服务和支持

Xradia Versa升级

延长使用寿命
和扩展功能

配件

使用其他配件升级您的显微镜以增强其性能

样品载具

可安全地安装多种样品尺寸和类型

蔡司样品载具采用运动学原理设计,以确保可在样品载物台上精准可重复地放置样品。每项设计都提供特有的夹持技术,可正确调整您的样品以进行成像。此外,这些设计在X射线成像稳定性方面也得到了验证。指定您的安装是用于标准用途还是与Autoloader兼容。

优势:

  • 支持稳定的机械和热固定技术
  • 轻松开/关更换
  • 自动感应(与Autoloader兼容)

产品传单

 

CT校准模体和滤光片选项

根据您的成像应用需求定制X射线光谱,并将您的灰度数据与合适的亨氏单位相关联

通过使用蔡司CT校准模体,确保将您的数据正确校准为亨氏单位,其中空气和水的值分别为0和100。了解蔡司为更高能量过滤要求和冶金等应用提供的附加滤光片选项,扩展您的低能量和高能量滤光片范围。

优势:

  • 准确校准灰度数据
  • 从减少射束硬化伪影中受益
  • 改善致密或较大材料的传输
  • 体验更高放大倍率

产品传单

分析和软件

通过使用蔡司提供的先进硬件和计算软件,提升用户体验和分析工作流的深度

蔡司Advanced Reconstruction Toolbox(蔡司高级重构工具箱)

更好的图像质量,更高的处理效率

Advanced Reconstruction Toolbox(ART)将人工智能(AI)驱动的重构技术引入到蔡司Xradia 3D X射线显微镜(XRM)或microCT中。对X射线物理特性和应用的深入了解可让您以全新的创新方式解决一些非常困难的成像挑战。

了解如何通过OptiRecon、两种版本的DeepRecon、以及ART的特有模块PhaseEvolve,在不牺牲分辨率的情况下,提高数据采集和重构速度以及图像质量。

优势一览

使用Advanced Reconstruction Toolbox,您可以:
  • 改善数据采集和分析,确保准确快速的决策
  • 大幅提升图像质量
  • 对于各种不同类型的样品,都可以实现出色的内部断层扫描成像质量或高处理效率
  • 通过改善后的衬度和信噪比来呈现细微的图像差异
  • 对于需要重复工作流程的样品类型,速度可提升一个数量级

可选模块是基于工作站的解决方案,便于访问,简单易用:

  • DeepRecon Pro & Custom,基于深度学习的重构技术
  • PhaseEvolve,增强对比度
  • OptiRecon,用于迭代重构
  • 蔡司Advanced Reconstruction Toolbox(蔡司高级重构工具箱)

    使用蔡司Xradia 620 Versa和DeepRecon Pro获取的相机镜头的三维X射线数据集

蔡司DeepRecon Pro提供了一种直接、简单和强大的人工智能和深度神经网络技术应用,可在没有深度学习技术背景知识的情况下,改善X射线断层扫描结果。[...] 在原位流体-岩石相互作用实验中,当我们基于普通的重构技术需要较长的曝光时间时,它可以帮助我们减少所需的扫描时间。

Markus Ohl博士

X射线显微镜 | EPOS-NL MINT | 荷兰乌特勒支大学

分析工作站

经过配置和验证的可视化和计算性能

为保持成像设备的正常运行时间,多数人更倾向于通过辅助分析工作站简化其工作流。辅助工作站支持额外的用于优化重构、导航、可视化数据集以及后处理结果的研究。

优势:

  • 尽可能延长成像运行时间
  • 提高获取结果的效率
  • 支持高级可视化和分析软件套装
  • 可靠地扩展数据存储

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ORS Dragonfly Pro

易于使用的高级分析和可视化软件解决方案

ORS Dragonfly Pro仅由蔡司提供,为可视化和分析大型3D灰度数据提供了一个直观、完整、可量身定制的工具包。您可用Dragonfly Pro对三维数据进行导航、注释以及创建包括视频在内的媒体文件,还可进行图像处理、图像分割和对象分析来量化结果。

优势:

