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Servicio y asistencia

Mejoras para C-SEM

Para una mayor vida útil y una funcionalidad ampliada

Vacío y facilidad de uso

Software y estación de trabajo

Detectores y análisis

Nanoestructura y diseño de patrones

Accesorios

Detectores y análisis

Analice su muestra mediante una amplia gama de distintos detectores. Los diferentes detectores le permiten recibir distintos tipos de información sobre la superficie, la composición y otros detalles que le ayudarán a mejorar y facilitar sus procesos. 

Encuentre los detectores más adecuados para sus necesidades:

  • Consiga una recomendación del mejor detector para su aplicación
  • Guía de aplicación fácil
  • Información específica del detector
  • Más información sobre funciones disponibles
  • Herramienta interactiva para obtener más información sobre los detectores de ZEISS

Nota: Pulse ESC para salir del modo de pantalla completa

Ir al buscador de detectores

C2D

Excelente captura de imágenes de VP con rango de presión mejorado

El detector de corriente en cascada (C2D) sustituye al VPSE G3 y VPSE G4 para permitir la captura de imágenes a muy bajo kV en el modo de presión variable (VP). Las imágenes a 1-3 kV ahora se captan de forma más efectiva.

Ventajas:

  • Visualización variable
  • Resolución mejorada del vapor de agua
  • Mayor rango de presión

Folleto del producto

C2DX

Modo de presión ampliada y variable para una excelente captura de imágenes

El detector de corriente en cascada de rango ampliado (C2DX) es un detector único de la serie EVO y se ha diseñado para proporcionar un excelente rendimiento de captura de imágenes con la máxima presión de hasta 3000 Pa.

Ventajas

  • Mínima preparación de las muestras
  • Captura de imágenes con mejor relación señal-ruido
  • Mayor rango de presión

Folleto del producto

YAG BSD

Excelente captura de imágenes topográficas y composicionales en todos los modos de vacío

El detector BSD de escintilador de un solo cristal ZEISS YAG (granate de itrio y aluminio) permite una mayor eficiencia de la conductancia lumínica, lo cual es ideal para la captura de imágenes con baja señal. El material libre de daños por radiación convierte al YAG BSD en un detector apto para todas las gamas de energía de haz.

Ventajas:

  • Mayor rendimiento de señal
  • Prevención de daños
  • Versatilidad mejorada

Folleto del producto

Amplificador ES para detectores BSD

Disfrute de una captura de imágenes superior y de una calidad de imagen mucho mejor

El detector BSD se usa para detectar electrones retrodispersados que han sido dispersados en ángulos muy bajos. El nuevo amplificador permite una mayor eficiencia de los detectores y ofrece una variedad de información de contraste, con una ganancia mucho mayor y un nivel de ruido más bajo.

 

Ventajas:

  • Recogida de señales mejorada
  • Aplicación silenciosa
  • Captura de imágenes variable

Folleto del producto

ETSE para EVO y Sigma

Convincente captura de imágenes topográficas SE

El nuevo detector ETSE (detector secundario Everhart-Thornley de electrones) con fotomultiplicador acoplado ópticamente se ha diseñado para mejorar la captura del SE a bajo kV y mayores distancias de trabajo.

Ventajas:

  • Reducción del efecto de carga
  • Captura de imágenes topográficas mejorada
  • Excelente detalle superficial

Folleto del producto

VPSE G4

Captura de señales mejorada para velocidades de escaneo más rápidas

El detector SE de presión variable de cuarta generación (VPSE G4) convence gracias a su captura de señales mejorada y, por tanto, a un tiempo de respuesta más rápido. Una mayor velocidad de escaneo le permite aumentar la productividad. VPSE G4 proporciona un 20 % más de contraste hasta una presión de 400 Pa (a 20 keV).

Ventajas:

  • Captura de imágenes topográficas
  • Velocidades de escaneo superiores
  • Captura de imágenes mejorada a bajo kV

Folleto del producto

EVO STEM

STEM asequible y fácil de usar para su C-SEM

Esta mejora permite un elevado rendimiento de la muestra y, por tanto, amplía el límite de información para su sistema EVO. Las energías significativamente menores del haz de electrones usadas en el SEM dan lugar a un menor volumen excitado y a secciones transversales más grandes con tensiones de aceleración más bajas.

