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ZEISS Sigma와 GeminiSEM 제품군은 나노미터 이하의 분해능과 뛰어난 contrast를 제공합니다. 넓은 챔버에는 여러 포트가 있어 물질 구성 및 입자 분석을 위한 다양한 분석 검출기를 지원합니다. 뛰어난 다목적성 덕분에 구조 및 고장 분석, passive voltage contrast, 지표면 분석, 전기 측정, 재료 특성화 등 광범위하게 응용할 수 있습니다. 또한 소프트웨어에 어려 도구를 원활하게 통합할 수 있어 워크플로우 효율성이 향상됩니다. 사용자 친화적인 ZEISS Sigma & GeminiSEM 제품군을 만나보세요!

ZEISS Crossbeam FIB-SEM은 Gemini 이미징과 고성능 이온 sculptor Ga-FIB의 장점을 모두 활용하여 효율적인 시료 준비를 가능하게 합니다. 펨토초 레이저를 사용하면 대형 interconnect와 BEOL 구조 뿐 아니라 3D IC 패키지 내부의 mm 깊이까지 고품질 단면을 빠르게 측정할 수 있습니다. 3D X-ray 데이터와 결합하면 표면 아래의 특징까지 정밀하게 타겟팅할 수 있습니다. 높은 처리량의 3D serial section 이미징과 TEM 시료 준비 워크플로우를 자랑하는 ZEISS Crossbeam을 만나보세요!