ZEISS Axio Imager 2 pour la recherche sur les matériaux
Produit

ZEISS Axio Imager 2 pour la recherche sur les matériaux

Microscope ouvert pour l'analyse automatisée des matériaux​

Simplifiez le processus de microscopie optique en effectuant des recherches avancées sur les matériaux. Obtenez des résultats précis et reproductibles grâce à ZEISS Axio Imager 2 pour l’analyse des matériaux. Choisissez le système sur mesure pour vos applications. Élargissez les capacités de votre instrument grâce à des solutions dédiées, par exemple pour l'analyse des particules, la microscopie confocale ou corrélative.

  • Résultats reproductibles
  • Conception modulaire​
  • Performances optiques de haut niveau
Résultats reproductibles - Profitez de conditions d'observation sans vibrations​

Résultats reproductibles​

Profitez de conditions d'observation sans vibrations​

La stabilité est un facteur essentiel pour obtenir des résultats exploitables. Découvrez les conditions d'imagerie parfaitement stables d'Axio Imager 2, notamment lorsque vous travaillez à de forts grossissements ou effectuez des études dans un délai restreint. La motorisation d'Axio Imager 2 vous permet d'obtenir des résultats rapides et reproductibles en travaillant dans des conditions constantes.

Conception modulaire - Gagnez en flexibilité​

Conception modulaire​

Gagnez en flexibilité​

Pour la recherche universitaire comme pour la recherche industrielle, la microscopie des matériaux est confrontée à plusieurs défis. Axio Imager 2 vous aide à les surmonter. Installez sur le microscope les composants dont vous avez besoin pour votre application et effectuez, par exemple, une analyse des particules. Examinez les inclusions non métalliques (NMI), les cristaux liquides ou les systèmes MEM sur semi-conducteurs. Élargissez les capacités de votre instrument grâce à des solutions dédiées à la microscopie confocale ou corrélative.

Des performances optiques de haut niveau - Un contraste et une résolution irréprochables

Performances optiques de haut niveau

Un contraste et une résolution irréprochables

  • Examinez une large gamme de matériaux tels les métaux, les matériaux composites ou les cristaux liquides à l'aide de différentes techniques de contraste. ​
  • Utilisez la lumière réfléchie et observez vos échantillons en champ clair, champ sombre, contraste interférentiel (DIC) ou interférentiel circulaire (C-DIC), polarisation ou fluorescence. ​
  • Utilisez la lumière transmise et examinez vos échantillons en champ clair, champ sombre, contraste interférentiel (DIC), polarisation ou polarisation circulaire. Le gestionnaire de contraste garantit la reproductibilité des réglages d'éclairage.
  • Fonte à graphite sphéroïdal, échantillon poli, site identique capturé avec différentes techniques de contraste (champ d'observation 265 µm). Champ clair
  • Fonte à graphite sphéroïdal, échantillon poli, site identique capturé avec différentes techniques de contraste (champ d'observation 265 µm). Champ sombre​
  • Fonte à graphite sphéroïdal, échantillon poli, site identique capturé avec différentes techniques de contraste (champ d'observation 265 µm). Polarisation (polarisation croisée)​
  • Fonte à graphite sphéroïdal, échantillon poli, site identique capturé avec différentes techniques de contraste (champ d'observation 265 µm). Polarisation avec compensateur lambda supplémentaire
  • Fonte à graphite sphéroïdal, échantillon poli, site identique capturé avec différentes techniques de contraste (champ d'observation 265 µm). Contraste interférentiel circulaire (C-DIC)​
  • Fonte à graphite sphéroïdal, échantillon poli, site identique capturé avec différentes techniques de contraste (champ d'observation 265 µm). Champ clair

    Champ clair​

    Fonte à graphite sphéroïdal, échantillon poli, site identique capturé avec différentes techniques de contraste (champ d'observation 265 µm). Champ clair

