材料研究向けZEISS Axio Imager 2
製品

材料研究向けZEISS Axio Imager 2

カスタマイズ対応光学顕微鏡システムによる材料分析の自動化​

先端材料研究における光学顕微鏡のワークフローに使いやすさが加わりました。材料研究向けのZEISS Axio Imager 2により、正確で再現性のある結果が得られます。アプリケーションに合ったシステムをお選びください。粒子解析や共焦点顕微鏡、相関顕微鏡向けの専用ソリューションを利用すれば、装置をさらに拡張できます。

  • 再現性のある結果
  • モジュラー設計​
  • 優れた光学性能
再現性のある結果 - 無振動の作業環境​

再現性のある結果​

無振動の作業環境​

優れた結果を得るには、システムの安定性が欠かせません。Axio Imager 2の安定したイメージング性能は、高倍率での作業や長時間にわたる観察に最適です。電動のAxio Imager 2なら、常に一定の条件下で作業しつつ、迅速に再現性のある結果を得られます。

モジュラー設計 - 高い柔軟性​

モジュラー設計​

高い柔軟性​

学術研究であれ、産業研究であれ、材料研究向けの顕微鏡は様々な課題に直面します。Axio Imager 2なら、それらの課題をクリアし、優れた結果が得られます。アプリケーションに適したユニットを取り付けることで、粒子解析や、非金属介在物(NMI)、液晶、半導体MEMSの解析が可能となります。共焦点顕微鏡や相関顕微鏡向けの専用ソリューションを使用し、装置をさらに拡張できます。

優れた光学性能 - 高コントラスト・高分解能を達成

優れた光学性能

高コントラスト・高分解能を達成

  • 様々なコントラスト法を使用して、金属、複合材料、液晶などの多岐にわたる材料を検査できます。 ​
  • 反射光による試料の観察には、明視野、暗視野、微分干渉コントラスト(DIC)、円偏光微分干渉コントラスト(C-DIC)、偏光、蛍光を使用可能です。 ​
  • 透過光による試料の観察には、明視野、暗視野、微分干渉コントラスト(DIC)、偏光、円偏光が使用可能です。また、コントラストマネージャーが照明設定を忠実に再現します。
  • 研磨した球状黒鉛鋳鉄試料の同じ部位を異なるコントラスト法で観察(実視野265 µm)。明視野
  • 研磨した球状黒鉛鋳鉄試料の同じ部位を異なるコントラスト法で観察(実視野265 µm)。暗視野​
  • 研磨した球状黒鉛鋳鉄試料の同じ部位を異なるコントラスト法で観察(実視野265 µm)。偏光観察(クロスニコル)​
  • 研磨した球状黒鉛鋳鉄試料の同じ部位を異なるコントラスト法で観察(実視野265 µm)。ラムダコンペンセータを追加した偏光観察
  • 研磨した球状黒鉛鋳鉄試料の同じ部位を異なるコントラスト法で観察(実視野265 µm)。円偏光微分干渉コントラスト(C-DIC)​
  • 研磨した球状黒鉛鋳鉄試料の同じ部位を異なるコントラスト法で観察(実視野265 µm)。明視野

    明視野​

    研磨した球状黒鉛鋳鉄試料の同じ部位を異なるコントラスト法で観察(実視野265 µm)。明視野

    明視野

    明視野

  • 研磨した球状黒鉛鋳鉄試料の同じ部位を異なるコントラスト法で観察(実視野265 µm)。暗視野​

    暗視野

    研磨した球状黒鉛鋳鉄試料の同じ部位を異なるコントラスト法で観察(実視野265 µm)。暗視野​

    暗視野​

    暗視野

  • 研磨した球状黒鉛鋳鉄試料の同じ部位を異なるコントラスト法で観察(実視野265 µm)。偏光観察(クロスニコル)​

    偏光観察(クロスニコル)​

    研磨した球状黒鉛鋳鉄試料の同じ部位を異なるコントラスト法で観察(実視野265 µm)。偏光観察(クロスニコル)​

    偏光観察(クロスニコル)​

    偏光観察(クロスニコル)

  • 研磨した球状黒鉛鋳鉄試料の同じ部位を異なるコントラスト法で観察(実視野265 µm)。ラムダコンペンセータを追加した偏光観察

    ラムダコンペンセータを追加した偏光観察

    研磨した球状黒鉛鋳鉄試料の同じ部位を異なるコントラスト法で観察(実視野265 µm)。ラムダコンペンセータを追加した偏光観察

    ラムダコンペンセータを追加した偏光観察

    ラムダコンペンセータを追加した偏光観察

  • 研磨した球状黒鉛鋳鉄試料の同じ部位を異なるコントラスト法で観察(実視野265 µm)。円偏光微分干渉コントラスト(C-DIC)​

    円偏光微分干渉コントラスト(C-DIC)​

    研磨した球状黒鉛鋳鉄試料の同じ部位を異なるコントラスト法で観察(実視野265 µm)。円偏光微分干渉コントラスト(C-DIC)​

    円偏光微分干渉コントラスト(C-DIC)​

    円偏光微分干渉コントラスト(C-DIC)

