Service et assistance

Mises à niveau pour C-SEM

Pour une longévité augmentée et des fonctionnalités étendues

Détecteurs et analyses

Analysez votre échantillon en vous appuyant sur un large éventail de détecteurs. L'utilisation de plusieurs détecteurs vous permet de recevoir différents types d'informations sur la surface, la composition et d'autres détails qui vous aideront à améliorer et à simplifier vos processus. 

Trouvez les détecteurs adaptés à vos besoins :

  • Recevez des recommandations sur le détecteur qui convient à votre application
  • Guide d'application simple
  • Informations spécifiques sur le détecteur
  • Informations sur les fonctionnalités disponibles
  • Outil interactif pour en savoir plus sur les détecteurs ZEISS

Remarque : appuyez sur Echap pour quitter le mode plein écran

C2D

Une imagerie VP exceptionnelle avec une plage de pression améliorée

Le détecteur de courant de cascade (C2D) remplace les VPSE G3 et VPSE G4 pour permettre une imagerie à très faible kV en mode de pression variable (VP). Les images de 1 à 3 kV sont désormais capturées de manière beaucoup plus efficace.

Avantages :

  • Visualisation variable
  • Résolution améliorée de la vapeur d'eau
  • Plage de pression plus élevée

Dépliant produit

C2DX

Excellent mode d'imagerie à pression variable et pression étendue

Le détecteur de courant de cascade à plage étendue (C2DX) est un détecteur unique de la série EVO. Il offre de remarquables performances d'imagerie à une pression maximale de 3000 Pa.

Avantages

  • Préparation des échantillons réduite au minimum
  • Amélioration du rapport signal sur bruit de l'imagerie
  • Plage de pression accrue

Dépliant produit

BSD YAG

Excellente imagerie topographique et compositionnelle dans tous les modes de vide

Le détecteur BSD à scintillateur monocristallin YAG (grenat d'yttrium et d'aluminium) de ZEISS permet une conductivité de la lumière plus efficace, idéale pour l'imagerie à faible signal. Le matériau, exempt de dommages dus aux rayonnements, transforme le BSD YAG en un détecteur adapté à toutes les plages d'énergie du faisceau.

Avantages :

  • Sortie de signal plus élevée
  • Prévention des dommages
  • Polyvalence améliorée

Dépliant produit

Amplificateur ES pour détecteurs BSD

Découvrez l'imagerie de haut niveau et une qualité d'image exceptionnelle

Le détecteur BSD est utilisé pour détecter les électrons rétrodiffusés sous des angles très faibles. Le nouvel amplificateur permet d'obtenir de meilleures performances de détection et fournit de nombreuses informations sur le contraste, un gain beaucoup plus élevé et un niveau de bruit plus faible.

 

Avantages :

  • Amélioration de la collecte des signaux
  • Application silencieuse
  • Imagerie variable

Dépliant produit

ETSE pour EVO et Sigma

Imagerie topographique SE convaincante

Le nouveau détecteur ETSE (Everhart Thornely Secondary Electron) avec photomultiplicateur à couplage optique est conçu pour améliorer la collecte des SE lors d'opérations à faible kV et sur de plus longues distances de travail.

Avantages :

  • Réduction de l'effet de charge
  • Imagerie topographique améliorée
  • Détails de la surface remarquables

Dépliant produit

VPSE G4

Collecte de signaux améliorée pour des vitesses de balayage plus rapides

La quatrième génération de détecteur SE à pression variable (VPSE G4) s'avère des plus convaincantes par l'amélioration du signal de collecte et donc par un temps de réponse plus rapide. Des vitesses de balayage plus élevées permettent d'augmenter la productivité. VPSE G4 offre 20 % de contraste supplémentaire jusqu'à une pression de 400 Pa (à 20 keV).

Avantages :

  • Imagerie topographique
  • Augmentation de la vitesse de balayage
  • Amélioration de l'imagerie à faible kV

Dépliant produit

EVO STEM

STEM abordable et facile à utiliser sur votre C-SEM

Cette mise à niveau permet un débit d'échantillons élevé et prolonge ainsi le niveau d'information de votre système EVO. L'énergie beaucoup plus faible des faisceaux d'électrons utilisée dans le MEB entraîne une réduction du volume excité et une augmentation du nombre de coupes transversales à des tensions d'accélération plus faibles.

