软件

纳米级和关联分析

按照您的要求量身定制的颗粒度分析解决方案

蔡司系统能够分析滤光片上的颗粒，并让您获得更多关于材料化学组分的信息。使用电子显微镜和SmartPI软件全自动分析多达200,000个颗粒。Correlative Particle Analyzer（关联颗粒度分析系统）是将光学与电子显微镜的分析数据相结合的出色解决方案，且符合ISO 16232和VDA19标准。

快速的纳米级、化学和关联颗粒度分析

对组件和生产过程进行清洁度监控，由此确保机械组件能正常工作。必须避免因裂纹引起的泄漏，减少喷嘴和过滤器堵塞并防止泵和阀门发生故障。

降低维护成本并缩短设备停机时间。
全自动纳米级颗粒度分析软件——蔡司SmartPI

使用电子显微镜，分析滤光片上的多达200,000个颗粒，并选择性地了解材料的化学组分信息——SmartPI让这一切得以全自动化进行。
蔡司关联颗粒度分析

能够在光学和电子显微镜下快速测量与分析多达200个关键颗粒，并快速且高效地对其表征。这套用于颗粒度EDS分析的关联颗粒度分析系统符合ISO 16232和VDA19标准。

SmartPI

SmartPI：自动颗粒度分析

SmartPI是自动颗粒度分析的利器，适用于纳米级颗粒尺寸，其中包括化学组分的EDS分析。即便颗粒位于边界处，也同样能正确计数。您可以在同一用户界面下操作EDS和SEM。另外可使用各种评估方法，如离线分析和在测量或统计数据中排除颗粒，从而正确设定分析等级并创建一份专业、全面的报告。升级您的系统，使其具备关联颗粒度分析（CAPA）性能。

用于自动纳米级颗粒度分析的SmartPI包括：

一台电子显微镜，如EVO、SIGMA、MERLIN、ParticleSCAN、JetSCAN
SmartPI软件

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CAPA

Correlative Particle Analyzer

快速颗粒度分析

选择高分辨率的蔡司显微镜系统进行颗粒度化学分析。
获得结果的速度提高了10倍。
首先，根据颗粒大小对反射（如金属颗粒）和非反射颗粒进行分类，并在光学显微镜下辨识纤维。
然后，将颗粒转移至电子显微镜下进行全自动EDS分析。
最后，在单份报告中结合显示光学显微镜和电子显微镜的分析结果。
符合ISO 16232和VDA19颗粒度分析标准。

用于颗粒度分析的Correlative Particle Analyzer包括：

EVO MA 10电子显微镜
Axio Zoom.V16全电动变倍显微镜
关联样品载具
AxioVision Correlative Particle Analyzer软件

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Correlative Particle Analysis

Quickly Characterize and Classify Particles Supporting ISO 16232 by Light and Electron Microscopy

文件大小: 2 MB

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Particle Analyzer

Analyze Tiny Particles: Accurately and Reproducibly

文件大小: 5 MB

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Automated Microscopic Particle Measurement in the Pharmaceutical Industry

文件大小: 5 MB

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Microscope and Measurement Systems for Quality Assurance and Quality Control

Capture the essentials of your component. Quickly. Simply. Comprehensively.

文件大小: 4 MB

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