用于材料研究的蔡司Axio Imager 2
产品

用于材料研究的蔡司Axio Imager 2

用于自动材料分析的开放式显微镜系统​

在您从事先进的材料研究时,Axio Imager 2可帮助简化光学显微镜工作流。蔡司Axio Imager 2能够对材料生成准确且可重复的结果。选择适合您应用的系统,使用颗粒分析等专用共聚焦或关联显微镜解决方案扩展您的设备。

  • 可重复的结果
  • 模块化设计​
  • 高光学性能
可重复的结果——享受无振动的工作环境​

可重复的结果​

享受无振动的工作环境​

如要获得准确的结果,稳定性必不可少。Axio Imager 2具有稳定的成像条件,而在使用高放大倍率或进行对时间有高要求的研究时,该特性更为显著。Axio Imager 2的电动化设计可以获得快速且可重复的结果,同时始终在恒定条件下工作。

模块化设计——获得更大的灵活性​

模块化设计​

获得更大的灵活性​

无论是学术还是工业研究,材料显微镜都面临着各种各样的挑战。借助Axio Imager 2,您将能够直面并战胜这些挑战。您可以连接特定于应用的组件,进行颗粒分析等工作,也可以检测非金属夹杂物(NMI)、液晶或基于半导体的MEM。借助专用共聚焦或关联显微镜解决方案,您的设备功能将得到扩展。

高光学性能——实现出色衬度和分辨率

高光学性能

实现出色衬度和分辨率

  • 使用不同观察方式观测金属、复合材料或液晶等一系列材料。 ​
  • 使用反射光,在明场、暗场、微分干涉相差(DIC)、圆微分干涉相差(C-DIC)、偏光或荧光下观察样品。 ​
  • 使用透射光,在明场、暗场、微分干涉相差(DIC)、偏光或圆偏光下检测样品。观察方式管理器能确保照明设置可复制。
  • 球墨铸铁,抛光样品,使用不同观察方式在相同位置成像(观察视野265 µm)。明场
  • 球墨铸铁,抛光样品,使用不同观察方式在相同位置成像(观察视野265 µm)。暗场​
  • 球墨铸铁,抛光样品,使用不同观察方式在相同位置成像(观察视野265 µm)。偏光(正交偏光)​
  • 球墨铸铁,抛光样品,使用不同观察方式在相同位置成像(观察视野265 µm)。使用附加了Lambda补偿器的偏光
  • 球墨铸铁,抛光样品,使用不同观察方式在相同位置成像(观察视野265 µm)。圆微分干涉相差(C-DIC)​
  • 球墨铸铁,抛光样品,使用不同观察方式在相同位置成像(观察视野265 µm)。明场

    明场​

    球墨铸铁,抛光样品,使用不同观察方式在相同位置成像(观察视野265 µm)。明场

    明场

    明场

  • 球墨铸铁,抛光样品,使用不同观察方式在相同位置成像(观察视野265 µm)。暗场​

    暗场

    球墨铸铁,抛光样品,使用不同观察方式在相同位置成像(观察视野265 µm)。暗场​

    暗场​

    暗场

  • 球墨铸铁,抛光样品,使用不同观察方式在相同位置成像(观察视野265 µm)。偏光(正交偏光)​

    偏光(正交偏光)​

    球墨铸铁,抛光样品,使用不同观察方式在相同位置成像(观察视野265 µm)。偏光(正交偏光)​

    偏光(正交偏光)​

    偏光(正交偏光)

  • 球墨铸铁,抛光样品,使用不同观察方式在相同位置成像(观察视野265 µm)。使用附加了Lambda补偿器的偏光

    使用附加了Lambda补偿器的偏光

    球墨铸铁,抛光样品,使用不同观察方式在相同位置成像(观察视野265 µm)。使用附加了Lambda补偿器的偏光

    使用附加了Lambda补偿器的偏光

    使用附加了Lambda补偿器的偏光

  • 球墨铸铁,抛光样品,使用不同观察方式在相同位置成像(观察视野265 µm)。圆微分干涉相差(C-DIC)​

    圆微分干涉相差(C-DIC)​

    球墨铸铁,抛光样品,使用不同观察方式在相同位置成像(观察视野265 µm)。圆微分干涉相差(C-DIC)​

    圆微分干涉相差(C-DIC)​

    圆微分干涉相差(C-DIC)