Avantages :

  • Option de porte-échantillon avancé
  • Résolution et contraste améliorés
  • Imagerie en champ clair

Dépliant produit

ZEISS SmartEDX

Solution EDS embarquée pour les applications de microanalyse par MEB de routine

Si l'imagerie MEB seule ne suffit pas pour acquérir une compréhension complète de vos échantillons, les chercheurs se tourneront vers la spectroscopie à énergie dispersive (EDS) pour acquérir des informations sur la chimie élémentaire à résolution spatiale.

Avantages :

  • Optimisé pour les applications de microanalyse courantes
  • Interface utilisateur graphique guidée selon le processus
  • Service complet et assistance pour les systèmes ZEISS

Dépliant produit

Nanostructuration et structuration

Créez des structures de l'ordre du nanomètre en éliminant ou en appliquant un matériau de surface et en utilisant différents systèmes (par exemple, un microscope à force atomique), ou bénéficiez d'images multimodales et à échelles multiples complètes grâce aux diverses options de ZEISS Atlas 5.

Atlas 5

Maîtrisez l'imagerie multi-échelles

ZEISS Atlas 5 vous simplifie la vie : créez des images multimodales à échelles multiples complètes avec un environnement corrélatif centré sur l'échantillon.

Avantages :

  • Mise en corrélation des images en plusieurs dimensions provenant de sources multiples
  • Acquisition d'images rapide et facile

Dépliant produit

 

Logiciels et poste de travail

Découvrez les dernières versions de nos logiciels et leurs fonctionnalités avancées grâce aux différentes options de licence, ainsi que le matériel informatique de pointe actuellement recommandé pour optimiser les performances de vos systèmes.

Poste de travail MEB

Processus efficaces, navigation intuitive et recherche de fichiers plus rapide

La mise à niveau du poste de travail ZEISS SEM améliore le flux de tâches quotidien en utilisant la version la plus récente du logiciel SmartSEM, des spécifications matérielles haute performance et le dernier système d'exploitation.

 

Avantages :

  • Version la plus récente de SmartSEM
  • Navigation intuitive
  • Windows 10

Dépliant produit

SmartSEM

Utilisez votre microscope électronique à balayage avec une plus grande efficacité

SmartSEM est un système d'exploitation pour microscopes électroniques qui permet d'accéder aux paramètres avancés du microscope afin de réaliser les tâches les plus difficiles.

 

Avantages :

  • Conditions d'imagerie améliorées
  • Modules logiciels supplémentaires
  • Plus d'informations sur vos images
  • Navigation intuitive

Dépliant produit

Recherche de logiciel avec Software Finder

Votre guide pour les mises à niveau de SmartSEM

Votre guide interactif pour l'actualité sur les logiciels, les mises à jour et les fonctionnalités supplémentaires. Renseignez-vous sur les logiciels ZEISS, les postes de travail et leur compatibilité, les nouvelles fonctionnalités et les dernières versions logicielles.

  • Outil interactif pour en savoir plus sur SmartSEM
  • Guide de mise à jour logicielle simple
  • Informations sur la compatibilité avec les postes de travail
  • Informations sur les fonctionnalités logicielles supplémentaires disponibles
  • Introduction à SmartSEM Touch
  • Informations sur les correctifs

 

 

SmartPI

Simplifiez vos opérations et analysez chaque particule automatiquement

Smart Particle Investigator (SmartPI), votre solution avancée de classification et d'analyse de particules, transforme les microscopes électroniques à balayage (MEB) en solutions clés en main pour la propreté industrielle ou les applications métal et acier.

Avantages :

  • Analyse simple et rapide
  • Détection intelligente des particules
  • Suivi de la progression en direct

Dépliant produit

Catalogue des modules logiciels

Étendez les fonctionnalités et les performances de votre microscope

Ajoutez de nouvelles fonctionnalités et améliorez les fonctionnalités existantes grâce à nos nombreuses licences qui vous permettront d'améliorer vos processus, de simplifier l'utilisation de votre système et de disposer d'outils permettant de recueillir davantage d'informations.

 

Avantages :

  • Meilleurs processus grâce à de nouvelles fonctionnalités
  • Utilisation plus agréable

Dépliant produit

Modélisation de surface 3D

Analyse topographique d'échantillons en 3D

Votre microscope électronique à balayage mesure et analyse tous les types d'échantillons en 2D : pour analyser les surfaces des échantillons en 3D, utilisez le pack logiciel en option 3DSM de ZEISS. Obtenez des informations topographiques en reconstruisant un modèle 3D complet de la surface de votre échantillon à l'aide des signaux émis par le détecteur aBSD ou AsB.