    Champ clair

    Champ clair

  • Fonte à graphite sphéroïdal, échantillon poli, site identique capturé avec différentes techniques de contraste (champ d'observation 265 µm). Champ sombre​

    Champ sombre

    Fonte à graphite sphéroïdal, échantillon poli, site identique capturé avec différentes techniques de contraste (champ d'observation 265 µm). Champ sombre​

    Champ sombre​

    Champ sombre

  • Fonte à graphite sphéroïdal, échantillon poli, site identique capturé avec différentes techniques de contraste (champ d'observation 265 µm). Polarisation (polarisation croisée)​

    Polarisation (polarisation croisée)​

    Fonte à graphite sphéroïdal, échantillon poli, site identique capturé avec différentes techniques de contraste (champ d'observation 265 µm). Polarisation (polarisation croisée)​

    Polarisation (polarisation croisée)​

    Polarisation (polarisation croisée)

  • Fonte à graphite sphéroïdal, échantillon poli, site identique capturé avec différentes techniques de contraste (champ d'observation 265 µm). Polarisation avec compensateur lambda supplémentaire

    Polarisation avec compensateur lambda supplémentaire

    Fonte à graphite sphéroïdal, échantillon poli, site identique capturé avec différentes techniques de contraste (champ d'observation 265 µm). Polarisation avec compensateur lambda supplémentaire

    Polarisation avec compensateur lambda supplémentaire

    Polarisation avec compensateur lambda supplémentaire

  • Fonte à graphite sphéroïdal, échantillon poli, site identique capturé avec différentes techniques de contraste (champ d'observation 265 µm). Contraste interférentiel circulaire (C-DIC)​

    Contraste interférentiel circulaire (C-DIC)​

    Fonte à graphite sphéroïdal, échantillon poli, site identique capturé avec différentes techniques de contraste (champ d'observation 265 µm). Contraste interférentiel circulaire (C-DIC)​

    Contraste interférentiel circulaire (C-DIC)​

    Contraste interférentiel circulaire (C-DIC)

Le choix des techniques de contraste​

Fonte à graphite sphéroïdal, échantillon poli, site identique capturé avec différentes techniques de contraste (champ d'observation 265 µm). Images : avec l'aimable autorisation du Dr H.-L. Steyer, Kesselsdorf, Allemagne.​

Ergonomie : Autant de facettes que vos surfaces​

Ergonomie

Autant de facettes que vos surfaces​

Axio Imager.Z2m ou Axio Imager.M2m affichent les principales fonctions sur un écran tactile, vous permettant de commander tous les composants motorisés du bout des doigts. Des boutons de commande supplémentaires munis de surfaces tactiles qui les rendent facilement identifiables sont disposés de façon ergonomique autour de la commande de mise au point. Axio Imager.D2m dispose de cinq touches préprogrammées et Axio Imager.Z2m est doté de dix touches programmables par l'utilisateur. Axio Imager.A2m est un système encodé.

Thermomicroscopie : Documentation simplifiée des variations de température

La thermomicroscopie

Documentation simplifiée des variations de température

Vous souhaitez examiner l'influence de la température sur le comportement des métaux, des cristaux, des céramiques ou des matières plastiques ?​

Avec ZEN core et les platines chauffantes Linkam, vous définissez vous-même vos expériences de chauffage ou de refroidissement. Documentez l'évolution de la température dans une vidéo en time-lapse et obtenez un journal rassemblant les données de température et de vide dans chaque image en time-lapse. Observez les changements de l'échantillon durant le processus de chauffage ou de refroidissement, par exemple dans le domaine du contrôle qualité.

