蔡司SmartPI——Smart Particle Investigator
软件

蔡司SmartPI

Smart Particle Investigator

颗粒分类的能量色散X射线谱(EDS)
颗粒分类的能量色散X射线谱(EDS)

颗粒分类的能量色散X射线谱(EDS)

自动SEM颗粒分析和分类的解决方案

颗粒检测、分析和分类

Smart Particle Investigator(SmartPI)是先进的颗粒分析和分类解决方案,它将扫描电子显微镜转化为用于工业清洁或金属与钢应用的完整解决方案。SmartPI将SEM控制、图像处理和元素分析(EDS)的各个方面整合到了一个应用程序中。

  • 使用一个软件程序控制SEM成像和进行EDS分析。
  • 执行无人值守的自动颗粒分析。
  • 生成可重复性数据和符合工业标准的报告。
  • 将SmartPI与蔡司光学显微镜颗粒分析解决方案相结合,以配置关联工作流。
  • 蔡司对整个系统的全球性服务和支持为您带来放心体验。
  • SmartPI符合清洁度标准ISO 16232和VDA 19的要求。

为满足工业需求量身定制

SmartPI与一家全球汽车零部件供应商紧密合作开发,该供应商亟需一个功能强大又易于使用的颗粒识别和分类系统。这意味着不仅要考虑到当前的工业清洁度分析要求,还要解决在主要工业环境中的使用性问题,在这些环境中,并非每个操作员都是显微镜专家,而且解决方案还会部署在全球多个地点。

  • 简单是关键

    SmartPI自动化大大简化了操作,因此非显微镜专家也能获得大量可靠的数据。与此同时,更有经验的操作员可以轻松创建或修改配方,并根据特定要求量身定制分析程序。所有配方、系统配置和颗粒数据都存储在一个可审计的数据库中,以便检查和导出数据。

  • 智能颗粒检测

    SmartPI使用复杂的边界颗粒拼接算法,也可对在多个观察视野内对齐的颗粒(包括颗粒数据集中的截断颗粒)进行检测、表征和分类。这一点非常重要,可确保较大的颗粒不会从统计数据中剔除,否则可能影响清洁度或钢质量分析。

  • 完全集成的解决方案

    在一台电脑上使用一个软件程序控制SEM成像和EDS分析。蔡司SmartPI将所有数据聚合一处,确保SEM和EDS数据完整以及数据可以高效地重新调用。即使EDS系统由EDS供应商提供,整套SmartPI系统仍由全球蔡司服务和应用团队提供支持,从而确保所有客户无后顾之忧。

SmartPI应用案例

  • Auto-calibration Procedures
  • Morphological and Chemical Classification
  • Exclusion of fibers, for example, via limitation of the parameter elongation
  • Stop criteria setup page
  • Use the review mode to re-examine single particles and see all of their properties including EDS composition and material classification.
  • SmartPI Explorer navigation window with multi-particle view
  • VDA 19 cleanliness report generated in SmartPI Reporter
  • 自动校准程序
    自动校准程序

    自动校准程序

    自动校准程序

    SmartPI在每次自动运行前以及运行期间会定时执行自我诊断和自动校准程序。这确保了系统的稳定,且结果可以精准重复。如果在自动运行期间发生中断(如需更换灯丝),将启动自动恢复流程。

  • 形态学和化学分类
    形态学和化学分类

    形态学和化学分类

    形态学和化学分类

    SmartPI采用先进的图像处理和分析技术,以测量每个检测到的颗粒的各种形态特征。然后使用EDS分析确定每个颗粒的化学组分。既可使用Spot Mode(点测模式)快速分析颗粒,也可使用高级的蔡司Feature Scan Mode(特征扫描模式)更详细分析颗粒。这样可扫描完整的颗粒形状,提供更准确的分类。

