ZEISS SmartPI - Smart Particle Investigator
Logiciel

ZEISS SmartPI

Smart Particle Investigator

Classification des particules par rayons X à dispersion d'énergie (EDS)
Classification des particules par rayons X à dispersion d'énergie (EDS)

Classification des particules par rayons X à dispersion d'énergie (EDS)

Votre solution automatisée d'analyse et de classification des particules par MEB

Détecter, analyser et classer les particules

La solution avancée de classification et d'analyse de particules Smart Particle Investigator (SmartPI) transforme les microscopes électroniques à balayage en solutions clés en main pour la propreté industrielle ou les applications métal et acier. SmartPI intègre tous les aspects du contrôle MEB, du traitement d'image et de l'analyse élémentaire (EDS) au sein d'une même application.

  • Contrôlez l'imagerie MEB et l'analyse EDS avec un seul logiciel.
  • Exécutez des analyses de particules automatisées et sans surveillance.
  • Générez des données reproductibles et des rapports conformes aux normes de l'industrie.
  • Combinez SmartPI avec les solutions d'analyse de particules ZEISS pour la microscopie optique afin de configurer un processus corrélatif.
  • Bénéficiez du service ZEISS global et de l'assistance pour l'ensemble du système.
  • SmartPI est conforme aux normes de propreté ISO 16232 et VDA 19.

Adapté précisément aux besoins de l'industrie

SmartPI a été développé en étroite collaboration avec un fournisseur mondial de composants automobiles. Celui-ci avait besoin d'un système spécifique puissant et facile à utiliser pour identifier et classifier des particules. Non seulement les exigences actuelles en matière d'analyse de la propreté industrielle ont-elles été prises en compte, mais les problèmes de convivialité ont également été résolus pour répondre aux besoins de l'environnement industriel typique. En effet, il convient de prendre en compte le fait que tous les opérateurs ne sont pas des experts en microscopie et que les solutions sont déployées sur plusieurs sites à travers le monde.

  • Le pouvoir de la simplicité

    L'automatisation SmartPI simplifie si bien les opérations qu'il n'est pas nécessaire d'être un expert en microscopie pour obtenir des données de qualité. Les opérateurs plus expérimentés ont quant à eux la possibilité de créer ou de modifier facilement des recettes et d'adapter les routines d'analyse à des exigences spécifiques. Toutes les recettes, les configurations de système et les données sur les particules sont stockées dans une base de données vérifiable, ce qui en facilite l'examen et l'exportation.

  • Détection intelligente des particules

    Grâce à un algorithme sophistiqué d'assemblage des particules en bordure, SmartPI détecte, caractérise et classe également les particules alignées dans plusieurs champs d'observation, y compris les particules tronquées dans l'ensemble de données des particules. Ceci est particulièrement important pour éviter que les plus grosses particules ne soient exclues des statistiques, ce qui peut nuire à l'analyse de la propreté ou de la qualité de l'acier.

  • Une solution totalement intégrée

    Contrôlez à la fois l'imagerie MEB et l'analyse EDS avec un seul logiciel, sur un seul PC. ZEISS SmartPI conserve toutes les données à un endroit unique, garantissant l'intégrité des données MEB et EDS et un rappel efficace de celles-ci. Même lorsque le système EDS provient d'un fournisseur EDS, la totalité du système SmartPI est prise en charge par l'équipe mondiale du SAV de ZEISS, ce qui permet de centraliser le service clientèle.

SmartPI en action

  • Auto-calibration Procedures
  • Morphological and Chemical Classification
  • Exclusion of fibers, for example, via limitation of the parameter elongation
  • Stop criteria setup page
  • Use the review mode to re-examine single particles and see all of their properties including EDS composition and material classification.
  • SmartPI Explorer navigation window with multi-particle view
  • VDA 19 cleanliness report generated in SmartPI Reporter
  • Procédures d'étalonnage automatique
    Procédures d'étalonnage automatique

    Procédures d'étalonnage automatique

    Procédures d'étalonnage automatique

    SmartPI effectue des routines d'autodiagnostic et d'auto-étalonnage avant chaque exécution automatique et à intervalles réguliers en cours de fonctionnement. Cette procédure garantit la stabilité du système et des résultats précis et reproductibles. En cas d'interruption pendant l'exécution automatique, par exemple lorsqu'un filament doit être remplacé, un processus de récupération automatique est lancé.

  • Classification morphologique et chimique
    Classification morphologique et chimique

    Classification morphologique et chimique

    Classification morphologique et chimique

    SmartPI utilise des techniques avancées de traitement et d'analyse d'images pour mesurer diverses caractéristiques morphologiques de chaque particule détectée. Par la suite, l'analyse EDS est utilisée pour déterminer la composition chimique de chaque particule. Analysez rapidement les particules avec le mode Spot ou plus en détail à l'aide du mode avancé de numérisation des fonctions ZEISS. Cette analyse de la forme complète de la particule permet une classification plus précise.

  • Exclusion de fibres, par exemple par la limitation du paramètre d'allongement
    Exclusion de fibres, par exemple par la limitation du paramètre d'allongement

    Exclusion de fibres, par exemple par la limitation du paramètre d'allongement

    Exclusion de fibres, par exemple par la limitation du paramètre d'allongement

    Exclusions de mesure

    Afin de maintenir la cohérence de votre ensemble de données de particules et de minimiser le temps d'exécution, SmartPI permet d'exclure des particules qui ne sont pas jugées intéressantes pour les analyses d'images et d'éléments ultérieures. Cela pourrait, par exemple, être le cas pour les fibres allongées sur le filtre qui pourraient provenir de la poussière présente dans l'environnement et qui n'ont donc aucun rapport avec les particules provenant du processus de fabrication.