コントラスト法の選択肢​

研磨した球状黒鉛鋳鉄試料の同じ部位を異なるコントラスト法で観察(実視野265 µm)。画像ご提供:Dr. H.-L. Steyer, Kesselsdorf, Germany

人間工学に基づいた設計:様々な試料面に対応​

人間工学に基づいた設計

様々な試料面に対応​

Axio Imager.Z2mとAxio Imager.M2mのタッチスクリーンには、主要な機能が表示されるため、すべての電動ユニットを指一本で操作できます。フォーカスドライブ周辺にあるコントロールボタンは、人間工学に基づいて配置されており、触って識別しやすい設計になっています。Axio Imager.D2mにはあらかじめプログラムされた5つのボタン、Axio Imager.Z2mにはユーザーが設定できる10のボタンがあります。Axio Imager.A2mはエンコードされています。

熱顕微鏡:温度変化をフレキシブルに記録

熱顕微鏡

温度変化をフレキシブルに記録

金属、結晶、セラミックス、プラスチックの温度に伴う変化を観察したいとお考えですか?​

ZEN coreとLinkam社の加熱ステージを使用することで、加熱実験や冷却実験が可能になります。タイムラプス撮影中の温度変化を記録すると、各タイムラプスイメージで温度と真空状態データの記録を取得できます。品質管理などにおける、加熱または冷却中の試料の変化観察にご利用ください。

  • 材料科学 – 液晶​

    材料科学 – 液晶​

    材料科学 – 液晶​ A. Getsis and A. Mudring, Ruhr University, Bochum, Germany​
    A. Getsis and A. Mudring, Ruhr University, Bochum, Germany​

    [C14mim]Brの液晶相、100ºC、Linkam社の加熱ステージTHMS600、偏光コントラスト、対物レンズ:EC EPIPLAN 10x/0.20。画像ご提供:​

     

    材料科学 – 液晶

  • 材料科学 – 金属​

    材料科学 – 金属​

    材料科学 – 金属​

    Barker試薬による陽極酸化処理後のAlNi3/5、偏光コントラスト、対物レンズ:EC EPIPLAN NEOFLUAR 20x/0.50画像ご提供:ACCESS e.V. Aachen and Foundry Institute of RWTH Aachen University, Germany

    材料科学 – 金属

  • 工業用顕微鏡​

    工業用顕微鏡​

    工業用顕微鏡​

    家具木材表面の構造、暗視野、対物レンズ:EC Epiplan APOCHROMAT10x/0.30

    工業用顕微鏡

  • 材料科学 – 磁性材料

    材料科学 – 磁性材料​

    材料科学 – 磁性材料

    磁石化合物Nd2Fe14BのKerr効果。

    材料科学 – 磁性材料

  • 材料科学 – 炭素繊維​

    材料科学 – 炭素繊維​

    材料科学 – 炭素繊維​

    Axio Imagerによる炭素繊維断面の蛍光画像

    材料科学 – 炭素繊維

  • 太陽電池​

    太陽電池​

    太陽電池​

    単結晶シリコン太陽電池の表面。Axio Imager、EC Epiplan-APOCHROMAT100x/0.95

    太陽電池​

  • 地球科学
    地球科学

    交差極光顕微鏡による砂岩の複雑な多層構造の観察

    地球科学​

アプリケーション

金属材料解析のアプリケーションをご紹介します。

ダウンロード

    • ZEISS Axio Imager 2

      材料解析を自動化する光学顕微鏡システム

      ページ: 23
      ファイルサイズ: 2 MB
    • 工業用セラミックス研究のためのZEISS顕微鏡ソリューション

      先端セラミックス設計のための2D、3D、4Dソリューション

      ページ: 19
      ファイルサイズ: 1 MB
    • Microscope and Measurement Systems for Quality Assurance and Quality Control

      Capture the essentials of your component. Quickly. Simply. Comprehensively.

      ページ: 41
      ファイルサイズ: 4 MB
    • 鉄鋼・その他の金属のための

      ZEISS 顕微鏡ソリューション

      ページ: 20
      ファイルサイズ: 12 MB
    • Analysis and Quantification of Non-metallic Inclusions in Steel

      Shuttle & Find

      ページ: 6
      ファイルサイズ: 1 MB
    • Applications of Microscopy in Additive Manufacturing

      Utilizing ZEISS Light and Electron Microscope Systems

      ページ: 7
      ファイルサイズ: 2 MB
    • Light Microscopic Analysis of the Intrinsic Properties of Magnetically Hard Phases from the Domain Structure

      ページ: 7
      ファイルサイズ: 2 MB
    • Optical Analysis of Shape and Roughness of a Gear Wheel

      ページ: 6
      ファイルサイズ: 1 MB
    • Topography and Refractive Index Measurement

      of a Sub-μm Transparent Film on an Electronic Chip by Correlation of Scanning Electron and Confocal Microscopy

      ページ: 6
      ファイルサイズ: 1 MB
    • ZEISS Microscopy Solutions for Oil & Gas

      Understanding reservoir behavior with pore scale analysis

      ページ: 8
      ファイルサイズ: 7 MB
    • Kính hiển vi ZEISS Axio Imager 2 (Vietnamese Version)

      Hệ thống kính hiển vi thiết kế mở dành cho Phân tích vật liệu tự động

      ページ: 23
      ファイルサイズ: 8 MB

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