观察方式选择​

球墨铸铁,抛光样品,使用不同观察方式在相同位置成像(观察视野265 µm)。图像:由德国凯瑟尔斯多夫的H.-L. Steyer博士提供。

人体工程学:表面应用无极限​

人体工程学设计

表面应用无极限​

Axio Imager.Z2m或Axio Imager.M2m可在触摸屏上显示关键操作功能,手指轻松点击便可控制所有电动组件。其他控制按钮依照人体工程学设计排列在对焦驱动装置周边,带有触觉反馈的表面使其易于区分。Axio Imager.D2m有5个预编程按钮,Axio Imager.Z2m则有10个用户自定义按钮。Axio Imager.A2m已编码。

热显微技术:灵活记录温度变化

热显微技术

灵活记录温度变化

您是否想研究温度对金属、晶体、陶瓷或塑料的影响?​

借助ZEN core和Linkam加热台,您可以定制加热或冷却实验。在时间序列中温度模式会得到记录,实验结果将包含每幅时间序列图像中的温度和真空数据。您可以在质量控制等应用领域中观察样品在加热和冷却过程中的变化。

  • 材料科学——液晶​

    材料科学——液晶​

    材料科学——液晶​ 德国波鸿鲁尔大学的A. Getsis和A. Mudring提供​
    德国波鸿鲁尔大学的A. Getsis和A. Mudring提供​

    [C14mim]Br在100℃时在THMS 600 Linkam加热台上的液晶相,偏光观察方式,物镜:EC EPIPLAN 10x/0.20。图像:由​

     

    材料科学——液晶

  • 材料科学——金属​

    材料科学——金属​

    材料科学——金属​

    以Barker偏光观察阳极氧化的AlNi3.5,物镜:EC EPIPLAN NEOFLUAR 20x/0.50。图像:由德国亚琛ACCESS e.V.和亚琛工业大学铸造研究所提供

    材料科学——金属

  • 工业显微镜​

    工业显微镜​

    工业显微镜​

    家具木材表面结构,暗场,物镜:EC Epiplan APOCHROMAT 10x/0.30​

    工业显微镜

  • 材料科学——磁性材料

    材料科学——磁性材料​

    材料科学——磁性材料

    Nd2Fe14B磁畴的Kerr效应。

    材料科学——磁性材料

  • 材料科学——碳纤维​

    材料科学——碳纤维​

    材料科学——碳纤维​

    Axio Imager拍摄的碳纤维截面荧光图像

    材料科学——碳纤维

  • 太阳能电池​

    太阳能电池​

    太阳能电池​

    单晶硅太阳能电池表面,Axio Imager,EC Epiplan-APOCHROMAT 100x/0.95

    太阳能电池​

  • 地球科学
    地球科学

    砂岩的复杂多相混合物,通过正交偏光显微镜成像

    地球科学​

应用

探索更多金相应用。

下载

    • ZEISS Axio Imager 2

      Your Open Microscope System for Automated Material Analysis

      页: 23
      文件大小: 9 MB
    • Microscope and Measurement Systems for Quality Assurance and Quality Control

      Capture the essentials of your component. Quickly. Simply. Comprehensively.

      页: 41
      文件大小: 4 MB
    • ZEISS Microscopy Solutions for Steel and Other Metals

      Multi-modal characterization and advanced analysis options for industry and research

      页: 11
      文件大小: 14 MB
    • Analysis and Quantification of Non-metallic Inclusions in Steel

      Shuttle & Find

      页: 6
      文件大小: 1 MB
    • Applications of Microscopy in Additive Manufacturing

      Utilizing ZEISS Light and Electron Microscope Systems

      页: 7
      文件大小: 2 MB
    • Light Microscopic Analysis of the Intrinsic Properties of Magnetically Hard Phases from the Domain Structure

      页: 7
      文件大小: 2 MB
    • Optical Analysis of Shape and Roughness of a Gear Wheel

      页: 6
      文件大小: 1 MB
    • Topography and Refractive Index Measurement

      of a Sub-μm Transparent Film on an Electronic Chip by Correlation of Scanning Electron and Confocal Microscopy

      页: 6
      文件大小: 1 MB
    • ZEISS Microscopy Solutions for Oil & Gas

      Understanding reservoir behavior with pore scale analysis

      页: 8
      文件大小: 7 MB

联系蔡司显微镜事业部

联系方式

正在加载表格...

/ 4
下一步:
  • 第1步
  • 第2步
  • 第3步
联系我们
必填信息
选填信息

如欲了解更多关于蔡司数据处理的信息,请参阅我们的数据隐私声明