  • Page de configuration des critères d'arrêt
    Page de configuration des critères d'arrêt

    Page de configuration des critères d'arrêt

    Page de configuration des critères d'arrêt

    Critères d'arrêt avancés

    Une série de critères d'arrêt avancés permettent à la fonction d'exécution automatique de mettre fin à l'analyse lorsqu'elle atteint un seuil prédéfini. Les critères d'arrêt peuvent inclure le temps d'analyse, le nombre de particules ou de champs comptés, la taille des particules, une classification spécifique ou d'autres critères que vous pouvez spécifier. Cette fonctionnalité peut être appliquée à un ou plusieurs échantillons, ce qui réduit considérablement le temps d'exécution global. Une fenêtre de résultats en direct permet également à l'opérateur de suivre la progression et de décider si une intervention est nécessaire.

  • Utilisez le mode de révision pour réexaminer des particules individuelles et voir toutes leurs propriétés, y compris la composition EDS et la classification des matériaux.
    Utilisez le mode de révision pour réexaminer des particules individuelles et voir toutes leurs propriétés, y compris la composition EDS et la classification des matériaux.

    Utilisez le mode de révision pour réexaminer des particules individuelles et voir toutes leurs propriétés, y compris la composition EDS et la classification des matériaux.

    Utilisez le mode de révision pour réexaminer des particules individuelles et voir toutes leurs propriétés, y compris la composition EDS et la classification des matériaux.

    Classification interactive et rétrospective des particules

    Utilisez le mode Review Output (Examiner les résultats) pour affiner et améliorer les recettes de classification en effectuant un examen détaillé des résultats. Vous pouvez également réexaminer n'importe quelle particule en ramenant la platine aux coordonnées correspondantes de la particule. Le mode d'analyse rétrospective permet de réévaluer les résultats existants en utilisant de nouveaux critères de classification, sans avoir à analyser de nouveau l'échantillon.

  • Fenêtre de navigation de SmartPI Explorer avec vue multi-particules

    Fenêtre de navigation de SmartPI Explorer avec vue multi-particules

    Fenêtre de navigation de SmartPI Explorer avec vue multi-particules

    SmartPI Explorer

    Cette application autonome vous permet de parcourir les résultats ou d'effectuer une recherche sur des spectres individuels, des images de particules, des images de champ, des particules de bordure ou d'autres filtres que vous sélectionnez. De plus, SmartPI Explorer comprend des options d'archivage, ainsi qu'une fonction de montage d'image permettant de créer une image assemblée à partir des champs analysés. Il peut également être utilisé hors ligne pour libérer du temps au système pour l'analyse.

  • Rapport de propreté VDA 19 généré dans SmartPI Reporter
    Rapport de propreté VDA 19 généré dans SmartPI Reporter

    Rapport de propreté VDA 19 généré dans SmartPI Reporter

    Rapport de propreté VDA 19 généré dans SmartPI Reporter

    SmartPI Reporter

    Cette application autonome comporte un certain nombre d'outils intégrés qui vous permettent de créer des rapports dédiés. Vous pouvez contrôler par glisser-déposer, modifier un modèle de rapport existant ou sélectionner un rapport standard ISO ou VDA. Une fois que vous avez défini votre rapport, vous pouvez l'enregistrer en tant que modèle. Utilisez SmartPI Reporter en ligne pour la génération immédiate de rapports ou hors ligne lorsque vous souhaitez analyser les résultats ultérieurement.

Plateformes MEB recommandées

EVO Microscope électronique à balayage

EVO Microscope électronique à balayage

EVO est le MEB conventionnel utilisé pour l'analyse de routine des matériaux, l'assurance qualité industrielle et l'analyse des défaillances. Avec une grande platine motorisée à 5 axes et le logiciel SmartSEM facile à utiliser, EVO offre une plateforme d'imagerie hautement configurable pour les applications d'analyse de particules. EVO est disponible avec une pression variable (VP), permettant l'imagerie et l'analyse d'échantillons non conducteurs, tels que des filtres, sans appliquer un revêtement conducteur, laissant ainsi le filtre intact pour une analyse ultérieure, par exemple avec Raman ou FTIR.

Microscope électronique à balayage à émission de champ Sigma

Microscope électronique à balayage à émission de champ Sigma

Sigma est le MEB idéal pour les utilisateurs nécessitant une résolution améliorée pour l'analyse de particules à l'échelle nanométrique. Sigma, doté de la technologie de colonne Gemini, fournit des résultats d'imagerie et d'analyse exceptionnels à partir d'un microscope électronique à balayage à émission de champ (FE-SEM). L'optique Gemini fournit une imagerie ultra-haute résolution sur une plateforme très bien adaptée à l'analyse élémentaire, en particulier sur des échantillons magnétiques.

Téléchargements

    • ZEISS SmartPI

      Your Automated SEM Particle Analysis and Classification Solution

      Pages: 19
      Taille du fichier: 8 MB
    • ZEISS SmartPI

      Automated Identification of Asbestos

      Pages: 7
      Taille du fichier: 11 MB

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