Ventajas:

  • Opción de portamuestras avanzado
  • Mejor resolución y contraste
  • Captura de imágenes en campo claro

Folleto del producto

ZEISS SmartEDX

Solución EDS integrada para aplicaciones de microanálisis SEM de rutina

Si la captura de imágenes SEM no es suficiente para conocer a fondo las piezas o las muestras, los investigadores pasarán a la espectroscopia de dispersión de energía (EDS) para obtener información química elemental con resolución espacial.

Ventajas:

  • Optimizado para aplicaciones rutinarias de microanálisis
  • Interfaz gráfica de usuario guiada por flujo de trabajo
  • Asistencia del sistema y servicio ZEISS total

Folleto del producto

Nanoestructura y diseño de patrones

Cree estructuras en el rango nanométrico eliminando o aplicando material superficial y usando diferentes sistemas (p. ej., microscopio de fuerza atómica) o benefíciese de imágenes multimodales y múltiples escalas exhaustivas con las distintas opciones de ZEISS Atlas 5.

Atlas 5

Domine el desafío de trabajar a diferentes escalas

ZEISS Atlas 5 hace su vida más fácil. Crea imágenes multiescala con posibilidad de trabajar en diferentes modos dentro de un entorno correlativo centrado en la muestra.

Ventajas:

  • Correlacione imágenes en múltiples dimensiones procedentes de múltiples fuentes
  • Adquisición de imágenes rápida y fácil

Folleto del producto

 

Software y estación de trabajo

Explore nuestras últimas versiones de software y funcionalidades ampliadas mediante nuestras opciones de licencia, además del hardware informático de alto rendimiento recomendado actualmente para optimizar el rendimiento de su sistema.

SEM Workstation

Flujos de trabajo eficientes, navegación intuitiva y búsqueda de archivos más rápida

ZEISS SEM Workstation Upgrade mejora el proceso cotidiano usando el último software SmartSEM, una especificación de hardware de alto rendimiento y el último sistema operativo.

 

Ventajas:

  • Última versión de SmartSEM
  • Navegación intuitiva
  • Windows 10

Folleto del producto

SmartSEM

Maneje su microscopio electrónico de barrido de forma más eficiente

SmartSEM es un sistema operativo para microscopios electrónicos que proporciona acceso a ajustes avanzados del microscopio, diseñados para resolver incluso las tareas más complejas.

 

Ventajas:

  • Condiciones mejoradas de captura de imágenes
  • Módulos adicionales de software
  • Más información de sus imágenes
  • Navegación intuitiva

Folleto del producto

Buscador de software

Su guía para las mejoras de SmartSEM

Su guía interactiva de noticias de software, actualizaciones y funciones adicionales. Más información sobre el software, las estaciones de trabajo y la compatibilidad, las nuevas funcionalidades de software y los lanzamientos de software recientes de ZEISS.

  • Herramienta interactiva para obtener más información sobre SmartSEM
  • Guía fácil para las actualizaciones del software
  • Información de compatibilidad con la estación de trabajo
  • Más información sobre las funcionalidades de software adicionales disponibles
  • Introducción a SmartSEM Touch
  • Más información sobre hotfixes

 

 

SmartPI

Simplifique su procedimiento y analice cada partícula automáticamente

Smart Particle Investigator (SmartPI), su solución avanzada de análisis y clasificación de partículas, convierte los microscopios electrónicos de barrido (SEM) en soluciones preconfiguradas para aplicaciones de limpieza industrial o metal y acero.

Ventajas:

  • Análisis sencillo y rápido
  • Detección inteligente de partículas
  • Seguimiento del progreso en directo

Folleto del producto

Catálogo de módulos de software

Amplíe la funcionalidad y el rendimiento de su microscopio

Añada nuevas funciones y mejore las existentes con nuestra amplia gama de licencias, que le ayudarán a mejorar sus procesos, facilitarán el uso de su sistema y con las que dispondrá de herramientas para obtener más información.

 

Ventajas:

  • Mejore su proceso con nuevas funciones
  • Mayor comodidad de uso

Folleto del producto

Modelado de superficies en 3D

Análisis topográfico de muestras en 3D

Su microscopio electrónico de barrido mide y analiza todo tipo de muestras en 2D. Para analizar las superficies de muestras en 3D, utilice la ampliación del sistema 3DSM, el paquete de software opcional de ZEISS. Consiga información topográfica mediante la reconstrucción de un modelo en 3D completo de la superficie de su muestra usando las señales de los detectores aBSD o AsB.