  • 高清晰图形渲染
  • 创建丰富的3D视频
  • 对象分析
  • 机器学习分割
  • 重复工作流的宏记录
  • Python定制软件套装

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软件试用

SmartShield

保护样品,优化实验设置

SmartShield是保护您样品和显微镜的简便解决方案,是Scout-and-ScanTM控制系统中的一部分。只需轻松点击按钮,SmartShield就会在您的样品周围包裹一个数字化的“防撞圈”。这一自动化的解决方案可让您放心将样品移至更接近射线源和探测器的地方。有了SmartShield,新用户和高级用户都可以体验到简洁的样品设置工作流和高效的Versa系统导航。

优势:

  • 5分钟内创建完全集成的快速防撞圈
  • 在三维层面上考虑样品和设备安全
  • 在设置过程中提高操作人员的效率

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原位升级

了解原位X射线应用的附加集成式拉伸测试解决方案

原位Deben载物台

用于原位成像的各种定制测试台

可在Versa系统中安装一个模块化的拉伸和压缩测试系统,以便对材料和复合材料在不同负荷条件下的特性变化进行清晰而直观的解释。

优势:

  • 针对Deben载物台集成原位测试规程控制功能
  • 原位接口套件选配件 

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原位接口套件

优化您的设置和操作流程

此外,Xradia Versa 原位接口套件将优化您的设置和操作流程,更快速地为您提供所需结果,操作更方便。

在Xradia Versa上体验多种原位装置高水平的稳定性、灵活性和集成控制,您将从系统的光学架构设计中受益,该设计考虑到了可变环境条件下的分辨率。进行原位和4D(随时间推移的研究)成像,用以开展加热、冷却、加湿、拉伸、压缩、排出及其他模拟环境的影响。 

优势:

  • 远距离高分辨率(RaaD)技术可实现出色的原位成像 
  • 可定制原位工作流接口套件 

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模块和组件

LabDCT

从您的实验室中了解晶粒结构和晶体结构信息

利用Xnovo Technology公司基于GrainMapper3D软件开发的LabDCT高级成像模块,在无损断层扫描环境中实现三维晶粒取向和形态的直接成像。通过三维显微成像功能,加深对这些工艺背后的基础材料科学的了解。

优势:

  • 采集和重构晶体结构信息
  • 晶粒取向和形态的直接3D成像
  • 无损的晶粒结构信息

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计量扩展

显示最小尺寸——提高测量精度

蔡司通过Xradia Versa X射线显微镜开创了对亚微米细节无损观察的全新领域。您可享受高分辨率X射线成像与高精度计量的结合为您带来的优势。在小于125 mm3的重构体积中,获得经验证的小尺寸测量精度。

优势:

  • 高分辨率下的小体积测量
  • 简单的校准工作流
  • 出色的CT测量精度

产品信息

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Autoloader

使用蔡司Autoloader提高样品处理和重复测量的效率

通过将Autoloader添加到您的配置中,您可以设置跨班次或跨周末的成像作业队列,自动接收作业完成的通知。在您的研究或工业实验室、工艺开发、服务实验室或大学中央成像实验室中,尽可能减少用户干预。

优势:

  • 实现精准且可重复的样品测量
  • 适用于多种样品类型的灵活样品处理
  • 自动化测量设置

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FPX(平板探测器)

增强超大型样品的成像灵活性

FPX为工业与学术研究领域带来了大型样品的成像能力和高效的工作流,快速大面积侦察以确定感兴趣的区域(ROI)。在Xradia 500系列和600系列中将FPX与RaaD相结合,从各种样品的高分辨率成像中获得更多优势。

优势:

  • 具有出色质量的大型样品成像
  • 用于放大ROI的高分辨率图像
  • 5英寸直径样品的完整观察视野和高效率成像

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系统升级

通过型号的升级换代提高设备性能和功能

Xradia 510/520 Versa到Xradia 610/620 Versa

升级到终极多功能性

蔡司Xradia 620 Versa 3D X射线显微镜在科学探索领域为您开启灵活应用的新高度。基于业界出色的高分辨率和衬度成像技术,Xradia 620 Versa大大拓展了无损成像的研究界限,以取得对您研究至关重要的应用灵活性和辨识能力方面的突破。

优势:

  • 达到亚微米分辨率
  • 用于增强图像的高级相位衬度技术
  • 原位和4D无损表征
  • 在不影响分辨率的情况下实现更高的X射线光通量和扫描速度

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联系蔡司显微镜事业部

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