Getsis und A. Mudring, Ruhr-Universität, Bochum, Deutschland​

    Flüssigkristalline Phase von [C14mim]Br bei 100 ºC auf einem THMS 600 Linkam Heiztisch, Polarisationskontrast, Objektiv: EC EPIPLAN 10×/0,20. Bild mit freundlicher Genehmigung von​

     

    Materialwissenschaften – Flüssigkristall
  • Materialwissenschaften – Metalle​

    Materialwissenschaften – Metalle​

    Materialwissenschaften – Metalle​

    AlNi3,5 nach Barker Anodisation, Polarisationskontrast, Objektiv: EC EPIPLAN NEOFLUAR 20×/0,50. Bild mit freundlicher Genehmigung von ACCESS e.V. Aachen und Gießerei-Institut der RWTH Aachen, Deutschland

    Materialwissenschaften – Metalle
  • Industrielle Mikroskopie​

    Industrielle Mikroskopie​

    Industrielle Mikroskopie​

    Struktur einer Holzmöbeloberfläche, Dunkelfeld, Objektiv: EC Epiplan APOCHROMAT 10×/0,30​

    Industrielle Mikroskopie
  • Materialwissenschaften – Magnetische Materialien

    Materialwissenschaften – Magnetische Materialien​

    Materialwissenschaften – Magnetische Materialien

    Kerr-Effekt im Weiss-Bezirk von Nd2Fe14B.

    Materialwissenschaften – Magnetische Materialien
  • Materialwissenschaften – Kohlefaser​

    Materialwissenschaften – Kohlefaser​

    Materialwissenschaften – Kohlefaser​

    Fluoreszenzbild des Querschnitts einer Kohlefaser, aufgenommen mit Axio Imager​

    Materialwissenschaften – Kohlefaser
  • Solarzelle​

    Solarzelle​

    Solarzelle​

    Oberfläche einer monokristallinen Silizium-Solarzelle, Axio Imager, EC Epiplan-APOCHROMAT 100×/0,95

    Solarzelle​
  • Geowissenschaften
    Geowissenschaften

    Komplexes Mehrphasengemisch aus Sandsteinen unter dem Kreuzpolarisationsmikroskop

    Geowissenschaften​

Anwendungen

Anwendungsbeispiele aus der Metallografie.

Weitere Anwendungen

Downloads

    • Vorschaubild von ZEISS Axio Imager 2

      ZEISS Axio Imager 2

      Ihr offenes Mikroskopsystem fur automatisierte Materialforschung
      9 MB
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    • Vorschaubild von Mikroskop- und Messsysteme für Qualitätssicherung und -kontrolle

      Mikroskop- und Messsysteme für Qualitätssicherung und -kontrolle

      Erfassen Sie das Wesen Ihres Bauteils: Schnell. Einfach. Übergreifend.
      5 MB
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    • Vorschaubild von ZEISS Microscopy Solutions for Steel and Other Metals

      ZEISS Microscopy Solutions for Steel and Other Metals

      Multi-modal characterization and advanced analysis options for industry and research
      14 MB
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    • Vorschaubild von Analysis and Quantification of Non-metallic Inclusions in Steel

      Analysis and Quantification of Non-metallic Inclusions in Steel

      Shuttle & Find
      1 MB
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    • Vorschaubild von Lichtmikroskopische Analyse der intrinsischen Eigenschaften hartmagnetischer Phasen aus der Domänenstruktur

      Lichtmikroskopische Analyse der intrinsischen Eigenschaften hartmagnetischer Phasen aus der Domänenstruktur

      2 MB
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    • Vorschaubild von Hellfeld- und Polarisationslichtmikroskopie an Sintermagneten auf Fe-Nd-B-Basis

      Hellfeld- und Polarisationslichtmikroskopie an Sintermagneten auf Fe-Nd-B-Basis

      mittels ZEISS Axio Imager.Z2m
      2 MB
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    • Vorschaubild von Mikroskopieanwendungen in der additiven Fertigung

      Mikroskopieanwendungen in der additiven Fertigung

      Verwendung von ZEISS Licht- und Elektronenmikroskopsystemen
      2 MB
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    • Vorschaubild von Optical Analysis of Shape and Roughness of a Gear Wheel

      Optical Analysis of Shape and Roughness of a Gear Wheel

      1 MB
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    • Vorschaubild von Topography and Refractive Index Measurement

      Topography and Refractive Index Measurement

      of a Sub-μm Transparent Film on an Electronic Chip by Correlation of Scanning Electron and Confocal Microscopy
      1 MB
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    • Vorschaubild von ZEISS Microscopy Solutions for Oil & Gas

      ZEISS Microscopy Solutions for Oil & Gas

      Understanding reservoir behavior with pore scale analysis
      7 MB
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