  • Science des matériaux – Cristaux liquides​

    Science des matériaux – Cristaux liquides​

    Science des matériaux – Cristaux liquides​ A. Getsis et A. Mudring, Université de la Ruhr, Bochum, DE​
    A. Getsis et A. Mudring, Université de la Ruhr, Bochum, DE​

    Phase cristalline liquide du [C14mim]Br à 100 ºC sur une platine chauffante THMS 600 Linkam, contraste par polarisation, objectif : EC EPIPLAN 10x/0.20. Image : avec l'aimable autorisation de​

     

    Science des matériaux – Cristaux liquides

  • Science des matériaux - Métaux​

    Science des matériaux - Métaux​

    Science des matériaux - Métaux​

    AlNi3,5 anodisé, réactif de Barker, contraste par polarisation, objectif : EC EPIPLAN NEOFLUAR 20x/0.50. Image fournie avec l'aimable autorisation de ACCESS e.V. Aachen et Foundry Institute de l'école supérieure polytechnique RWTH d'Aix-la-Chapelle, DE​

    Science des matériaux - Métaux

  • Microscopie industrielle​

    Microscopie industrielle​

    Microscopie industrielle​

    Structure de la surface d'un bois de mobilier en champ sombre, objectif : EC Epiplan APOCHROMAT 10x/0.30​

    Microscopie industrielle

  • Science des matériaux - Matériaux magnétiques

    Science des matériaux - Matériaux magnétiques​

    Science des matériaux - Matériaux magnétiques

    Effet Kerr du domaine magnétique Nd2Fe14B.

    Science des matériaux - Matériaux magnétiques

  • Science des matériaux - Fibre de carbone​

    Science des matériaux - Fibre de carbone​

    Science des matériaux - Fibre de carbone​

    Image en fluorescence d'une coupe transversale de fibre de carbone capturée sur Axio Imager​

    Science des matériaux - Fibre de carbone

  • Cellule solaire​

    Cellule solaire​

    Cellule solaire​

    Surface d'une cellule solaire au silicium monocristallin, Axio Imager, EC Epiplan-APOCHROMAT 100x/0.95

    Cellule solaire​

  • Géoscience
    Géoscience

    Mélange complexe multiphase de grès par microscopie optique à polarisation croisée

    Géoscience​

Applications

En savoir plus sur les applications de métallographie.

Téléchargements

    • ZEISS Axio Imager 2

      Your Open Microscope System for Automated Material Analysis

      Pages: 23
      Taille du fichier: 9 MB
    • Microscope and Measurement Systems for Quality Assurance and Quality Control

      Capture the essentials of your component. Quickly. Simply. Comprehensively.

      Pages: 41
      Taille du fichier: 4 MB
    • ZEISS Microscopy Solutions for Steel and Other Metals

      Multi-modal characterization and advanced analysis options for industry and research

      Pages: 11
      Taille du fichier: 14 MB
    • Analysis and Quantification of Non-metallic Inclusions in Steel

      Shuttle & Find

      Pages: 6
      Taille du fichier: 1 MB
    • Applications of Microscopy in Additive Manufacturing

      Utilizing ZEISS Light and Electron Microscope Systems

      Pages: 7
      Taille du fichier: 2 MB
    • Light Microscopic Analysis of the Intrinsic Properties of Magnetically Hard Phases from the Domain Structure

      Pages: 7
      Taille du fichier: 2 MB
    • Optical Analysis of Shape and Roughness of a Gear Wheel

      Pages: 6
      Taille du fichier: 1 MB
    • Topography and Refractive Index Measurement

      of a Sub-μm Transparent Film on an Electronic Chip by Correlation of Scanning Electron and Confocal Microscopy

      Pages: 6
      Taille du fichier: 1 MB
    • ZEISS Microscopy Solutions for Oil & Gas

      Understanding reservoir behavior with pore scale analysis

      Pages: 8
      Taille du fichier: 7 MB

Contact ZEISS Microscopy

Contact

Chargement du formulaire en cours...

/ 4
Étape suivante :
  • Étape 1
  • Étape 2
  • Étape 3
Contactez-nous
Informations requises
Informations facultatives

Si vous souhaitez avoir plus d'informations concernant le traitement de vos données par ZEISS, veuillez consulter la politique de confidentialité.