  • 例如:通过限制延伸率(elongation)参数以排除纤维
    例如:通过限制延伸率(elongation)参数以排除纤维。

    例如:通过限制延伸率(elongation)参数以排除纤维。

    例如:通过限制延伸率(elongation)参数以排除纤维。

    测量排除

    为了保持颗粒数据集的连贯性和尽可能减少运行时间,SmartPI可在后续的图像和元素分析中排除那些不感兴趣的颗粒。例如:滤膜上的细长纤维,可能来源于环境中的灰尘,因此与制造过程产生的颗粒没有关系。

  • 停止条件(Stop criteria)的设置页
    停止条件(Stop criteria)的设置页

    停止条件(Stop criteria)的设置页

    停止条件(Stop criteria)的设置页

    高级停止条件

    一系列高级停止条件允许自动运行在达到预定义阈值时自动结束分析。停止条件可包括分析时间、颗粒数或视场计数、颗粒尺寸、特定分类或其他指定条件。该功能可应用于单个或多个样品,从而大大减少总运行时间。实时结果窗口还可使操作员监视进度,并决定是否需要进行干预。

  • 使用review mode(复查模式)重新检查单个颗粒,并了解颗粒的所有特性,包括EDS成分和材料分类。
    使用review mode(复查模式)重新检查单个颗粒,并了解颗粒的所有特性,包括EDS成分和材料分类。

    使用review mode(复查模式)重新检查单个颗粒,并了解颗粒的所有特性,包括EDS成分和材料分类。

    使用review mode(复查模式)重新检查单个颗粒,并了解颗粒的所有特性,包括EDS成分和材料分类。

    交互和回顾颗粒分类

    通过对结果进行详细检查,使用Review Output mode(复查输出模式)来细化和改进分类方案。您还可通过将载物台放回到相应的颗粒坐标来重新检查任何颗粒。回顾分析模式可使您使用新的分类标准重新评估现有的结果——无需重新分析样品。

  • 具有多颗粒视图的SmartPI Explorer导航窗口

    具有多颗粒视图的SmartPI Explorer导航窗口

    具有多颗粒视图的SmartPI Explorer导航窗口

    SmartPI Explorer

    该独立应用程序可让您浏览或搜索单个能谱、颗粒图像、场图像、边界颗粒或其他您选择的筛选器的结果。另外,SmartPI Explorer还包括存档选项,以及根据分析视场创建一张拼接图像的蒙太奇功能。Explorer也可脱机使用,以释放系统分析时间。

  • SmartPI Reporter中生成的VDA 19清洁度报告
    SmartPI Reporter中生成的VDA 19清洁度报告

    SmartPI Reporter中生成的VDA 19清洁度报告

    SmartPI Reporter中生成的VDA 19清洁度报告

    SmartPI报告

    该独立应用程序拥有一系列内置工具,可让您生成专用报告。您可通过拖放控件更改现有报告模板或选择ISO或VDA标准报告。定义报告后,可将其保存为模板,用于将来生成报告。使用SmartPI Reporter可在线立即生成报告,也可后续进行脱机结果分析。

推荐的SEM平台

EVO扫描电子显微镜

EVO扫描电子显微镜

EVO是一款常规SEM,普遍用于常规材料分析或工业质量保证和失效分析。EVO配备大型五轴电动载物台以及简单易用的SmartSEM软件,为颗粒分析应用提供了可灵活配置的成像平台。EVO提供可变压力模式(VP),可进行不导电样品(如滤膜)的成像和分析,而无需导电喷镀,这将确保在后续分析(如Raman或FTIR)时滤膜的完好性。

Sigma场发射扫描电子显微镜

Sigma场发射扫描电子显微镜

Sigma是需要更高分辨率来进行纳米级颗粒度分析的用户的理想SEM。配备Gemini镜筒技术的Sigma可以从场发射扫描电子显微镜(FE-SEM)获得出色的成像能力和精准的分析结果。Gemini光学系统可在一个非常适合元素分析(尤其是对磁性样品)的平台上提供高分辨率成像。

下载

    • ZEISS SmartPI

      Your Automated SEM Particle Analysis and Classification Solution

      页: 19
      文件大小: 8 MB
    • ZEISS SmartPI

      Automated Identification of Asbestos

      页: 7
      文件大小: 11 MB

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