Ventajas:

  • 3DSM
  • Realice una reconstrucción de la superficie en 3D de su muestra
  • Benefíciese del funcionamiento en tiempo real y de tiempos de reconstrucción <2 s

3DSM Metrology:

  • Obtenga mediciones y documentación automáticas de conformidad con ISO 25178, DIN, ASME y otras normas
  • Cree informes metrológicos completamente rastreables
  • Caracterice las superficies y los perfiles, incluyendo parámetros, como la altura de los escalones, la distancia, el contorno nanométrico, la rugosidad y ondulación, y el tamaño de las partículas y los granos

Shuttle & Find

El puente entre el mundo de la microtecnología y el de la nanotecnología

Con Shuttle & Find puede conectar su microscopio electrónico y su microscopio óptico de ZEISS. La solución combinada de hardware y software le permite transferir su muestra de un sistema de microscopio a otro en unos pocos minutos.

Ventajas:

  • Obtenga más información
  • Calibración rápida
  • Elección flexible de los componentes

Folleto del producto

SmartSEM Touch

Explore su objeto de interés con un simple deslizamiento del dedo

Seleccione un área de interés con un simple deslizamiento del dedo y el sistema EVO recabará de forma automática sus datos, y funcionará sin supervisión mientras usted realiza otras tareas. La mejora le permite disfrutar de un flujo de trabajo cómodo mediante su interfaz táctil contemporánea y una variedad de herramientas automatizadas.

Ventajas:

  • Selección del tipo de muestra
  • Superposiciones del detector
  • Anotación y medición

Folleto del producto

Estudio de caso

Vacío y facilidad de uso

Disfrute de una mayor comodidad y facilite su rutina laboral, por ejemplo, mediante una reducción del tiempo de carga y un mayor rendimiento de las muestras mediante la precámara o un nivel de ruido significativamente menor gracias al ECO Quiet Mode. Descontamine la muestra y la cámara con el limpiador de plasma o mejore la calidad de la imagen mediante la compensación del efecto de carga con el cañón de flujo o la compensación de carga.

ZEISS ECO Quiet Mode

Reduzca el ruido y ahorre energía

Mediante el uso del ZEISS ECO Quiet Mode y con la ayuda del depósito de vacío, se apaga automáticamente el prebombeo tras alcanzar un nivel de vacío preconfigurado de fábrica. El depósito de vacío permite manejar el sistema durante horas sin necesidad de prebombeo. Esto reduce los niveles de ruido y el consumo energético.

 

Ventajas:

  • Aplicación más cómoda
  • Captura de imágenes de alta definición
  • Ahorro energético

Folleto del producto

Limpiador de plasma

Limpie su cámara de forma rápida y efectiva

ZEISS le ofrece una solución rápida y rentable para la descontaminación de muestras y cámaras. El limpiador de plasma se usa para generar radicales reactivos de fase gaseosa en un plasma. Los radicales migran a la cámara del instrumento y reaccionan químicamente con los hidrocarburos no deseados.

Ventajas

  • Mejor calidad de imagen
  • Rápida descontaminación de muestras
  • Descontaminación segura

Folleto del producto

Otros accesorios

Actualice su microscopio con accesorios adicionales, como portamuestras, la última versión de nuestro controlador doble de palanca de mando y el panel de control o un sistema de alimentación ininterrumpida (SAI) que garantiza la seguridad de su sistema en caso de corte de alimentación.

Sistema de alimentación ininterrumpida

Asegure su microscopio en caso de un corte de corriente y evite la pérdida de datos

Se usará un sistema de alimentación ininterrumpida (SAI) cuando no sea posible un suministro constante de alimentación eléctrica. Se ha diseñado para sortear breves cortes de alimentación y para apagar el microscopio de forma controlada durante los cortes de alimentación más prolongados.

Ventajas:

  • Sortee breves cortes de alimentación
  • Seguridad para su microscopio

Folleto del producto

Palanca de mando doble y panel de control del SEM

Controle su SEM con más facilidad

Con el controlador de palanca de mando doble y el panel de control instalado, el manejo resulta mucho más cómodo. El controlador de palanca de mando doble se puede usar para el control de la platina y la navegación por las muestras, mientras que el panel de control le permite acceder fácilmente a las funciones del SEM usadas con más frecuencia.

Ventajas:

  • Múltiples posibilidades de compensación
  • Varias opciones de configuración
  • Manejo práctico

Folleto del producto

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