具有原生质丝分布的根瘤连续切片的3D重构。由美国特拉华州立大学的D. Sherrier、J. Caplan、E. Kmiec及S. Modla提供。

用于特定工作流和应用的软件

为您的任务寻找理想的解决方案

冷冻条件下的TEM薄片制备和体积成像

冷冻关联工作流程

冷冻条件下的体积成像

蔡司冷冻关联工作流程将宽场、激光共聚焦和聚焦离子束扫描电子显微镜无缝集成至一个简单易用的程序中。这一解决方案提供了专为满足冷冻关联工作流程需求而设计的软硬件,不仅有助于荧光大分子的定位,还可实现高衬度体积成像,以及为冷冻透射电子断层扫描提供薄片样品制备。

用于连续切片的3D光学与电子显微镜

Correlative Array Tomography

大体积三维关联显微镜

使用Correlative Array Tomography,自动对数百个不同尺度的生物样品切片进行成像,并将其合并为一个关联体积数据集。光学和电子显微镜配备合适的软件,可精准重构样品体积,让您尽享大体积三维关联显微镜的优势。

解决您的多尺度挑战

Atlas 5

解决您的多尺度挑战

通过在以样品为中心的关联环境中创建详细、多尺度和多模态图像,增强蔡司扫描电子显微镜、X射线显微镜和聚焦离子束扫描电子显微镜的功能。借助Atlas 5,可以浏览并关联不同来源的图像,模块化结构确保了可对其进行定制,以满足材料或生命科学研究的特定需求,包括纳米图案化和序列切片成像。大面积成像、关联工作环境以及将样品置于工作流中心的图形用户界面将让您受益匪浅。

按照您的要求量身定制的颗粒度分析解决方案

纳米级和关联分析

量身定制的颗粒度分析解决方案

蔡司系统可以分析滤光片上的微粒,提供关于材料的化学组分信息。利用电子显微镜和SmartPI,系统能够自动分析多达200,000个微粒。此外,蔡司还提供了关联颗粒度分析系统CAPA,其将光学与电子显微镜的分析技术相结合,为用户提供出色的解决方案,可将结果处理速度提高10倍。

Smart Particle Investigator

SmartPI

Smart Particle Investigator

借助SmartPI,您可以利用自动颗粒度分析工具,对纳米范围内的颗粒(甚至位于视野边缘的颗粒)进行准确计数,并对其化学组分进行能量色散X射线谱分析。您只需一个用户界面便可操作能量色散X射线谱和扫描电子显微镜,同时设置适当的分析等级并创建专业、全面的报告。

软件提供了一系列评估方法、离线分析以及从测量或统计中排除颗粒的功能。

在2D和3D环境中进行矿相识别和结构分析

矿物分析系统

自动定量矿物学

蔡司Mineralogic使用先进的扫描电子显微镜和三维X射线显微镜以及基于人工智能的深度学习算法自动进行矿物定量分析。其增强了分析能力,提高了生产率,是对样品进行精准地质分析的理想之选。从深入的岩石学研究到高效率选矿工作流,再到定量地球化学,蔡司Mineralogic解决方案可满足各种需求。

联系蔡司显微镜事业部

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