Avantages :

  • 3DSM
  • Reconstruction de surface 3D de votre échantillon
  • Fonctionnement en temps réel et temps de reconstruction < 2s

3DSM Metrology :

  • Obtenez des mesures automatiques et une documentation conforme aux normes ISO 25178, DIN, ASME et autres
  • Créez des rapports métrologiques entièrement traçables
  • Caractérisez les surfaces et les profils en incluant des paramètres tels que la hauteur d'échelon, la distance, le contour à l'échelle nanométrique, la rugosité et l'ondulation ainsi que la taille des particules et des grains

Shuttle & Find

Une passerelle entre les mondes micro et nanoscopiques

Avec Shuttle & Find, connectez votre microscope électronique et votre microscope optique ZEISS. La solution matérielle et logicielle combinée vous permet de transférer votre échantillon d'un système de microscope à un autre en quelques minutes seulement.

Avantages :

  • Obtention de plus d'informations
  • Étalonnage rapide
  • Choix flexible de composants

Dépliant produit

SmartSEM Touch

Explorez une région d'intérêt d'un simple glissement du doigt

Sélectionnez une région d'intérêt d'un simple glissement du doigt pour que le système EVO collecte automatiquement vos données, sans intervention de votre part, pendant que vous effectuez d'autres tâches. La mise à niveau garantit un processus convivial grâce à son interface tactile moderne et à divers outils automatisés.

Avantages :

  • Sélection du type d'échantillon
  • Superpositions de détecteurs
  • Annotation et mesure

Dépliant produit

Étude de cas

Vide et facilité d'utilisation

Améliorez votre confort et simplifiez votre routine de travail en réduisant le temps de chargement et en augmentant le débit d'échantillons grâce au sas ou en réduisant considérablement le niveau sonore grâce au mode silencieux ECO. Décontaminez votre échantillon et votre chambre grâce au nettoyeur plasma ou améliorez la qualité d'image en compensant l'effet de charge grâce au canon à électrons ou à la fonction de compensation de charge.

Mode silencieux ZEISS ECO

Réduction du bruit et économies d'énergie

En utilisant le mode silencieux ZEISS ECO et un réservoir à vide, la pré-pompe s'arrête automatiquement après avoir atteint un niveau de vide prédéfini en usine. Le réservoir à vide permet de faire fonctionner le système pendant des heures sans avoir recours à la pré-pompe. Cette disposition permet de réduire à la fois les niveaux de bruit et la consommation d'énergie.

 

Avantages :

  • Fonctionnement plus confortable
  • Imagerie haute définition
  • Économies d'énergie

Dépliant produit

Nettoyeur plasma

Nettoyage rapide et efficace de votre chambre

ZEISS propose une solution rapide et rentable pour décontaminer les échantillons et les chambres. Un nettoyeur de plasma est utilisé pour générer des radicaux réactifs en phase gazeuse dans un plasma. Les radicaux migrent dans la chambre de l'instrument et réagissent chimiquement avec les hydrocarbures indésirables.

Avantages

  • Qualité d'image améliorée
  • Décontamination rapide des échantillons
  • Décontamination sécurisée

Dépliant produit

Autres accessoires

Améliorez votre microscope en y ajoutant des accessoires tels que des porte-échantillons, la dernière version de notre manette à double commande et du panneau de commande ou une alimentation sans interruption (ASI) qui assure la sécurité de votre système en cas de panne de courant.

Alimentation sans interruption

Sécurisez votre microscope en cas de panne de courant et évitez les pertes de données

Un système d'alimentation sans interruption (ASI) est utilisé si une alimentation électrique régulière ne peut être garantie. Il est conçu pour pallier aux courtes pannes de courant et pour arrêter le microscope de manière contrôlée lors de pannes de courant prolongées.

Avantages :

  • Pallie aux brèves pannes de courant
  • Sécurité pour votre microscope

Dépliant produit

Double commande et panneau de commande du MEB

Contrôlez votre MEB plus facilement

La manette à double commande ainsi que le panneau de commande rendent l'utilisation du système beaucoup plus agréable. La manette à double commande peut être utilisée pour contrôler la platine et naviguer dans les échantillons. Le panneau de commande permet d'accéder très facilement aux fonctions les plus utilisées du MEB.

Avantages :

  • De nombreuses possibilités de compensation
  • Diverses options de configuration
  • Manipulation pratique

Dépliant produit

Contact ZEISS Microscopy

En quoi pouvons-nous vous aider ?

Chargement du formulaire en cours...

/ 4
Étape suivante :
  • Étape 1
  • Étape 2
  • Étape 3
Contactez-nous
Informations requises
Informations facultatives

Si vous souhaitez avoir plus d'informations concernant le traitement de vos données par ZEISS, veuillez consulter la politique de confidentialité.